39520-08: PL? Профилометр конфокальный - Производители, поставщики и поверители

Профилометр конфокальный PL?

ALL-Pribors default picture
Номер в ГРСИ РФ: 39520-08
Категория: Профилометры
Производитель / заявитель: Фирма "ATOS", Германия
Нет данных о поставщике
Профилометр конфокальный PL? поверка на: www.ktopoverit.ru
КтоПоверит
Онлайн-сервис метрологических услуг

Раздел СИ специального назначения. В Госреестре описания нет.

Информация по Госреестру

Основные данные
Номер по Госреестру 39520-08
Наименование Профилометр конфокальный
Модель PL?
Технические условия на выпуск тех.документация фирмы
Класс СИ 27.01
Год регистрации 2008
Страна-производитель  Германия 
Центр сертификации СИ
Наименование центра ГЦИ СИ ФГУП РФЯЦ-ВНИИЭФ
Адрес центра 607188, г.Саров, Нижегородская обл., пр.Мира, 37
Руководитель центра Щеглов Владимир Николаевич
Телефон (831-30) 403-72
Факс 457-28
Информация о сертификате
Срок действия сертификата . .
Номер сертификата 33811СН
Тип сертификата (C - серия/E - партия) Е
Дата протокола 14 от 25.12.08 п.148
Производитель / Заявитель

Фирма "ATOS", Германия

 Германия 

Поверка

Межповерочный интервал / Периодичность поверки 1 год
Актуальность информации 17.11.2024

Поверители

Другие Профилометры

Default ALL-Pribors Device Photo
Для определения параметров топографии поверхности различных материалов с коэффициентом отражения 1...100 %. оптическим методом. Применяется в НИТУ "МИСиС".
Default ALL-Pribors Device Photo
44893-10
TALYSURF CCI 6000 Профилометр оптический
Фирма "Taylor Hobson Ltd.", Великобритания
Для определения параметров топографии поверхности различных материалов с коэффициентом отражения 0,3...100 % бесконтактным методом. Применяется в ФГУП "ВНИИМС".
46541-11
ПЛВ-300 Профилометры лидарные ветровые с монитором оператора
ООО "НПП "Лазерные системы", г.С.-Петербург
Для измерений скорости и направления ветра на заданных высотах
48168-11
TALYSURF CCI Профилометры оптические
Фирма "Taylor Hobson Ltd.", Великобритания
Для определения параметров топографии поверхности различных материалов с коэффициентом отражения 0,3...100 % бесконтактным методом.
Для измерений высоты профиля поверхности отражающих объектов в микро- и нанодиапазоне.