Система фотоэлектрическая МФС-8
| Номер в ГРСИ РФ: | 86468-22 |
|---|---|
| Производитель / заявитель: | ОАО "ЛОМО", г.С.-Петербург |
Система фотоэлектрическая МФС-8 (далее - система) предназначена для измерения массовой доли элементов в металлах, сплавах и других материалах.
Информация по Госреестру
| Основные данные | |||||||
|---|---|---|---|---|---|---|---|
| Номер по Госреестру | 86468-22 | ||||||
| Наименование | Система фотоэлектрическая | ||||||
| Модель | МФС-8 | ||||||
| Характер производства | Единичное | ||||||
| Идентификатор записи ФИФ ОЕИ | e4d7e9f4-3305-4750-ebdd-9678d9e52f3b | ||||||
| Испытания |
|
||||||
Производитель / Заявитель
Государственное предприятие "Ленинградское оптико-механическое объединение" (ГП "ЛОМО"), г. Ленинград (изготовлена в 1988 г.)
Поверка
| Межповерочный интервал / Периодичность поверки |
1 год
|
| Зарегистрировано поверок | |
| Найдено поверителей | |
| Успешных поверок (СИ пригодно) | 3 (100%) |
| Неуспешных поверок (СИ непригодно) | 0 (0 %) |
| Актуальность информации | 21.12.2025 |
Поверители
Скачать
|
86468-22: Описание типа
2022-86468-22.pdf
|
Скачать | 292.8 КБ | |
|
86468-22: Методика поверки
2022-mp86468-22.pdf
|
Скачать | 2.2 MБ |
Описание типа
Назначение
Система фотоэлектрическая МФС-8 (далее - система) предназначена для измерения массовой доли элементов в металлах, сплавах и других материалах.
Описание
Принцип действия системы фотоэлектрической МФС-8 основан на методе эмиссионного спектрального анализа с возбуждением пробы с помощью электрической дуги или искрового разряда. Интенсивность эмиссионного излучения пропорциональна массовой доле элементов в пробе.
Конструктивно система представляет собой моноблок, состоящий из полихроматора, источника возбуждения спектров, штатива, анализатора МАЭС и персонального компьютера.
Пробы устанавливаются в штатив и выступают в качестве одного из электродов. С помощью генератора «FIREBALL», возбуждается электрический разряд - дуга или искра. В разряде происходит испарение и возбуждение свечения атомов пробы. Полихроматор разлагает излучение в спектр, характеризующий состав пробы: каждому элементу соответствует совокупность спектральных линий, интенсивность которых зависит от содержания элементов в пробе. Для анализа пробы выбирают по одной линии из спектра каждого анализируемого элемента и одну или несколько линий сравнения из спектра основы или другого внутреннего стандарта и измеряют относительную интенсивность линий анализируемых элементов и линий сравнения. Аналитические линии выделяются из спектра с помощью выходных щелей, установленных в фокальной плоскости полихроматора. Световые потоки анализируемых линий направляются на многоканальный анализатор МАЭС, который преобразует спектр оптического излучения в электрический сигнал многокристальной сборкой из нескольких многоэлементных полупроводниковых детекторов. Многоэлементным детектором излучения в анализаторе МАЭС является линейка фотодиодов. Генерированные фотодиодами заряды накапливаются в закрытых от света МОП-емкостях (интеграторах), не меняя напряжения смещения фотодиодов. По истечении времени экспозиции накопленные заряды одновременно и быстро переносятся на входные емкости усилителей, после чего начинается новый цикл накопления сигнала в интеграторах и последовательное считывание выходных сигналов усилителей на выход линейки с помощью коммутатора. Выходной сигнал далее преобразуется в цифровой сигнал в блоке электронной регистрации и передается по кабелю в персональный компьютер с помощью компьютерного интерфейса. Для стабилизации измерительных параметров кристаллы линеек фотодиодов помещены в термостатированный корпус, наполненный сухим азотом повышенного давления. Температура линеек контролируется полупроводниковым датчиком температуры, установленным в непосредственной близости от кристаллов линеек. Поддержание стабильной температуры линеек фотодиодов осуществляется с помощью термоэлектрических холодильников Пельтье.
Нанесение знака поверки на систему не предусмотрено. На корпус системы с торца нанесена несъемная клейкая этикетка с заводским номером в цифровом формате: № 880006.
