Газоанализаторы ЭкоСпектр II
| Номер в ГРСИ РФ: | 99550-26 |
|---|---|
| Категория: | Газоанализаторы |
| Производитель / заявитель: | ООО "НПО "ЭКОХИМПРИБОР", г.Дубна |
Газоанализаторы ЭкоСпектр II (далее - газоанализаторы) предназначены для непрерывных измерений содержания компонентов газовых смесей в промышленных выбросах, дымовых газах, технологических газах, биогазах и прочих газовых средах.
Информация по Госреестру
| Основные данные | |||||||||||||||||||||||||
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
| Номер по Госреестру | 99550-26 | ||||||||||||||||||||||||
| Действует | по 05.10.2031 | ||||||||||||||||||||||||
| Наименование | Газоанализаторы | ||||||||||||||||||||||||
| Модель | ЭкоСпектр II | ||||||||||||||||||||||||
| Приказы |
№2022 от
05.10.2026
— Об утверждении типов средств измерений
|
||||||||||||||||||||||||
| Код идентификации производства |
ОС
СИ не соответствует критериям подтверждения производства на территории
РФ в соответствии с постановлением №719
|
||||||||||||||||||||||||
| Характер производства | Серийное | ||||||||||||||||||||||||
| Идентификатор записи ФИФ ОЕИ | 726530a4-6988-ebd7-5338-21cdd7003336 | ||||||||||||||||||||||||
| Испытания |
|
||||||||||||||||||||||||
Производитель / Заявитель
ООО «НПП «Экохимприбор», РОССИЯ, 141980, Московская обл., г.о. Дубна, г. Дубна, ул. Университетская, д. 11, стр. 14
Поверка
| Методика поверки / информация о поверке |
МП-1142-2026 ГСИ. Газоанализаторы ЭкоСпектр II. Методика поверки
(с 05.10.2026)
|
| Межповерочный интервал / Периодичность поверки |
1 год
|
| Зарегистрировано поверок |
Поверители
Скачать
|
99550-26: Описание типа
2026-99550-26.pdf
|
Скачать | 739.8 КБ | |
|
99550-26: Методика поверки
МП-1142-2026
2026-mp99550-26.pdf
|
Скачать | 4.5 MБ |
Описание типа
Назначение
Газоанализаторы ЭкоСпектр II (далее - газоанализаторы) предназначены для непрерывных измерений содержания компонентов газовых смесей в промышленных выбросах, дымовых газах, технологических газах, биогазах и прочих газовых средах.
Описание
Газоанализаторы представляют собой промышленные поточные средства измерений, предназначенные для измерений содержания аммиака NH3, водорода H2, диоксида углерода CO2, оксида углерода CO, сероводорода H2S, метана CH4, диоксида азота NO2, оксида азота NO, кислорода O2, диоксида серы SO2, паров воды H2O, этилена C2H4, ацетилена C2H2, закиси азота N2O, хлора CI2, суммы углеводородов CnHm и иных компонентов газообразных смесей, указанных в таблицах 2 - 5.
Принцип действия газоанализаторов основан на различных физико-химических методах анализа:
- недисперсионная инфракрасная фотометрия;
- однолинейная ИК спектрометрия с перестраиваемым диодным лазером;
- УФ спектрометрия;
- недисперсионная ИК фотометрия;
- высокотемпературная ионная проводимость диоксида циркония;
- электрохимический;
- парамагнитный;
- термокондуктометрический;
- инфракрасная спектрометрия с Фурье преобразованием.
Газоанализатор является программируемым средством измерений и реализует функции:
- непрерывного измерения содержания определяемых компонентов в анализируемой среде;
- индикации на дисплее результатов измерений в млн-1 (ppm), мг/м3, %;
- пересчета измеренных значений из объемной концентрации в массовую;
- самодиагностики с индикацией неисправностей, предупреждений;
- формирования выходных сигналов;
- взаимодействия с внешними устройствами;
- отображения трендов изменения контролируемого параметра в графическом виде;
- ручной, автоматической и/или удаленной калибровки.
Конструктивно газоанализаторы представляют собой один или несколько металлических корпусов, внутри которых располагаются:
- измерительные ячейки с электронными платами измерительных модулей;
- материнская плата с микропроцессором;
- платы входных/выходных сигналов;
- терморегулятор для поддержания температуры внутри корпуса (опционально);
- термостатированный корпус для поддержания заданной температуры (опционально).
Возможно использование выносных проточных ячеек с температурой эксплуатации до 180 °C.
ЖК дисплей для визуализации результатов измерений и клавиатура для управления газоанализатором могут размещаться на передней панели одного или нескольких корпусов.
Предусмотрено несколько вариантов исполнения корпусов:
- общепромышленное (настольное или для монтажа в стойку 19”);
- взрывозащищенное (взрывонепроницаемая оболочка «d»);
- взрывозащищенное (оболочка под избыточным давлением «р»).
О бщий вид газоанализаторов представлен на рисунке 1.
