ALL-Pribors: Классификатор средств измерений по МИ - Приборы и установки для измерения параметров электронных ламп и полупроводниковых приборов

Приборы и установки для измерения параметров электронных ламп и полупроводниковых приборов Классификатор средств измерений по МИ

48987-12
SemiCon-1 Приборы неразрушающего контроля электрофизических параметров широкозонных полупроводников
ФГБ образовательное учреждение высшего профессионального образования "Национальный исследовательский Томский государственный университет" (ТГУ), г.Томск
Для экспрессного бесконтактного локального измерения удельного сопротивления, времени жизни неравновесных носителей заряда и определения типа проводимости в пластинах и толстых шайбах поли- и монокристаллического кремния, германия, арсенида галлия в...
Для измерения вольтамперных характеристик и разбраковки полевых СВЧ транзисторов и других полупроводниковых приборов в условиях их серийного производства.
Default ALL-Pribors Device Photo
Для измерения удельного электрического сопротивления, коэффициента Холла, определения типа проводимости, концентрации и подвижности основных носителей заряда полупроводниковых материалов и полупроводниковых структур на подложках из арсенида галлия в...
39905-10
4155С, 4156С Измерители параметров полупроводниковых приборов
Фирма "Keysinght Technologies International Japan, Ltd.", Япония
Для измерения и автоматизации контроля электрических параметров полупроводниковых приборов, анализа их функциональных зависимостей, отображения на дисплее вольтамперных характеристик исследуемого объекта в виде графиков и таблиц, расчета на их основе...
39905-10
4155С, 4156С Измерители параметров полупроводниковых приборов
Фирма "Keysinght Technologies International Japan, Ltd.", Япония
Для измерения и автоматизации контроля электрических параметров полупроводниковых приборов, анализа их функциональных зависимостей, отображения на дисплее вольтамперных характеристик исследуемого объекта в виде графиков и таблиц, расчета на их основе...
Default ALL-Pribors Device Photo
Для контроля и измерения статических параметров интегральных микросхем в условиях серийного и массового производства на межоперационном и выходном контроле приборов в корпусах и на пластинах при ручной и автоматической загрузке и выгрузке.
Default ALL-Pribors Device Photo
Для измерений напряжения постоянного и переменного тока, силы постоянного тока, мощности ВЧ сигналов, частоты, девиации частоты, коэффициента нелинейных искажений, амплитуды импульсных сигналов, а также для регистрации и отображения результатов измер...
Default ALL-Pribors Device Photo
Для измерений напряжения постоянного и переменного тока, силы постоянного тока, частоты сигналов, коэффициента нелинейных искажений, амплитуды импульсных сигналов, генерации периодических НЧ сигналов, а также для регистрации и отображения результатов...
Default ALL-Pribors Device Photo
40461-09
590 Анализатор емкости и проводимости
Компания "Keithley Instruments, Inc.", США
Для измерения на переменном токе параметров емкостных объектов, представляемых параллельной или последовательной схемой замещения. Применяется в электронной промышленности при производстве и исследовании полупроводниковых приборов и для контроля каче...
Default ALL-Pribors Device Photo
Для измерения и автоматизации контроля электрических параметров полупроводниковых приборов, анализа их функциональных зависимостей, отображения на дисплее вольтамперных характеристик исследуемого объекта в виде графиков и таблиц, расчета на их основе...
Default ALL-Pribors Device Photo
Для измерения и автоматизации контроля электрических параметров полупроводниковых приборов, анализа их функциональных зависимостей, отображения на дисплее вольтамперных характеристик исследуемого объекта в виде графиков и таблиц, расчета на их основе...
Default ALL-Pribors Device Photo
Для измерения и автоматизации контроля электрических параметров полупроводниковых приборов, анализа их функциональных зависимостей, отображения на дисплее вольтамперных характеристик исследуемого объекта в виде графиков и таблиц, расчета на их основе...
Default ALL-Pribors Device Photo
Для измерения и автоматизации контроля электрических параметров полупроводниковых приборов, анализа их функциональных зависимостей, отображения на дисплее вольтамперных характеристик исследуемого объекта в виде графиков и таблиц, расчета на их основе...
Default ALL-Pribors Device Photo
Для прецизионных измерений постоянного и переменного электрического напряжения и силы тока, электрического сопротивления и частоты, а также для питания полупроводниковых приборов в режимах источника постоянного тока или постоянного напряжения, для пр...
Default ALL-Pribors Device Photo
Спецраздел. Для измерений параметров активных и пассивных электронных элементов, построения семейств их характеристик, и применяется для контроля параметров активных и пассивных электронных элементов при их испытаниях.