Микроскопы оптические специальные Классификатор средств измерений по МИ

Микроскопы измерительные оптические OLYMPUS STM6, STM6-LM (далее - микроскопы) предназначены для измерений линейных размеров деталей.

Для измерения угла вращения плоскости поляризации монохроматического излучения при его прохождении через оптически-активные вещества и структуры на расстояниях, соответствующих областям ближнего (много меньше половины длины волны) и дальнего (больше...

Для измерений линейных размеров функциональных элементов нано- и микроэлектромеханических систем.

Для измерения профиля поверхности различных отражающих поверхностей в лабораториях научно-исследовательских институтов, оптическом приборостроении и производстве.

Для измерений геометрических параметров рельефа поверхности в лабораториях научно-исследовательских институтов, оптическом приборостроении.

Для измерений высоты профиля поверхности отражающего динамического объекта в микро- и нанодиапазоне.

Для измерения высоты профиля поверхности отражающих объектов в микро- и нанодиапазоне.

Для определения параметров топографии поверхности различных материалов с коэффициентом отражения 0,3...100 % бесконтактным методом. Применяется в ФГУП "ВНИИМС".

Универсальный (многоцелевой) прибор для трёхмерного анализа микрорельефа отражающей поверхности, создаёт графические изображения и проводит их цифровой анализ с целью получения высокоточных данных о структуре поверхности исследуемого объекта. Область...

Для измерений длины, ширины и глубины ячеек на различных металлах, полученных путем травления, гравирования лазерным лучом, а также на фотопленках в полиграфической промышленности.