а)
б)
в)
а - общепромышленное исполнение
б - взрывозащищенное исполнение (взрывонепроницаемая оболочка «d») в - взрывозащищенное исполнение (оболочка под избыточным давлением «р»).
Рисунок 1 - Общий вид газоанализаторов
Для подключения к внешним системам и конфигурирования газоанализатор может иметь встроенный интерфейс USB.
Измерительные модули газоанализатора выпускаются в 4-х исполнениях A, B, C, D, отличающихся метрологическими характеристиками. Обозначение исполнений по каждому определяемому компоненту указывается в паспорте. Подробные сведения о метрологических характеристиках каждого исполнения приведены в таблицах 2 - 5.
Нанесение знака поверки на средство измерений не предусмотрено.
Газоанализаторы имеют индивидуальные серийные номера, которые в виде цифрового обозначения наносятся методом цветной термопечати. Серийный номер наносится на идентификационную табличку, размещенную на корпусе. В зависимости от конструктивного исполнения, табличка может быть расположена на лицевой, боковой, задней или верхней стороне корпуса.
Идентификационная табличка наклеивается на корпус общепромышленного исполнения. На корпусе взрывозащищенного исполнения она закрепляется на заклепки.
Вид идентификационных табличек приведен на рисунке 2.
Пломбирование от несанкционированного доступа не предусмотрено.
ПРЕПУ ПРЕ» ЕЕнПГ—— ОТКРЫВАТЬ ОТКЛЮЧИВ ОТ СЕГИ
и- стк=ш’ь ‘Ри ;c3v3th:« присутствии взрывоопасной
СРЕДЫ
С de лини Б Копии
Лото изготовления
I • I । *)кс Бзрыйозощияы
;dehhktl;э »j.срзЗы
1Ех db НС Т4 Gb X
О _ .55
Вес. не более
Параметры электропитания
150 кг
230В 50Гц, не более 460 Вт
Степень защиты
IP65
Гизианализотор ЭкоСпектр II Серийный № __
Код заказа ЕС50б^7
ООО *НПП ’ЭКОХИМПРИБОР’ 141985 Московская обл г Дубна.
ул. Университетская 311. стр 14
*7 (4961219-06-11 1п1оФесоЬйпрпЬог ги
■■■ ЭКОХИМПРИБОР Н А1А.М1ИКД ЭКОГОГИы- ЭФФЕКГИВНОСТО
Место нанесения знака утверждения типа
Место нанесения серийного номера
а) Взрывозащищенное исполнение (взрывонепроницаемая оболочка «d»)
|
■■■ ■ ■■ ЭКОХИМПРИБОР НИМ АМА/1ИГИКА. УКОЛОТ ИН. УФОТиК т& | ||
|
Гозооно/изотор ЭкоСпектр II Серийный № | ||
|
Коб заказа |
ECSOO^T^--^ | |
|
Дата изготовления | ||
|
Степень зашиты |
Р65 | |
|
Минимальное избыточное давление не немее |
зоо |
Па |
|
Максимальное избыточное давление, не немее |
950 |
Па |
|
Время продувки. не менее |
120 |
мин |
|
Минимальный расход защитного газа |
7в |
«/-> |
|
Рос «од защитного газа при предварительной продувке |
4000 |
л/ч |
|
Максимальное значение утечки из оболочки под давлением |
36 |
я/ч |
|
Давление на входе в систему Продувки |
2-3 |
бар |
|
Газ продувки |
Воздух | |
|
Клосс загрязненности воздуха по ГОСТ 17433-80. не менее |
2 | |
|
Давление газовой пробы |
0.07.0.15 |
МПа |
|
Максимальный расход газовой пробы |
2 |
Л/н |
|
Рабочая температура охр. среды |
0 . .50 Ч | |
|
Масса, не более |
350 кг | |
|
Параметры электропитания |
230В 50Гц. не более 3500 Вт | |
|
Сделано б России | ||
Сертификат соответствия ххххххххххх
ООО ‘НПО •ЭКОХИМПРИБОР’ 141985. Московская обл. г Дубно ул Университетская. 311. стр 14
Место нанесения знака
ПРЕДУПРЕЖДЕНИЕ’ НЕ ОТКРЫВАТЬ. ЕСЛИ УСТРОЙСТВО ПОД НАПРЯХЕНИЕМ
□-011-15701160-2024
Зкоспектр И
утверждения типа
1Ех pxb К 14 Gb X. Их pxb Ж. 13 Gb X
Место нанесения
серийного номера
б) Взрывозащищенное исполнение (оболочка под избыточным давлением «р»)
Место нанесения серийного номера
Место нанесения знака утверждения типа
в) Общепромышленное исполнение газоанализаторов
Рисунок 2 - Идентификационные таблички
Программное обеспечение
Газоанализаторы имеют встроенное, метрологически значимое программное обеспечение (далее - ПО). ПО устанавливается в энергонезависимую память газоанализаторов на заводе изготовителе во время производства.
Влияние встроенного ПО учтено при нормировании метрологических характеристик газоанализаторов.