Общий вид системы и обозначение места нанесения этикетки с заводским номером представлены на рисунке 1.
Место нанесения заводского номера
Рисунок 1 - Общий вид системы фотоэлектрической МФС-8 и обозначение места нанесения этикетки с заводским номером
Пломбирование системы не предусмотрено. Конструкция системы обеспечивает ограничение доступа к частям системы, несущим первичную измерительную информацию, и местам настройки (регулировки).
Программное обеспечение
Система оснащена программным обеспечением (далее - ПО). ПО является метрологически значимым и выполняет следующие функции
- управление системой;
- определение и хранение калибровочных коэффициентов;
- вычисление, хранение, передача результатов измерений;
- редактирование параметров системы.
Уровень защиты программного обеспечения от непреднамеренных и преднамеренных
изменений соответствует уровню «Высокий» по Р 50.2.077-2014.
Идентификационные данные ПО системы приведены в таблице 1.
Таблица 1 - Идентификационные данные программного обеспечения
|
Идентификационные данные (признаки) |
Значение |
|
Идентификационное наименование ПО |
Атом |
|
Номер версии (идентификационный номер) ПО |
не ниже 3.3 |
|
Цифровой идентификатор ПО |
- |
Технические характеристики
Таблица 2 - Метрологические характеристики
|
Наименование характеристики |
Значение |
|
Спектральный диапазон, нм |
от 208 до 353 |
|
Спектральное разрешение, нм, не более |
0,05 |
|
Диапазон измерений массовой доли элементов, % |
от 0,00001 до 0,3 |
|
Предел допускаемого относительного среднего квадратического отклонения результатов измерений выходного сигнала1), %: - железа (1=259,9396 нм 2)) |
8 |
|
- никеля (1=300,2485 нм) |
8 |
|
- хрома (1=302,1566 нм) |
8 |
|
Наименование характеристики |
Значение |
|
Чувствительность, %-1, не менее: - железа (1=259,9396 нм) |
100 |
|
- никеля (1=300,2485 нм) |
5 |
|
- хрома (1=302,1566 нм) |
100 |
|
1) - Значение относительной интенсивности при измерении массовых долей химических элементов в | |
|
ГСО 2376-82/2380-82. 2) - В зависимости от матрицы используемого ГСО, допускается измерение выходного сигнала при | |
|
других длинах волн в соответствии с аттестованными методиками (методами) измерений. | |
Таблица 3 - Основные технические характеристики
|
Наименование характеристики |
Значение |
|
Параметры электрического питания: от однофазной сети переменного тока - напряжение переменного тока, В |
220±22 |
|
- частота переменного тока, Г ц |
50±1 |
|
Габаритные размеры, мм, не более: - высота |
510 |
|
- ширина |
765 |
|
- длина |
2490 |
|
Масса, кг, не более |
341 |
|
Условия эксплуатации: - температура окружающей среды, °С |
от +15 до +28 |
|
- относительная влажность воздуха, %, не более |
80 |
Знак утверждения типа
наносится на титульный лист руководства по эксплуатации типографским способом.
Комплектность
Таблица 4 - Комплектность средства измерений
|
Наименование |
Обозначение |
Количество |
|
Система фотоэлектрическая в составе: |
МФС-8 |
1 шт. |
|
- полихроматор |
- |
1 шт. |
|
- источник возбуждения спектров |
- |
1 шт. |
|
- штатив |
- |
1 шт. |
|
- анализатор |
МАЭС |
1 шт. |
|
- персональный компьютер |
ПК |
1 шт. |
|
Программное обеспечение |
ПО |
1 шт. |
|
Руководство по эксплуатации «Система фотоэлектрическая МФС-8» |
Ю-30.67.059 ИЭ |
1 экз. |
|
Паспорт «Система фотоэлектрическая МФС-8» |
Ю-30.67.059 ПС |
1 экз. |
|
Руководство пользователя ПО «Атом» |
РП |
1 экз. |
|
Методика поверки |
- |
1 экз. |
Сведения о методах измерений
приведены в руководстве по эксплуатации в разделе 6 «Порядок работы на оборудовании».
Применение системы в сфере государственного регулирования обеспечения единства измерений осуществляется в соответствии с аттестованными методиками (методами) измерений.
Нормативные документы
ОИ 001.656-2008 «Цирконий и его сплавы. Спектральная атомно-эмиссионная методика измерения содержания примесей».
Смотрите также
