НИЦПВ Классификатор средств измерений по ГЦИ СИ

Для измерений линейных размеров деталей структуры, наблюдаемых на изображении, сформированном прошедшими через исследуемый объект электронами, а также анализа микро- и наноструктуры объектов и их элементного состава в материаловедении, микроэлектрони...

Для измерения параметров сейсмических колебаний, а также колебаний сооружений, конструкций, машин и т.п., при проведении сейсмологических, геологоразведочных, вибродиагностических работ и исследований.

Для калибровки и поверки просвечивающих и растровых электронных микроскопов, применяемых в материаловедении, микроэлектронике и полупроводниковых технологиях, металлургии, геологии, биологии, медицине, а также в лабораториях промышленных предприятий,...

Для измерений линейных размеров элементов топологии и параметров микрорельефа поверхности различных объектов в твердой фазе и измерений массовой доли элементов в составе объектов методом рентгеновского микроанализа в режимах высокого вакуума и низког...

Для измерений колебательного смещения или скорости смещения поверхности твердых тел в диапазоне частот (0-600)кГц, для неразрушающего контроля и оценки технического состояния опасных промышленных объектов в составе акустико-эмиссионных измерительных...

Для измерения колебательного смещения или скорости смещения поверхности твердых тел в диапазоне частот (40-120) кГц, для неразрушающего контроля и оценки технического состояния опасных промышленных объектов в составе акустико-эмиссионных измерительны...

Для измерений трехмерной топологии и параметров микрорельефа поверхности конденсированных сред с атомарным разрешением, применяются в микро-, опто-, наноэлектронике, нанотехнологии, микромеханике, фармацевтике и микробиологии, производстве полимеров...

Для измерений трехмерной топологии и параметров микрорельефа поверхности конденсированных сред с атомарным разрешением, применяются в микро-, опто-, наноэлектронике, нанотехнологии, микромеханике, фармацевтике и микробиологии, производстве полимеров...

Для автоматизированного пробоотбора и пробоподготовки биологических образцов к проведению измерений масс-спектров масс-спектрометрами, в которых ионизация осуществляется лазерным излучением, взаимодействующим с пробами, пространственно двумерно распо...

Для автоматизированных измерений масс-спектров веществ при физико-химических исследованиях веществ и материалов в биохимии, биотехнологии, физической химии, химии синтетических полимеров, фармацевтике, в аналитических лабораториях промышленных предпр...

Для автоматизированных измерений масс-спектров веществ при физико-химических исследованиях веществ и материалов в биохимии, биотехнологии, физической химии, химии синтетических полимеров, фармацевтике, в аналитических лабораториях промышленных предпр...

Для измерений спектров электронных переходов в веществах и материалах в твердой и жидкой фазе, сырье и продукции химического производства, фармацевтики, металлургии, полупроводниковой промышленности, биологических системах и т.д. Применяются при опре...

Для измерений спектров электронных переходов в веществах и материалах в твердой и жидкой фазе, сырье и продукции химического производства, фармацевтики, металлургии, полупроводниковой промышленности, биологических системах и т.д. Применяются при опре...

Для измерения оптических спектров пропускания, отражения в ИК диапазоне, определения концентрации различных органических и неорганических веществ в твердой и жидкой фазах, продукции нефтехимического производства, органического синтеза, продуктах пита...

Для непрерывного стационарного измерения скорости потока и объемов воздуха, газов и паров в трубопроводах, коробах и на открытых пространствах в системах вентиляции путепроводов и туннелей, системы охлаждения, защита оборудования, управления и монито...