Спектрометры в госреестре РФ - Полный список оборудования

Спектрометры в ГРСИ РФ

Для измерения удельной (объемной) активности бета- и гамма-излучающих нуклидов в счетных образцах спектрометрическим методом в лабораторных условиях как установка специального назначения и является средством для измерения активности радионуклидов в п...
13358-12
SPECTROLAB, SPECTROMAXx Спектрометры эмиссионные
Фирма "Spectro Analytical Instruments GmbH", Германия
Для измерения концентрации элементов (примесей) в черных и цветных металлах и сплавах при анализах в лабораторных условиях на предприятиях, производящих или потребляющих металлы, сплавы и изделия из них, в металлургической промышленности, машинострое...
Default ALL-Pribors Device Photo
Для определения массовой доли микролегирующих элементов и примесей в наноструктурированных жаропрочных сплавах.
Default ALL-Pribors Device Photo
48555-11
Sector 54 Масс-спектрометр термоионизационный
Фирма "Micromass UK Ltd.", Великобритания
Для определения изотопного состава химических элементов в твёрдой фазе в соответствии с аттестованными методиками выполнения измерений.
Default ALL-Pribors Device Photo
48554-11
X SERIES 7 Масс-спектрометр с индуктивно связанной плазмой
Фирма "Thermo Electron Corporation", Великобритания
Для измерения массовой концентрации различных элементов в пробах веществ и материалов, растворах, продуктах питания, почвах и т.д.
48444-11
ДАС 2702 Спектрометры аэрозольные диффузионные
ООО "АэроНаноТех", г.Москва
Для измерений размеров аэрозольных частиц и их счетной концентрации в газовых средах.
48409-11
JEOL JNM ЯМР-спектрометры
Фирма "JEOL Ltd.", Япония
Для измерения параметров ЯМР-спектра (спектральная частота и интенсивность выходного сигнала) веществ и материалов при проведении научных и аналитических исследований (качественных и количественных) в области химии, физики, биологии, материаловедения...
Для измерения концентрации химических элементов в металлах и сплавах.
48390-11
INCA WAVE 700 Спектрометр рентгеновский с волновой дисперсией
Фирма "Oxford Instruments Analytical Limited", Великобритания
Для измерений длины волны и относительной интенсивности рентгеновского излучения в составе растровых электронных микроскопов и электроннозондовых микроанализаторов.
Для измерений тока вторичных ионов, возникающих при послойном травлении исследуемого объекта потоком первичных ионов, в зависимости от отношения массы к заряду вторичных ионов или от времени травления.