Интерферометры ОАО "ЛОМО", г.С.-Петербург

Для измерения параметров EFEg и EFE отклонения от плоскостности полированных плоских поверхностей, для измерения параметров ECEg и ECE отклонения от сферичности полированных сферических поверхностей

Для измерения параметров шероховатости поверхности и для измерения толщины пленок (высоты уступов, образованных краями пленки и подложки). Применяется в машиностроительной и приборостроительной промышленности и в лабораториях

Для измерения параметров EFEg и EFE отклонения от плоскостности полированных поверхностей в отраслях, связанных с изготовлением оптических и прецизионных поверхностей

Для измерения отклонений от плоскостности полированных поверхностей диаметром до 200 мм

Для измерения отклонений от плоскостности полированных поверхностей диаметром до 100 мм с отражающим покрытием и без него

Для измерения высоты неровностей