Идентификационные данные ПО газоанализаторов приведены в таблице 1.
Таблица 1 - Идентификационные данные встроенного ПО
|
Идентификационные данные (признаки) |
Значение |
|
Идентификационное наименование ПО |
ЭкоСпектр II EHP ES |
|
Номер версии (идентификационный номер) ПО, не ниже |
V17.05 |
|
Цифровой идентификатор ПО |
Защита ПО газоанализаторов от непреднамеренных и преднамеренных изменений соответствует уровню «средний» по Р 50.2.077-2014.
Технические характеристики
Метрологические и основные технические характеристики газоанализаторов приведены в таблицах 2 - 6.
Таблица 2 - Метрологические характеристики газоанализаторов с измерительными модулями исполнения С
|
Исполнение C | ||||
|
Определяемый компонент |
Метод анализа |
Диапазон измерений объемной доли определяемого компонента1) |
Участок диапазона, в котором нормируется погрешность |
Пределы допускаемой погрешности, приведенной к верхнему пределу участка диапазона измерений |
|
Аммиак NH3 |
ИК спектрометрия с перестраиваемым диодным лазером |
от 0 до 10 млн-1 |
от 0 до 10 млн-1 |
±8 % |
|
от 0 до 100 млн-1 |
от 0 до 10 млн-1 включ. |
±8 % | ||
|
св. 10 до 100 млн-1 |
±8 % | |||
|
от 0 до 500 млн 1 |
от 0 до 100 млн-1 включ. |
±8 % | ||
|
св. 100 до 500 -1 млн 1 |
±8 % | |||
|
от 0 до 2000 млн 1 |
от 0 до 500 млн-1 включ. |
±5 % | ||
|
св. 500 до 2000 -1 млн |
±5 % | |||
|
от 0 до 10000 млн 1 |
от 0 до 2000 млн-1 включ. |
±5 % | ||
|
св.2000 до 10000 -1 млн |
±5 % | |||
|
ИК спектрометрия с Фурье преобразованием |
от 0 до 50 млн-1 |
от 0 до 50 млн-1 |
±8 % | |
|
от 0 до 500 млн-1 |
от 0 до 50 млн-1 включ. |
±8 % | ||
|
св. 50 до 500 млн-1 |
±8 % | |||
|
от 0 до 5000 млн 1 |
от 0 до 500 млн-1 включ. |
±5 % | ||
|
св. 500 до 5000 -1 млн |
±5 % | |||
|
от 0 до 100 % |
от 0 до 5000 млн-1 включ. |
±5 % | ||
|
св. 0,5 до 100 % |
±5 % | |||
|
Водород Н2 |
Термокондуктометрический |
от 0 до 1 % |
от 0 до 1 % |
±5 % |
|
от 0 до 5 % |
от 0 до 1 % включ. |
±5 % | ||
|
св. 1 до 5 % |
±5 % | |||
|
от 0 до 10 % |
от 0 до 5 % включ. |
±5 % | ||
|
св. 5 до 10 % |
±5 % | |||
|
от 0 до 50 % |
от 0 до 10 % включ. |
±3 % | ||
|
св. 10 до 50 % |
±3 % | |||
|
от 0 до 100 % |
от 0 до 50 % включ. |
±3 % | ||
|
св. 50 до 100 % |
±3 % | |||
|
Исполнение C | ||||
|
Определяемый компонент |
Метод анализа |
Диапазон измерений объемной доли определяемого компонента1) |
Участок диапазона, в котором нормируется погрешность |
Пределы допускаемой погрешности, приведенной к верхнему пределу участка диапазона измерений |
|
Диоксид углерода СО2 |
ИК спектрометрия с перестраиваемым диодным лазером |
от 0 до 10 млн-1 |
от 0 до 10 млн-1 |
±8 % |
|
от 0 до 100 млн-1 |
от 0 до 10 млн-1 включ. |
±8 % | ||
|
св. 10 до 100 млн-1 |
±8 % | |||
|
от 0 до 1000 млн 1 |
от 0 до 100 млн-1 включ. |
±6 % | ||
|
св. 100 до 1000 -1 млн |
±6 % | |||
|
от 0 до 5000 млн 1 |
от 0 до 1000 млн-1 включ. |
±5 % | ||
|
св. 1000 до 5000 -1 млн 1 |
±5 % | |||
|
от 0 до 5 % |
от 0 до 5000 млн-1 включ. |
±5 % | ||
|
св. 0,5 до 5 % |
±5 % | |||
|
от 0 до 20 % |
от 0 до 5 % включ. |
±3 % | ||
|
св. 5 до 20 % |
±3 % | |||
|
от 0 до 50 % |
