64277-16: Quantax EDS Системы рентгеновского энергодисперсионного микроанализа - Производители, поставщики и поверители

Системы рентгеновского энергодисперсионного микроанализа Quantax EDS

Номер в ГРСИ РФ: 64277-16
Производитель / заявитель: Фирма "Bruker Optik GmbH", Германия
Скачать
64277-16: Описание типа СИ Скачать 137.2 КБ
64277-16: Методика поверки МП 79-223-2015 Скачать 989 КБ
Нет данных о поставщике
Системы рентгеновского энергодисперсионного микроанализа Quantax EDS поверка на: www.ktopoverit.ru
КтоПоверит
Онлайн-сервис метрологических услуг

Системы рентгеновского энергодисперсионного микроанализа Quantax EDS (далее -системы Quantax EDS) предназначены для измерений массовой доли элементов от бериллия до америция в различных твердых (монолитные и порошки) веществах и материалах, а также анализа состава тонких слоев и частиц.

Информация по Госреестру

Основные данные
Номер по Госреестру 64277-16
Наименование Системы рентгеновского энергодисперсионного микроанализа
Модель Quantax EDS
Срок свидетельства (Или заводской номер) 24.06.2021
Производитель / Заявитель

Фирма "Bruker Nano GmbH", Германия

Поверка

Межповерочный интервал / Периодичность поверки 1 год
Зарегистрировано поверок 7
Найдено поверителей 1
Успешных поверок (СИ пригодно) 4 (57%)
Неуспешных поверок (СИ непригодно) 3 (43%)
Актуальность информации 17.11.2024

Поверители

Скачать

64277-16: Описание типа СИ Скачать 137.2 КБ
64277-16: Методика поверки МП 79-223-2015 Скачать 989 КБ

Описание типа

Назначение

Системы рентгеновского энергодисперсионного микроанализа Quantax EDS (далее -системы Quantax EDS) предназначены для измерений массовой доли элементов от бериллия до америция в различных твердых (монолитные и порошки) веществах и материалах, а также анализа состава тонких слоев и частиц.

Описание

Принцип действия системы Quantax EDS основан на методе рентгеновского микроанализа, сущность которого заключается в возбуждении атомов анализируемого вещества электронным пучком (зондом) высокой энергии с одновременной регистрацией характеристического рентгеновского излучения атомов, входящих в состав этого вещества.

Система Quantax EDS работает по энергодисперсионному принципу, в соответствии с которым происходит одновременная регистрация всех участков рентгеновского спектра. Для осуществления указанного принципа детектор системы Quantax EDS снабжен сверхтонким входным окном из дюрбериллия толщиной 8 мкм или из полимера с толщинами 3 и 5 мкм для регистрации сверхлегких элементов.

Система Quantax EDS выполнена по модульному принципу и включает в себя конструктивно законченные блоки. В состав системы Quantax EDS входят:

- энергодисперсионный детектор рентгеновского излучения XFlash®;

- блок обработки спектрометрического сигнала (электронный блок);

- программное обеспечение ESPRIT;

- серверный компьютер (компьютер типа IBM PC).

Источником электронов высокой энергии является электронная пушка сканирующего электронного микроскопа, на который устанавливается система Quantax EDS.

В качестве детектора характеристического рентгеновского излучения системы Quantax EDS используется энергодисперсионный кремниевый дрейфовый детектор (SDD).

Энергии рентгеновского излучения регистрируются с помощью полупроводникового детектора XFlash® и обрабатываются электроникой блока обработки спектрометрического сигнала.

Управление работой системы Quantax EDS и обработка данных измерений осуществляется с помощью серверного компьютера (компьютера типа IBM PC) и специализированного программного обеспечения Esprit, при этом вывод информации о массовых долях анализируемых элементов осуществляется на монитор компьютера, а значения массовых долей элементов могут выводиться на USB-накопитель при задании в программном обеспечении системы Quantax EDS соответствующей команды.

