Генераторы влажного газа эталонные Родник-4М
Номер в ГРСИ РФ: | 48286-11 |
---|---|
Производитель / заявитель: | ОАО "Ангарское ОКБА", г.Ангарск |
Генераторы влажного газа эталонные Родник-4М поверка на: www.ktopoverit.ru

Онлайн-сервис метрологических услуг
Для воспроизведения относительной влажности и объемной доли влаги (ОДВ) парогазовой смеси (ПГС) при поверке, калибровке и градуировке гигрометров погружного и проточного типов.
Скачать
48286-11: Описание типа СИ | Скачать | 416.6 КБ | |
Свидетельство об утверждении типа СИ | Открыть | ... |
Информация по Госреестру
Основные данные | |
---|---|
Номер по Госреестру | 48286-11 |
Наименование | Генераторы влажного газа эталонные |
Модель | Родник-4М |
Технические условия на выпуск | ТУ 4215-057-14464306-2011 |
Класс СИ | 31.01 |
Год регистрации | 2011 |
Методика поверки / информация о поверке | МИ 2948-2005 |
Межповерочный интервал / Периодичность поверки | 1 год |
Страна-производитель | Россия |
Центр сертификации СИ | |
Наименование центра | ГЦИ СИ ВНИИФТРИ |
Адрес центра | 141570, п/о Менделеево, Солнечногорский р-н, Московская обл. |
Руководитель центра | Альшин Борис Иванович |
Телефон | (8*095) 535-24-01, 535-84-36 |
Факс | 535-73-86 |
Информация о сертификате | |
Срок действия сертификата | 25.11.2016 |
Номер сертификата | 44503 |
Тип сертификата (C - серия/E - партия) | С |
Дата протокола | Приказ 6335 от 25.11.11 п.18 |
Производитель / Заявитель
ООО "НПП ОКБА", г.Ангарск
Россия
665821, Иркутская обл., мрн Старо-Байкальск, ул.2-я Московская, стр.33а, www.okba.ru, E-mail: mail@okba.ru
Смотрите также
48287-11
Комплекс метрологический измерения хроматической дисперсии, поляризационной модовой дисперсии и спектрального пропускания в наноструктурных фотонно-кристаллических световодах
ФГУП "ВНИИОФИ", г.Москва
Для измерения оптических характеристик наноструктурных фотонно-кристаллических волокон для перспективных высокоскоростных волоконно-оптических информационно-телекоммуникационных систем в качестве рабочего средства измерений.
48285-11
Физо Интерферометр фотоэлектрический
ФГУП "НПО "Оптика", г.Москва, ФГУП "ВНИИОФИ", г.Москва
Для измерений отклонений от плоскостности оптических поверхностей в научно-исследовательских институтах, оптическом приборостроении.

Для измерения угловой зависимости интенсивности отражённого от вещества излучения для последующего вычисления значений параметров кристаллической решетки и оценки качественного фазового состава с использованием баз кристаллографических данных.
48284-11
НаноСкан-3Di Микроскоп сканирующий зондовый
ФГУ "Технологический институт сверхтвердых и новых углеродных материалов", г.Троицк
Для измерений геометрических параметров топографии поверхности с нанометровым пространственным разрешением. Результаты измерений могут быть использованы для определения геометрических параметров в нанометровом диапазоне. Применяется при проведении фу...
Для измерений энергетической освещенности солнечным излучением в диапазоне длин волн 4,5...42 мкм, а также для измерений энергетической освещенности, создаваемой другими источниками непрерывного оптического излучения, например, имитаторами солнечного...