Анализаторы БИС Ц2 Ц3 Ц4 Классификатор средств измерений по МИ
29074-14
Гамма Установки для измерения электрических параметров ИС и радиокомпонентов
АОЗТ "Ани - Тест", Армения, г.Ереван
Для задания значений - напряжения постоянного тока на входных контактах и контактах питания и измерения напряжения постоянного тока на выходных контактах испытуемых ИС и радиокомпонентов в соответствии с управляющей программой, для использования при...

48533-11
ДМТ-419 Комплекс измерительный параметров аналоговых микросхем и устройств
ООО "ДМТ Трейдинг", Беларусь, г.Минск
Для воспроизведения сигналов произвольной формы в диапазоне частот 1 Гц...80 МГц, сигналов специальной формы в диапазоне частот 0,01 Гц...200 кГц, сигналов прямоугольной формы в диапазоне частот 1 Гц...2 ГГц и синусоидального сигнала 250 кГц...3 ГГц,...

48532-11
ДМТ-219 Комплексы измерительные параметров аналоговых микросхем и устройств
ООО "ДМТ Трейдинг", Беларусь, г.Минск
Для воспроизведения сигналов произвольной формы в диапазоне частот 1 Гц...80 МГц, сигналов специальной формы в диапазоне частот 0,01 Гц...200 кГц, сигналов прямоугольной формы в диапазоне частот 1 Гц...2 ГГц и синусоидального сигнала 250 кГц...3 ГГц,...

48530-11
ETС-868 Тестер параметров цифровых интегральных микросхем
ООО "ДМТ Трейдинг", Беларусь, г.Минск
Для воспроизведения и измерения напряжения и силы постоянного тока, частоты следования прямоугольных импульсов и применяется для высокопроизводительного функционального и параметрического контроля ТТЛ и КМОП микросхем с числом выводов до 512 с рабоче...
48451-11
ETС-780 Тестер параметров цифровых интегральных микросхем
ООО "ДМТ Трейдинг", Беларусь, г.Минск
Для воспроизведения и измерения напряжения и силы постоянного тока, частоты следования прямоугольных импульсов и применяется для высокопроизводительного функционального и параметрического контроля ТТЛ и КМОП микросхем с числом выводов до 512 с рабоче...

43669-10
ДМТ-319 Комплекс измерительный параметров аналоговых микросхем и устройств
ООО "ДМТ Трейдинг", Беларусь, г.Минск
Спецраздел.

Тестеры цифровых интегральных схем на 128 выводов (далее - тестеры) предназначены для воспроизведения и измерения напряжения и силы постоянного тока, частоты следования прямоугольных импульсов и применяются для функционального контроля и контроля ста...

Раздел СИ специального назначения. В Госреестре описания нет.

31046-06
ДМТ-119/1 Комплекс измерительный параметров микросхем и устройств
ООО "Мегаинтел", г.Москва
Спецраздел. Для измерения статических и динамических параметров сложных интегральных микросхем (ИМС) и устройств в диапазоне частот до 3 ГГц, анализа сигналов, прошедших через измеряемое устройство, с последующей его обработкой и анализом с помощью в...

30734-05
Agilent 93000 Анализаторы логические
Фирма "Agilent Technologies Deutschland GmbH SOC BU Order FulFillment", Германия
Для измерений параметров сигналов при функциональном и параметрическом контроле микросхем с числом выводов до 512 с рабочей частотой последовательности функционального контроля до 250 МГц и применяются для выходного контроля параметров и правильности...

30144-05
Крона-520 Каналы измерительных аналоговых систем контроля и диагностики электронных устройств
ООО НПК "КРОНА", г.Пенза
Для измерений электрических величин: постоянного напряжения, среднеквадратического значения переменного напряжения произвольной формы, силы постоянного тока, среднеквадратического значения силы переменного тока произвольной формы в различных сферах п...

29074-05
Гамма Установки для измерения электрических параметров ИС и радиокомпонентов
АОЗТ "Ани - Тест", Армения, г.Ереван
Для задания значений - напряжения постоянного тока на входных контактах и контактах питания и измерения напряжения постоянного тока на выходных контактах испытуемых ИС и радиокомпонентов в соответствии с управляющей программой, для использования при...

Тестер параметров цифровых интегральных микросхем «ЕТС-780» (далее - тестер) предназначен для воспроизведения и измерения напряжения и силы постоянного тока, частоты следования прямоугольных импульсов и применяются для высокопроизводительного функцио...