от 0 до 20 % включ. |
±3 % | ||
|
св. 20 до 50 % |
±3 % | |||
|
от 0 до 100 % |
от 0 до 50 % включ. |
±3 % | ||
|
св. 50 до 100 % |
±3 % | |||
|
Недисперсионная ИК фотометрия |
от 0 до 10 млн-1 |
от 0 до 10 млн-1 |
±8 % | |
|
от 0 до 100 млн-1 |
от 0 до 10 млн-1 включ. |
±8 % | ||
|
св. 10 до 100 млн-1 |
±8 % | |||
|
от 0 до 1000 млн 1 |
от 0 до 100 млн-1 включ. |
±8 % | ||
|
св. 100 до 1000 -1 млн 1 |
±8 % | |||
|
от 0 до 5000 млн 1 |
от 0 до 1000 млн-1 включ. |
±8 % | ||
|
св. 1000 до 5000 - -1 млн 1 |
±8 % | |||
|
от 0 до 5 % |
от 0 до 0,5 % включ. |
±3 % | ||
|
св. 0,5 до 5 % |
±3 % | |||
|
Исполнение C | ||||
|
Определяемый компонент |
Метод анализа |
Диапазон измерений объемной доли определяемого компонента1) |
Участок диапазона, в котором нормируется погрешность |
Пределы допускаемой погрешности, приведенной к верхнему пределу участка диапазона измерений |
|
от 0 до 20 % |
от 0 до 5 % включ. |
±3 % | ||
|
св. 5 до 20 % |
±3 % | |||
|
от 0 до 50 % |
от 0 до 20 % включ. |
±3 % | ||
|
св. 20 до 50 % |
±3 % | |||
|
от 0 до 100 % |
от 0 до 50 % включ. |
±3 % | ||
|
св. 50 до 100 % |
±3 % | |||
|
ИК спектрометрия с Фурье преобразованием |
от 0 до 50 млн-1 |
от 0 до 50 млн-1 |
±10 % | |
|
от 0 до 200 млн-1 |
от 0 до 50 млн-1 включ. |
±10 % | ||
|
св. 50 до 200 млн-1 |
±10 % | |||
|
от 0 до 500 млн 1 |
от 0 до 200 млн-1 включ. |
±8 % | ||
|
св. 200 до 500 -1 млн |
±8 % | |||
|
от 0 до 5000 млн 1 |
от 0 до 500 млн-1 включ. |
±8 % | ||
|
св. 500 до 5000 -1 млн 1 |
±8 % | |||
|
от 0 до 2 % |
от 0 до 0,5 % включ. |
±5 % | ||
|
св. 0,5 до 2 % |
±5 % | |||
|
от 0 до 10 % |
от 0 до 2 % включ. |
±5 % | ||
|
св. 2 до 10 % |
±5 % | |||
|
от 0 до 50 % |
от 0 до 10 % включ. |
±5 % | ||
|
св. 10 до 50 % |
±5 % | |||
|
от 0 до 100 % |
от 0 до 50 % включ. |
±5 % | ||
|
св. 50 до 100 % |
±5 % | |||
|
Исполнение C | ||||
|
Определяемый компонент |
Метод анализа |
Диапазон измерений объемной доли определяемого компонента1) |
Участок диапазона, в котором нормируется погрешность |
Пределы допускаемой погрешности, приведенной к верхнему пределу участка диапазона измерений |
|
Оксид углерода СО |
ИК спектрометрия с перестраиваемым диодным лазером |
от 0 до 10 млн-1 |
от 0 до 10 млн-1 |
±10 % |
|
от 0 до 50 млн-1 |
от 0 до 10 млн-1 включ. |
±10 % | ||
|
св. 10 до 50 млн-1 |
±10 % | |||
|
от 0 до 100 млн-1 |
от 0 до 50 млн-1 включ. |
±8 % | ||
|
св. 50 до 100 млн-1 |
±8 % | |||
|
от 0 до 500 млн 1 |
от 0 до 100 млн-1 включ. |
±5 % | ||
|
св. 100 до 500 -1 млн |
±5 % | |||
|
от 0 до 1500 млн 1 |
от 0 до 500 млн-1 включ. |
±5 % | ||
|
св. 500 до 1500 -1 млн |
±5 % | |||
|
от 0 до 5000 млн 1 |
от 0 до 1500 млн-1 включ. |
±5 % | ||
|
св. 1500 до 5000 -1 млн |
±5 % | |||
|
от 0 до 5 % |
от 0 до 0,5 % включ. |
±5 % | ||
|
св. 0,5 до 5 % |
±5 % | |||
|
от 0 до 20 % |
от 0 до 5 % включ. |
±3 % | ||
|
св. 5 до 20 % |
±3 % | |||
|
от 0 до 50 % |
от 0 до 20 % включ. |
±3 % | ||
|
св. 20 % до 50 % |
±3 % | |||
|
от 0 до 100 % |
от 0 до 50 % включ. |
±3 % | ||
|
св. 50 до 100 % |
±3 % | |||
|
Недисперсионная ИК фотометрия |
от 0 до 10 млн-1 |
от 0 до 10 млн-1 |
