Комплекс поляризационной сканирующей микроскопии
| Номер в ГРСИ РФ: | 48984-12 |
|---|---|
| Производитель / заявитель: | Физический факультет ГУНУ "МГУ им.М.В.Ломоносова", г.Москва |
|
48984-12: Описание типа
2012-48984-12.pdf
|
Скачать | 708.4 КБ |
Для измерения угла вращения плоскости поляризации монохроматического излучения при его прохождении через оптически-активные вещества и структуры на расстояниях, соответствующих областям ближнего (много меньше половины длины волны) и дальнего (больше длины волны) полей.
Информация по Госреестру
| Основные данные | |||||||
|---|---|---|---|---|---|---|---|
| Номер по Госреестру | 48984-12 | ||||||
| Наименование | Комплекс поляризационной сканирующей микроскопии | ||||||
| Характер производства | Единичное | ||||||
| Идентификатор записи ФИФ ОЕИ | c3baeadb-a9e7-4cd0-be66-f0cf960d9bff | ||||||
| Испытания |
|
||||||
| Год регистрации | 2012 | ||||||
| Общие данные | |
|---|---|
| Технические условия на выпуск | тех.документация МГУ |
| Класс СИ | 37 |
| Год регистрации | 2012 |
| Страна-производитель | Россия |
| Центр сертификации СИ | |
| Наименование центра | ГЦИ СИ ВНИИОФИ |
| Адрес центра | 119361, г.Москва, Озерная ул., 46 |
| Руководитель центра | Иванов Вячеслав Семенович |
| Телефон | (8*095) 437-56-33 |
| Факс | 437-31-47 |
| Информация о сертификате | |
| Срок действия сертификата | . . |
| Номер сертификата | 45400 |
| Тип сертификата (C - серия/E - партия) | Е |
| Дата протокола | Приказ 78 от 08.02.12 п.18 |
Производитель / Заявитель
Физический факультет ГУНУ "МГУ им.М.В.Ломоносова", РОССИЯ, г.Москва
Россия
119991, ГСП-1, Ленинские Горы, д.1, стр.2 тел. (495) 938-22-10, факс 939-11-04, www.nanolab.phys.msu.ru, E-mail: fedyanin@nanolab.phys.msu.ru
Поверка
| Методика поверки / информация о поверке | МП 51.Д4-11 |
| Межповерочный интервал / Периодичность поверки |
1 год
|
| Зарегистрировано поверок | |
| Актуальность информации | 21.12.2025 |
Поверители
Скачать
|
48984-12: Описание типа
2012-48984-12.pdf
|
Скачать | 708.4 КБ |
Описание типа
Назначение
Комплекс поляризационной сканирующей микроскопии (далее по тексту - комплекс) предназначен для измерения угла вращения плоскости поляризации монохроматического излучения при его прохождении через оптически-активные вещества и структуры на расстояниях, соответствующих областям ближнего (много меньше половины длины волны) и дальнего (больше длины волны) полей.
Описание
Принцип действия комплекса заключается в компенсации поворота плоскости поляризации путем ручной установки поляризационной призмы в угловое положение, соответствующее минимуму сигнала на фотоэлектронном умножителе (ФЭУ). Излучение от источника (лазер с длиной волны 532 нм) проходит фазовую пластину толщиной в половину длины волны, систему зеркал и попадает на образец, после прохождения, через который собирается коллектором субволновых размеров. Коллектором служит зонд ближнепольного микроскопа апертурного типа. Локально собранное апертурным зондом электроманитное поле оптической частоты с помощью оптического световода, являющегося продолжением апертурного зонда, направляется в систему вывода излучения. Система вывода излучения на основе микрообъектива служит для формирования параллельного светового пучки. После формирования параллельного светового пучка последний проходит через поляризационную призму и попадает на ФЭУ, сигнал c которого поступает в электронный контроллер комплекса, где и регистрируется.
Комплекс конструктивно выполнен в виде стационарного прибора, состоящего из установленных на оптическом столе оптико-механической измерительной головки, лазера, ФЭУ, поляризационной оптики и оптико-механических вспомогательных узлов. Электронный контроллер располагается отдельно и соединяется с оптико-механической измерительной головкой и ФЭУ соединительными кабелями.
Управление прибором осуществляется с помощью специализированного программного обеспечения, установленного на персональный компьютер, который связан с электронным контроллером специальным кабелем, подключаемым к плате сопряжения, устанавливаемой в слот PCI персонального компьютера.
а
Рисунок 1 - Общий вид комплекса поляризационной сканирующей микроскопии (а) и электронного контроллера комплекса (б).
б
Рисунок 2 - Место нанесения маркировки комплекса поляризационной сканирующей микроскопии (1) и место пломбирования (2).
Программное обеспечение (ПО)
Программное обеспечение предназначено для управления и контроля за всеми параметрами комплекса, кроме угла поворота анализатора. Программное обеспечение автономное. Оно состоит из управляющей программы Nova.exe и служебных файлов, располагающихся в системной папке C:\Program Files (x86)\NT-MDT\Nova\. Программное обеспечение может работать под управлением операционных систем Windows 95/98/Me/2000/XP.
Идентификационные данные программного обеспечения представлены в таблице 1.
Таблица 1
|
Наименование ПО |
Идентификационное наименование ПО |
Номер версии (идентификационный номер) ПО |
Цифровой идентификатор ПО (контрольная сумма исполняемого кода) |
Алгоритм вычисления цифрового идентификатора ПО |
|
Nova |
Nova |
1.0.26 RC1 |
2F0D5493 (расчет по исполняемому файлу Nova.exe) |
CRC32 |
Обмен данными между измерительными блоками и персональным компьютером осуществляется через интерфейс PCI платы сопряжения. Плата сопряжения устанавливается в персональный компьютер и соединяется с электронным контроллером специальным кабелем.