Для защиты от несанкционированного доступа в целях предотвращения вмешательств, которые могут привести к искажению результатов измерений, корпус детектора и блока обработки сигнала системы Quantax EDS снаружи опломбированы.

Ф ото общего вида системы Quantax EDS без детектора приведено на рисунке 1. Отдельное фото детектора системы Quantax EDS представлено на рисунке 2.

Место нанесения знака поверки в виде наклейки

Рисунок 1 - Общий вид системы Quantax EDS без детектора 1 - блока обработки сигнала (электронный блок) системы;

2 - монитор серверного компьютера;

3 - системный блок серверного компьютера

Место для пломбирования

Рисунок 2 - Отдельное фото детектора системы Quantax EDS

Программное обеспечение

Идентификационные данные программного обеспечения (ПО) систем Quantax EDS приведены в таблице 1.

Таблица 1 - Идентификационные данные ПО

Идентификационные данные (признаки)

Значение

Идентификационное наименование ПО

ESPRIT

Номер версии (идентификационный номер) ПО

не ниже 1.81)

Цифровой идентификатор ПО

-

1) Версия программного обеспечения может иметь дополнительные цифровые суффиксы

Уровень защиты программного обеспечения от непреднамеренных и преднамеренных изменений соответствует уровню «высокий» в соответствии с Р 50.2.077-2014.

Влияние программного обеспечения учтено изготовителем при нормировании метрологических характеристик системы Quantax EDS.

Технические характеристики

Таблица 2 - Метрологические характеристики

Наименование характеристики

Значение

Спектральное разрешение линии KaMn (5,9 кэВ), эВ

от 121 до 145 (зависит от площади кристалла детектора)

Максимальная скорость счета, имп/с

600 000

Предел допускаемого относительного СКО выходного сигнала, %

0,5

Диапазон измерений массовой доли элементов, %

от 0,1 до 100,0

Предел допускаемого СКО случайной составляющей относительной погрешности измерений массовой доли элементов1), %, в поддиапазоне измерений:

- от 0,1 до 1,5 % включ.

- св. 1,5 до 10,0 % включ.

- св. 10,0 до 20,0 % включ.

- св. 20,0 до 100,0 % включ.

10

5,0

2,0

1,0

Пределы допускаемой относительной погрешности измерений массовой доли элементов1), %, в поддиапазоне измерений: - от 0,1 до 1,5 % включ.

- св. 1,5 до 10,0 % включ.

- св. 10,0 до 20,0 % включ.

- св. 20,0 до 100,0 % включ.

±35 ±30 ±10 ±5,0

1) Показатель точности измерений массовой доли элементов определяется при использовании дополнительного модуля программного обеспечения для измерений со стандартными образцами

Таблица 3 - Технические характеристики

Наименование характеристики

Значение

Активная площадь детектора, мм2

от 10 до 100 (10, 30, 60, 100)

Продолжение таблицы 3

Наименование характеристики

Значение

Параметры электрического питания: - напряжение сетевого питания, В - частота питающей сети, Гц

110/240±11/24

60/50±1

Габаритные размеры, мм, не более:

- детектора без учета длины «пальца» (ДлинахШиринахВысота)

- блока обработки сигнала (ДлинахШиринахВысота)

- типичная длина «пальца» детектора (зависит от электронного микроскопа, на который устанавливается система)

160x90x124

495x270x165 250/330/400

Масса, кг, не более:

- детектора

- блока обработки сигнала

3,75 7

Условия эксплуатации:

- температура окружающего воздуха, °С

- относительная влажность воздуха, %, не более

- атмосферное давление, кПа

от 0 до +35

90 от 84,0 до 106,7

Средний срок службы, лет, не менее

10

Знак утверждения типа

наносится на титульный лист «Руководства по эксплуатации» в виде наклейки.

