Объект-микрометры ОМ
| Номер в ГРСИ РФ: | 28962-16 |
|---|---|
| Категория: | Микрометры |
| Производитель / заявитель: | ОАО "НПП "Эталон", г.Омск |
Объект-микрометры ОМ-О (для отраженного света) и ОМ-П (для проходящего света) (далее - ОМ) предназначены для определения увеличения линейного поля зрения микроскопов, проекторов, цены деления окулярных шкал и сеток.
Информация по Госреестру
| Основные данные | |
|---|---|
| Номер по Госреестру | 28962-16 |
| Наименование | Объект-микрометры |
| Модель | ОМ |
| Страна-производитель | РОССИЯ |
| Срок свидетельства (Или заводской номер) | 27.10.2021 |
Производитель / Заявитель
АО "НПП "Эталон", г.Омск
РОССИЯ
Поверка
| Межповерочный интервал / Периодичность поверки | 2 года |
| Зарегистрировано поверок | 875 |
| Найдено поверителей | 17 |
| Успешных поверок (СИ пригодно) | 873 (100%) |
| Неуспешных поверок (СИ непригодно) | 2 (0%) |
| Актуальность информации | 17.11.2024 |
Поверители
Скачать
| 28962-16: Описание типа СИ | Скачать | 84.4 КБ | |
| 28962-16: Методика поверки ДДШ 4.161.014 МП | Скачать | 468.2 КБ |
Описание типа
Назначение
Объект-микрометры ОМ-О (для отраженного света) и ОМ-П (для проходящего света) (далее - ОМ) предназначены для определения увеличения линейного поля зрения микроскопов, проекторов, цены деления окулярных шкал и сеток.
Описание
Принцип действия ОМ - измерение длины методом сравнения путем наложения изображения его шкалы на измеряемый объект.
ОМ представляет собой стеклянную пластину прямоугольного сечения. Шкаловая поверхность расположена в центре пластины. На шкаловой поверхности методом фотолитографии нанесены штрихи: позитив (для проходящего света) или негатив (для отраженного света). Справа и слева от основной шкалы нанесено не менее двух штрихов с тем же шагом. Внешний вид ОМ представлен на рисунке 1.
Рисунок 1 - Внешний вид ОМ (слева - Объект-микрометр ОМ-О, справа - Объект-микрометр ОМ-П)
Технические характеристики
приведены в таблице 1.
Таблица 1
|
Длина основной шкалы, мм |
1,0000±0,0005 |
|
Количество интервалов основной шкалы |
200 |
|
Расстояние между серединами соседних штрихов первых 10 делений шкалы ОМ, мм |
0,0050±0,0003 |
|
Пределы допускаемой абсолютной погрешности ОМ, мм |
±0,0001 |
|
Ширина штрихов шкалы, мм |
0,0020±0,0005 |
|
Габаритные размеры (без футляра), мм, не более |
80х30х3 |
|
Масса (без футляра), кг, не более |
0,035 |
|
Средний срок службы, лет, не менее |
6 |
|
Условия эксплуатации по категории УХЛ 4.2 ГОСТ 15150-69 со следующими уточнениями: | |
|
- температура окружающей среды, °С |
от +15 до +35 |
|
- верхнее значение относительной влажности при 25 °С, % |
80 |
Знак утверждения типа
наносится на поверхность ОМ методом фотолитографии и на титульный лист паспорта типографским способом.
Комплектность
Комплектность ОМ приведена в таблице 2.
Таблица 2
|
Обозначение |
Наименование |
Количество |
Примечание |
|
ДДШ 4.161.014 |
Объект-микрометр |
1 шт. | |
|
ДДШ 6.876.071 |
Футляр |
1 шт. | |
|
ДДШ 4.170.033 |
Упаковка |
1 шт. | |
|
ДДШ 4.161.014 ПС |
Паспорт |
1 экз. | |
|
ДДШ 4.161.014 МП |
Методика поверки |
1 экз. |
Поверка
осуществляется по документу ДДШ 4.161.014 МП «Объект-микрометры ОМ. Методика поверки», утвержденному ФГУП «СНИИМ» в феврале 2016 г.
Основные средства поверки:
- Государственный вторичный эталон единицы длины в диапазоне от 0 до 1000 мм ВЭТ 2-14-59 в соответствии с частью 2 ГОСТ Р 8.763-2011 ПГ ±(0,05+0,1L) мкм, где L - длина в м;
- Государственный вторичный эталон единицы длины в диапазоне от 0,001 до 0,200 мм ВЭТ 2-25-91 в соответствии с частью 2 ГОСТ Р 8.763-2011 ПГ ±(0,03+0,1L) мкм, где L - длина в м.
Допускается применение аналогичных средств поверки, обеспечивающих определение метрологических характеристик поверяемых СИ с требуемой точностью.
Знак поверки наносится на свидетельство о поверке.
Сведения о методах измерений
приведены в эксплуатационном документе.
Нормативные документы
ГОСТ Р 8.763-2011 «ГСИ. Государственная поверочная схема для средств измерений длины в диапазоне от 1-10’9 до 50 м и длин волн в диапазоне от 0,2 до 50 мкм»
ТУ 4381-018-02566540-2004 Объект-микрометры. Технические условия
Другие Микрометры