Искажение данных при передаче через интерфейс связи исключается параметрами протокола:
- при передаче используется протокол квитирования, обеспечивающий надежность обмена данными за счет обязательного получения инициатором передачи информации об отработке транзакции целевым устройством;
- надежность (достоверность) обеспечивается применением контроля паритета за счет защиты битом паритета линий передачи адреса/данных и линий передачи команд и в фазе передачи адреса, и в фазе передачи данных; при этом количество единичных бит этих линий, включая линию паритета, должно быть четным; действительное значение бита паритета появляется на шине с задержкой в один такт относительно линий передачи адреса/данных и линий команд; при обнаружении ошибки целевым устройством со сдвигом еще на один такт вырабатывается сигнал ошибки; в подсчете паритета при передаче данных учитываются все байты, включая и недействительные;
- целостность данных в отдельных пакетах дополнительно проверяется с помощью контрольной суммы, вычисляемой по алгоритму CRC32.
Метрологически значимая часть ПО скрыта от пользователя и доступна только при сервисном обслуживании. Метрологически значимая часть ПО размещается в энергонезависимой памяти персонального компьютера, запись которой осуществляется в процессе производства. Доступ к метрологически значимой части ПО исключён посредством ограничения прав учетной записи пользователя.
Защита программного обеспечения от непреднамеренных и преднамеренных изменений соответствует уровню «С» по МИ 3286-2010.
Технические характеристики
Метрологические и технические характеристики комплекса поляризационной сканирующей микроскопии представлены в таблице 2
Таблица 2
|
Наименование характеристики прибора |
Значение |
|
Рабочая длина волны, нм |
532 |
|
Диапазон показаний угла вращения плоскости поляризации при длине волны 532 нм, градусы |
± 90 |
|
Наименование характеристики прибора |
Значение |
|
Диапазон измерений угла вращения плоскости поляризации, приведенного к длине волны 546,1 нм, градусы |
± 40 |
|
Пределы допускаемой относительной погрешности для углов вращения плоскости поляризации, приведенных к длине волны 546,1 нм, в диапазоне от - 40° до + 40°, %, не более |
15 |
|
Электропитание от сети переменного тока - напряжение питания, В - частота, Гц |
180 - 240 50 / 60 |
|
Потребляемая мощность, В-А, не более |
500 |
|
Г абаритные размеры, мм, не более |
1500 х1450 х1050 |
|
Масса, кг, не более |
150 |
|
Время измерения направление плоскости поляризации переменного электромагнитного поля оптической частоты, мин, не более |
30 |
|
Срок службы, лет, не менее |
5 |
|
Условия эксплуатации - температура окружающей среды, °С - относительная влажность воздуха, %, не более - атмосферное давление, кПа |
10 - 40 80 (при 20° С) от 84 до 106 |
Знак утверждения типа
Знак утверждения типа наносится на титульный лист Руководства по эксплуатации печатным методом и на корпус прибора методом наклеивания.
Комплектность
Комплектность комплекса поляризационной сканирующей микроскопии представле-
ны в таблице 3
Таблица 3
|
Наименование |
Кол-во, шт. |
|
Стол оптический |
1 |
|
Контроллер электронный |
1 |
|
Оптико-механическая измерительная головка с видеосистемой |
1 |
|
Комплект соединительных кабелей |
1 |
|
Лазер |
1 |
|
Блок питания лазера |
1 |
|
Фотоэлектронный умножитель |
1 |
|
Комплект поляризационной оптики |
1 |
|
Комплект оптических деталей |
1 |
|
Система вывода излучения из одномодового оптического волокна с микрообъективом |
1 |
|
Прецизионный скалыватель оптических волокон |
1 |
|
Стриппер для удаления буферного слоя оптического волокна диаметром 125 микрон |
1 |
|
Телевизионный монитор |
1 |
|
Блок питания телевизионного монитора |
1 |
|
Видеокабель S-Video |
2 |
|
Силовой кабель переменного тока |
1 |
|
Персональный компьютер с монитором, клавиатурой и мышью |
1 |
|
Плата сопряжения контроллер-компьютер |
1 |
|
Компакт-диск с программным обеспечением |
1 |
|
Руководство пользователя программным обеспечением |
1 |
|
Руководство по эксплуатации |
1 |
|
Методика поверки МП 51.Д4-11 |
1 |
|
Руководство по эксплуатации электронного контроллера и оптико-механической измерительной головки |
1 |
|
Комплект упаковочных материалов |
1 |
Поверка
осуществляется по документу «Комплекс поляризационной сканирующей микроскопии. Методика поверки МП 51.Д4-11» утвержденному ГЦИ СИ ФГУП «ВНИИОФИ» 14 октября 2011 г.
Основные средства поверки:
1 Меры угла вращения плоскости поляризации (пластинки поляриметрические № 04679, 02879, 873018, 873078, 873082, входящие в состав Государственного первичного эталона единицы угла вращения плоскости поляризации ГЭТ 50-2008.
Сведения о методах измерений
«Комплекс поляризационной сканирующей микроскопии. Руководство по эксплуатации». Разделы 2 «Подготовка изделия к использованию» и 3 «Использование изделия»
Нормативные документы
Техническая документация Государственного учебно-научного учреждения Физический факультет Московского государственного университета имени М.В. Ломоносова «Комплекс поляризационной сканирующей микроскопии»
Рекомендации к применению
Осуществлении деятельности при поверке мер угла вращения плоскости поляризации монохроматического излучения.
Смотрите также