Комплектность

Таблица 4 - Комплектность средства измерений

Наименование

Обозначение

Количество

Система рентгеновского энергодисперсионного микроанализа Quantax EDS в составе:

- энергодисперсионный детектор рентгеновского

XFlash®

1 шт.

излучения

- блок обработки спектрометрического сигнала

(электронный блок)

-

1 шт.

- программное обеспечение

ESPRIT

1 шт.

- серверный компьютер (компьютер типа IBM PC) 1)

-

1 шт.

Руководство по эксплуатации, включающее

Руководство пользователя программного обеспечения,

-

1 экз.

на русском языке и в подлиннике

Методика поверки

МП 79-223-2015 с изменением № 1

1 экз.

1) Поставляется по отдельному заказу.

Поверка

осуществляется по документу МП 79-223-2015 с изменением № 1 «ГСИ. Системы рентгеновского энергодисперсионного микроанализа Quantax EDS. Методика поверки», утвержденному ФГУП «УНИИМ» 26.04.2019 г.

Основные средства поверки:

- стандартные образцы (СО) состава сталей легированных - ГСО 4506-92П/4510-92П (комплект СО ЛГ32 - ЛГ36), образцы с индексами ЛГ32, ЛГ 34 (рекомендуемые элементы: C, Si, Cr, Ni, W, Mo), абсолютная погрешность аттестованных значений массовых долей элементов от 0,002 до 0,06 %, образец с индексом ЛГ 36 (рекомендуемый элемент: Mn с содержанием 1,97 %), абсолютная погрешность аттестованного значения 0,03 %;

- СО состава латуни оловянно-свинцовой ЛЦ25С2 (комплект М171) - ГСО 6319-92/ 6323-92, образцы с индексами 1711, 1715 (рекомендуемые элементы: Sn, Pb, Si, Al, Cu, Zn), абсолютная погрешность аттестованных значений массовых долей элементов от 0,02 до 0,7 %.

Допускается применение аналогичных средств поверки, обеспечивающих определение метрологических характеристик поверяемых средств измерений с требуемой точностью.

Знак поверки в виде клейма наносят на свидетельство о поверке и (или) в виде наклейки непосредственно на средство измерений.

Сведения о методах измерений

приведены в эксплуатационном документе.

Нормативные документы

Техническая документация изготовителя «Bruker Nano GmbH», Германия

Смотрите также

Хроматографы газовые Orthodyne модели DID 5ХХ, DID 6ХХ (далее - хроматографы) предназначены для автоматических измерений объемной доли примесей (Ne, Kr, Xe, H2, O2, N2, CH4 , CO и др. в зависимости от модификации и анализируемого газа) в чистых газах...
Хроматографы газовые Orthodyne модели FID 5ХХ, FID 6ХХ (далее - хроматографы) предназначены для автоматических измерений объемной доли примесей углеводородов, а также СО и СО2 (хроматографы в комплекте с блоком UMTR) в чистых газах (N2, Ar, He, H2, O...
64274-16
IM3536 Измерители иммитанса
Фирма "HIOKI E.E. Corporation", Япония
Измерители иммитанса IM3536 предназначены для измерения параметров пассивных элементов электрической цепи (полное сопротивление, полная проводимость, активное и реактивное сопротивления и проводимость, емкость, индуктивность, фазовый угол, тангенс уг...
Калибраторы давления автоматические «ЭЛЕМЕР-АКД-12К», «ЭЛЕМЕР-АКД-12КИ» (далее по тексту - АКД-12 или калибраторы) предназначены для воспроизведения (при использовании встроенного или внешнего источника давления - компрессора, баллона со сжатым газом...
Система измерительная в составе универсального стенда С376 (далее - система) предназначена для измерения избыточного давления, разрежения, температуры, объёмного расхода жидкости АМГ-10 ГОСТ 6794-75, хранения и визуализации результатов измерений и сл...