45387-10: XDS Спектрофотометры - Производители, поставщики и поверители

Спектрофотометры XDS

ALL-Pribors default picture
Номер в ГРСИ РФ: 45387-10
Категория: Спектрофотометры
Производитель / заявитель: Фирма "Foss Electric", Дания
Скачать
45387-10: Описание типа СИ Скачать 185 КБ
Нет данных о поставщике
Спектрофотометры XDS поверка на: www.ktopoverit.ru
КтоПоверит
Онлайн-сервис метрологических услуг

Для измерения спектральной оптической плотности в отраженном или проходящем свете твердых, гранулированных, порошкообразных и жидких образцов в спектральном диапазоне 400...2500 нм. Для применения в химических лабораториях промышленных предприятий, в основном пищевой и фармацевтической промышленности, и в научно-исследовательских учреждениях.

Информация по Госреестру

Основные данные
Номер по Госреестру 45387-10
Наименование Спектрофотометры
Модель XDS
Модификации XDS MasterLab Tablet Analyzer, XDS MultiVial Analyzer, XDS Rapid Content Analyzer, XDS OptiProbe Analyzer, XDS SmartProb Analyzer, XDS Rapid Liquid Analyzer
Технические условия на выпуск тех.документация фирмы
Класс СИ 37
Год регистрации 2010
Страна-производитель  Швеция 
Центр сертификации СИ
Наименование центра ГЦИ СИ Ростест-Москва
Адрес центра 117418, г.Москва, Нахимовский пр-т, 31
Руководитель центра Бас Виталий Николаевич
Телефон (8*095) 332-67-77
Факс 124-99-96
Информация о сертификате
Срок действия сертификата 01.08.2015
Номер сертификата 40989
Тип сертификата (C - серия/E - партия) С
Дата протокола 03д2 от 29.07.10 п.444
Производитель / Заявитель

Компания "FOSS Analytical AB", Швеция

 Швеция 

Box 70, SE-263 21 Hoganas, Sweden. Тел. + 46 42 36 15 00. Факс + 46 42 34 03 49/ PS1 Anders vag 2, Box 70, SE-263 21 Hoganas

Поверка

Методика поверки / информация о поверке Приложение А к руководству по эксплуатации
Межповерочный интервал / Периодичность поверки 1 год
Зарегистрировано поверок 2
Найдено поверителей 8
Успешных поверок (СИ пригодно) 2 (100%)
Неуспешных поверок (СИ непригодно) 0 (0%)
Актуальность информации 24.03.2024

Поверители

Скачать

45387-10: Описание типа СИ Скачать 185 КБ

Описание типа

Назначение

Спектрофотометры XDS предназначены для измерения спектральной оптической плотности в отраженном или проходящем свете твердых, гранулированных, порошкообразных и жидких образцов в спектральном диапазоне от 400 до 2500 нм.

Спектрофотометры XDS предназначаются для применения в химических лабораториях промышленных предприятий, в основном пищевой и фармацевтической промышленности, и в научно-исследовательских учреждениях.

Описание

Принцип действия спектрофотометров XDS основан на сравнении двух световых потоков: полного, принимаемого за 100% отражения или пропускания, и ослабленного при отражении или прохождении через исследуемый образец.

Все модификации спектрофотометров XDS включают в свой состав одинаковый спектрофотометрический модуль, осуществляющий освещение образцов монохроматическим излечением в спектральном диапазоне от 400 до 2500 нм и регистрацию отраженного или проходящего потока излучения. В спектрофотометрическом модуле располагаются источник света (галогенная лампа накаливания); монохроматор с подвижной дифракционной решеткой; встроенные опорные образцы сравнения для самокалибровки прибора; узел регистрации излучения (группа фотоприемников на основе кремния, арсенида индия-галлия, сульфида свинца), а также блоки питания, управления и связи с управляющим компьютером.

К спектрофотометрическому модулю, в зависимости от требуемого режима измерений, пристыковываются различные измерительные блоки, определяющие модификацию данного экземпляра прибора.

Спектрофотометры XDS с измерительным блоком для твердых образцов (модификации «XDS Rapid Content Analyzer» и «XDS MultiVial Analyzer») и с выносным оптоволоконным измерительным блоком (модификации «XDS SmartProbe Analyzer» и «XDS OptiProbe Analyzer») предназначены для измерения спектральной оптической плотности в отраженном свете (десятичный логарифм спектрального коэффициента отражения) твердых, гранулированных, порошкообразных и жидких образцов.

Спектрофотометры XDS с измерительным блоком для жидких образцов (модификация «XDS Rapid Liquid Analyzer» ) предназначены для измерения спектрального коэффициента пропускания и оптической плотности прозрачных твердых или жидких образцов.

