Толщиномеры ОАО "Институт физико-технических проблем", г.Дубна
ОАО "Институт физико-технических проблем", г.Дубна

Толщиномеры ОАО "Институт физико-технических проблем", г.Дубна

92191-24
РТЛ-1К Толщиномеры плёночных материалов радиоизотопные
Акционерное общество "Институт физико-технических проблем" (АО "ИФТП"), Московская область, г. Дубна
Толщиномеры плёночных материалов радиоизотопные РТЛ-1К предназначены для бесконтактных измерений поверхностной плотности пленочных органических полимерных материалов и контроля (регулирования) технологического процесса.
92190-24
РТО-1К Толщиномеры обратного рассеяния радиоизотопные
Акционерное общество "Институт физико-технических проблем" (АО "ИФТП"), Московская область, г. Дубна
Толщиномеры обратного рассеяния радиоизотопные РТО-1К предназначены для бесконтактных измерений поверхностной плотности листовых органических материалов и контроля (регулирования) технологического процесса.
91261-24
РТВК-1К Толщиномеры покрытий рентгенофлуоресцентные
Акционерное общество "Институт физико-технических проблем" (АО "ИФТП"), Московская обл., г. Дубна
Толщиномеры покрытий рентгенофлуоресцентные РТВК-1К предназначены для бесконтактных измерений толщины металлических покрытий методом энергодисперсионной рентгеновской флуоресценции.
91126-24
РТП-1К Толщиномеры проката радиоизотопные
Акционерное общество "Институт физико-технических проблем" (АО "ИФТП"), Московская обл., г. Дубна
Толщиномеры проката радиоизотопные РТП-1К предназначены для бесконтактных измерений толщины стального проката в процессе производства.
Толщиномеры покрытий специализированные рентгенфлуоресцентные в составе технологического оборудования РТВК-1КР предназначены для неразрушающего измерения толщины (поверхностной плотности) металлических и диэлектрических покрытий на изделиях, а также...
51745-12
РТВК-1К Толщиномеры покрытий рентгенофлюоресцентные
ОАО "Институт физико-технических проблем", г.Дубна
Толщиномеры покрытий ренгенофлюоресцентные РТВК-1К (далее по текстутолщиномер) предназначен для неразрушающего экспресс-измерения толщины металлических и диэлектрических покрытий на изделиях путём регистрации интенсивности характеристического рентген...