77351-20: Waveline W800 и Waveline W900 Приборы для измерений параметров контура и шероховатости поверхности - Производители, поставщики и поверители

Приборы для измерений параметров контура и шероховатости поверхности Waveline W800 и Waveline W900

Номер в ГРСИ РФ: 77351-20
Производитель / заявитель: Фирма "Jenoptik Industrial Metrology Germany GmbH", Германия
Скачать
77351-20: Описание типа СИ Скачать 149.7 КБ
77351-20: Методика поверки МП 203-48-2019 Скачать 3.8 MБ
Нет данных о поставщике
Приборы для измерений параметров контура и шероховатости поверхности Waveline W800 и Waveline W900 поверка на: www.ktopoverit.ru
КтоПоверит
Онлайн-сервис метрологических услуг

Приборы для измерений параметров контура и шероховатости поверхности Waveline W800 и Waveline W900 (далее по тексту - приборы) предназначены для измерений профилей различных деталей и (или) параметров шероховатости, а также для определения в измеренных профилях геометрических параметров: расстояний между точками и радиусов дуг.

Информация по Госреестру

Основные данные
Номер по Госреестру 77351-20
Наименование Приборы для измерений параметров контура и шероховатости поверхности
Модель Waveline W800 и Waveline W900
Страна-производитель ГЕРМАНИЯ
Срок свидетельства (Или заводской номер) 03.02.2025
Производитель / Заявитель

Фирма "Jenoptik Industrial Metrology Germany GmbH", Германия

ГЕРМАНИЯ

Поверка

Межповерочный интервал / Периодичность поверки 2 года
Зарегистрировано поверок 3
Найдено поверителей 2
Успешных поверок (СИ пригодно) 3 (100%)
Неуспешных поверок (СИ непригодно) 0 (0%)
Актуальность информации 17.11.2024

Поверители

Скачать

77351-20: Описание типа СИ Скачать 149.7 КБ
77351-20: Методика поверки МП 203-48-2019 Скачать 3.8 MБ

Описание типа

Назначение

Приборы для измерений параметров контура и шероховатости поверхности Waveline W800 и Waveline W900 (далее по тексту - приборы) предназначены для измерений профилей различных деталей и (или) параметров шероховатости, а также для определения в измеренных профилях геометрических параметров: расстояний между точками и радиусов дуг.

Описание

Действие приборов основано на принципе ощупывания неровностей исследуемой поверхности щуповой консолью с алмазным, твердосплавным или рубиновым наконечником и преобразования возникающих при этом механических колебаний щупа в изменения напряжения, пропорциональные этим колебаниям, которые усиливаются и преобразуются в микропроцессоре. Результаты измерений выводятся на монитор системы управления и оценки (в виде профилей, числовых значений параметров шероховатости и геометрических параметров профилей).

Модификация приборов нанесена на колонну (рис. 1) и обозначается следующим образом:

Waveline WX00A

где   X - серия прибора: 8 или 9;

00 - исполнение блока привода: 12 или 20, для 120 мм или 200 мм, соответственно;

A - исполнение прибора: R - измерение шероховатости, C - измерение контура, RC -измерение шероховатости и контура.

Модификации приборов различаются визуально, а также метрологическими и техническими характеристиками.

Рисунок 1 - Пример обозначения модификации

Приборы состоят из следующих элементов:

Гранитной плиты, устанавливаемой на элементах демпфирования. На гранитной плите расположена моторизованная вертикальная колонна (ZM500 или ZM800), а также может размещаться опциональный ручной или моторизованный измерительный стол для установки и позиционирования на нем исследуемых объектов. На вертикальной колонне закреплен привод горизонтального перемещения (XM120 или XM200), на который устанавливается датчик и щуповая консоль для проведения измерений геометрических параметров контура и шероховатости поверхности. В зависимости от поставленных задач, приборы могут поставляться вместе с опциональным инструментальным столом с активной или пассивной системой подавления вибраций, а также кабиной, защищающей рабочее пространство прибора от воздействия окружающей среды. Система управления и оценки подключается к датчику, приводам и элементам управления. Управление всеми перемещениями осуществляется при помощи меню на экране монитора с мышки или джойстика.