±10 % | |
|
от 0 до 50 млн-1 |
от 0 до 10 млн-1 включ. |
±10 % | ||
|
св. 10 до 50 млн-1 |
±10 % | |||
|
от 0 до 500 млн-1 |
от 0 до 50 млн-1 включ. |
±8 % | ||
|
св. 50 до 500 млн-1 |
±8 % | |||
|
от 0 до 1000 млн-1 |
от 0 до 500 млн-1 включ. |
±5 % | ||
|
Исполнение C | ||||
|
Определяемый компонент |
Метод анализа |
Диапазон измерений объемной доли определяемого компонента1) |
Участок диапазона, в котором нормируется погрешность |
Пределы допускаемой погрешности, приведенной к верхнему пределу участка диапазона измерений |
|
св. 500 до 1000 -1 млн |
±5 % | |||
|
от 0 до 5000 млн 1 |
от 0 до 1000 млн-1 включ. |
±5 % | ||
|
св. 1000 до 5000 -1 млн |
±5 % | |||
|
от 0 до 5 % |
от 0 до 0,5 % включ. |
±5 % | ||
|
св. 0,5 до 5 % |
±5 % | |||
|
от 0 до 20 % |
от 0 до 5 % включ. |
±3 % | ||
|
св. 5 до 20 % |
±3 % | |||
|
от 0 до 50 % |
от 0 до 20 % включ. |
±3 % | ||
|
св. 20 до 50 % |
±3 % | |||
|
от 0 до 100 % |
от 0 до 50 % включ. |
±3 % | ||
|
св. 50 до 100 % |
±3 % | |||
|
ИК спектрометрия с Фурье преобразованием |
от 0 до 50 млн-1 |
от 0 до 50 млн-1 |
±10 % | |
|
от 0 до 500 млн-1 |
от 0 до 50 млн-1 включ. |
±10 % | ||
|
св. 50 до 500 млн-1 |
±10 % | |||
|
от 0 до 1000 млн 1 |
от 0 до 500 млн-1 включ. |
±8 % | ||
|
св. 500 до 1000 -1 млн |
±8 % | |||
|
от 0 до 5000 млн 1 |
от 0 до 1000 млн-1 включ. |
±5 % | ||
|
св. 1000 до 5000 -1 млн |
±5 % | |||
|
от 0 до 5 % |
от 0 до 0,5 % включ. |
±5 % | ||
|
св. 0,5 до 5 % |
±5 % | |||
|
Исполнение C | ||||
|
Определяемый компонент |
Метод анализа |
Диапазон измерений объемной доли определяемого компонента1) |
Участок диапазона, в котором нормируется погрешность |
Пределы допускаемой погрешности, приведенной к верхнему пределу участка диапазона измерений |
|
Сероводород H2S |
ИК спектрометрия с перестраиваемым диодным лазером |
от 0 до 50 млн-1 |
от 0 до 50 млн-1 |
±10 % |
|
от 0 до 100 млн-1 |
от 0 до 50 млн-1 включ. |
±10 % | ||
|
св. 50 до 100 млн-1 |
±10 % | |||
|
от 0 до 500 млн 1 |
от 0 до 100 млн-1 включ. |
±6 % | ||
|
св. 100 до 500 -1 млн |
±6 % | |||
|
от 0 до 2000 млн 1 |
от 0 до 500 млн-1 включ. |
±6 % | ||
|
св. 500 до 2000 -1 млн 1 |
±6 % | |||
|
от 0 до 1 % |
от 0 до 0,2 % включ. |
±5 % | ||
|
св. 0,2 до 1 % |
±5 % | |||
|
от 0 до 30 % |
от 0 до 1 % включ. |
±4 % | ||
|
св. 1 до 30 % |
±4 % | |||
|
УФ спектрометрия |
от 0 до 30 млн-1 |
от 0 до 30 млн-1 |
±10 % | |
|
от 0 до 100 млн-1 |
от 0 до 30 млн-1 включ. |
±8 % | ||
|
св. 30 до 100 млн-1 |
±8 % | |||
|
от 0 до 1000 млн 1 |
от 0 до 100 млн-1 включ. |
±5 % | ||
|
св. 100 до 1000 -1 млн |
±5 % | |||
|
от 0 до 30 % |
от 0 до 0,1 % включ. |
±5 % | ||
|
св. 0,1 до 30 % |
±5 % | |||
|
Электрохимический |
от 0 до 100 млн-1 |
от 0 до 100 млн-1 |
±10 % | |
|
от 0 до 500 млн 1 |
от 0 до 100 млн-1 включ. |
±8 % | ||
|
св. 100 до 500 -1 млн |
±8 % | |||
|
от 0 до 1000 млн 1 |
от 0 до 500 млн-1 включ. |
±6 % | ||
|
св. 500 до 1000 „ -1 млн 1 |
±6 % | |||
|
от 0 до 5000 млн-1 |
от 0 до 1000 млн-1 включ. |
±6 % | ||
|
Исполнение C | ||||
|
Определяемый компонент |
Метод анализа |
Диапазон измерений объемной доли определяемого компонента1) |
