Мера рельефная графитовая S140
| Номер в ГРСИ РФ: | 44968-10 |
|---|---|
| Производитель / заявитель: | Фирма "Agar Corporation", США |
| 44968-10: Описание типа СИ | Скачать | 90.5 КБ |
Для передачи размера единицы длины в диапазоне 10^(-9)...10^(-8) м. Применяется для поверки и калибровки микроскопов электронных просвечивающих
Информация по Госреестру
| Основные данные | |
|---|---|
| Номер по Госреестру | 44968-10 |
| Наименование | Мера рельефная графитовая |
| Модель | S140 |
| Технические условия на выпуск | тех.документация фирмы |
| Класс СИ | 27.01 |
| Год регистрации | 2010 |
| Страна-производитель | Великобритания |
| Центр сертификации СИ | |
| Наименование центра | ГЦИ СИ ВНИИМС |
| Адрес центра | 119361, г.Москва, Озерная ул., 46 |
| Руководитель центра | Кононогов Сергей Алексеевич |
| Телефон | (8*095) 437-55-77 |
| Факс | 437-56-66 |
| Информация о сертификате | |
| Срок действия сертификата | . . |
| Номер сертификата | 40520 |
| Тип сертификата (C - серия/E - партия) | Е |
| Дата протокола | 03д от 29.07.10 п.346 |
Производитель / Заявитель
Фирма "Agar Scientific, Ltd.", Великобритания
Великобритания
Unit 7, Ml 1 Business Link, Parsonage Lane, Stansted, Essex, CM24 8GF
Поверка
| Методика поверки / информация о поверке | МП ВНИИМС |
| Межповерочный интервал / Периодичность поверки | 1 год |
| Найдено поверителей | 1 |
| Актуальность информации | 14.04.2024 |
Поверители
Скачать
| 44968-10: Описание типа СИ | Скачать | 90.5 КБ |
Описание типа
Назначение
Мера рельефная графитовая S140 (далее - мера) предназначена для передачи размера единицы длины в диапазоне 10’9 + 10'8 м. Применяется для поверки и калибровки микроскопов электронных просвечивающих.
Описание
Мера представляет собой кристалл углерода толщиной менее 1 мкм, закрепленный на объектной сетке диаметром 3 мм для микроскопа электронного просвечивающего (ПЭМ). Аттестованным параметром меры является период кристаллической решетки. При использовании данного параметра для передачи единицы длины применяется кристалл высокой степени чистоты от примесей и иных разновидностей кристаллографических дислокаций. Кристалл закрепляется на объектной сетке таким образом, чтобы кристаллографическая ось Сб была перпендикулярна плоскости сетки.
Технические характеристики
|
Наименование |
Значение |
|
Номинальное значение периода кристаллической решетки меры, нм |
0,314 |
|
Предел допускаемой абсолютной погрешности периода кристаллической решетки, нм |
±0,05 |
|
Габаритный размер меры (диаметр х толщина), мм |
3x0.1 |
|
Размер рабочей области меры (диаметр), мм |
2,0 |
Знак утверждения типа
Знак утверждения типа наносится на титульном листе руководства по эксплуатации методом печати.
Комплектность
В комплект поставки входит:
|
• Мера SI40 |
1 шт. |
|
• Специальный футляр |
1 шт. |
|
• Руководство по эксплуатации |
1 экз. |
Поверка
Поверка меры проводится в соответствии с документом «Мера рельефная графитовая S140. Методика поверки», утвержденным ГЦИ СИ ФГУП «ВНИИМС» <^Z» августа 2010 года.
Основным средством поверки является:
- мера периода линейная TDG01 (ТУ 3932-010-40349675-2009, ГР 41676-09);
- микроскоп сканирующий зондовый атомно-силовой NTegra (ТУ 4254-001-586993ST-2009, ГР 28664-10).
Межповерочный интервал -1 год.
Нормативные документы
Техническая документация фирмы-изготовителя «Agar Scientific, Ltd», Великобритания.
Заключение
Тип меры периода рельефной S140 утвержден с техническими и метрологическими характеристиками, приведенными в настоящем описании типа, метрологически обеспечен в эксплуатации.
Смотрите также