Общий вид приборов представлен на рисунках 2-3.

Приборы в зависимости от заказа оснащаются датчиками следующих модификаций: TKU400 для измерений шероховатости (рис. 4), Digiscan для измерений контура (рис. 5), Surfscan для измерений шероховатости и контура (рис. 6), Nanoscan для измерений шероховатости и контура (рис. 7).

Пломбировка приборов от несанкционированного доступа не предусмотрена.

Место нанесения знака поверки

Рисунок 2 - Общий вид приборов для измерений параметров контура и шероховатости поверхности Waveline W800 и место нанесения знака поверки

Место нанесения знака поверки

Рисунок 3 - Общий вид приборов для измерений параметров контура и шероховатости поверхности Waveline W900 и место нанесения знака поверки

Рисунок 4 - Общий вид датчиков для измерений параметров шероховатости поверхности

TKU400

Рисунок 5 - Общий вид датчиков для измерений параметров контура Digiscan

Рисунок 6 - Общий вид датчиков для измерений параметров контура и шероховатости поверхности Surfscan

Рисунок 7 - Общий вид датчиков для измерений параметров шероховатости и контура поверхности Nanoscan

Программное обеспечение

Приборы имеют в своем составе программное обеспечение (ПО) Evovis, разработанное для конкретной измерительной задачи, осуществляющее измерительные функции, функции расчета параметров и функции индикации .

Таблица 1 - Идентификационные данные программного обеспечения

Идентификационные данные (признаки)

Значение

Идентификационное наименование ПО

Evovis

Номер версии (идентификационный номер) ПО, не ниже

2.7

Цифровой идентификатор ПО

_

Программное обеспечение и его окружение являются неизменными, средства для программирования или изменения метрологически значимых функций отсутствуют.

Уровень защиты программного обеспечения приборов «высокий» в соответствии с

Р 50.2.077-2014.

Технические характеристики

Таблица 2 - Метрологические характеристики приборов Waveline W800

Наименование характеристики

Значение

Модификация датчика

Digiscan

TKU400

Surfscan

Nanoscan

Измеряемые параметры

Контур

Шероховатость

Контур и шероховатость

Контур и шероховатость

Диапазон линейных измерений по оси Z, мм

от 0 до 601) от 0 до 902)

±4001)

±8002)

от 0 до 81) от 0 до 162)

от 0 до 241) от 0 до 482)

Разрешение по оси Z, нм

101)

152)

11)

22)

31)

62)

0,31)

0,62)

Диапазон линейных измерений по оси X4), мм

от 0,1 до 120

от 0,1 до 200

Разрешение по оси X, мкм

0,1

Предел допускаемого отклонения от прямолинейности перемещения по оси X6),

мкм

0,4 (на 120 мм)

0,6 (на 200 мм)

Измерительное усилие, мН

от 5 до 50

0,75

от 0,75 до 30

от 0,75 до 30

При измерении контура поверхности

Пределы допускаемой абсолютной погрешности линейных измерений по оси Z3) 6), мкм

±(1,2 + Z/50) где Z - измеряемая длина, мм

_

±(1,0 + Z/50) где Z - измеряемая длина, мм

Пределы допускаемой абсолютной погрешности линейных измерений по оси X3) 6), мкм

±(1,0 + X/100) где X - измеряемая длина, мм

_

±(1,0 + X/100) где X - измеряемая длина, мм

Пределы допускаемой абсолютной погрешности измерений радиусов3) 5) 6),

мкм

±3,0

_

±3,0

±1,5

При измерении шероховатости поверхности3)

Диапазон измерений шероховатости по параметру Ra, мкм

_

от 0,01 до 260

Пределы допускаемой относительной погрешности измерений шероховатости по параметрам Ra6), %

