1076-77: МИИ-4 Микроинтерферометры - Производители, поставщики и поверители

Микроинтерферометры МИИ-4

ALL-Pribors default picture
Номер в ГРСИ РФ: 1076-77
Категория: Интерферометры
Производитель / заявитель: ОАО "ЛОМО", г.С.-Петербург
Заказать
Поставщик: ООО "КОЛБА"
Микроинтерферометры МИИ-4 поверка на: www.ktopoverit.ru
КтоПоверит
Онлайн-сервис метрологических услуг

Для измерения высоты неровностей

Информация по Госреестру

Основные данные
Номер по Госреестру 1076-77
Наименование Микроинтерферометры
Модель МИИ-4
Технические условия на выпуск ТУ 3-3.1145-81
Класс СИ 27.01
Год регистрации 1977
Страна-производитель  Россия 
Центр сертификации СИ
Наименование центра -
Телефон ()
Информация о сертификате
Срок действия сертификата . .
Номер сертификата нет
Тип сертификата (C - серия/E - партия) С
Дата протокола 1977
Производитель / Заявитель

ОАО "ЛОМО", г.С.-Петербург

 Россия 

194044, ул.Чугунная, 20. Тел.(812) 248-29-15, 248-52-42, факс 542-53-22, 542-18-39, www.lomo.ru, E-mail: sales@lomo.ru

Поверка

Межповерочный интервал / Периодичность поверки -
Зарегистрировано поверок 524
Найдено поверителей 34
Успешных поверок (СИ пригодно) 500 (95%)
Неуспешных поверок (СИ непригодно) 24 (5%)
Актуальность информации 22.12.2024

Поверители

Другие Интерферометры

Default ALL-Pribors Device Photo
11235-88
ГИК-3 Интерферометры шахтные
ОКБА НПО "Химавтоматика", Узбекистан, г.Чирчик
Для измерения объемной доли, % метана, водорода и диоксида углерода в шахтах
Default ALL-Pribors Device Photo
12208-90
ЛИ-5 Интерферометры лабораторные
Оптико-механический завод, г.Азов
Для аттестации объемной доли метана в метановоздушных смесях
Default ALL-Pribors Device Photo
12310-90
ИКД-110 Интерферометры
ОАО "ЛОМО", г.С.-Петербург
Для измерения параметров EFEg и EFE отклонения от плоскостности полированных поверхностей в отраслях, связанных с изготовлением оптических и прецизионных поверхностей
Default ALL-Pribors Device Photo
12435-90
МИИ-4М Микроинтерферометры
ОАО "ЛОМО", г.С.-Петербург
Для измерения параметров шероховатости поверхности и для измерения толщины пленок (высоты уступов, образованных краями пленки и подложки). Применяется в машиностроительной и приборостроительной промышленности и в лабораториях