Приборы и установки для измерения параметров электронных ламп и полупроводниковых приборов Классификатор средств измерений по МИ
35430-07
ДМТ-220 Комплексы измерительные параметров активных и пассивных электронных элементов ЭРИ
ЗАО "ДМТ Электроникс", г.Москва
Спецраздел. Для измерений параметров активных и пассивных электронных элементов, построения семейств их характеристик, и применяется для контроля параметров активных и пассивных электронных элементов при их испытаниях.
35430-07
ДМТ-220 Комплексы измерительные параметров активных и пассивных электронных элементов ЭРИ
ЗАО "ДМТ Электроникс", г.Москва
Спецраздел. Для измерений параметров активных и пассивных электронных элементов, построения семейств их характеристик, и применяется для контроля параметров активных и пассивных электронных элементов при их испытаниях.
35430-07
ДМТ-220 Комплексы измерительные параметров активных и пассивных электронных элементов ЭРИ
ЗАО "ДМТ Электроникс", г.Москва
Спецраздел. Для измерений параметров активных и пассивных электронных элементов, построения семейств их характеристик, и применяется для контроля параметров активных и пассивных электронных элементов при их испытаниях.
35430-07
ДМТ-220 Комплексы измерительные параметров активных и пассивных электронных элементов ЭРИ
ЗАО "ДМТ Электроникс", г.Москва
Спецраздел. Для измерений параметров активных и пассивных электронных элементов, построения семейств их характеристик, и применяется для контроля параметров активных и пассивных электронных элементов при их испытаниях.
Раздел СИ специального назначения. В Госреестре описания нет.
Раздел СИ специального назначения. В Госреестре описания нет.
Для измерения и автоматизации контроля электрических параметров полупроводниковых приборов, анализа их функциональных зависимостей и отображения на экране внешнего персонального компьютера (ПК) вольтамперных характеристик (ВАХ) исследуемого объекта в...
29512-05
Agilent 4156С (анализатор параметров) Agilent 41501A (блок) Agilent Е5250А (коммутатор) Анализатор параметров полупроводниковых структур (с дополнительным блоком генератора импульсов) с коммутатором
Фирма "Agilent Technologies", США
Спецраздел. Для измерений и анализа характеристик полупроводниковых структур в сфере обороны и безопасности для определения параметров тестовых структур на пластине в лабораторных условиях в составе изделия 1Х1 НИИСИ РАН.
29244-05
ИССИ-1 Измеритель сопротивления сток-исток полевых транзисторов в открытом состоянии
ФГУП "НИИЭТ", г.Воронеж
Спецраздел.
Спецраздел. Для воспроизведения и измерения напряжения и силы постоянного тока, частоты следования прямоугольных импульсов и применяется в сфере обороны и безопасности для функционального и параметрического контроля микросхем с числом выводов до 64 с...
Спецраздел. Для воспроизведения и измерения напряжения и силы постоянного тока, частоты следования прямоугольных импульсов и применяется в сфере обороны и безопасности для функционального и параметрического контроля микросхем с числом выводов до 64 с...
Спецраздел. Для воспроизведения и измерения напряжения и силы постоянного тока, частоты следования прямоугольных импульсов и применяется в сфере обороны и безопасности для функционального и параметрического контроля микросхем с числом выводов до 64 с...
Раздел СИ специального назначения. В Госреестре материалов нет.
13287-92
Л2-83 Измерители статических параметров транзисторов и диодов
ОАО "Мытищинский электротехнический завод", г.Мытищи
Для измерения основных статических параметров маломощных и мощных биполярных транзисторов и диодов в цеховых и лабораторных условиях при входном и выходном контроле, могут работать в автоматизированных измерительных системах и управляться через канал...
13270-92
Л2-84 Измерители статических параметров цифровых ИС
ОАО "Мытищинский электротехнический завод", г.Мытищи
Для измерения тока потребления входного тока низкого и высокого уровня, напряжения блокировки, выходного напряжения низкого и высокого уровня, выходного тока высокого уровня и тока выключенного состояния, тока короткого замыкания, времени задержки ра...