Магнитные поля, свойств магнитных материалов Классификатор средств измерений

Default ALL-Pribors Device Photo
Для измерения напряженности магнитного поля при диагностике напряженно-деформированного состояния оборудования и конструкций, и определения зон концентрации напряжений по интенсивности изменения распределения магнитного поля с использованием метода м...
Default ALL-Pribors Device Photo
17153-05
ИПМ-101 Измерители напряженности поля малогабаритные
ООО НПП "Омега Инжениринг", г.Москва
Для измерений напряженности переменного электрического поля и напряженности переменного магнитного поля, применяются при контроле норм по электромагнитной безопасности в соответствии с ГОСТ 12.1.006-84, ГН 2.1.8/2.2.4.019-94 и СанПиН 2.2.4/2.1.8.055-...
Default ALL-Pribors Device Photo
28282-04
СКУ Системы контроля универсальные
ФГУП НИИИС, г.Нижний Новгород
Раздел СИ специального назначения. В Госреестре описания нет.
Default ALL-Pribors Device Photo
28281-04
ММК-01 ГВАТ.411711.002 Комплексы магнитометрические
ФГУП НИИИС, г.Нижний Новгород
Раздел СИ специального назначения. В Госреестре описания нет.
Default ALL-Pribors Device Photo
27837-04
АУКП-01 Установки поверочные автоматизированные
ОАО "Челябинский завод "Теплоприбор", г.Челябинск
Для поверки измерительных вторичных приборов с унифицированными входными и выходными сигналами силы и напряжения постоянного тока, электрического сопротивления при выпуске из производства.
Default ALL-Pribors Device Photo
27589-04
М-503 Меры напряженности магнитного поля
ООО "Микроакустика", г.Екатеринбург
Для воспроизведения напряженности постоянного и переменного магнитных полей в лабораторных условиях.
Default ALL-Pribors Device Photo
27588-04
МФ-207 Измерители напряженности магнитного поля
ООО "Микроакустика", г.Екатеринбург
Для измерения напряженности постоянного магнитного поля, напряженности и частоты переменного магнитного поля в свободном пространстве и на поверхности объектов, для измерения магнитных величин в лабораторных, цеховых и полевых условиях.
Default ALL-Pribors Device Photo
27495-04
ТХ-4 Тесламетры
ООО НПКП "Средуралметпром", г.Екатеринбург
Для измерения индукции постоянного магнитного поля и среднего квадратического значения индукции переменного магнитного поля общетехнических частот (далее - индукции переменного магнитного поля), а также для измерения амплитудного значения индукции ед...
Default ALL-Pribors Device Photo
27494-04
PMS 3000 Установка магнитоизмерительная
Фирма "Electricals Instrumentation Cogent Power Limited", Великобритания
Для измерения магнитных свойств образцов электротехнической стали массой 300...1000 г в аппарате Эпштейна (далее AЭ) по методике ГОСТ 12119.4-98, ГОСТ 12119.5-98 на предприятиях черной металлургии и электромашиностроения.
Default ALL-Pribors Device Photo
Для воспроизведения импульсов электромагнитного поля с нано- и субнаносекундной длительностью фронта, калибровки и поверки средств измерений напряженностей импульсных электрического и магнитного полей и определения параметров их переходных характерис...
Default ALL-Pribors Device Photo
27118-04
MPG 100 D Установка магнитоизмерительная
Фирма "Brockhaus Messtechnik", Германия
Для автоматического измерения магнитных характеристик образцов из анизотропной электротехнической стали (ГОСТ 21427.1) по методике ГОСТ 12119.4, ГОСТ 12119.5 в аппарате Эпштейна, листовом и однополосочном аппаратах на предприятиях черной металлургии...
Default ALL-Pribors Device Photo
27118-04
MPG 100 D Установка магнитоизмерительная
Фирма "Brockhaus Messtechnik", Германия
Для автоматического измерения магнитных характеристик образцов из анизотропной электротехнической стали (ГОСТ 21427.1) по методике ГОСТ 12119.4, ГОСТ 12119.5 в аппарате Эпштейна, листовом и однополосочном аппаратах на предприятиях черной металлургии...
Default ALL-Pribors Device Photo
26972-04
М026М Аппаратура
ФГУП "ВНИИМ им.Д.И.Менделеева", г.С.-Петербург
Спецраздел.
26812-04
ИМП-6 Измерители напряженности магнитного поля
ЗАО "НПО "Интротест", г.Екатеринбург
Для измерения напряженности постоянного магнитного поля в диапазоне до 20000 А/м, могут применяться для определения степени намагниченности магнитного поля вблизи поверхности контролируемого изделия (режим компенсации однородных полей в диапазоне до...