47624-11: SIMULTIX 14 Спектрометры рентгенофлуоресцентные - Производители, поставщики и поверители

Спектрометры рентгенофлуоресцентные SIMULTIX 14

ALL-Pribors default picture
Номер в ГРСИ РФ: 47624-11
Категория: Спектрометры
Производитель / заявитель: Фирма "Rigaku Corporation", Япония
Скачать
47624-11: Описание типа СИ Скачать 492.4 КБ
Свидетельство об утверждении типа СИ Открыть ...
Заказать
Поставщик: АССА Лабораторные системы
Спектрометры рентгенофлуоресцентные SIMULTIX 14 поверка на: www.ktopoverit.ru
КтоПоверит
Онлайн-сервис метрологических услуг

Для измерения массовых долей элементов от бериллия до урана в различных веществах и материалах: металлах, сплавах, порошках, пасте, стружке, геологических породах, цементе и др. в диапазоне измерений 0,001...100,0%.

Информация по Госреестру

Основные данные
Номер по Госреестру 47624-11
Наименование Спектрометры рентгенофлуоресцентные
Модель SIMULTIX 14
Технические условия на выпуск тех.документация фирмы
Класс СИ 31.01
Год регистрации 2011
Страна-производитель  Япония 
Центр сертификации СИ
Наименование центра ГЦИ СИ УНИИМ
Адрес центра 620000, г.Екатеринбург, ул.Красноармейская, 4
Руководитель центра Леонов Владислав Валентинович
Телефон (8*343) 350-26-18
Факс 350-20-39
Информация о сертификате
Срок действия сертификата 06.09.2016
Номер сертификата 43714
Тип сертификата (C - серия/E - партия) С
Дата протокола Приказ 4782 от 06.09.11 п.44
Производитель / Заявитель

Фирма "Rigaku Corporation", Япония

 Япония 

3-9-12 Matsubara-cho, Akishima-shi, Tokyo 196-8666, Japan Тел.: 81-42-545-8189, Факс: 81-42-544-9223, 4-14-4, Sendagaya, Shibuya-ku Tokyo 151-0051, Japan

Поверка

Методика поверки / информация о поверке МП 95-223-2010
Межповерочный интервал / Периодичность поверки 2 года
Зарегистрировано поверок 8
Найдено поверителей 3
Успешных поверок (СИ пригодно) 8 (100%)
Неуспешных поверок (СИ непригодно) 0 (0%)
Актуальность информации 21.04.2024

Поверители

Скачать

47624-11: Описание типа СИ Скачать 492.4 КБ
Свидетельство об утверждении типа СИ Открыть ...

Описание типа

Назначение

Спектрометры рентгенофлуоресцентные SIMULTIX 14 (далее по тексту - спектрометры), предназначены для измерения массовых долей элементов от бериллия до урана в различных веществах и материалах: металлах, сплавах, порошках, пасте, стружке, геологических породах, цементе и др. в диапазоне измерений от 0,001 до 100,0 %.

Описание

Принцип действия спектрометров рентгенофлуоресцентных SIMULTIX 14 основан на измерении массовой доли элементов по методу рентгеновской флуоресценции при их возбуждении рентгеновским излучением.

Спектрометры рентгенофлуоресцентные Simultix 14 представляют собой стационарные многоцелевые автоматизированные системы, обеспечивающую измерение, обработку, регистрацию выходной информации, а также ее передачу на удаленный компьютер.

Спектрометр состоит из источника рентгеновского излучения, устройства для установки и смены исследуемых образцов, сканирующих каналов (опция), фиксированных каналов и системы регистрации и обработки данных.

В качестве источника рентгеновского излучения в спектрометре используется рентгеновская трубка (максимальная мощность 4 кВт (опция 3 кВт), материал анода родий. Возбужденное в образце вторичное (характеристическое) излучение попадает в измерительный канал, где на кристалл-анализаторе,  в результате дифракции в соответствии с уравнением

Вульфа-Брэгга, разлагается в спектр. По положению и интенсивности линий в спектре проводится определение массовой доли элементов.

