2905-72: МИИ-11 Микроинтерферометры многолучевые - Производители, поставщики и поверители

Микроинтерферометры многолучевые МИИ-11

ALL-Pribors default picture
Номер в ГРСИ РФ: 2905-72
Категория: Интерферометры
Производитель / заявитель: ОАО "ЛОМО", г.С.-Петербург
Заказать
Поставщик: ООО "КОЛБА"
Микроинтерферометры многолучевые МИИ-11 поверка на: www.ktopoverit.ru
КтоПоверит
Онлайн-сервис метрологических услуг

Информация по Госреестру

Основные данные
Номер по Госреестру 2905-72
Наименование Микроинтерферометры многолучевые
Модель МИИ-11
Класс СИ 27.01
Год регистрации 1972
Страна-производитель  Россия 
Центр сертификации СИ
Наименование центра -
Телефон ()
Информация о сертификате
Срок действия сертификата . .
Номер сертификата нет
Тип сертификата (C - серия/E - партия) С
Дата протокола 1972
Производитель / Заявитель

ОАО "ЛОМО", г.С.-Петербург

 Россия 

194044, ул.Чугунная, 20. Тел.(812) 248-29-15, 248-52-42, факс 542-53-22, 542-18-39, www.lomo.ru, E-mail: sales@lomo.ru

Поверка

Межповерочный интервал / Периодичность поверки -
Зарегистрировано поверок 3
Найдено поверителей 1
Успешных поверок (СИ пригодно) 3 (100%)
Неуспешных поверок (СИ непригодно) 0 (0%)
Актуальность информации 17.11.2024

Поверители

Другие Интерферометры

Default ALL-Pribors Device Photo
Для измерений наружных размеров методом сравнения с мерой, специальное программно-математическое обеспечение "BUVER v.5.1" позволяет производить автоматизированную поверку концевых мер длины 2, 3 и 4-го разрядов и классов точности 1...5 в диапазоне 0...
Default ALL-Pribors Device Photo
3613-73
ШИ-10 Интерферометры шахтные
Оптико-механический завод, г.Азов
Default ALL-Pribors Device Photo
36178-07
РИ-03 Радиоинтерферометры
ФГУП "ФНПЦ НИИИС им.Ю.Е.Седакова", г.Нижний Новгород
Раздел СИ специального назначения. В Госреестре описания нет.
Default ALL-Pribors Device Photo
45513-10
Физо Интерферометр
ФГУП "НПО Оптика", г.Москва
Для измерений отклонений от плоскостности прецизионных поверхностей оптических деталей. Применяется в научно-исследовательских институтах, оптическом приборостроении.
Для измерения показателя преломления жидких и твердых микро- и нанобъектов.