Госреестр средств измерений РФ (Страница 3339)

Государственный реестр средств измерений (Страница 3339)

Всего записей: 106911
Default ALL-Pribors Device Photo
Для измерения активной и реактивной электроэнергии, потребленной за установленные интервалы времени, сбора, обработки, хранения и передачи полученной информации.
Default ALL-Pribors Device Photo
Для измерения активной и реактивной электроэнергии, для осуществления эффективного автоматизированного коммерческого учета и контроля потребления электроэнергии и мощности по всем расчетным точкам учета, а также регистрации параметров электропотребле...
Default ALL-Pribors Device Photo
Для измерения активной и реактивной электроэнергии, для осуществления эффективного автоматизированного коммерческого учета и контроля потребления электроэнергии и мощности по всем расчетным точкам учета, а также регистрации параметров электропотребле...
Default ALL-Pribors Device Photo
Для измерения активной и реактивной электроэнергии, для осуществления эффективного автоматизированного коммерческого учета и контроля потребления электроэнергии и мощности потребляемой с ОРЭМ по расчетным точкам учета, а также регистрации параметров...
48292-11
АРН-2 Анализаторы размера частиц
ФГУП "ВНИИ оптико-физических измерений" (ВНИИОФИ), РОССИЯ, г.Москва
Для измерения размеров дисперсных частиц нанометрового и субмикронного размера в жидких средах.
48291-11
VCM-200A Микроскоп конфокальный сканирующий
Фирма "Veeco Instruments", СОЕДИНЕННОЕ КОРОЛЕВСТВО
Для измерения профиля поверхности различных отражающих поверхностей в лабораториях научно-исследовательских институтов, оптическом приборостроении и производстве.
48290-11
INCA Energy 250 Спектрометр энергодисперсионный
Фирма "Oxford Instruments", СОЕДИНЕННОЕ КОРОЛЕВСТВО
Для качественного и количественного рентгеновского микроанализа химических элементов в твердых, порошкообразных, смешанных и тонкопленочных образцах.
48289-11
WITec alpha 300 Микроскоп ближнепольный
Фирма "WITec GmbH", ГЕРМАНИЯ
Для измерений геометрических параметров рельефа поверхности в лабораториях научно-исследовательских институтов, оптическом приборостроении.
Default ALL-Pribors Device Photo
48288-11
Shimadzu XRD-7000 Дифрактометр рентгеновский
Фирма "Shimadzu Corporation", ЯПОНИЯ
Для измерения угловой зависимости интенсивности отражённого от вещества излучения для последующего вычисления значений параметров кристаллической решетки и оценки качественного фазового состава с использованием баз кристаллографических данных.
Для измерения оптических характеристик наноструктурных фотонно-кристаллических волокон для перспективных высокоскоростных волоконно-оптических информационно-телекоммуникационных систем в качестве рабочего средства измерений.
48286-11
Родник-4М Генераторы влажного газа эталонные
Общество с ограниченной ответственностью «Научно-производственное предприятие ОКБА» (ООО «НПП ОКБА»), Иркутская обл., г. Ангарск
Для воспроизведения относительной влажности и объемной доли влаги (ОДВ) парогазовой смеси (ПГС) при поверке, калибровке и градуировке гигрометров погружного и проточного типов.
48285-11
Физо Интерферометр фотоэлектрический
ФГУП "ВНИИОФИ", РОССИЯ, г.Москва; ФГУП "НПО "Оптика", РОССИЯ, г.Москва
Для измерений отклонений от плоскостности оптических поверхностей в научно-исследовательских институтах, оптическом приборостроении.
48284-11
НаноСкан-3Di Микроскоп сканирующий зондовый
ФГУ "Технологический институт сверхтвердых и новых углеродных материалов", РОССИЯ, г.Троицк
Для измерений геометрических параметров топографии поверхности с нанометровым пространственным разрешением. Результаты измерений могут быть использованы для определения геометрических параметров в нанометровом диапазоне. Применяется при проведении фу...
48283-11
CGR 4 Пиргеометры
Фирма "Kipp & Zonen B.V.", НИДЕРЛАНДЫ
Для измерений энергетической освещенности солнечным излучением в диапазоне длин волн 4,5...42 мкм, а также для измерений энергетической освещенности, создаваемой другими источниками непрерывного оптического излучения, например, имитаторами солнечного...
48282-11
CHP 1 Пиргелиометры
Фирма "Kipp & Zonen B.V.", НИДЕРЛАНДЫ
Для измерений энергетической освещенности солнечным излучением в диапазоне длин волн 200...4000 нм, а также для измерений энергетической освещенности, создаваемой другими источниками непрерывного оптического излучения, например, имитаторами солнечног...