41676-09: TDG01 Меры периода линейные - Производители, поставщики и поверители

Меры периода линейные TDG01

Номер в ГРСИ РФ: 41676-09
Производитель / заявитель: ЗАО "Нанотехнология МДТ", г.Москва
Скачать
41676-09: Описание типа СИ Скачать 112.8 КБ
Нет данных о поставщике
Меры периода линейные TDG01 поверка на: www.ktopoverit.ru
КтоПоверит
Онлайн-сервис метрологических услуг

Относятся к классу мер рельефных нанометрового диапазона и предназначены для передачи размера единицы длины в диапазоне 10^(-9)...10^(-4) м и поверки (калибровки) оптических ближнего поля, растровых электронных, сканирующих туннельных и атомно-силовых микроскопов, сканирующих близкопольныхоптических микроскопов и других средств измерений малой длины. Область применения: оснащение органов метрологических служб, оснащение лабораторий и испытательных центров, оснащение научных и учебных лабораторий, применяющих указанное оборудование для калибровки.

Информация по Госреестру

Основные данные
Номер по Госреестру 41676-09
Наименование Меры периода линейные
Модель TDG01
Технические условия на выпуск ТУ 3932-010-40349675-2009
Класс СИ 27.01
Год регистрации 2009
Страна-производитель  Россия 
Примечание 12.11.2014 продлен срок свидетельства
Центр сертификации СИ
Наименование центра ГЦИ СИ ВНИИМС
Адрес центра 119361, г.Москва, Озерная ул., 46
Руководитель центра Кононогов Сергей Алексеевич
Телефон (8*095) 437-55-77
Факс 437-56-66
Информация о сертификате
Срок действия сертификата 12.11.2019
Номер сертификата 36631
Тип сертификата (C - серия/E - партия) С
Дата протокола Приказ 1802 п. 05 от 12.11.201409д от 08.10.09 п.117
Производитель / Заявитель

ЗАО "Нанотехнология МДТ", г.Москва

 Россия 

124482, Зеленоград, кор.100, тел. +7(499) 735-03-05 Факс +7(499) 735-64-10. (124460, Зеленоград, кор.167), E-mail: spm@ntmdt.ru

Поверка

Методика поверки / информация о поверке 3932-010-40349675-2009 РЭ, Раздел 4
Межповерочный интервал / Периодичность поверки 1 год
Зарегистрировано поверок 15
Найдено поверителей 2
Успешных поверок (СИ пригодно) 15 (100%)
Неуспешных поверок (СИ непригодно) 0 (0%)
Актуальность информации 22.12.2024

Поверители

Скачать

41676-09: Описание типа СИ Скачать 112.8 КБ

Описание типа

Назначение

Меры периода линейные TDG01 (далее - меры) относятся к классу мер рельефных нанометрового диапазона и предназначены для передачи размера единицы длины в диапазоне от 10-9 до 10-4 м и поверки (калибровки) оптических ближнего поля, растровых электронных, сканирующих атомно-силовых микроскопов и других средств измерений малой длины.

Описание

Меры представляет собой совокупность совокупность протяженных шаговых структур на поверхности халькогенидного стекла с внешним диаметральным размером 12,5 мм и диаметральным размером рабочей области - 9 мм. Мера состоит из одинаковых шаговых структур с синусоидальной (в разрезе) геометрической формой элемента рельефа.

Внешний меры представлен на рисунке 1.

Рисунок 1 - Внешний вид меры периода линейно-угловой TDG01.

Технические характеристики

Таблица 1

Наименование

Значение

Номинальное значение периода структуры меры, мкм

0,278

Допускаемое отклонение от номинального значения шага шаговой структуры, не более, мкм

± 0,001

Плотность периодической структуры меры, периодов/мм

3600

Пределы допускаемой относительной погрешности при формировании периодической структуры не более, %

± 0,03

Максимальная высота профиля меры не более, нм

60

Условия эксплуатации:

а) При работе на воздухе

- температура окружающего воздуха, °С

- относительная влажность, %

- атмосферное давление, Па

б) При работе в вакуумных условиях

- диапазон значений остаточного давления в камере образцов микроскопа, Па

- температура держателя образца, оС

20 ± 3

65 ± 15 (100 ±4)403

от 1 •Ю-4 до

270

20 ± 3

Масса меры не более, г

10

Габаритные размеры меры (диаметр х толщина), мм

12,5x2,5

Размеры рабочей области меры (диаметр), мм

9,0

Знак утверждения типа

наносится на титульный лист паспорта и на футляр.

Комплектность

- 1шт.;

- 1 шт.;

- 1шт.

Мера TDG01

Специальный футляр

Руководство по эксплуатации (паспорт)

Поверка

осуществляется в соответствии с методикой, изложенной в разделе 4 Руководства по эксплуатации 3932-010-40349675-2009 РЭ и согласованной ФГУП «ВНИИМС 06.08.2009 г.

Основное средство поверки: микроскоп сканирующий зондовый атомно-силовой Solver Pro (Госреестр № 28666-10).

Сведения о методах измерений

Меры периода линейно-угловые TDG01. Руководство по эксплуатации.

Нормативные документы

Технические условия 3932-010-40349675-2009 ТУ и руководство по эксплуатации (паспорт) 3932-010-40349675-2009 РЭ.

Рекомендации к применению

- при выполнении работ по оценке соответствия продукции и иных объектов обязательным требованиям в соответствии с законодательством Российской Федерации о техническом регулировании.

Смотрите также

41677-09
TGG1 Меры периода линейно-угловые
ЗАО "Нанотехнология МДТ", г.Москва, Зеленоград
Относятся к классу мер рельефных нанометрового диапазона и предназначены для передачи размера единицы длины в диапазоне 10^(-9)...10^(-4) м и поверки (калибровки) оптических ближнего поля, растровых электронных, сканирующих атомно-силовых микроскопов...
41678-09
TGZ1, TGZ2, TGZ3 Меры периода и высоты линейные
ЗАО "Нанотехнология МДТ", г.Москва, Зеленоград
Относятся к классу мер рельефных нанометрового диапазона и предназначены для передачи размера единицы длины в диапазоне 10^(-9)...10^(-4) м и поверки (калибровки) оптических ближнего поля, растровых электронных, атомно-силовых микроскопов, профиломет...
41679-09
TGT1 Меры периода линейно-угловые
ЗАО "Нанотехнология МДТ", г.Москва, Зеленоград
Относятся к классу мер рельефных нанометрового диапазона и предназначены для передачи размера единицы длины в диапазоне 10^(-9)...10^(-4) м и поверки (калибровки) растровых электронных, атомно-силовых микроскопов и других средств измерений малой длин...
41680-09
TGQ1 Меры периода и высоты линейные
ЗАО "Нанотехнология МДТ", г.Москва, Зеленоград
Относятся к классу мер рельефных нанометрового диапазона и предназначены для передачи размера единицы длины в диапазоне 10^(-9)...10^(-4) м и поверки (калибровки) оптических ближнего поля, растровых электронных, сканирующих туннельных и атомно-силовы...