Вакуумметры терморезисторные магниторазрядные ВТМ-2
| Номер в ГРСИ РФ: | 12356-90 |
|---|---|
| Производитель / заявитель: | Завод оптического станкостроения, Беларусь, г.Сморгонь |
Нет данных о поставщике
Являетесь поставщиком? Разместите свои контакты в этом блоке! Подробнее в разделе Реклама
Вакуумметры терморезисторные магниторазрядные ВТМ-2 поверка на: www.ktopoverit.ru
Онлайн-сервис метрологических услуг
Оптическое производство и электронная промышленность. Измерение давления воздуха и других газов по двум и четырем каналам
Информация по Госреестру
| Основные данные | |
|---|---|
| Номер по Госреестру | 12356-90 |
| Наименование | Вакуумметры терморезисторные магниторазрядные |
| Модель | ВТМ-2 |
| Технические условия на выпуск | ТУ3- -89 |
| Класс СИ | 30 |
| Год регистрации | 1990 |
| Страна-производитель | Беларусь |
| Центр сертификации СИ | |
| Наименование центра | - |
| Телефон | () |
| Информация о сертификате | |
| Срок действия сертификата | . . |
| Номер сертификата | нет |
| Тип сертификата (C - серия/E - партия) | С |
| Дата протокола | 06 от 10.07.90 п.49 |
Производитель / Заявитель
Завод оптического станкостроения, Беларусь, г.Сморгонь
Беларусь
231000, Гродненская обл., ул.Я.Коласа
Поверка
| Межповерочный интервал / Периодичность поверки | 1 год |
| Найдено поверителей | 1 |
| Актуальность информации | 21.04.2024 |
Поверители
Смотрите также
Для обнаружения дефектов типа нарушения сплошности в швах сварных соединений труб
Для с/х и пищевой промышленности для определения группы качества клейковины пшеницы по величине ее деформации под действием нагрузки определенной величины в течение заданного времени
12359-90
УБТК Угольники поверочные брусковые из твердокаменных пород
ОАО "Ставропольский инструментальный завод", г.Ставрополь
В качестве образцового оборудования для поверки угольников, для контроля перпендикулярности поверхностей, взаимно перпендикулярного перемещения отдельных узлов станков и агрегатов и других работ в машиностроении
Для измерения силы тока в цепях постоянного тока.
Для измерения линейных размеров объектов в плоскости изображения, рассматриваемых в микроскоп