Комплекс контрольно-моделирующий КМК
| Номер в ГРСИ РФ: | 52311-12 |
|---|---|
| Производитель / заявитель: | ФГУП "ФНПЦ НИИИС им.Ю.Е.Седакова", г.Нижний Новгород |
Нет данных о поставщике
Являетесь поставщиком? Разместите свои контакты в этом блоке! Подробнее в разделе Реклама
Поверка
Комплекс контрольно-моделирующий КМК поверка на: www.ktopoverit.ru
Онлайн-сервис
метрологических услуг
Информация по Госреестру
| Основные данные | |
|---|---|
| Номер по Госреестру | 52311-12 |
| Наименование | Комплекс контрольно-моделирующий |
| Модель | КМК |
| Год регистрации | 2012 |
Информация устарела
| Общие данные | |
|---|---|
| Год регистрации | 2012 |
| Страна-производитель | Россия |
| Информация о сертификате | |
| Срок действия сертификата | .. |
| Тип сертификата (C - серия/E - партия) | E |
| Дата протокола | Приказ 1197 п. 57 от 27.12.2012 |
Производитель / Заявитель
ФГУП "ФНПЦ НИИИС им. Ю.Е.Седакова", г. Нижний Новгород
Россия
Поверка
| Методика поверки / информация о поверке | ГВАТ. 411734.015РЭ |
| Межповерочный интервал / Периодичность поверки | 6 месяцев |
| Зарегистрировано поверок | |
| Актуальность информации | 04.01.2026 |
Найти результаты поверки
Поверители
Онлайн-сервис
метрологических услуг
Комплекс контрольно-моделирующий КМК поверка на: www.ktopoverit.ru
Онлайн-сервис
метрологических услуг
Смотрите также
Модули навигационные НМ-1 предназначены для определения плановых координат и высот точек местности на маршруте как при движении транспортного средства, так и на его остановках.
52313-12
СКЭ ОТВС
Системы контроля энерговыделения отработавших тепловыделяющих сборок
ЗАО "КПП "Атомприбор", г. Протвино
Микроскоп электронный просвечивающий JEM 200CX (далее по тексту ╞ микроскоп) предназначен для измерений линейных размеров фазовых и структурных составляющих металлов и сплавов, композиционных и полимерных материалов, порошков, микрокристаллов, локаль...
Микроскоп электронный сканирующий JSM-6490LV (далее по тексту ╞ микроскоп) предназначен для измерения масштабного коэффициента видеоизображения при помощи получения изображения поверхности объекта с высоким пространственным разрешением, а также для э...