Измерители рентгенофлуоресцентные FISCHERSCOPE® X-RAY XDL®-B, XDLM®-C4
| Номер в ГРСИ РФ: | 41394-09 |
|---|---|
| Производитель / заявитель: | Фирма "Helmut Fischer GmbH Institut fur Elektronik und Messtechnik", Германия |
| 41394-09: Описание типа СИ | Скачать | 200 КБ |
Для измерения массовой доли компонентов и толщины покрытий методом энергодисперсионной рентгеновской флуоресценции. Область применения - заводские лаборатории металлургических, металлообрабатывающих и машиностроительных предприятий.
Информация по Госреестру
| Основные данные | |
|---|---|
| Номер по Госреестру | 41394-09 |
| Наименование | Измерители рентгенофлуоресцентные |
| Модель | FISCHERSCOPE® X-RAY XDL®-B, XDLM®-C4 |
| Технические условия на выпуск | тех.документация фирмы |
| Класс СИ | 31.01 |
| Год регистрации | 2009 |
| Страна-производитель | Германия |
| Центр сертификации СИ | |
| Наименование центра | ГЦИ СИ ВНИИОФИ |
| Адрес центра | 119361, г.Москва, Озерная ул., 46 |
| Руководитель центра | Иванов Вячеслав Семенович |
| Телефон | (8*095) 437-56-33 |
| Факс | 437-31-47 |
| Информация о сертификате | |
| Срок действия сертификата | 01.10.2014 |
| Номер сертификата | 36374 |
| Тип сертификата (C - серия/E - партия) | С |
| Дата протокола | 09 от 17.09.09 п.135 |
Производитель / Заявитель
Фирма "Helmut Fischer GmbH Institut fur Elektronik und Messtechnik", Германия
Германия
Case postable D-71069 Sindelfingen, Germany тел. ++49(0)7031-303-0 факс ++49(0)7031-303-79, E-mail: mail@Helmut-Fischer.de
Поверка
| Методика поверки / информация о поверке | МП ВНИИОФИ |
| Межповерочный интервал / Периодичность поверки | 1 год |
| Зарегистрировано поверок | 6 |
| Найдено поверителей | 2 |
| Успешных поверок (СИ пригодно) | 6 (100%) |
| Неуспешных поверок (СИ непригодно) | 0 (0%) |
| Актуальность информации | 03.11.2024 |
Поверители
Скачать
| 41394-09: Описание типа СИ | Скачать | 200 КБ |
Описание типа
Назначение
Измерители рентгенофлуоресцентные FISCHERSCOPE X-RAY XDL-B, XDLM-C4 (далее - измерители) предназначены для измерения массовой доли компонентов и толщины покрытий методом энергодисперсионной рентгеновской флуоресценции. Основной областью применения являются заводские лаборатории металлургических, металлообрабатывающих и машиностроительных предприятий.
Описание
Принцип действия измерителей основан на излучении химическими элементами, присутствующими в анализируемом образце, характеристических спектральных линий под действием высокоэнергетического излучения рентгеновской трубки. Вторичное рентгеновское излучение классифицируется по энергии излученных квантов с последующей регистрацией энергетического спектра. Специализированное программное обеспечение позволяет рассчитать толщину и элементный состав покрытия.
Основными элементами конструкции измерителей являются:
- Корпус, служащий для размещения агрегатов спектрометра, стабилизации аналитических условий и для защиты пользователя от излучения;
- Рентгеновская трубка - источник рентгеновского излучения;
- Источник питания, служащий для обеспечения всех частей измерителя электроэнергией с определенными характеристиками;
- Видеокамера, служащая для визуального наведения измерителя на определяемую область;
- Детектор (полупроводниковый), служащий для преобразования гамма квантов вторичного рентгеновского излучения в электрический сигнал;
- Персональный компьютер, предназначенный для приема, обработки и выдачи информации под управлением специализированного программного обеспечения.
- Ручное и программируемое координатное устройство для перемещения образца в процессе облучения.
Основное отличие моделей измерителей рентгенофлуоресцентных FISCHERSCOPE X-RAY XDL-B, XDLM-C4
|
FISCHERSCOPE X-RAY XDL-B |
FISCHERSCOPE X-RAY XDLM-C4 | |
|
Коичесво коллиматоров |
1 |
4 |
|
Тип трубки |
Обычная |
Микрофокусная |
Измерители рентгенофлуоресцентные FISCHERSCOPE X-RAY XDL-B, XDLM-C4 выпускаются в 10 модификациях (XDL-B, XDLM-C4, XDL-B XYZp-T8, XDL-B Z А9, XDLM-C4 XYZp T9, XDL-B Z, XDLM-C4 Z, XDL-B XYmZ, XDLM-C4 XYmZ, XDLM-C4 PCB) в зависимости от типа платформы, привода по оси Z и типа привода, что отражается в названии модификации следующим образом:
• по типу платформы, по дистанции перемещения по XY, аббревиатура обозначения: T9, Т8, А9.
