Фирма "Topcon Corporation", Япония
Нивелиры Фирма "Topcon Corporation", Япония
Нивелиры электронные SDL (далее - нивелиры) предназначены для измерений превышений методом геометрического нивелирования по вертикальным рейкам.
Нивелиры оптические В30А, АТ-В3А, В40А, АТ-В4А (далее - нивелиры) предназначены для измерения превышений методом геометрического нивелирования по вертикальным рейкам при создании, развитии и поддержании в рабочем состоянии государственных геодезическ...
Нивелиры электронные SDL30, SDL50, ORION+ предназначены для определения превышений методом геометрического нивелирования по вертикальным рейкам.
38909-08
TP-L4A, TP-L4AV, TP-L4B, TP-L4BG, TP-L4G, TP-L4GV Нивелиры лазерные для контроля и монтажа трубопроводов
Фирма "Topcon Corporation", Япония
Для измерения уклона проложенных трубопроводов и нивелирования трубопроводов с заданным уклоном при их прокладке. Область применения - строительство и эксплуатация трубопроводов.
32318-06
RL-VH3A, RL-VH3B , RL-VH3D Нивелиры лазерные ротационные
Фирма "Topcon Corporation", Япония
Для измерения превышений, высот и построения (задания) горизонтальных и вертикальных плоскостей (направлений) в трехмерной координатной системе, область применения - геодезические разбивочные работы, землеустроительные работы, строительство, отделочн...
Для измерения превышений, высот и построения (задания) горизонтальной плоскости, область применения - геодезические разбивочные работы, землеустроительные работы, строительство, отделочные работы и монтаж технологического оборудования.
Для измерения превышений методом геометрического нивелирования по вертикальным рейкам и применяются при производстве геодезических работ при высотном обосновании топографических съемок, в прикладной геодезии, при инженерно-геодезических изысканиях и...
Для измерения превышений методом геометрического нивелирования по вертикальным рейкам и применяются для нивелировании III, IV класса, при производстве геодезических работ при высотном обосновании топографических съемок, в прикладной геодезии, при инж...
Для измерения превышений методом геометрического нивелирования по вертикальным рейкам, для выполнения нивелирования II, III и IY классов, в прикладной геодезии, инженерно-геодезических изысканиях, наблюдениях за осадками и деформациями в промышленнос...
Для измерения превышений методом геометрического нивелирования по вертикальным рейкам м применяются для выполнения нивелирования при высотном обосновании топографических съемок, при инженерно-геодезических изысканиях и в строительстве.