Гистериографы постоянного тока ЭМ8-6
| Номер в ГРСИ РФ: | 6392-77 |
|---|---|
| Производитель / заявитель: | П/я В-2295 (НПО "Феррит"), РОССИЯ, г.С.-Петербург |
Нет данных о поставщике
Являетесь поставщиком? Разместите свои контакты в этом блоке! Подробнее в разделе Реклама
Поверка
Гистериографы постоянного тока ЭМ8-6 поверка на: www.ktopoverit.ru
Онлайн-сервис
метрологических услуг
Информация по Госреестру
| Основные данные | |
|---|---|
| Номер по Госреестру | 6392-77 |
| Наименование | Гистериографы постоянного тока |
| Модель | ЭМ8-6 |
| Код идентификации производства |
ОС
СИ не соответствует критериям подтверждения производства на территории
РФ в соответствии с постановлением №719
|
| Характер производства | Серийное |
| Идентификатор записи ФИФ ОЕИ | ddf41224-c248-1d43-86f2-6718ac6785e9 |
| Год регистрации | 1977 |
Информация устарела
| Общие данные | |
|---|---|
| Источник информации | 50-79г с.69 |
| Технические условия на выпуск | ТУ ПЯМ1.150.002 |
| Класс СИ | 34.03 |
| Год регистрации | 1977 |
| Страна-производитель | СССР |
| Центр сертификации СИ | |
| Наименование центра | - |
| Телефон | () |
| Информация о сертификате | |
| Срок действия сертификата | . . |
| Номер сертификата | нет |
| Тип сертификата (C - серия/E - партия) | С |
| Дата протокола | 171 от 30.11.77 п.03 |
Производитель / Заявитель
П/я В-2295 (НПО "Феррит"), РОССИЯ, г.С.-Петербург
СССР
- Данных в Госреестре нет
Поверка
| Межповерочный интервал / Периодичность поверки | - |
| Зарегистрировано поверок | |
| Актуальность информации | 28.12.2025 |
Найти результаты поверки
Поверители
Онлайн-сервис
метрологических услуг
Гистериографы постоянного тока ЭМ8-6 поверка на: www.ktopoverit.ru
Онлайн-сервис
метрологических услуг
Смотрите также
Разрешена установочная серия до 01.07.1978 г. 10 шт.
6394-84
ОМ-40
Измерители и автоматические ограничители крутящего момента
Опытный завод "Геоприбор", РОССИЯ, г.Москва
6395-77
Л2-54
Измерители маломощных транзисторов и диодов
ГП "Минский завод "Калибр", БЕЛАРУСЬ, г.Минск
Для определения работоспособности маломощных транзисторов и диодов путем измерения их основных параметров.