Спектрометры Senterra 532, Senterra 785, Senterra L

Номер в ГРСИ РФ: 32099-12
Категория: Спектрометры
Производитель / заявитель: Фирма "Bruker Optik GmbH", Германия

Для измерения оптических спектров рассеяния в ближнем ИК и видимом диапазоне, определения концентрации различных органических и неорганических веществ в твердой и жидкой фазах продукции нефтехимического производства, органического синтеза, продуктах питания, фармацевтики и т.п., применяются какв качестве отдельных автономных приборов, так и в составе автоматизированных систем управления качеством технологического процесса, а также в аналитических лабораториях промышленного производства, научно-исследовательских и учебных организаций.

Скачать

32099-12: Описание типа СИ Скачать 635.1 КБ
Свидетельство об утверждении типа СИ Открыть ...

Информация по Госреестру

Основные данные
Номер по Госреестру 32099-12
Наименование Спектрометры
Модель Senterra 532, Senterra 785, Senterra L
Класс СИ 37
Год регистрации 2012
Методика поверки / информация о поверке МП 53.Д4-11
Межповерочный интервал / Периодичность поверки 1 год
Страна-производитель  Германия 
Примечание 05.05.2012 утвержден вместо 32099-06
Информация о сертификате
Срок действия сертификата 05.05.2017
Номер сертификата 46409
Тип сертификата (C - серия/E - партия) C
Дата протокола Приказ 297 п. 93 от 05.05.201209 от 29.06.06 п.91
Производитель / Заявитель

Фирма "Bruker Optik GmbH", Германия

 Германия 

D-76275 Ettlingen, Rudolf-Plank Str., 23 Germany, тел.(0 72 43) 504-600, факс (0 72 43) 50-6984, E-mail: optik@bruker.de


Назначение

Спектрометры Senterra 532, Senterra 785, Senterra L (далее по тексту - спектрометры Senterra) предназначены для измерения волновых чисел в оптических спектрах рассеяния микрообъектов в ближнем ИК и видимом диапазоне, определения концентрации различных органических и неорганических веществ в порошкообразной и твёрдой фазе, анализа продуктов нефтехимического производства, органического синтеза, фармацевтических препаратов и субстанций, продуктов питания, а так же для изучения полупроводниковых материалов, сканирования дефектов поверхности образцов и т.п.

Описание

Спектрометры Senterra 532, Senterra 785, Senterra L представляют собой стационарные автоматизированные приборы, принцип действия которых основан на методе эмиссионного оптического спектрального анализа.

Спектрометр Senterra объединяет в себе мультилазерный Рамановский спектрометр и конфокальный микроскоп. Рамановский спектрометр предназначен для анализа и регистрации спектрального состава эмиссионного потока излучения. Конфокальный микроскоп предназначен для наблюдения микрообъектов.

Спектрометры Senterra имеют защитный кожух предотвращающий выход лазерного излучения из спектрометра во время измерений и обеспечивающий легкий доступ к отсеку с образцом.

Спектрометры выпускаются в 3-х модификациях (Senterra 532, Senterra 785, Senterra L), отличающихся спектральным диапазоном измерений, мощностью излучения и количеством возбуждающих лазеров и их длиной волны. Полностью конфокальная система способна приспосабливаться к различным возбуждающим длинам волн, при этом обеспечивая максимально возможное пространственное разрешение. Так как спектрометры Senterra базируются на оптическом микроскопе серии OLYMPUS BX, доступны все необходимые инструменты для визуализации и характеризации образца. Большие образцы могут быть проанализированы с помощью встроенного волоконно-оптического датчика.

Проба устанавливается на предметный столик между источником лазерного излучения и детектором. При падении лазерного излучения на образец происходит возбуждение комбинационного рассеяния света. Дифракционные решётки выделяют спектральную полосу, которая регистрируется с помощью детектора. Спектральный состав излучения характеризует химический состав пробы.

Конструктивно спектрометры выполнены в виде настольных приборов с отдельно устанавливаемым компьютером. По заказам приборы оснащаются широким набором дополнительных устройств и принадлежностей, комплектуются библиотеками спектров веществ.

В спектрометре предусмотрена процедура непрерывной калибровки по шкале длин волн, в качестве средства калибровки используется неоновая лампа с постоянными спектральными характеристиками. Используемая технология автоматически калибрует систему, обеспечивая точность по длине волны не хуже 0,1 см-1.

Программное обеспечение

Работа спектрометра контролируется с помощью программного обеспечения (ПО) OPUS™ версия 6.5 и 7.0, данное программное обеспечение имеет уровень защиты C, согласно МИ 3286-2010. Также в ПО входит приложение OPUS Validation Program (OVP) - прикладная программа обеспечивает автоматическую проверку спектрометра, выполняя Тест Качества Работы (PQ) и Тест Качества Функционирования (OQ). Данные по ПО приведены в таблице 1. Таблица 1

Наименование

программного

обеспечения

Идентификационное наименование программного обеспечения

Номер версии (идентификационный номер) программного обеспечения

Цифровой идентификатор программного обеспечения (контрольная сумма исполняемого кода)

Алгоритм вычисления цифрового идентификатора программного обеспечения

Программа управления и обработки данных

OPUS™

6.5

D32177E3 (по файлу opus.exe)

CRC32

OPUS™

7.0

A50EAC07 (по файлу opus.exe)

CRC32

Технические характеристики

Метрологические и технические характеристики спектрометров Senterra 532, Senterra 785, Senterra L представлены в таблице 2 Таблица 2

Наименование характеристик

Значение характеристик

Senterra 532

Senterra 785

Senterra L

Длина волны возбуждающего лазера, нм

532

785

532, 785

Спектральный диапазон, см-1 (мкм)

50-4400

(2,273-200)

50-3500

(2,857-200)

50-4400

(2,273-200)

Длина волны возбуждающего лазера, нм; спектральный диапазон, см-1 (мкм), дополнительное дооснаще-ние.

