43276-09: BeamStar FX50 Средство измерений пространственных характеристик лазерного излучения - Производители, поставщики и поверители

Средство измерений пространственных характеристик лазерного излучения BeamStar FX50

ALL-Pribors default picture
Номер в ГРСИ РФ: 43276-09
Производитель / заявитель: Фирма "Ophir Optronics Ltd.", Израиль
Скачать
43276-09: Описание типа СИ Скачать 111.7 КБ
43276-09: Методика поверки Скачать 2.4 MБ
Нет данных о поставщике
Средство измерений пространственных характеристик лазерного излучения BeamStar FX50 поверка на: www.ktopoverit.ru
КтоПоверит
Онлайн-сервис метрологических услуг

Средство измерений пространственных характеристик лазерного излучения BeamStar FX50 (далее по тексту - прибор) предназначено для измерений относительного распределения плотности энергии (ОРПЭ) в поперечном сечении пучка лазерного излучения и координат энергетического центра и применяется в области обороны и безопасности при контроле технического состояния оптико-электронных систем.

Информация по Госреестру

Основные данные
Номер по Госреестру 43276-09
Наименование Средство измерений пространственных характеристик лазерного излучения
Модель BeamStar FX50
Технические условия на выпуск тех.документация фирмы
Класс СИ 37
Год регистрации 2009
Страна-производитель  Израиль 
Центр сертификации СИ
Наименование центра ГЦИ СИ "Воентест"
Адрес центра 141006, г.Мытищи Московской обл., 32 ГНИИИ МО РФ или в/ч 55215
Руководитель центра Храменков Виктор Николаевич
Телефон (8*095) 586-23-88
Факс 583-99-48
Информация о сертификате
Срок действия сертификата . .
Номер сертификата 38642В
Тип сертификата (C - серия/E - партия) Е
Дата протокола 13д от 24.12.09 п.291
Производитель / Заявитель

Фирма "Ophir Optronics Ltd.", Израиль

 Израиль 

SCIENCE BASED INDUSTRY PARK P.O.B. 45021/JERUSALEM 91450, ISRAEL тел. + 972-2-548 4444, факс + 972-2-582 2338

Поверка

Межповерочный интервал / Периодичность поверки 1 год
Зарегистрировано поверок 2
Успешных поверок (СИ пригодно) 2 (100%)
Неуспешных поверок (СИ непригодно) 0 (0%)
Актуальность информации 17.11.2024

Поверители

Скачать

43276-09: Описание типа СИ Скачать 111.7 КБ
43276-09: Методика поверки Скачать 2.4 MБ

Описание типа

Назначение

Средство измерений пространственных характеристик лазерного излучения BeamStar FX50 (далее по тексту - прибор) предназначено для измерений относительного распределения плотности энергии (ОРПЭ) в поперечном сечении пучка лазерного излучения и координат энергетического центра и применяется в области обороны и безопасности при контроле технического состояния оптико-электронных систем.

Описание

Принцип действия прибора основан на преобразовании фоточувствительным матричным преобразователем распределения интенсивности лазерного излучения в поперечном сечении пучка в цифровые коды и последующей их обработке с помощью компьютера. .

Прибор состоит из блока измерительного преобразователя (ИП) на основе матрицы и стола юстировочного. Блок ИП подключается к персональному компьютеру с помощью кабеля.

Технические характеристики

Основные технические характеристики прибора приведены в таблице 1. Таблица 1

Наименование характеристики

Значение

Динамический диапазон измерений ОРПЭ

от 0,001 до 1

Предел допускаемой относительной погрешности измерений ОРПЭ, %

2,5

Рабочий спектральный диапазон, мкм

от 0,2 до 1,1

Частота следования импульсов, Гц

от однократных импульсов до 500

Максимальный размер сечения пучка измеряемого излучения (ширина х высота), мм

6,3 х 4,7

Максимальное значение плотности энергии, Дж/см2

1

Время установления рабочего режима, мин, не более

30

Время непрерывной работы, ч, не менее

8

Габаритные размеры (длина х ширина х высота), мм, не более: ИП

стол юстировочный

77x36x70 75x100x125

Масса, кг, не более

0,5

Рабочие условия эксплуатации:

температура окружающего воздуха, °C

относительная влажность воздуха при температуре 25, °C, %

от 10 до 35 до 80

Знак утверждения типа

Знак утверждения типа наносится на лицевую панель ИП в виде неклейки и титульный лист эксплуатационной документации типографским способом.

Комплектность

В комплект поставки входят: средство измерений пространственных характеристик лазерного излучения BeamStar FX50, комплект технической документации фирмы-изготовителя, методика поверки.

Поверка

Поверка прибора проводится в соответствии с документом «Средство измерений пространственных характеристик лазерного излучения BeamStar FX50 фирмы «OPHIR Optronics, Ltd.», Израиль. Методика поверки», утвержденным начальником ГЦИ СИ «Воентест» 32 ГНИИИ МО РФ в ноябре 2009 года и входящим в комплект поставки.

Средства поверки: военный эталон единиц средней мощности и энергии лазерного излучения ВЭ-36-06 (диапазон средней мощности от 2 до 10'3 Вт, диапазон энергии от 2 до 10'3 Дж, суммарная погрешность не более 0,15 %, погрешность передачи размеров единиц не более 0,2 %); средство измерений пространственно-энергетических характеристик импульсного лазерного излучения СИПХ-1 (диапазон измерений ОРПЭ от 0,05 до 1).

Межповерочный интервал - 1 год.

Нормативные документы

Техническая документация фирмы-изготовителя.

Заключение

Тип средства измерений пространственных характеристик лазерного излучения BeamStar FX50 утвержден с техническими и метрологическими характеристиками, приведенными в настоящем описании типа, метрологически обеспечен в эксплуатации.

Смотрите также

Для выявления дефектов типа поверхностных и подповерхностных трещин, нарушений сплошности и однородности материалов, полуфабрикатов и готовых изделий из металлов и сплавов по пороговому уровню чувствительности, устанавливаемому пользователем. Использ...
Для выявления дефектов типа поверхностных и подповерхностных трещин, нарушений сплошности и однородности материалов, полуфабрикатов и готовых изделий из металлов и сплавов по пороговому уровню чувствительности, устанавливаемому пользователем. Использ...
Default ALL-Pribors Device Photo
4328-74
pNa-201 Анализаторы жидкости
ПО "Измеритель", Беларусь, г.Гомель
Default ALL-Pribors Device Photo
43280-09
ПД-9 Пирометры
ОАО "НПП "Эталон", г.Омск
Для дистанционного измерения температуры объектов бесконтактным методом в диапазоне 400...1400 °С. Могут применяться в различных областях промышленности: машиностроение, металлургия, энергетика и т.д., а также при проведении научных исследований.