Спектрофотометры XDS с универсальным измерительным блоком (модификация «XDS MasterLab Tablet Analyzer») предназначены для измерения спектрального коэффициента пропускания и оптической плотности различных образцов в отраженном или проходящем свете.

Управление режимами работы, все операции калибровки, измерений и сохранения результатов производится специализированной компьютерной программой «VisionTM», работающей в среде Windows.

Технические характеристики

1. Диапазон измерений спектральной оптической плотности, Б

от 0,00 до 2,00

2. Рабочий спектральный диапазон, нм

от 400 до 2500

3. Предел допускаемой абсолютной погрешности при измерении спектральной оптической плотности, Б

- в диапазоне от 0,00 до 1,00 Б

- в диапазоне свыше 1,00 Б

4. Предел допускаемой абсолютной погрешности шкалы длин волн, нм

5. Напряжение питающей сети, В

7. Потребляемая мощность (без учета компьютера), ВА, не более

8. Габаритные размеры, мм, не более

- модификации «XDS MasterLab Tablet Analyzer»,

«XDS MultiVial Analyzer», «XDS Rapid Content Analyzer»,

«XDS Rapid Liquid Analyzer»

- модификации «XDS SmartProb Analyzer», «XDS OptiProbe Analyzer»

±0,03

±0,06

±1,0

220 ± 22 В, 50Гц

150

460 х 390 х 580

460 х 450 х 820

9. Масса, кг, не более

35,0

Спектрофотометры XDS предназначены для эксплуатации при температуре окружающей среды от 4,5 до 35°С и относительной влажности не более 90% без конденсации влаги.

Спектрофотометры XDS являются восстанавливаемыми изделиями.

Знак утверждения типа

Знак утверждения типа наносится на титульный лист Руководства по эксплуатации спектрофотометров типографским способом.

Комплектность

Спектрофотометры XDS имеют следующую комплектность:

Спектрофотометр XDS

Чашки и кюветы для образцов

Комплект ЗИП

CD диск с программным обеспечением

ПЭВМ (поставляется отдельно)

Руководство по эксплуатации

1 от 1 до 12

1

1

1

1

Поверка

Спектрофотометры XDS подлежат периодической поверке в соответствии с методикой поверки (Приложение А к руководству по эксплуатации), утвержденной ГЦИ СИ ФГУ «Ростест-Москва» в июле 2010 г.

Средства поверки:

- Комплект мер диффузного отражения ХС-1010, номер по Госреестру СИ 35951-07, рабочий спектральный диапазон от 400 до 2600 нм, диапазон измерений спектрального коэффициента отражения от 0,02 до 0,95, погрешность не более ± 0,005 в диапазоне от 0,95 до 0,20 отн.ед.; не более ± 0,003 в диапазоне ниже 0,20 отн.ед.; погрешность измерений длин волн пиков поглощения светофильтра WaveCert-1920а не более + 0,3 нм. Комплект светофильтров КНС-10.5, номер по Госреестру СИ 43463-09, рабочий спектральный диапазон от 260 до 2700 нм, диапазон измерений спектрального коэффициента пропускания от 0,02 до 0,95, погрешность не более ±0,005; погрешность измерений длин волн пиков поглощения светофильтра НГГ не более ± 0,15 нм.

Межповерочный интервал - 1 год.

Нормативные документы

ГОСТ 8.557-2007. Государственная поверочная схема для СИ спектральных, интегральных и редуцированных коэффициентов направленного пропускания и оптической плотности в диапазоне длин волн 0,2 - 50,0 мкм, диффузного и зеркального отражений в диапазоне длин волн 0,2 - 20,0 мкм.

Заключение

Тип спектрофотометров XDS модификации «XDS MasterLab Tablet Analyzer», «XDS MultiVial Analyzer», «XDS Rapid Content Analyzer», «XDS OptiProbe Analyzer », «XDS SmartProb Analyzer», «XDS Rapid Liquid Analyzer» утвержден с техническими и метрологическими характеристиками, приведенными в настоящем описании типа, метрологически обеспечен при выпуске из производства и в эксплуатации согласно государственной поверочной схеме ГОСТ 8.557-2007.

Другие Спектрофотометры

Для измерения коэффициента пропускания или оптической плотности твердых и жидких проб различного происхождения.
49189-12
Cary 60 Спектрофотометры
Фирма "Agilent Technologies", Австралия
Спектрофотометры Cary 60 предназначены для измерения коэффициента пропускания и оптической плотности твердых и жидких проб различного происхождения.