Спектрометры эмиссионные тлеющего разряда GD-Profiler 2, GD-Profiler HR
| Номер в ГРСИ РФ: | 33465-06 |
|---|---|
| Категория: | Спектрометры |
| Производитель / заявитель: | Фирма "Horiba Ltd.", Япония |
Скачать
| 33465-06: Описание типа СИ | Скачать | 142.5 КБ |
Заказать
Тел.:
+ 7 495 215-06-01
E-Mail:
zapros@assa-group.ru
Поставщик:
АССА Лабораторные системы
Являетесь поставщиком? Разместите свои контакты в этом блоке! Подробнее в разделе Реклама
Спектрометры эмиссионные тлеющего разряда GD-Profiler 2, GD-Profiler HR поверка на: www.ktopoverit.ru
Онлайн-сервис метрологических услуг
Для определения массовой доли элементов в твердых электропроводных и неэлектропроводных образцах с предварительно отшлифованной поверхностью, для определения массовой доли элементов как сплавах, так и в керамических материалах, стекле и неметаллических покрытиях в лабораториях промышленных предприятий и научно-исследовательских учреждений различного профиля.
Информация по Госреестру
| Основные данные | |
|---|---|
| Номер по Госреестру | 33465-06 |
| Наименование | Спектрометры эмиссионные тлеющего разряда |
| Модель | GD-Profiler 2, GD-Profiler HR |
| Технические условия на выпуск | тех.документация фирмы |
| Класс СИ | 31.01 |
| Год регистрации | 2006 |
| Страна-производитель | Франция |
| Примечание | 01.06.2012 заменен на 33465-12 |
| Центр сертификации СИ | |
| Наименование центра | ГЦИ СИ ВНИИОФИ |
| Адрес центра | 119361, г.Москва, Озерная ул., 46 |
| Руководитель центра | Иванов Вячеслав Семенович |
| Телефон | (8*095) 437-56-33 |
| Факс | 437-31-47 |
| Информация о сертификате | |
| Срок действия сертификата | 01.01.2012 |
| Номер сертификата | 26226 |
| Тип сертификата (C - серия/E - партия) | С |
| Дата протокола | 14д от 14.12.06 п.172 |
Производитель / Заявитель
Фирма "HORIBA Jobin Yvon S.A.S.", Франция
Франция
16-18, me du Canal 91165 Longjumeau, France, тел./факс 33 1 64 54 13 00, Тел. +33 1 6454 13 78, E-mail: info-sci.fr@horiba.com
Поверка
| Методика поверки / информация о поверке | раздел 7 РЭ ВНИИОФИ |
| Межповерочный интервал / Периодичность поверки | 1 год |
| Зарегистрировано поверок | 14 |
| Найдено поверителей | 4 |
| Успешных поверок (СИ пригодно) | 14 (100%) |
| Неуспешных поверок (СИ непригодно) | 0 (0%) |
| Актуальность информации | 22.12.2024 |
Поверители
Скачать
| 33465-06: Описание типа СИ | Скачать | 142.5 КБ |
Другие Спектрометры
33465-12
GD-Profiler 2, GD-Profiler HR Спектрометры эмиссионные тлеющего разряда
Фирма "HORIBA Jobin Yvon S.A.S.", Франция
Для определения массовой доли элементов в твердых электропроводных и неэлектропроводных образцах с предварительно отшлифованной поверхностью, для определения массовой доли элементов как сплавах, так и в керамических материалах, стекле и неметаллическ...
33467-06
Activa, JY2000-2, Ultima 2, Panorama Спектрометры эмиссионные с индуктивно связанной плазмой
Фирма "HORIBA Jobin Yvon S.A.S.", Франция
Для измерения элементного состава жидких проб и применяются для анализа состава металлов и сплавов, пищевых продуктов, почв и т.п., область применения - геология, металлургия, химическая промышленность, экологический контроль, пищевая промышленность,...
33467-08
Activa, JY2000-2, Ultima 2, Panorama Спектрометры эмиссионные с индуктивно связанной плазмой
Фирма "HORIBA Jobin Yvon S.A.S.", Франция
Для измерения элементного состава жидких проб и применяются для анализа состава металлов и сплавов, пищевых продуктов, почв и т.п. Область применения - геология, металлургия, химическая промышленность, экологический контроль, пищевая промышленность,...
33468-06
Tecnai G2 30 S-TWIN (микроскоп) EDAX (спектрометр) Микроскоп электронный просвечивающий с рентгеновским спектрометром
Фирма "FEI Company", США
Для измерений линейных размеров деталей структуры, наблюдаемых на изображении, сформированном прошедшими через исследуемый объект электронами, а также анализа микро- и наноструктуры объектов и их элементного состава в материаловедении, микроэлектрони...
34047-07
СЕГ-КГС-КСЕНОН Спектрометры энергии гамма-излучения газонаполненные ксеноновые
ООО НПП "СПЕКТР-МИФИ", г.Москва
Для измерения параметров, регистрации, накопления, визуализации и обработки энергетических спектров гамма-излучения.