Участок диапазона, в котором нормируется погрешность |
Пределы допускаемой погрешности, приведенной к верхнему пределу участка диапазона измерений |
|
св. 1000 до 5000 -1 млн |
±6 % | |||
|
от 0 до 1 % |
от 0 до 0,5 % включ. |
±6 % | ||
|
св. 0,5 до 1 % |
±6 % | |||
|
Метан СН4 |
ИК спектрометрия с перестраиваемым диодным лазером |
от 0 до 50 млн-1 |
от 0 до 50 млн-1 |
±10 % |
|
от 0 до 500 млн-1 |
от 0 до 50 млн-1 включ. |
±8 % | ||
|
св. 50 до 500 млн-1 |
±8 % | |||
|
от 0 до 1500 млн 1 |
от 0 до 500 млн-1 включ. |
±5 % | ||
|
св. 500 до 1500 -1 млн |
±5 % | |||
|
от 0 до 5000 млн 1 |
от 0 до 1500 млн-1 включ. |
±5 % | ||
|
св. 1500 до 5000 -1 млн |
±5 % | |||
|
от 0 до 2 % |
от 0 до 0,5 % включ. |
±5 % | ||
|
св. 0,5 до 2 % |
±5 % | |||
|
от 0 до 10 % |
от 0 до 2 % включ. |
±4 % | ||
|
св. 2 до 10 % |
±4 % | |||
|
от 0 до 20 % |
от 0 до 10 % включ. |
±4 % | ||
|
св. 10 до 20 % |
±4 % | |||
|
от 0 до 100 % |
от 0 до 20 % включ. |
±3 % | ||
|
св. 20 до 100 % |
±3 % | |||
|
Недисперсионная ИК фотометрия |
от 0 до 100 млн-1 |
от 0 до 100 млн-1 |
±10 % | |
|
от 0 до 500 млн 1 |
от 0 до 100 млн-1 включ. |
±8 % | ||
|
св. 100 до 500 -1 млн |
±8 % | |||
|
от 0 до 1000 млн 1 |
от 0 до 500 млн-1 включ. |
±6 % | ||
|
св. 500 до 1000 „ -1 млн 1 |
±6 % | |||
|
от 0 до 5000 млн-1 |
от 0 до 1000 млн-1 включ. |
±5 % | ||
|
Исполнение C | ||||
|
Определяемый компонент |
Метод анализа |
Диапазон измерений объемной доли определяемого компонента1) |
Участок диапазона, в котором нормируется погрешность |
Пределы допускаемой погрешности, приведенной к верхнему пределу участка диапазона измерений |
|
св. 1000 до 5000 -1 млн |
±5 % | |||
|
от 0 до 2 % |
от 0 до 0,5 % включ. |
±5 % | ||
|
св. 0,5 до 2 % |
±5 % | |||
|
от 0 до 10 % |
от 0 до 2 % включ. |
±4 % | ||
|
св. 2 до 10 % |
±4 % | |||
|
от 0 до 50 % |
от 0 до 10 % включ. |
±3 % | ||
|
св. 10 до 50 % |
±3 % | |||
|
от 0 до 100 % |
от 0 до 50 % включ. |
±3 % | ||
|
св. 50 до 100 % |
±3 % | |||
|
ИК фотометрия с Фурье преобразованием |
от 0 до 100 млн-1 |
от 0 до 100 млн-1 |
±10 % | |
|
от 0 до 500 млн 1 |
от 0 до 100 млн-1 включ. |
±8 % | ||
|
св. 100 до 500 -1 млн |
±8 % | |||
|
от 0 до 1500 млн 1 |
от 0 до 500 млн-1 включ. |
±7 % | ||
|
св. 500 до 1500 -1 млн 1 |
±7 % | |||
|
от 0 до 5000 млн 1 |
от 0 до 1500 млн-1 включ. |
±7 % | ||
|
св. 1500 до 5000 -1 млн 1 |
±7 % | |||
|
от 0 до 5 % |
от 0 до 0,5 % включ. |
±5 % | ||
|
св. 0,5 до 5 % |
±5 % | |||
|
от 0 до 10 % |
от 0 до 5 % включ. |
±5 % | ||
|
св. 5 до 10 % |
±5 % | |||
|
от 0 до 20 % |
от 0 до 10 % включ. |
±5 % | ||
|
св. 10 до 20 % |
±5 % | |||
|
Исполнение C | ||||
|
Определяемый компонент |
Метод анализа |
Диапазон измерений объемной доли определяемого компонента1) |
Участок диапазона, в котором нормируется погрешность |
Пределы допускаемой погрешности, приведенной к верхнему пределу участка диапазона измерений |
|
Оксид азота NO |
ИК спектрометрия с перестраиваемым диодным лазером |
от 0 до 15 млн-1 |
от 0 до 15 млн-1 |
±10 % |
|
от 0 до 50 млн-1 |
от 0 до 15 млн-1 включ. |
±10 % | ||
|
от 15 до 50 млн-1 |
