Оборудование в госреестре Фирма "Agilent Technologies Inc.", США

Для измерения параметров радиотехнических компонентов и компонентов электрических цепей (резисторов, конденсаторов, катушек индуктивности) на переменном токе, представляемых параллельной или последовательной двухэлементной схемой замещения. Область п...

Для измерений характеристик СВЧ устройств в диапазоне частот 2,402...2,484 ГГц и 4,800...5,875 ГГц. Применяется в качестве источника СВЧ сигнала сложной формы со стабильными значениями амплитуды, длительности импульса, длительности фронта и спада вых...

Для воспроизведения периодических сигналов наиболее распространенных форм в диапазоне частот 1 мГц...10 МГц, 1 мкГц...25 МГц а также сигналов произвольной формы до 3 МГц и 6 МГц соответственно, для использования в составе автоматизированных измерител...

Для измерения содержания различных элементов в водных растворах, продуктах питания, почвах, медицинских пробах и т.д. и применяются в аналитических лабораториях промышленных предприятий и научно-исследовательских институтах.

Для измерения коэффициента стоячей волны, обратных потерь, потерь в кабелях и расстояния до неоднородности в кабельных и антенных системах, для проведения монтажа, настройки и технического обслуживания кабельных и антенных систем. Область применения...

Спецраздел. Для измерений амплитудных и временных параметров электрических сигналов (с индикацией результатов измерений на экране), исследования их формы и применяются для электрорадиоизмерений при проведении исследовательских и испытательных работ.

Спецраздел. Для измерений составляющих спектра (частоты и уровня) периодически повторяющихся сигналов и стационарных шумов и применяются для электрорадиоизмерений при проведении исследовательских и испытательных работ.

Спецраздел.

Для измерения и автоматизации контроля электрических параметров полупроводниковых приборов, анализа их функциональных зависимостей, отображения на дисплее вольтамперных характеристик исследуемого объекта в виде графиков и таблиц, расчета на их основе...

Для измерения и автоматизации контроля электрических параметров полупроводниковых приборов, анализа их функциональных зависимостей, отображения на дисплее вольтамперных характеристик исследуемого объекта в виде графиков и таблиц, расчета на их основе...