Генераторы влажного газа эталонные Родник-4М

Номер в ГРСИ РФ: 48286-11
Производитель / заявитель: ОАО "Ангарское ОКБА", г.Ангарск
Генераторы влажного газа эталонные Родник-4М поверка на: www.ktopoverit.ru
КтоПоверит
Онлайн-сервис метрологических услуг

Для воспроизведения относительной влажности и объемной доли влаги (ОДВ) парогазовой смеси (ПГС) при поверке, калибровке и градуировке гигрометров погружного и проточного типов.

Скачать

48286-11: Описание типа СИ Скачать 416.6 КБ
Свидетельство об утверждении типа СИ Открыть ...

Информация по Госреестру

Основные данные
Номер по Госреестру 48286-11
Наименование Генераторы влажного газа эталонные
Модель Родник-4М
Технические условия на выпуск ТУ 4215-057-14464306-2011
Класс СИ 31.01
Год регистрации 2011
Методика поверки / информация о поверке МИ 2948-2005
Межповерочный интервал / Периодичность поверки 1 год
Страна-производитель  Россия 
Центр сертификации СИ
Наименование центра ГЦИ СИ ВНИИФТРИ
Адрес центра 141570, п/о Менделеево, Солнечногорский р-н, Московская обл.
Руководитель центра Альшин Борис Иванович
Телефон (8*095) 535-24-01, 535-84-36
Факс 535-73-86
Информация о сертификате
Срок действия сертификата 25.11.2016
Номер сертификата 44503
Тип сертификата (C - серия/E - партия) С
Дата протокола Приказ 6335 от 25.11.11 п.18
Производитель / Заявитель

ООО "НПП ОКБА", г.Ангарск

 Россия 

665821, Иркутская обл., мрн Старо-Байкальск, ул.2-я Московская, стр.33а, www.okba.ru, E-mail: mail@okba.ru

Смотрите также

48285-11
Физо Интерферометр фотоэлектрический
ФГУП "НПО "Оптика", г.Москва, ФГУП "ВНИИОФИ", г.Москва
Для измерений отклонений от плоскостности оптических поверхностей в научно-исследовательских институтах, оптическом приборостроении.
Для измерения оптических характеристик наноструктурных фотонно-кристаллических волокон для перспективных высокоскоростных волоконно-оптических информационно-телекоммуникационных систем в качестве рабочего средства измерений.
48284-11
НаноСкан-3Di Микроскоп сканирующий зондовый
ФГУ "Технологический институт сверхтвердых и новых углеродных материалов", г.Троицк
Для измерений геометрических параметров топографии поверхности с нанометровым пространственным разрешением. Результаты измерений могут быть использованы для определения геометрических параметров в нанометровом диапазоне. Применяется при проведении фу...
Default ALL-Pribors Device Photo
48288-11
Shimadzu XRD-7000 Дифрактометр рентгеновский
Фирма "Shimadzu Corporation", Япония
Для измерения угловой зависимости интенсивности отражённого от вещества излучения для последующего вычисления значений параметров кристаллической решетки и оценки качественного фазового состава с использованием баз кристаллографических данных.
48283-11
CGR 4 Пиргеометры
Фирма "Kipp & Zonen B.V.", Нидерланды
Для измерений энергетической освещенности солнечным излучением в диапазоне длин волн 4,5...42 мкм, а также для измерений энергетической освещенности, создаваемой другими источниками непрерывного оптического излучения, например, имитаторами солнечного...