±10 % | |||
|
от 0 до 100 млн-1 |
от 0 до 50 млн-1 включ. |
±8 % | ||
|
св. 50 до 100 млн-1 |
±8 % | |||
|
от 0 до 500 млн 1 |
от 0 до 100 млн-1 включ. |
±8 % | ||
|
св. 100 до 500 -1 млн |
±8 % | |||
|
от 0 до 1000 млн 1 |
от 0 до 500 млн-1 включ. |
±8 % | ||
|
св. 500 до 1000 -1 млн |
±8 % | |||
|
от 0 до 5000 млн 1 |
от 0 до 1000 млн-1 включ. |
±6 % | ||
|
св. 1000 до 5000 -1 млн |
±6 % | |||
|
от 0 до 1 % |
от 0 до 0,5 % включ. |
±6 % | ||
|
св. 0,5 до 1 % |
±6 % | |||
|
от 0 до 5 % |
от 0 до 1 % включ. |
±5 % | ||
|
св. 1 до 5 % |
±5 % | |||
|
от 0 до 20 % |
от 0 до 5 % включ. |
±5 % | ||
|
св. 5 до 20 % |
±5 % | |||
|
от 0 до 100 % |
от 0 до 20 % включ. |
±5 % | ||
|
св. 20 до 100 % |
±5 % | |||
|
Недисперсионная ИК фотометрия |
от 0 до 100 млн-1 |
от 0 до 100 млн-1 |
±10 % | |
|
от 0 до 500 млн 1 |
от 0 до 100 млн-1 включ. |
±8 % | ||
|
св. 100 до 500 „ -1 млн 1 |
±8 % | |||
|
от 0 до 1500 млн 1 |
от 0 до 500 млн-1 включ. |
±8 % | ||
|
св. 500 до 1500 -1 млн 1 |
±8 % | |||
|
Исполнение C | ||||
|
Определяемый компонент |
Метод анализа |
Диапазон измерений объемной доли определяемого компонента1) |
Участок диапазона, в котором нормируется погрешность |
Пределы допускаемой погрешности, приведенной к верхнему пределу участка диапазона измерений |
|
от 0 до 3000 млн 1 |
от 0 до 1500 млн-1 включ. |
±5 % | ||
|
св. 1500 до 3000 -1 млн |
±5 % | |||
|
от 0 до 10000 млн 1 |
от 0 до 3000 млн-1 включ. |
±5 % | ||
|
св.3000 до 10000 -1 млн |
±5 % | |||
|
ИК фотометрия с Фурье преобразованием |
от 0 до 50 млн-1 |
от 0 до 50 млн-1 |
±10% | |
|
от 0 до 100 млн-1 |
от 0 до 50 млн-1 включ. |
±8 % | ||
|
св. 50 до 100 млн-1 |
±8 % | |||
|
от 0 до 500 млн 1 |
от 0 до 100 млн-1 включ. |
±8 % | ||
|
св. 100 до 500 -1 млн 1 |
±8 % | |||
|
от 0 до 1000 млн 1 |
от 0 до 500 млн-1 включ. |
±8 % | ||
|
св. 500 до 1000 -1 млн 1 |
±8 % | |||
|
от 0 до 5000 млн 1 |
от 0 до 1000 млн-1 включ. |
±5 % | ||
|
св. 1000 до 5000 -1 млн |
±5 % | |||
|
от 0 до 1 % |
от 0 до 0,5 % включ. |
±5 % | ||
|
св. 0,5 до 1 % |
±5 % | |||
|
УФ спектрометрия |
от 0 до 20 млн-1 |
от 0 до 20 млн-1 |
±10 % | |
|
от 0 до 100 млн-1 |
от 0 до 20 млн-1 включ. |
±8 % | ||
|
св. 20 до 100 млн-1 |
±8 % | |||
|
от 0 до 500 млн 1 |
от 0 до 100 млн-1 включ. |
±8 % | ||
|
св. 100 до 500 -1 млн |
±8 % | |||
|
от 0 до 1500 млн 1 |
от 0 до 500 млн-1 включ. |
±5 % | ||
|
св. 500 до 1500 -1 млн |
±5 % | |||
|
Исполнение C | ||||
|
Определяемый компонент |
Метод анализа |
Диапазон измерений объемной доли определяемого компонента1) |
Участок диапазона, в котором нормируется погрешность |
Пределы допускаемой погрешности, приведенной к верхнему пределу участка диапазона измерений |
|
от 0 до 3000 млн 1 |
от 0 до 1500 млн-1 включ. |
±5 % | ||
|
св. 1500 до 3000 -1 млн |
±5 % | |||
|
от 0 до 1 % |
от 0 до 0,3 % включ. |
±5 % | ||
|
св. 0,3 до 1 % |
±5 % | |||
|
Диоксид азота NO2 |
ИК спектрометрия с перестраиваемым диодным лазером |
от 0 до 20 млн-1 |
от 0 до 20 млн-1 |
±10 % |
|
от 0 до 100 млн-1 |
от 0 до 20 млн-1 включ. |
±8 % | ||
|
св. 20 до 100 млн-1 |
±8 % | |||
|
от 0 до 500 млн 1 |