_

±3

Радиус закругления щупа, мкм

_

2

Наименование характеристики

Значение

Модификация датчика

Digiscan

TKU400

Surfscan

Nanoscan

1) - при использованнии стандартной консоли;

2) - при использовании консоли двойной длины;

3) - при использовании стандартного щупа;

4) - в зависимости от блока привода;

5) - для радиусов от 12 до 15 мм;

6) - при температуре окружающего воздуха от плюс 19 до плюс 21 °C и относительной влажности воздуха (без конденсата) не более 50 %

Таблица 3 - Технические характеристики приборов Waveline W800

Наименование характеристики

Значение

Модификация датчика

Digiscan

TKU400

Surfscan

Nanoscan

Диапазон позиционирования по оси Z, мм

от 0 до 5004) от 0 до 8005)

Максимальная скорость позиционирования по оси X, мм/с

20

Точность позиционирования по оси X, мкм

10

Максимальная скорость позиционирования по оси Z, мм/с

20

Точность позиционирования по оси Z, мкм

50

Параметры шероховатости

_

Rt, Ra, Rz, Rp, Rv, Rq, RSm, Rc, Rsk, Rku, RAq, Rmr, C(Rmr), Rmr(c), Rdc, Pt, Pa, Pz, Pp, Pv, Pq, PSm, Pc, Psk, Pku, PAq, Pmr, C(Pmr), Pmr(c), Pdc, Wt, Wa, Wz, Wp, Wv, Wq, WSm, Wc, Wsk, Wku, WAq, Wmr, (Wmr),Wmr(c), Wdc, Rpk, Rk, Rvk, Mr1, Mr2, Vo, Rpk*, Rvk*, A1, A2, R, Rx, AR, Nr, W, Wx, AW, Wte, Nw, Rz-JIS, Ra, RPc, Wsa, Wca, Rmax, RzISO, D, Aa, Aq, L0, R3z, Rp3z, R3zm, WDSm, WDt, WDc, DG, Dt, DP, DF, DFu, DLu, Dy

Параметры электрического питания (от внешней сети):

- напряжение переменного тока, В

- частота переменного тока, Гц

от 100 до 120 / от 220 до 240 50/60

Потребляемая мощность, В^А, не более

1500

Наименование характеристики

Значение

Модификация датчика

Digiscan

TKU400

Surfscan

Nanoscan

Габаритные размеры, мм, не более: - длина - ширина - высота

7001), 10002), 14603) 5201) 2), 8103) 11244), 14245), 17706), 20707)

Масса, кг, не более

1601), 2302), 4803)

Условия эксплуатации:

- диапазон рабочих температур, °С

- относительная влажность воздуха (без конденсата), %

от +15 до +30

80

от +10 до +40

80

от +18 до +25

80

1) - прибор в настольном исполнении с гранитной плитой (700x520x100 мм);

2) - прибор в настольном исполнении с гранитной плитой (1000x520x110 мм);

3) - прибор с опциональным измерительным столом;

4) - прибор в настольном исполнении (высота колонны 500 мм);

5) - прибор в настольном исполнении (высота колонны 800 мм);

6) - прибор с опциональным измерительным столом (высота колонны 500 мм);

7) - прибор с опциональным измерительным столом (высота колонны 800 мм)

Таблица 4 - Метрологические характеристики приборов Waveline W900

Наименование характеристики

Значение

Модификация датчика

Digiscan

TKU400

Surfscan

Nanoscan

Измеряемые параметры

Контур

Шероховатость

Контур и шероховатость

Контур и шероховатость

Диапазон линейных измерений по оси Z, мм

от 0 до 601) от 0 до 902)

±4001)

±8002)

от 0 до 81) от 0 до 162)

от 0 до 241) от 0 до 482)

Разрешение по оси Z, нм

101)

152)

11)

22)

31)

62)

0,31)

0,62)

Диапазон линейных измерений по оси X4), мм

от 0,1 до 120

от 0,1 до 200

Разрешение по оси X, мкм

0,01

Предел допускаемого отклонения от прямолинейности перемещения по оси X6),

мкм

0,2 (на 120 мм)

