Микроскоп электронный просвечивающий с рентгеновским спектрометром Tecnai G2 30 S-TWIN (микроскоп) EDAX (спектрометр)
| Номер в ГРСИ РФ: | 33468-06 |
|---|---|
| Категория: | Спектрометры |
| Производитель / заявитель: | Фирма "FEI Company", США |
Скачать
|
33468-06: Описание типа
33468-06.pdf
|
Скачать | 216.1 КБ |
Заказ
Тел.:
+ 7 495 215-06-01
E-Mail:
zapros@assa-group.ru
Поставщик:
АССА Лабораторные системы
Являетесь поставщиком? Разместите свои контакты в этом блоке! Подробнее в разделе Реклама
Поверка
Микроскоп электронный просвечивающий с рентгеновским спектрометром Tecnai G2 30 S-TWIN (микроскоп) EDAX (спектрометр) поверка на: www.ktopoverit.ru
Онлайн-сервис
метрологических услуг
Для измерений линейных размеров деталей структуры, наблюдаемых на изображении, сформированном прошедшими через исследуемый объект электронами, а также анализа микро- и наноструктуры объектов и их элементного состава в материаловедении, микроэлектронике, геологии, биологии, металлургии и другихотраслях науки и техники.
Информация по Госреестру
| Основные данные | |||||||
|---|---|---|---|---|---|---|---|
| Номер по Госреестру | 33468-06 | ||||||
| Наименование | Микроскоп электронный просвечивающий с рентгеновским спектрометром | ||||||
| Модель | Tecnai G2 30 S-TWIN (микроскоп) EDAX (спектрометр) | ||||||
| Характер производства | Единичное | ||||||
| Идентификатор записи ФИФ ОЕИ | c7cdc85a-e25c-62ee-437e-ccbcf05a42f4 | ||||||
| Испытания |
|
||||||
| Год регистрации | 2006 | ||||||
Информация устарела
| Общие данные | |
|---|---|
| Технические условия на выпуск | тех.документация фирмы |
| Класс СИ | 27.01 |
| Год регистрации | 2006 |
| Страна-производитель | США |
| Центр сертификации СИ | |
| Наименование центра | ГЦИ СИ ОАО "НИЦПВ" |
| Адрес центра | 119421, г.Москва, ул.Новаторов, 40, корп.1 |
| Руководитель центра | Тодуа Павел Андреевич |
| Телефон | (8*095) 935-97-77 |
| Факс | 132-60-13 |
| Информация о сертификате | |
| Срок действия сертификата | . . |
| Номер сертификата | 26229 |
| Тип сертификата (C - серия/E - партия) | Е |
| Дата протокола | 14д от 14.12.06 п.175 |
Производитель / Заявитель
Фирма "FEI Company", СОЕДИНЕННЫЕ ШТАТЫ
США
5350 NE Dawson Creek Drive, Hillsboro, Oregon 97124, USA Тел. +1(503)726-7500. Факс +1(503)726-2570
Поверка
| Методика поверки / информация о поверке | МП "НИЦПВ" |
| Межповерочный интервал / Периодичность поверки |
1 год
|
| Зарегистрировано поверок | |
| Найдено поверителей | |
| Успешных поверок (СИ пригодно) | 3 (100%) |
| Неуспешных поверок (СИ непригодно) | 0 (0 %) |
| Актуальность информации | 04.01.2026 |
Найти результаты поверки
Поверители
Онлайн-сервис
метрологических услуг
Микроскоп электронный просвечивающий с рентгеновским спектрометром Tecnai G2 30 S-TWIN (микроскоп) EDAX (спектрометр) поверка на: www.ktopoverit.ru
Онлайн-сервис
метрологических услуг
Скачать
|
33468-06: Описание типа
33468-06.pdf
|
Скачать | 216.1 КБ |
Другие Спектрометры
34047-07
СЕГ-КГС-КСЕНОН
Спектрометры энергии гамма-излучения газонаполненные ксеноновые
ООО НПП "СПЕКТР-МИФИ", РОССИЯ, г.Москва
Для измерения параметров, регистрации, накопления, визуализации и обработки энергетических спектров гамма-излучения.
34065-07
СЕР-1КП-ИФТП
Спектрометры энергии рентгеновского излучения полупроводниковые
ФГУП "Институт физико-технических проблем Минатома РФ", РОССИЯ, г.Дубна
Для измерения параметров, регистрации, накопления, визуализации и обработки спектров рентгеновского излучения при контроле производства и аттестации радиоактивных источников и препаратов, при рентгенофлуоресцентном анализе элементного состава веществ...
Для формирования и измерения аналитического сигнала, пропорционального интенсивности спектральных линий различных элементов, для количественного эмиссионного спектрального анализа металлов и сплавов на машиностроительных и металлургических предприяти...
34723-07
СПАРК-1-2М
Спектрометры портативные аналитические рентгеновские коротковолновые
НПП "Буревестник", ОАО, РОССИЯ, г.С.-Петербург
Для рентгеноспектрального анализа химических элементов в диапазоне от скандия (Sc) до урана (U) в твердых и порошкообразных пробах, а также в жидкостях, испаренных, либо осажденных на фильтрах, область применения: металлургическая, химическая, горнод...
Для количественного анализа жидких проб и применяется для определения элементного состава металлов и сплавов, пищевых продуктов, почв и.т.п., область применения - геология, металлургия, химическая, пищевая, электронная промышленность, лаборатории про...