Спектрофотометры XDS

Назначение

Спектрофотометры XDS предназначены для измерения спектральной оптической плотности в отраженном или проходящем свете твердых, гранулированных, порошкообразных и жидких образцов в спектральном диапазоне от 400 до 2500 нм.

Спектрофотометры XDS предназначаются для применения в химических лабораториях промышленных предприятий, в основном пищевой и фармацевтической промышленности, и в научно-исследовательских учреждениях.

Описание

Принцип действия спектрофотометров XDS основан на сравнении двух световых потоков: полного, принимаемого за 100% отражения или пропускания, и ослабленного при отражении или прохождении через исследуемый образец.

Все модификации спектрофотометров XDS включают в свой состав одинаковый спектрофотометрический модуль, осуществляющий освещение образцов монохроматическим излечением в спектральном диапазоне от 400 до 2500 нм и регистрацию отраженного или проходящего потока излучения. В спектрофотометрическом модуле располагаются источник света (галогенная лампа накаливания); монохроматор с подвижной дифракционной решеткой; встроенные опорные образцы сравнения для самокалибровки прибора; узел регистрации излучения (группа фотоприемников на основе кремния, арсенида индия-галлия, сульфида свинца), а также блоки питания, управления и связи с управляющим компьютером.

К спектрофотометрическому модулю, в зависимости от требуемого режима измерений, пристыковываются различные измерительные блоки, определяющие модификацию данного экземпляра прибора.

Спектрофотометры XDS с измерительным блоком для твердых образцов (модификации «XDS Rapid Content Analyzer» и «XDS MultiVial Analyzer») и с выносным оптоволоконным измерительным блоком (модификации «XDS SmartProbe Analyzer» и «XDS OptiProbe Analyzer») предназначены для измерения спектральной оптической плотности в отраженном свете (десятичный логарифм спектрального коэффициента отражения) твердых, гранулированных, порошкообразных и жидких образцов.

Спектрофотометры XDS с измерительным блоком для жидких образцов (модификация «XDS Rapid Liquid Analyzer» ) предназначены для измерения спектрального коэффициента пропускания и оптической плотности прозрачных твердых или жидких образцов.

Спектрофотометры XDS с универсальным измерительным блоком (модификация «XDS MasterLab Tablet Analyzer») предназначены для измерения спектрального коэффициента пропускания и оптической плотности различных образцов в отраженном или проходящем свете.

Управление режимами работы, все операции калибровки, измерений и сохранения результатов производится специализированной компьютерной программой «VisionTM», работающей в среде Windows.

Технические характеристики

Спектрофотометры XDS предназначены для эксплуатации при температуре окружающей среды от 4,5 до 35°С и относительной влажности не более 90% без конденсации влаги.

Спектрофотометры XDS являются восстанавливаемыми изделиями.

Знак утверждения типа

Знак утверждения типа наносится на титульный лист Руководства по эксплуатации спектрофотометров типографским способом.

Комплектность

Спектрофотометры XDS имеют следующую комплектность:

Поверка

Спектрофотометры XDS подлежат периодической поверке в соответствии с методикой поверки (Приложение А к руководству по эксплуатации), утвержденной ГЦИ СИ ФГУ «Ростест-Москва» в июле 2010 г.

Средства поверки:

- Комплект мер диффузного отражения ХС-1010, номер по Госреестру СИ 35951-07, рабочий спектральный диапазон от 400 до 2600 нм, диапазон измерений спектрального коэффициента отражения от 0,02 до 0,95, погрешность не более ± 0,005 в диапазоне от 0,95 до 0,20 отн.ед.; не более ± 0,003 в диапазоне ниже 0,20 отн.ед.; погрешность измерений длин волн пиков поглощения светофильтра WaveCert-1920а не более + 0,3 нм. Комплект светофильтров КНС-10.5, номер по Госреестру СИ 43463-09, рабочий спектральный диапазон от 260 до 2700 нм, диапазон измерений спектрального коэффициента пропускания от 0,02 до 0,95, погрешность не более ±0,005; погрешность измерений длин волн пиков поглощения светофильтра НГГ не более ± 0,15 нм.

Межповерочный интервал - 1 год.

Нормативные документы

ГОСТ 8.557-2007. Государственная поверочная схема для СИ спектральных, интегральных и редуцированных коэффициентов направленного пропускания и оптической плотности в диапазоне длин волн 0,2 - 50,0 мкм, диффузного и зеркального отражений в диапазоне длин волн 0,2 - 20,0 мкм.

Заключение

Тип спектрофотометров XDS модификации «XDS MasterLab Tablet Analyzer», «XDS MultiVial Analyzer», «XDS Rapid Content Analyzer», «XDS OptiProbe Analyzer », «XDS SmartProb Analyzer», «XDS Rapid Liquid Analyzer» утвержден с техническими и метрологическими характеристиками, приведенными в настоящем описании типа, метрологически обеспечен при выпуске из производства и в эксплуатации согласно государственной поверочной схеме ГОСТ 8.557-2007.