0,4 (на 200 мм)

Измерительное усилие, мН

от 5 до 50

0,75

от 0,75 до 30

от 0,75 до 30

Наименование характеристики

Значение

Модификация датчика

Digiscan

TKU400

Surfscan

Nanoscan

При измерении контура поверхности

Пределы допускаемой абсолютной погрешности линейных измерений по оси Z3) 6), мкм

±(0,8 + Z/50) где Z - измеряемая длина, мм

_

±(0,7 + Z/50) где Z - измеряемая длина, мм

Пределы допускаемой абсолютной погрешности линейных измерений по оси X3) 6), мкм

±(1,0 + X/100) где X - измеряемая длина, мм

_

±(1,0 + X/100) где X - измеряемая длина, мм

Пределы допускаемой абсолютной погрешности измерений радиусов3) 5) 6), мкм

±1,5

_

±1,5

±1,2

При измерении ше

роховатости поверхности3)

Диапазон измерений шероховатости по параметру Ra, мкм

_

от 0,01 до 260

Пределы допускаемой относительной погрешности измерений шероховатости по параметрам Ra6), %

_

±3

Радиус закругления щупа, мкм

_

2

1) - при использованнии стандартной консоли;

2) - при использовании консоли двойной длины;

3) - при использовании стандартного щупа;

4) - в зависимости от блока привода;

5) - для радиусов от 12 до 15 мм;

6) - при температуре окружающего воздуха от плюс 19 до плюс 21 °C и относительной влажности воздуха (без конденсата) не более 50 %

Таблица 5 - Технические характеристики приборов Waveline W900

Наименование характеристики

Значение

Модификация датчика

Digiscan

TKU400

Surfscan

Nanoscan

Диапазон позиционирования по оси Z, мм

от 0 до 5004) от 0 до 8005)

Максимальная скорость позиционирования по оси X, мм/с

200

Точность позиционирования по оси X, мкм

10

Максимальная скорость позиционирования по оси Z, мм/с

80

Точность позиционирования по оси Z, мкм

10

Параметры шероховатости

_

Rt, Ra, Rz, Rp, Rv, Rq, RSm, Rc, Rsk, Rku, RAq, Rmr, C(Rmr), Rmr(c), Rdc, Pt, Pa, Pz, Pp, Pv, Pq, PSm, Pc, Psk, Pku, PAq, Pmr, C(Pmr), Pmr(c), Pdc, Wt, Wa, Wz, Wp, Wv, Wq, WSm, Wc, Wsk, Wku, WAq, Wmr, (Wmr),Wmr(c), Wdc, Rpk, Rk, Rvk, Mr1, Mr2, Vo, Rpk*, Rvk*, A1, A2, R, Rx, AR, Nr, W, Wx, AW, Wte, Nw, Rz-JIS, Ra, RPc, Wsa, Wca, Rmax, RzISO, D, Aa, Aq, L0, R3z, Rp3z, R3zm, WDSm, WDt, WDc, DG, Dt, DP, DF, DFu, DLu, Dy

Параметры электрического питания (от внешней сети):

- напряжение переменного тока, В

- частота переменного тока, Гц

от 100 до 120 / от 220 до 240 50/60

Потребляемая мощность, В^А, не более

1500

Габаритные размеры, мм, не более: - длина - ширина - высота

7001), 10002), 14603) 5201) 2), 8103) 11244), 14245), 17706), 20707)

Масса, кг, не более

1601), 2302), 4803)

Условия эксплуатации:

- диапазон рабочих температур, °С

- относительная влажность воздуха (без конденсата), %, не более

от +15 до +30

80

от +10 до +40

80

от +18 до +25

80

от +18 до +25

80

Наименование характеристики

Значение

Модификация датчика

Digiscan

TKU400

Surfscan

Nanoscan

1) - прибор в настольном исполнении с гранитной плитой (700x520x100 мм);

2) - прибор в настольном исполнении с гранитной плитой (1000x520x110 мм);

3) - прибор с опциональным измерительным столом;

4) - прибор в настольном исполнении (высота колонны 500 мм);

5) - прибор в настольном исполнении (высота колонны 800 мм);

6) - прибор с опциональным измерительным столом (высота колонны 500 мм);

7) - прибор с опциональным измерительным столом (высота колонны 800 мм)

Знак утверждения типа

наносят на титульный лист руководства по эксплуатации типографским способом.

