Средство измерений пространственных характеристик лазерного излучения BeamStar FX50
| Номер в ГРСИ РФ: | 43276-09 |
|---|---|
| Производитель / заявитель: | Фирма "Ophir Optronics Ltd.", Израиль |
Средство измерений пространственных характеристик лазерного излучения BeamStar FX50 (далее по тексту - прибор) предназначено для измерений относительного распределения плотности энергии (ОРПЭ) в поперечном сечении пучка лазерного излучения и координат энергетического центра и применяется в области обороны и безопасности при контроле технического состояния оптико-электронных систем.
Информация по Госреестру
| Основные данные | |||||||
|---|---|---|---|---|---|---|---|
| Номер по Госреестру | 43276-09 | ||||||
| Наименование | Средство измерений пространственных характеристик лазерного излучения | ||||||
| Модель | BeamStar FX50 | ||||||
| Характер производства | Единичное | ||||||
| Идентификатор записи ФИФ ОЕИ | 03851a8d-16e9-22dd-0179-d710c501f687 | ||||||
| Испытания |
|
||||||
| Год регистрации | 2009 | ||||||
| Общие данные | |
|---|---|
| Технические условия на выпуск | тех.документация фирмы |
| Класс СИ | 37 |
| Год регистрации | 2009 |
| Страна-производитель | Израиль |
| Центр сертификации СИ | |
| Наименование центра | ГЦИ СИ "Воентест" |
| Адрес центра | 141006, г.Мытищи Московской обл., 32 ГНИИИ МО РФ или в/ч 55215 |
| Руководитель центра | Храменков Виктор Николаевич |
| Телефон | (8*095) 586-23-88 |
| Факс | 583-99-48 |
| Информация о сертификате | |
| Срок действия сертификата | . . |
| Номер сертификата | 38642В |
| Тип сертификата (C - серия/E - партия) | Е |
| Дата протокола | 13д от 24.12.09 п.291 |
Производитель / Заявитель
Фирма «OPHIR Optronics, Ltd.» , ИЗРАИЛЬ
Израиль
SCIENCE BASED INDUSTRY PARK P.O.B. 45021/JERUSALEM 91450, ISRAEL тел. + 972-2-548 4444, факс + 972-2-582 2338
Поверка
| Межповерочный интервал / Периодичность поверки |
1 год
|
| Зарегистрировано поверок | |
| Успешных поверок (СИ пригодно) | 3 (100%) |
| Неуспешных поверок (СИ непригодно) | 0 (0 %) |
| Актуальность информации | 28.12.2025 |
Поверители
Скачать
|
43276-09: Методика поверки
2021-mp43276-09.pdf
|
Скачать | 3.4 MБ | |
|
43276-09: Описание типа
2021-43276-09.pdf
|
Скачать | 111.7 КБ |
Описание типа
Назначение
Средство измерений пространственных характеристик лазерного излучения BeamStar FX50 (далее по тексту - прибор) предназначено для измерений относительного распределения плотности энергии (ОРПЭ) в поперечном сечении пучка лазерного излучения и координат энергетического центра и применяется в области обороны и безопасности при контроле технического состояния оптико-электронных систем.
Описание
Принцип действия прибора основан на преобразовании фоточувствительным матричным преобразователем распределения интенсивности лазерного излучения в поперечном сечении пучка в цифровые коды и последующей их обработке с помощью компьютера. .
Прибор состоит из блока измерительного преобразователя (ИП) на основе матрицы и стола юстировочного. Блок ИП подключается к персональному компьютеру с помощью кабеля.
Технические характеристики
Основные технические характеристики прибора приведены в таблице 1. Таблица 1
|
Наименование характеристики |
Значение |
|
Динамический диапазон измерений ОРПЭ |
от 0,001 до 1 |
|
Предел допускаемой относительной погрешности измерений ОРПЭ, % |
2,5 |
|
Рабочий спектральный диапазон, мкм |
от 0,2 до 1,1 |
|
Частота следования импульсов, Гц |
от однократных импульсов до 500 |
|
Максимальный размер сечения пучка измеряемого излучения (ширина х высота), мм |
6,3 х 4,7 |
|
Максимальное значение плотности энергии, Дж/см2 |
1 |
|
Время установления рабочего режима, мин, не более |
30 |
|
Время непрерывной работы, ч, не менее |
8 |
|
Габаритные размеры (длина х ширина х высота), мм, не более: ИП стол юстировочный |
77x36x70 75x100x125 |
|
Масса, кг, не более |
0,5 |
|
Рабочие условия эксплуатации: температура окружающего воздуха, °C относительная влажность воздуха при температуре 25, °C, % |
от 10 до 35 до 80 |
Знак утверждения типа
Знак утверждения типа наносится на лицевую панель ИП в виде неклейки и титульный лист эксплуатационной документации типографским способом.
Комплектность
В комплект поставки входят: средство измерений пространственных характеристик лазерного излучения BeamStar FX50, комплект технической документации фирмы-изготовителя, методика поверки.
Поверка
Поверка прибора проводится в соответствии с документом «Средство измерений пространственных характеристик лазерного излучения BeamStar FX50 фирмы «OPHIR Optronics, Ltd.», Израиль. Методика поверки», утвержденным начальником ГЦИ СИ «Воентест» 32 ГНИИИ МО РФ в ноябре 2009 года и входящим в комплект поставки.
Средства поверки: военный эталон единиц средней мощности и энергии лазерного излучения ВЭ-36-06 (диапазон средней мощности от 2 до 10'3 Вт, диапазон энергии от 2 до 10'3 Дж, суммарная погрешность не более 0,15 %, погрешность передачи размеров единиц не более 0,2 %); средство измерений пространственно-энергетических характеристик импульсного лазерного излучения СИПХ-1 (диапазон измерений ОРПЭ от 0,05 до 1).
Межповерочный интервал - 1 год.
Нормативные документы
Техническая документация фирмы-изготовителя.
Заключение
Тип средства измерений пространственных характеристик лазерного излучения BeamStar FX50 утвержден с техническими и метрологическими характеристиками, приведенными в настоящем описании типа, метрологически обеспечен в эксплуатации.
Смотрите также
