Интерферометры ОАО "ЛОМО", г.С.-Петербург

Интерферометры ОАО "ЛОМО", г.С.-Петербург

Default ALL-Pribors Device Photo
12632-91
ИН Насадки интерферометрические
ОАО "ЛОМО", г.С.-Петербург
Для измерения параметров EFEg и EFE отклонения от плоскостности полированных плоских поверхностей, для измерения параметров ECEg и ECE отклонения от сферичности полированных сферических поверхностей
Default ALL-Pribors Device Photo
12435-90
МИИ-4М Микроинтерферометры
ОАО "ЛОМО", г.С.-Петербург
Для измерения параметров шероховатости поверхности и для измерения толщины пленок (высоты уступов, образованных краями пленки и подложки). Применяется в машиностроительной и приборостроительной промышленности и в лабораториях
Default ALL-Pribors Device Photo
12310-90
ИКД-110 Интерферометры
ОАО "ЛОМО", г.С.-Петербург
Для измерения параметров EFEg и EFE отклонения от плоскостности полированных поверхностей в отраслях, связанных с изготовлением оптических и прецизионных поверхностей
Default ALL-Pribors Device Photo
9529-84
ИТ-200 Интерферометры
ОАО "ЛОМО", г.С.-Петербург
Для измерения отклонений от плоскостности полированных поверхностей диаметром до 200 мм
Default ALL-Pribors Device Photo
9528-84
ИТ-100 Интерферометры
ОАО "ЛОМО", г.С.-Петербург
Для измерения отклонений от плоскостности полированных поверхностей диаметром до 100 мм с отражающим покрытием и без него
Default ALL-Pribors Device Photo
1076-77
МИИ-4 Микроинтерферометры
ОАО "ЛОМО", г.С.-Петербург
Для измерения высоты неровностей