830; 90-3000 (111633; 50-3500 (200488; 90-4400 (1111064; 70-3500 (143-

3,333)

2.857) 2,273)

2.857)

Спектральное разрешение, см-1, не хуже

4,5

Пространственное разрешение, мкм

1

Конфокальное разрешение глубина, мкм

2

Предел допускаемого значения среднеквадратического отклонения, см-1

0,1

Пределы допускаемой абсолютной погрешности измерения по шкале волновых чисел в диапазонах:

- по образцу из полистирола (4500 -500) см-1, не более

± 1

Фокусное расстояние, мм

200

Напряжение питания переменного тока, В

220 (+10/-15 %)

Потребляемая мощность, Вт

300

Г абаритные размеры:

-    диаметр, не более, мм

-    высота, не более мм

88 О О

Масса, кг, не более

56

Условия эксплуатации:

температура окружающего воздуха, °С

относительная влажность воздуха, %, не более

18-35

70

Условия транспортировки: температура окружающего воздуха, °С

От минус 20 до плюс 40

Срок службы, не менее, лет

7

Знак утверждения типа

наносится на титульный лист руководства по эксплуатации методом печати и на корпус спектрометра в виде голографической наклейки.

Комплектность средств измерений

Комплект поставки определяется заказом и отражается в спецификации.

Основной комплект включает:

•    Спектрометр Senterra

•    Компьютер

•    Принтер

•    Соединительные кабели

•    Программное обеспечение OPUS™

•    Руководство по эксплуатации (на русском языке)

•    Описание программного обеспечения (на русском языке)

•    Методика поверки МП 53.Д4-11

•    Запасные части

Дополнительное оборудование, поставляемое по заказу:

•    Устройство автоматического удаления флуоресценции для лазера 785 нм

•    Лазер (532 нм, 785 нм, 830 нм, 633 нм, 488 нм, 1064 нм)

•    Дифракционная решётка

•    Оптоволоконный датчик для больших и удалённых образцов

•    Оборудование для атомно-силового анализа

•    Моторизованный предметный столик

•    Поляризаторы

•    Объективы

•    Библиотеки спектров

Поверка

осуществляется по документу «Спектрометры Senterra 532, Senterra 785, Senterra L. Методика поверки. МП 53. Д4-11», утверждённому ГЦИ СИ ФГУП «ВНИИОФИ» 31 октября 2011 г.

Основные средства поверки:

Образец пленки полистирола из комплекта поставки толщиной 0,025-2,5 мм по ГОСТ 20282-86.

Сведения о методах измерений

Сведения о методах измерений приведены в Руководстве по эксплуатации «Спектрометры Senterra 532, Senterra 785, Senterra L», раздел 4 «Эксплуатация».

Нормативные и технические документы, устанавливающие требования к спектрометрам Senterra 532, Senterra 785, Senterra L

Техническая документация фирмы «Bruker Optik GmbH»», Германия.

Рекомендации к применению

Cпектрометры Senterra 532, Senterra 785, Senterra L могут применяться для выполнения работ по оценке соответствия промышленной продукции и продукции других видов, а также иных объектов установленным законодательством Российской Федерации обязательным требованиям; для осуществления мероприятий государственного контроля (надзора).

Другие Спектрометры

Default ALL-Pribors Device Photo
32099-06
Senterra Спектрометры
Фирма "Bruker Optik GmbH", Германия
Для измерения оптических спектров рассеяния в ближнем ИК и видимом диапазоне, определения концентрации различных органических и неорганических веществ в твердой и жидкой фазах продукции нефтехимического производства, органического синтеза, продуктах...
Default ALL-Pribors Device Photo
32098-06
АОС-МП Спектрометры специализированные
ЗАО фирма "Сигма-Оптик Лтд.", пос.Менделеево
Для измерения спектральной плотности энергетической яркости (СПЭН.) флюоресценции жидких и твердых сред при их возбуждении лазерным излучением с различными длинами волн составе различных измерительных и. диагностических аппаратурных комплексов для ис...
Default ALL-Pribors Device Photo
32100-06
Sentinel Спектрометры
Фирма "Bruker Optics Inc.", США
Для измерения оптических спектров рассеяния в ближнем ИК и видимом диапазоне, определения концентрации различных органических и неорганических веществ в твердой и жидкой фазах продукции нефтехимического производства, органического синтеза, продуктах...
Default ALL-Pribors Device Photo
Для измерения содержания различных элементов в водных растворах, металлах и сплавах, геологических материалах, продуктах питания, почвах и т.д. и применяется в экологическом контроле, металлургии, геологии, химической и пищевой промышленности, биолог...
Для измерения содержания различных элементов в водных растворах, металлах и сплавах, геологических материалах, продуктах питания, почвах и т.д. и применяется в экологическом контроле, металлургии, геологии, химической и пищевой промышленности, биолог...