В спектрометре может осуществляться два режима регистрации спектров:

-с помощью сканирующих каналов (опция) с проточно-пропорциональным и/или сцинтилляционным детекторами;

- с помощью фиксированных каналов с диспергирующим элементом в виде кристалла со спиралевидной кривизной и одним из следующих детекторов: пропорциональным, проточно-пропорциональным или сцинтилляционным.

В сканирующем канале (опция) на легкие и тяжелые элементы установлено устройство смены кристаллов (стандартное исполнение - кристаллы Ge, PET и TAP на легкие элементы и кристалл LiF на тяжелые элементы). Выбор кристаллов зависит от измеряемых элементов (от фтора до урана).

Конструктивно спектрометр выполнен в виде напольного прибора с отдельно устанавливаемыми компьютером и принтером. Управление процессом измерения осуществляется от внутреннего контроллера и внешнего компьютера с помощью специального программного комплекса.

Данные, необходимые для ежедневного контроля работы спектрометра, вводятся на компъютере через пароль, для того, чтобы они не были изменены несанкционированно.

Предусмотрена автоматическая регистрация результатов самодиагностики и выдача рекомендаций по действиям в случае ошибки.

Широкий выбор гониометров обеспечивает анализ различных образцов в разных диапазонах массовых долей элементов. Стабилизатор температуры спектрометра поддерживает температуру (36,5 ± 0,5) °С, температура гониометров поддерживается в пределах ± 0,1°С.

От несанкционированного доступа предусмотрено пломбирование боковых и задних стенок спектрометра на месте одного из потайных шурупов. Оттиски клейм (или наклейки) наносят на переднюю панель в правом верхнем углу.

Программное обеспечение

Наименование программного обеспечения

Идентификационное наименование программного обеспечения

Номер версии (идентификационный номер) программного обеспечения

Цифровой идентификатор программного обеспечения

Алгоритм вычисления цифрового идентификатора программного обеспечения

SIMULTIX14 data processing system

SmxmenuR.exe

2.01

17715DAC16D954894

CAOCCDOBD258B73

MD5Hasher

SmxanalR.exe

D17B674310C247A2B

7738DF26E14AEO3

RegressR.exe

BDCFAF8FOA504FC

C67022CD329B19911

QntdproR.exe

38E20841D7AC207C9

1C925FD286BC8C5

SetparmR.exe

6E314B1B4746FA883

3EFEEBF29229F78

Уровень защиты ПО СИ от непреднамеренных и преднамеренных изменений «С» в соответствии с МИ 3286-2010.

Технические характеристики

Наименование характеристики

Значение характеристики

Диапазон измеряемых элементов

От бериллия до урана

Диапазон измерения массовой доли элементов (компонентов), %

От 0,001 до 100,0

Пределы СКО случайной составляющей погрешности, % не более, в диапазоне:

от 0,001 до 0,100 % вкл.;

свыше 0,1 до 1,0 % вкл.;

св. 1,0 до 10,0 % вкл.;

св. 10,0 до 100,0 % вкл.

6

4

2

1,5

Пределы допускаемой относительной погрешности измерений массовой доли элемента, %, не более, в диапазоне: от 0,001 до 0,100 % вкл.;

свыше 0,1 до 1,0 % вкл.;

св. 1,0 до 10,0 % вкл.;

св. 10,0 до 100,0 % вкл.

