Микроинтерферометры многолучевые МИИ-11

Номер в ГРСИ РФ: | 2905-72 |
---|---|
Категория: | Интерферометры |
Производитель / заявитель: | ОАО "ЛОМО", г.С.-Петербург |
Поверка
Микроинтерферометры многолучевые МИИ-11 поверка на: www.ktopoverit.ru

Онлайн-сервис
метрологических услуг
Информация по Госреестру
Основные данные | |
---|---|
Номер по Госреестру | 2905-72 |
Наименование | Микроинтерферометры многолучевые |
Модель | МИИ-11 |
Класс СИ | 27.01 |
Год регистрации | 1972 |
Страна-производитель | Россия |
Центр сертификации СИ | |
Наименование центра | - |
Телефон | () |
Информация о сертификате | |
Срок действия сертификата | . . |
Номер сертификата | нет |
Тип сертификата (C - серия/E - партия) | С |
Дата протокола | 1972 |
Производитель / Заявитель
ОАО "ЛОМО", г.С.-Петербург
Россия
194044, ул.Чугунная, 20. Тел.(812) 248-29-15, 248-52-42, факс 542-53-22, 542-18-39, www.lomo.ru, E-mail: sales@lomo.ru
Поверка
Межповерочный интервал / Периодичность поверки | - |
Зарегистрировано поверок | 3 |
Найдено поверителей | 1 |
Успешных поверок (СИ пригодно) | 3 (100%) |
Неуспешных поверок (СИ непригодно) | 0 (0%) |
Актуальность информации | 13.04.2025 |
Поверители

Онлайн-сервис
метрологических услуг
Микроинтерферометры многолучевые МИИ-11 поверка на: www.ktopoverit.ru

Онлайн-сервис
метрологических услуг
Поверителей:
1
ОГРН: 1025005683537 ИНН: 5044000470 КПП: 504401001
+7(495)7818682* miss.fedorenko2011@yandex.ru*
141570, ОБЛ МОСКОВСКАЯ, Р-Н СОЛНЕЧНОГОРСКИЙ, РП МЕНДЕЛЕЕВО*
Поверено
3
Являетесь поверителем?
По вопросам размещения компании в списке поверителей обращайтесь по адресу:
admin@all-pribors.ru
Другие Интерферометры

30184-05
ИКПВ-К2 Интерферометры контактные вертикальные компьютеризированные
ГОУ МГТУ "Станкин", г.Москва
Для измерений наружных размеров методом сравнения с мерой, специальное программно-математическое обеспечение "BUVER v.5.1" позволяет производить автоматизированную поверку концевых мер длины 2, 3 и 4-го разрядов и классов точности 1...5 в диапазоне 0...

Раздел СИ специального назначения. В Госреестре описания нет.

Для измерений отклонений от плоскостности прецизионных поверхностей оптических деталей. Применяется в научно-исследовательских институтах, оптическом приборостроении.
Для измерения показателя преломления жидких и твердых микро- и нанобъектов.