ВНИИОФИ Классификатор средств измерений по ГЦИ СИ

Для: измерения площади и координат дефектов с помощью полученных двумерных изображений; контроля импедансным методом - для обнаружения дефектов типа расслоения и непроклея в клееных, паяных многослойных конструкциях, а также конструкциях с сотовым за...

Для измерения оптической плотности жидких проб при проведении биохимических исследований (модели 1904+, 3300, 4500) и иммуно-ферментного анализа (модели 303+, 2100, 3200, 4200, 4300).

Для измерения оптической плотности жидких проб при проведении биохимических исследований.

Для использования в качестве меры оптической плотности для определения погрешности фотометрической шкалы фотометров и спектрофотометров в соответствии с ГОСТ 8.557-2007.

Для измерений амплитудно-временных параметров импульсов напряженности электрического поля с длительностью фронта в наносекундном диапазоне и последующего их преобразования в сигналы, доступные для осциллографической регистрации.

Для воспроизведения и (или) хранения физической величины заданных геометрических размеров искусственных дефектов на поверхности для проведения поверки, калибровки и настройки системы контроля вихревым током ЭДДИТРОН и аналогичных, цифровой системы ви...

Для измерений вершинной рефракции и межцентрового расстояния офтальмологических рефрактометров при проведении их первичной и периодической поверок.

Для измерения амплитуд эхосигналов отраженных от дефектов, времени прохождения ультразвуковых колебаний и координат дефектов. Для контроля и диагностики изделий основного производства и технологического оборудования энергетики, нефтегазовых и нефтепе...

Для измерений амплитудно-временных параметров импульсов напряженности электрического поля с длительностью фронта в наносекундном и субнаносекундном диапазоне, включая сверхкороткие электромагнитные импульсы и последующего их преобразования в сигналы,...

Для выявления и измерения параметров дефектов типа поверхностных и подповерхностных трещин, нарушений сплошности и однородности материалов, полуфабрикатов и готовых изделий из ферромагнитных и неферромагнитных металлов и сплавов. Применяются в нефтеп...

Для прецизионных измерений скорости продольных ультразвуковых волн в образцах различных конструкционных материалов (металлов, сплавов, керамик, пластмасс, композитных материалов) при одностороннем доступе к объекту контроля. Для работы в лабораторных...

Для сплошного неразрушающего контроля основного металла, измерения потерянной толщины стенки, измерения координат дефектов. Позволяют выявлять дефекты, несплошности и неоднородности материала трубопроводов различного назначения, трубчатых поверхносте...

Для измерений единиц блеска и использования в качестве эталонной меры при определении погрешности фотоэлектрических блескомеров различных типов при проведении их поверки.

Для измерений ослабления методом обратного рассеяния в одномодовых оптических кабелях, длины (расстояния) до мест неоднородностей и оценки неоднородностей оптического кабеля.

Для измерений сферической и цилиндрической вершинной рефракции глаза, определения положений главных сечений при астигматизме, измерений радиуса кривизны роговицы глаза, межзрачкового расстояния PD и диаметра зрачка при подборе очков и контактных линз...