Оборудование КИПиА в г. Сумы (Страница 2)

Для идентификации и измерения содержания примесей в гексафториде урана в соответствии с методиками выполнения измерений, утвержденными в установленном порядке, могут применяться в промышленных технологических линиях по переработке и производству ядер...

Для идентификации и измерений содержания компонентов газообразных и жидких смесей в соответствии с методиками выполнения измерений на предприятиях химической, нефтехимической, газовой, коксохимической, фармацевтической промышленности, медицине и экол...

Для заправки топливных баллонов автомобилей сжатым природным газом по ГОСТ 27577, измерений объема, приведенного к стандартным (нормальным) условиям и массы заправленного газа, а также определения стоимости отпущенного газа, для применения в составе...

Для автоматического контроля изотопного состава урана в гексафториде урана, а также анализа других технологических газов, в том числе определения микропримесей в них, для применения в атомной энергетике, при производстве чистых изотопов.

Для автоматического контроля изотопного состава урана в гексафториде урана, для применения в промышленных технологических линиях по производству и переработке урана для ядерного топлива.

Для определения массовой концентрации химических элементов в жидких пробах атомноабсорбционным методом по разработанным методическим указаниям или методикам выполнения измерений.

Для анализа изотопного состава твердых веществ, применяются в атомной энергетике, ядерной физике, геологии, геохронологии, охраны окружающей среды. Массовые числа при Uуск=8kV 1...280.

Для определения концентрации химических элементов в пробах атомно-абсорбционным методом по разработанным методическим указаниям или методикам выполнения измерений.

Для определения массовой концентрации химических элементов в жидких пробах различного происхождения и состава по методикам выполнения измерений, разработанным потребителем и утвержденным в установленном порядке, в условиях химико-аналитических лабора...

Для исследования поверхности и качественного элементного послойного анализа металлов, сплавов, композиционных материалов и других твердых веществ, не являющихся диэлектриком, методом вторично-ионной масс-спектрометрии