• по приводу по оси Z, аббревиатура обозначения: Z
• по типу привода: ручной привод, аббревиатура обозначения: XYmZ;
или автоматический привод аббревиатура обозначения: XYZp или РСВ
Технические характеристики
|
№ пп |
Наименование |
FISCHERSCOPE X-RAY XDL-B, XDLM-C4 |
|
1 |
Анализируемые элементы |
от алюминия (Z=13) до урана (Z=92) |
|
2 |
Количество слоев покрытия, не более |
24 |
|
3 |
Диапазон измерения толщины покрытия, мкм |
1-60 |
|
4 |
Предел допускаемой основной абсолютной погрешности измерения толщины покрытия, мкм, не более |
±0,55 |
|
5 |
Предел допускаемого среднеквадратического отклонения (СКО) значений результатов измерения толщины покрытия, не более |
0,2 мкм в диапазоне от 1-^10 мкм 2% в диапазоне от 10-60 мкм |
|
6 |
Диапазон измерения массовой доли компонента, % |
2-100 |
|
7 |
Предел допускаемого среднеквадратического отклонения (СКО) значений результатов измерения массовой доли компонента, %, не более |
1,0 |
|
8 |
Напряжение питания, В При частоте, Гц |
220 (-15-±10)% 50/60 ± 1% |
|
9 |
Потребляемая мощность, кВА, не более |
3,5 |
|
XDL-B и XDLM-С4 |
XDL-BZ |
XDLM- C4Z |
XDL-В XYmZ |
XDLM- С4 XYmZ |
XDL-В XYZp-Т8 |
XDL- В Z А9 |
XDLM- С4 XYZp T9 |
XDLM-C4 РСВ | |
|
Г абаритные размеры, мм, не более Ширина х Глубина х Высота |
570x740x650 |
765x835x705 |
570x740x650 | ||||||
|
Масса, кг, не более |
90 |
95 |
105 |
110 | |||||
|
Условия эксплуатации: Температура окружающей среды, °C Относительная влажность воздуха, % Высота над уровнем моря, м, не более |
10-40 0-95 3000 |
Знак утверждения типа
Знак утверждения типа наносят на титульный лист Руководства по эксплуатации типографским способом и на заднюю панель измерителя методом наклеивания.
Комплектность
Комплектность измерителя рентгенофлуоресцентного FISCHERSCOPE X-RAY XDL-B, XDLM-C4:
1. Измеритель рентгенофлуоресцентный FISCHERSCOPE X-RAY - 1 шт.;
2. Персональный компьютер - 1 шт.
3. Настроечные образцы - 1 комплект;
4. Руководство по эксплуатации - 1 шт.;
5. Методика поверки - 1 шт.
Поверка
Поверка производится в соответствии с методикой поверки «Измеритель рентгенофлуоресцентный FISCHERSCOPE X-RAY XDL/XDAL; XDV; XUL/XAN. Методика поверки», согласованной с ФГУП ВНИИОФИ в июне 2009 года.
Основные средства поверки:
- Государственные стандартные образцы по ГОСТ 8.315-97 «ГСИ. Стандартные образцы состава и свойств веществ и материалов» в соответствии с областью применения измерителей рентгенофлуоресцентных и набором определяемых элементов.
- Набор мер толщины покрытий типа НТП на МО, диапазон 3-2000 мкм, 2-й разряд. Р 50.2.006-2001. Государственная поверочная схема для средств измерений толщины покрытий в диапазоне от 1 до 20000 мкм».
Межповерочный интервал - 1 год.
Нормативные документы
1. Рекомендации по метрологии Р 50.2.006-2001 «ГСИ Государственная поверочная схема для средств измерений толщины покрытий в диапазоне от 1 до 20000 мкм».
2. Техническая документация фирмы “Helmut Fischer GmbH Institut fur Elektronik und Messtechnik ”, Германия.
Заключение
Тип измерителей рентгенофлуоресцентных FISCHERSCOPE X-RAY XDL-B, XDLM-C4, утвержден с техническими и метрологическими характеристиками, приведенными в настоящем описании типа, метрологически обеспечен при выпуске из производства и в эксплуатации.
Смотрите также
