Спектрометры
Спектрометры в ГРСИ РФ
15382-12
УСК "ГАММА ПЛЮС" Комплексы универсальные спектрометрические
ЗАО "НТЦ Экспертцентр", г.Москва
Для измерения удельной (объемной) активности бета- и гамма-излучающих нуклидов в счетных образцах спектрометрическим методом в лабораторных условиях как установка специального назначения и является средством для измерения активности радионуклидов в п...
13358-12
SPECTROLAB, SPECTROMAXx Спектрометры эмиссионные
Фирма "Spectro Analytical Instruments GmbH", Германия
Для измерения концентрации элементов (примесей) в черных и цветных металлах и сплавах при анализах в лабораторных условиях на предприятиях, производящих или потребляющих металлы, сплавы и изделия из них, в металлургической промышленности, машинострое...
48798-11
Plasma Quad 3 Масс-спектрометр с индуктивно связанной плазмой
Фирма "VG Elemental", Великобритания
Для определения массовой доли микролегирующих элементов и примесей в наноструктурированных жаропрочных сплавах.
Для определения изотопного состава химических элементов в твёрдой фазе в соответствии с аттестованными методиками выполнения измерений.
48554-11
X SERIES 7 Масс-спектрометр с индуктивно связанной плазмой
Фирма "Thermo Electron Corporation", Великобритания
Для измерения массовой концентрации различных элементов в пробах веществ и материалов, растворах, продуктах питания, почвах и т.д.
Для измерений размеров аэрозольных частиц и их счетной концентрации в газовых средах.
Для измерения параметров ЯМР-спектра (спектральная частота и интенсивность выходного сигнала) веществ и материалов при проведении научных и аналитических исследований (качественных и количественных) в области химии, физики, биологии, материаловедения...
48408-11
PMI-MASTER мод. UVR, ASR Спектрометры оптико-эмиссионные портативные
Фирма "Oxford Instruments Analytical GmbH", Германия
Для измерения концентрации химических элементов в металлах и сплавах.
48390-11
INCA WAVE 700 Спектрометр рентгеновский с волновой дисперсией
Фирма "Oxford Instruments Analytical Limited", Великобритания
Для измерений длины волны и относительной интенсивности рентгеновского излучения в составе растровых электронных микроскопов и электроннозондовых микроанализаторов.
48387-11
IMS-4f Масс-спектрометр вторично-ионный микрозондовый с системой динамического переноса
Фирма "Cameca", Франция
Для измерений тока вторичных ионов, возникающих при послойном травлении исследуемого объекта потоком первичных ионов, в зависимости от отношения массы к заряду вторичных ионов или от времени травления.