Оборудование в госреестре Фирма "Carl Zeiss Industrielle Messtechnik GmbH", Германия

Микроскопы сканирующие электронные EVO 18 (далее по тексту - микроскопы) предназначены для измерений линейных размеров микрорельефа твердотельных структур.

Машины координатные измерительные CenterMax (далее КИМ) предназначены для измерений геометрических размеров и формы деталей, для контроля деталей в условиях серийного производства в цеховых условиях.

Машины координатные измерительные GageMax (далее - КИМ) предназначены для измерений геометрических размеров и формы деталей, для контроля деталей в условиях серийного производства в цеховых условиях.

Комплекты мер для поверки установок координатно-измерительных Carl Zeiss предназначены для передачи единицы длины в области измерений геометрических параметров отклонений формы и взаимного расположения поверхностей.

Машины координатные измерительные MMZ (далее КИМ) предназначены для измерений геометрических размеров и формы деталей, для контроля деталей в условиях серийного производства в цеховых условиях.

Микроскопы автоэмиссионные сканирующие электронные MERLIN Compact, MERLIN Compact VP, MERLIN предназначены для измерений линейных размеров микрорельефа твердотельных структур.

Микроскопы полевые эмиссионные растровые электронные SIGMA, SIGMA VP, SIGMA HD, SIGMA HD VP предназначены для измерений линейных размеров микрорельефа твердотельных структур.

Машины координатные измерительные PRO/PRO T (далее КИМ) предназначены для измерений геометрических размеров корпусных деталей сложной формы (рам, шасси, капотов двигателей и т.д.), тяжелых громоздких деталей, отливок, деталей космической техники, кон...

Микроскопы сканирующие электронные EVO MA10, EVO MA15, EVO MA25, EVO LS10, EVO LS15, EVO LS25, EVO HD15 MA, EVO HD25 MA, EVO HD15 LS, EVO HD25 LS предназначены для измерений линейных размеров микрорельефа твердотельных структур.

Микроскоп инвертированный Axiovert 200MAT (далее - Микроскоп) предназначен для измерений при проведении металлографических наблюдений и исследований, в том числе при контроле качества образцов в машиностроении, геологии, микроэлектронике и других отр...