Меры периодические Классификатор средств измерений по МИ

Системы оптические измерений шероховатости SORM 3plus (далее - системы) предназначены для измерений параметров шероховатости движущихся на больших скоростях полос проката (металлических, неметаллических, необработанных и с высококачественным покрыт...
Default ALL-Pribors Device Photo
49103-12
ПМН-3 Мера рельефная нанометрового диапазона с двумя периодическими массивами нанообъектов
ФГБОУ высшего профессионального образования "Национальный исследовательский университет "МИЭТ", г.Москва
Мера рельефная нанометрового диапазона с двумя периодическими массивами нанообъектов ПМН-3 (далее ╞ мера) предназначена для передачи размера единицы длины в диапазоне от 0,2·10-6 до 0,002 м и применяется при калибровке перемещений столика объектов ра...
49102-12
ПМН-4 Мера рельефная нанометрового диапазона с двумя периодическими массивами нанообъектов
ФГБОУ высшего профессионального образования "Национальный исследовательский университет "МИЭТ", г.Москва
Мера рельефная нанометрового диапазона с двумя периодическими массивами нанообъектов ПМН-4 (далее ╞ мера) предназначена для передачи размера единицы длины в диапазоне от 0,5·10-6 до 0,005 м и применяется при калибровке перемещений столика объектов ра...
Default ALL-Pribors Device Photo
49101-12
ПМН-1 Мера рельефная нанометрового диапазона с периодическим массивом нанообъектов
ФГБОУ высшего профессионального образования "Национальный исследовательский университет "МИЭТ", г.Москва
Мера рельефная нанометрового диапазона с периодическим массивом нанообъектов ПМН-1 (далее ╞ мера) предназначена для передачи размера единицы длины в диапазоне от 0,2·10-6 до 10-4 м и применяется при калибровке перемещений столика объектов растрового...
Default ALL-Pribors Device Photo
47748-11
МДР-278 нм Мера длины рельефная
ФГУП "ВНИИМС", г.Москва
Для хранения единицы длины в нанометровом диапазоне для ее передачи микроскопам электронным растровым и другим средствам измерений малой длины, применяемым в сфере нанотехнологий.
Default ALL-Pribors Device Photo
47747-11
МДР-3 мкм Мера длины рельефная
ФГУП "ВНИИМС", г.Москва
Для хранения единицы длины для ее передачи микроскопам электронным растровым и другим средствам измерений малой длины, применяемым в сфере нанотехнологий.
47524-11
МПУ278нм Меры длины рельефные
ФГУП "ВНИИМС", г.Москва
Для хранения единицы длины для ее передачи микроскопам электронным просвечивающим и другим средствам измерений малой длины.
46835-11
ПРО-10 Меры профильные
ОАО "Завод Протон-МИЭТ", г.Москва
Для передачи размера единицы длины в области измерений параметров шероховатости Ra, Rz, R и RSm в диапазоне 10^(-8)...10^(-4) м и поверки (калибровки) приборов для измерений параметров шероховатости и профиля поверхности, а также оптических, электрон...
46672-11
Кварц-XY1400/Z90нм Меры рельефные
ОАО "Завод Протон-МИЭТ", г.Москва
Для передачи размера единицы длины в диапазоне 10^(-9)...10^(-4)м и поверки (калибровки) оптических, оптических ближнего поля, растровых электронных, сканирующих туннельных и атомно-силовых микроскопов, а также других микроскопов и средств измерений...
Default ALL-Pribors Device Photo
44968-10
S140 Мера рельефная графитовая
Фирма "Agar Scientific, Ltd.", Великобритания
Для передачи размера единицы длины в диапазоне 10^(-9)...10^(-8) м. Применяется для поверки и калибровки микроскопов электронных просвечивающих
Default ALL-Pribors Device Photo
44966-10
S106 Мера периода рельефная
Фирма "Agar Scientific, Ltd.", Великобритания
Для передачи размера единицы длины в диапазоне 10^(-8)...10^(-5) м. Применяется для поверки и калибровки высокоточных микроскопов электронных просвечивающих и других средств измерений малой длины.
Default ALL-Pribors Device Photo
41748-09
VLSI NLS6-0.1 Мера периода линейная
Фирма "VLSI Standards, Inc.", США
Для передачи размера единицы длины в диапазоне 100 мкм...1 нм и поверки (калибровки) измерительных электронных микроскопов, предназначенных для контроля параметров топографии в плоскости XY при производстве изделий микроэлектроники (пластин). Область...
41680-09
TGQ1 Меры периода и высоты линейные
ЗАО "Нанотехнология МДТ", г.Москва, Зеленоград
Относятся к классу мер рельефных нанометрового диапазона и предназначены для передачи размера единицы длины в диапазоне 10^(-9)...10^(-4) м и поверки (калибровки) оптических ближнего поля, растровых электронных, сканирующих туннельных и атомно-силовы...
41680-09
TGQ1 Меры периода и высоты линейные
ЗАО "Нанотехнология МДТ", г.Москва, Зеленоград
Относятся к классу мер рельефных нанометрового диапазона и предназначены для передачи размера единицы длины в диапазоне 10^(-9)...10^(-4) м и поверки (калибровки) оптических ближнего поля, растровых электронных, сканирующих туннельных и атомно-силовы...
41679-09
TGT1 Меры периода линейно-угловые
ЗАО "Нанотехнология МДТ", г.Москва, Зеленоград
Относятся к классу мер рельефных нанометрового диапазона и предназначены для передачи размера единицы длины в диапазоне 10^(-9)...10^(-4) м и поверки (калибровки) растровых электронных, атомно-силовых микроскопов и других средств измерений малой длин...