12208-90: ЛИ-5 Интерферометры лабораторные - Производители, поставщики и поверители

Интерферометры лабораторные ЛИ-5

ALL-Pribors default picture
Номер в ГРСИ РФ: 12208-90
Категория: Интерферометры
Производитель / заявитель: Оптико-механический завод, г.Азов
Нет данных о поставщике
Интерферометры лабораторные ЛИ-5 поверка на: www.ktopoverit.ru
КтоПоверит
Онлайн-сервис метрологических услуг

Для аттестации объемной доли метана в метановоздушных смесях

Информация по Госреестру

Основные данные
Номер по Госреестру 12208-90
Наименование Интерферометры лабораторные
Модель ЛИ-5
Технические условия на выпуск АЯ2.857.058 ТУ
Класс СИ 31.01
Год регистрации 1990
Страна-производитель  Россия 
Центр сертификации СИ
Наименование центра -
Телефон ()
Информация о сертификате
Срок действия сертификата . .
Номер сертификата нет
Тип сертификата (C - серия/E - партия) С
Дата протокола 03 от 10.04.90 п.18
Производитель / Заявитель

Оптико-механический завод, г.Азов

 Россия 

346740, Ростовская обл., ул.Промышленная, 6. Тел. 3-07-67

Поверка

Межповерочный интервал / Периодичность поверки 1 год
Зарегистрировано поверок 91
Найдено поверителей 10
Успешных поверок (СИ пригодно) 85 (93%)
Неуспешных поверок (СИ непригодно) 6 (7%)
Актуальность информации 22.12.2024

Поверители

Другие Интерферометры

Default ALL-Pribors Device Photo
12310-90
ИКД-110 Интерферометры
ОАО "ЛОМО", г.С.-Петербург
Для измерения параметров EFEg и EFE отклонения от плоскостности полированных поверхностей в отраслях, связанных с изготовлением оптических и прецизионных поверхностей
Default ALL-Pribors Device Photo
12435-90
МИИ-4М Микроинтерферометры
ОАО "ЛОМО", г.С.-Петербург
Для измерения параметров шероховатости поверхности и для измерения толщины пленок (высоты уступов, образованных краями пленки и подложки). Применяется в машиностроительной и приборостроительной промышленности и в лабораториях
Default ALL-Pribors Device Photo
12632-91
ИН Насадки интерферометрические
ОАО "ЛОМО", г.С.-Петербург
Для измерения параметров EFEg и EFE отклонения от плоскостности полированных плоских поверхностей, для измерения параметров ECEg и ECE отклонения от сферичности полированных сферических поверхностей