Комплектность

Таблица 4 - Комплектность средства измерений

Наименование

Обозначение

Количество

Прибор для измерений параметров контура и шероховатости поверхности в сборе

Waveline W800 или

Waveline W900

1 шт.

Датчик для измерений контура и (или) шероховатости

_

по заказу

Стандартный щуп для измерений контура1)

_

1 шт.

Стандартный щуп для измерений шероховатости2)

_

1 шт.

Набор для калибровки датчика контура1)

_

1 шт.

Руководство по эксплуатации

_

1 экз.

Методика поверки

МП 203-48-2019

1 экз.

1) - для датчиков модификаций Digiscan, Surfscan, Nanoscan;

2) - для датчиков модификаций TKU400, Surfscan, Nanoscan

Поверка

осуществляется по документу МП 203-48-2019 «Приборы для измерений параметров контура и шероховатости поверхности Waveline W800 и Waveline W900. Методика поверки», утвержденному ФГУП «ВНИИМС» 9 сентября 2019 г.

Основные средства поверки:

- меры длины концевые плоскопараллельные 4-го разряда по Приказу Росстандарта от 29.12.2019 г. № 2840;

- мера для поверки приборов для измерений контура поверхности KN100 (Рег. № 52266-12);

- мера наружного диаметра 4-го разряда по Приказу Росстандарта от 29.12.2019 г. № 2840 - сфера диаметром от 24 мм до 30 мм;

- пластина плоская стеклянная 4-го разряда по ГОСТ 8.661-2018;

- мера шероховатости 1-го разряда по ГОСТ 8.296-2015.

Допускается применение аналогичных средств поверки, обеспечивающих определение метрологических характеристик поверяемых СИ с требуемой точностью.

Знак поверки наносится на свидетельство о поверке в виде оттиска клейма или на корпус прибора в виде голографической наклейки.

Сведения о методах измерений

приведены в эксплуатационном документе.

Нормативные документы

Техническая документация фирмы-изготовителя

Смотрите также

Установки газораздаточные природного газа ESP (далее - установка) предназначены для измерений массы сжатого природного газа (метан) при выдаче его в топливные баки транспортных средств на автогазозаправочных станциях или в составе модулей компримиров...
Default ALL-Pribors Device Photo
77353-20
Система измерений количества и показателей качества нефти №556
ОАО "Инфракрасные и микроволновые системы", г.Москва
Система измерений количества и показателей качества нефти № 556 (далее по тексту -система) предназначена для автоматизированных динамических измерений массы нефти, транспортируемой по трубопроводу, с фиксацией массы нефти за отчетный интервал времени...
77354-20
ЕКС-СИ 12 Расходомеры электромагнитные
ООО "Матрикс", г.Москва
Расходомеры электромагнитные ЕКС-СИ 12 (далее - расходомеры) предназначены для измерения объёмного расхода и объёма электропроводящих жидкостей минимальной проводимостью 5 мкСм/см, а также для использования в составе других средств измерения, в том ч...
77355-20
ТБ Tochline Твердомеры Бринелля
ООО "Завод испытательных приборов" (ЗИП), г.Иваново
Твердомеры Бринелля ТБ Tochline (далее - твердомеры) предназначены для измерений твердости металлов и сплавов по шкалам Бринелля в соответствии с ГОСТ 9012-59.
Default ALL-Pribors Device Photo
Система измерений количества нефтепродуктов на железнодорожных эстакадах налива АО «ННК-Хабаровский НПЗ» (далее - СИКНП) предназначена для контроля и управления наливом нефтепродуктов в железнодорожные цистерны в реальном масштабе времени, для автома...