± 30

± 18

± 10

± 2,5

Нестабильность показаний за 6 часов непрерывной работы, %, не более

1,0

Размеры образца, мм, не более: - диаметр;

- высота

51

25 (предусмотрено вращение образца)

Время измерения, с

От 10 до 1000

Масса, кг, не более

700

Г абаритные размеры, мм, не более (ширина, высота, длина)

880x1100x1700

Потребляемая мощность, кВт, не более

7,7

Питание:

- напряжение, В;

- ток, А;

- частота, Гц

200 (±10 %), 3 фазы 35 (50/60) ±1

Условия эксплуатации:

- температура окружающего воздуха, °С;

- относительная влажность окружающего воздуха при температуре 25 °С (без конденсации влаги), %, не более;

- атмосферное давление, кПа

от 15 до 35

75 от 84 до 106,7

Значения пределов относительной погрешности определены с учетом погрешности аттестации стандартных образцов состава: стали - ГСО 4506-92П - 4510-92П, латуни - ГСО 6319-92 -6323-92, железа высокой чистоты - ГСО 9497-2009, руды хромовой - ГСО 430-93П.

Знак утверждения типа

Знак утверждения типа наносится на титульный лист эксплуатационной документации типографским способом и на корпус.

Комплектность

Наименование изделия и его обозначение

Номер (шифр) документа

Кол.

1

Спектрометр рентгенофлуоресцентный SIMULTIX 14

-

1 шт.

2

Программное обеспечение

SIMULTIX14 data processing system

1 экз.

3

Руководство по эксплуатации

РЭ

1 экз.

4

Методика поверки

МП 95-223-2010

1 экз.

Поверка

осуществляется по документу «ГСИ. Спектрометры рентгенофлуоресцентные Simultix 14.

Методика поверки». МП 95-223-2010, утвержденному ФГУП «УНИИМ» в 2011 г.

Эталоны, используемые при поверке:

- СО состава сталей легированных - ГСО 4506-92П-4510-92П;

- СО состава латуни оловянно-свинцовой - ГСО 6319-92-6323-92;

- СО состава руды хромовой - ГСО 430-93П;

- СО состава железа высокой чистоты - ГСО 9497-2009;

- другие ГСО состава, соответствующие области применения спектрометра;

- мегаомметр ЭСО202/2-Г, диапазон измерений от 0 до 10000 МОм, пределы допускаемой относительной погрешности ± 2,5 %.

Сведения о методах измерений

ГОСТ 28033 Сталь. Метод рентгенофлуоресцентного анализа.

ГОСТ 30608-98 Бронзы оловянные. Метод рентгенофлуоресцентного анализа.

ГОСТ 30609-98 Латуни литейные. Метод рентгенофлуоресцентного анализа.

Методика измерений, представленная в «Руководстве по эксплуатации».

Нормативные документы

Техническая документация изготовителя “Rigaku Corporation”, Япония.

Рекомендации к применению

- при выполнении работ по оценке соответствия промышленной продукции и продукции других видов, а также иных объектов установленным законодательством Российской Федерации обязательным требованиям

Другие Спектрометры

Default ALL-Pribors Device Photo
Для измерений линейных размеров образца в условиях тепловых и механических нагрузок (термомеханический анализ) и измерений температуры размягчения, плавления, стеклования различных материалов и оценки модуля упругости (термопластический анализ).
Default ALL-Pribors Device Photo
47827-11
FOUNDRY-MASTER мод. XPR, UVR, LAB, VIS Спектрометры оптические эмиссионные
Фирма "Oxford Instruments Analytical GmbH", Германия
Для измерения концентрации химических элементов в металлах и сплавах.
Default ALL-Pribors Device Photo
47954-11
ИСКРОЛАЙН Спектрометры эмиссионные
ООО "Промоптоэлектроника", г.С.-Петербург
Для количественного эмиссионного спектрального анализа металлов и сплавов путем формирования и измерения аналитического сигнала, пропорционального интенсивности спектральных линий различных элементов.
Для локального элементного микроанализа состава различных объектов: микроэлектронных плат, произведений искусства, ювелирных изделий, покрытий, пород, почв, порошков, металлов и сплавов, биологических объектов и т.д.
Для локального элементный микроанализ состава различных объектов: микроэлектронных плат, произведений искусства, ювелирных изделий, покрытий, пород, почв, порошков, металлов и сплавов, биологических объектов и т.д.