Фирма "Topcon Corporation", Япония
Рефрактометры Фирма "Topcon Corporation", Япония
Для объективного измерения сферической и цилиндрической рефракции, определения положений главных сечений при астигматизме, необходимых для коррегирования недостатков оптической системы глаза, расстояния между зрачками PD и размера зрачка глаза при по...
Для объективного измерения рефракции, необходимой для корригирования недостатков оптической системы глаза и определения положений главных сечений при астигматизме, данные объективного измерения рефракции глаза, полученные с помощью рефрактометров, не...
Для объективного измерения рефракции и определения положений главных сечений при астигматизме, необходимые для корригирования недостатков оптической системы глаза, и измерения радиуса кривизны роговицы глаза при подборе контактных линз. Данные объект...
Для измерения показателей преломления драгоценных камней и минералов на длине волны спектральной линии излучения D натрия (589,3 нм), применяются в геммологической лаборатории.