Интерферометры шахтные ГИК-3
| Номер в ГРСИ РФ: | 11235-88 |
|---|---|
| Категория: | Интерферометры |
| Производитель / заявитель: | ОКБА НПО "Химавтоматика", Узбекистан, г.Чирчик |
Нет данных о поставщике
Являетесь поставщиком? Разместите свои контакты в этом блоке! Подробнее в разделе Реклама
Интерферометры шахтные ГИК-3 поверка на: www.ktopoverit.ru
Онлайн-сервис метрологических услуг
Для измерения объемной доли, % метана, водорода и диоксида углерода в шахтах
Информация по Госреестру
| Основные данные | |
|---|---|
| Номер по Госреестру | 11235-88 |
| Наименование | Интерферометры шахтные |
| Модель | ГИК-3 |
| Технические условия на выпуск | ТУ 6-87 5П2.840.016 |
| Класс СИ | 31.01 |
| Год регистрации | 1988 |
| Страна-производитель | Узбекистан |
| Центр сертификации СИ | |
| Наименование центра | - |
| Телефон | () |
| Информация о сертификате | |
| Срок действия сертификата | . . |
| Номер сертификата | нет |
| Тип сертификата (C - серия/E - партия) | С |
| Дата протокола | 02 от 17.02.88 п.12 |
Производитель / Заявитель
ОКБА НПО "Химавтоматика", Узбекистан, г.Чирчик
Узбекистан
702100, Ташкентская обл., ул.Навои, 129
Поверка
| Межповерочный интервал / Периодичность поверки | 6 месяцев |
| Зарегистрировано поверок | 43 |
| Найдено поверителей | 2 |
| Успешных поверок (СИ пригодно) | 43 (100%) |
| Неуспешных поверок (СИ непригодно) | 0 (0%) |
| Актуальность информации | 17.12.2024 |
Поверители
Другие Интерферометры
Для аттестации объемной доли метана в метановоздушных смесях
Для измерения параметров EFEg и EFE отклонения от плоскостности полированных поверхностей в отраслях, связанных с изготовлением оптических и прецизионных поверхностей
Для измерения параметров шероховатости поверхности и для измерения толщины пленок (высоты уступов, образованных краями пленки и подложки). Применяется в машиностроительной и приборостроительной промышленности и в лабораториях
Для измерения параметров EFEg и EFE отклонения от плоскостности полированных плоских поверхностей, для измерения параметров ECEg и ECE отклонения от сферичности полированных сферических поверхностей