1119-57: ПИУ-3 Интерферометры - Производители, поставщики и поверители

Интерферометры ПИУ-3

ALL-Pribors default picture
Номер в ГРСИ РФ: 1119-57
Категория: Интерферометры
Производитель / заявитель: -
Нет данных о поставщике
Интерферометры ПИУ-3 поверка на: www.ktopoverit.ru
КтоПоверит
Онлайн-сервис метрологических услуг

Информация по Госреестру

Основные данные
Номер по Госреестру 1119-57
Наименование Интерферометры
Модель ПИУ-3
Класс СИ 27.01
Год регистрации 1986
Страна-производитель  СССР 
Примечание Исключен в 1986 г.
Центр сертификации СИ
Наименование центра -
Телефон ()
Информация о сертификате
Срок действия сертификата . .
Номер сертификата нет
Тип сертификата (C - серия/E - партия) С
Дата протокола 171 от 04.06.86 п.03

Поверка

Межповерочный интервал / Периодичность поверки -
Зарегистрировано поверок 100
Найдено поверителей 19
Успешных поверок (СИ пригодно) 98 (98%)
Неуспешных поверок (СИ непригодно) 2 (2%)
Актуальность информации 17.11.2024

Поверители

Другие Интерферометры

Default ALL-Pribors Device Photo
11235-88
ГИК-3 Интерферометры шахтные
ОКБА НПО "Химавтоматика", Узбекистан, г.Чирчик
Для измерения объемной доли, % метана, водорода и диоксида углерода в шахтах
Default ALL-Pribors Device Photo
12208-90
ЛИ-5 Интерферометры лабораторные
Оптико-механический завод, г.Азов
Для аттестации объемной доли метана в метановоздушных смесях
Default ALL-Pribors Device Photo
12310-90
ИКД-110 Интерферометры
ОАО "ЛОМО", г.С.-Петербург
Для измерения параметров EFEg и EFE отклонения от плоскостности полированных поверхностей в отраслях, связанных с изготовлением оптических и прецизионных поверхностей
Default ALL-Pribors Device Photo
12435-90
МИИ-4М Микроинтерферометры
ОАО "ЛОМО", г.С.-Петербург
Для измерения параметров шероховатости поверхности и для измерения толщины пленок (высоты уступов, образованных краями пленки и подложки). Применяется в машиностроительной и приборостроительной промышленности и в лабораториях
Default ALL-Pribors Device Photo
12632-91
ИН Насадки интерферометрические
ОАО "ЛОМО", г.С.-Петербург
Для измерения параметров EFEg и EFE отклонения от плоскостности полированных плоских поверхностей, для измерения параметров ECEg и ECE отклонения от сферичности полированных сферических поверхностей