Вольтметры электростатические С-55
Номер в ГРСИ РФ: | 2496-69 |
---|---|
Категория: | Вольтметры |
Производитель / заявитель: | ПО "Точэлектроприбор", Украина, г.Киев |
Вольтметры электростатические С-55 поверка на: www.ktopoverit.ru
Онлайн-сервис метрологических услуг
Информация по Госреестру
Основные данные | |
---|---|
Номер по Госреестру | 2496-69 |
Наименование | Вольтметры электростатические |
Модель | С-55 |
Класс СИ | 34.01.02 |
Год регистрации | 1983 |
Страна-производитель | Украина |
Примечание | Исключен в 1983 г. |
Центр сертификации СИ | |
Наименование центра | - |
Телефон | () |
Информация о сертификате | |
Срок действия сертификата | . . |
Номер сертификата | нет |
Тип сертификата (C - серия/E - партия) | С |
Дата протокола | 1983203 от 20.10.69 |
Производитель / Заявитель
ПО "Точэлектроприбор", Украина, г.Киев
Украина
252067, б-р И.Лепсе, 4. Тел. 446-90-04 Факс: 488-43-90
Поверка
Межповерочный интервал / Периодичность поверки | - |
Зарегистрировано поверок | 29 |
Найдено поверителей | 6 |
Успешных поверок (СИ пригодно) | 26 (90%) |
Неуспешных поверок (СИ непригодно) | 3 (10%) |
Актуальность информации | 03.11.2024 |
Поверители
Другие Вольтметры
Для измерения напряжения однофазного переменного тока силовой сети частотой 50 Гц, для работы в составе измерительных и управляющих систем в качестве встраиваемых в панели и шкафы управления.
2509-69
Э8013 Амперметры и вольтметры
Завод электроизмерительных приборов ПО "Электроизмеритель", Беларусь, г.Витебск
25200-03
5051 Plus (5051) Калибраторы-вольтметры универсальные
Фирма "Time Electronics", Великобритания
Спецраздел. Для высокоточного воспроизведения и измерений напряжения, силы постоянного и переменного тока, электрического сопротивления, емкости, индуктивности и частоты, для поверки приборов и устройств измерительного и генераторного типа и использу...
Для измерения постоянных напряжений и силы тока, среднеквадратических значений переменных напряжений и силы тока, электрического сопротивления, а также для измерения частоты переменного напряжения, для тестирования полупроводниковых p-n переходов на...