от 0 до 100 млн-1 включ. |
±5 % | ||
|
св. 100 до 500 -1 млн |
±5 % | |||
|
от 0 до 1500 млн 1 |
от 0 до 500 млн-1 включ. |
±5 % | ||
|
св. 500 до 1500 -1 млн |
±5 % | |||
|
от 0 до 5000 млн 1 |
от 0 до 1500 млн-1 включ. |
±5 % | ||
|
св. 1500 до 5000 -1 млн 1 |
±5 % | |||
|
от 0 до 2 % |
от 0 до 0,5 % включ. |
±4 % | ||
|
св. 0,5 до 2 % |
±4 % | |||
|
УФ спектрометрия |
от 0 до 30 млн-1 |
св. 0 до 30 млн-1 |
±10 % | |
|
от 0 до 80 млн-1 |
от 0 до 30 млн-1 включ. |
±10 % | ||
|
св. 30 до 80 млн-1 |
±10 % | |||
|
от 0 до 200 млн-1 |
от 0 до 80 млн-1 включ. |
±8 % | ||
|
св. 80 до 200 млн-1 |
±8 % | |||
|
от 0 до 500 млн 1 |
от 0 до 200 млн-1 включ. |
±8 % | ||
|
св. 200 до 500 -1 млн |
±5 % | |||
|
от 0 до 1000 млн-1 |
от 0 до 500 млн-1 включ. |
±5 % | ||
|
Исполнение C | ||||
|
Определяемый компонент |
Метод анализа |
Диапазон измерений объемной доли определяемого компонента1) |
Участок диапазона, в котором нормируется погрешность |
Пределы допускаемой погрешности, приведенной к верхнему пределу участка диапазона измерений |
|
св. 500 до 1000 -1 млн |
±5 % | |||
|
от 0 до 4000 млн 1 |
от 0 до 1000 млн-1 включ. |
±3 % | ||
|
св. 1000 до 4000 -1 млн |
±3 % | |||
|
от 0 до 10000 млн 1 |
от 0 до 4000 млн-1 включ. |
±3 % | ||
|
св.4000 до 10000 -1 млн |
±3 % | |||
|
от 0 до 2,5 % |
от 0 до 1 % включ. |
±3 % | ||
|
св. 1 до 2,5 % |
±3 % | |||
|
ИК фотометрия с Фурье преобразованием |
от 0 до 200 млн-1 |
от 0 до 200 млн-1 |
±10 % | |
|
от 0 до 500 млн 1 |
от 0 до 200 млн-1 включ. |
±8 % | ||
|
св. 200 до 500 -1 млн 1 |
±8 % | |||
|
от 0 до 1500 млн 1 |
от 0 до 500 млн-1 включ. |
±5 % | ||
|
св. 500 до 1500 -1 млн 1 |
±5 % | |||
|
от 0 до 3000 млн 1 |
от 0 до 1500 млн-1 включ. |
±5 % | ||
|
св. 1500 до 3000 -1 млн |
±5 % | |||
|
Канал NOx |
ИК спектрометрия (с настройкой по NO), УФ спектрометрия (с настройкой по NO2) |
от 0 до 100 млн-1 |
от 0 до 100 млн-1 |
±10 % |
|
от 0 до 500 млн 1 |
от 0 до 100 млн-1 включ. |
±8 % | ||
|
св. 100 до 500 -1 млн 1 |
±8 % | |||
|
от 0 до 1000 млн 1 |
от 0 до 500 млн-1 включ. |
±8 % | ||
|
св. 500 до 1000 -1 млн 1 |
±8 % | |||
|
от 0 до 4000 млн 1 |
от 0 до 1000 млн-1 включ. |
±5 % | ||
|
св. 1000 до 4000 -1 млн |
±5 % | |||
|
Исполнение C | ||||
|
Определяемый компонент |
Метод анализа |
Диапазон измерений объемной доли определяемого компонента1) |
Участок диапазона, в котором нормируется погрешность |
Пределы допускаемой погрешности, приведенной к верхнему пределу участка диапазона измерений |
|
Кислород O2 |
ИК спектрометрия с перестраиваемым диодным лазером |
от 0 до 1000 млн-1 |
от 0 до 1000 млн-1 |
±5 % |
|
от 0 до 10 % |
от 0 до 0,1 % включ. |
±3 % | ||
|
св. 0,1 до 10 % |
±3 % | |||
|
от 0 до 100 % |
от 0 до 10 % включ. |
±3 % | ||
|
св. 10 до 100 % |
±3 % | |||
|
Электрохимический |
от 0 до 10 млн-1 |
от 0 до 10 млн-1 |
±15 % | |
|
от 0 до 500 млн-1 |
от 0 до 10 млн-1 включ. |
±10 % | ||
|
св. 10 до 500 млн-1 |
±10 % | |||
|
от 0 до 10000 млн 1 |
от 0 до 500 млн-1 включ. |
±10 % | ||
|
св. 500 до 10000 -1 млн |
±10 % | |||
|
от 0 до 5 % |
от 0 до 1 % включ. |
±5 % | ||
|
св. 1 до 5 % |
±5 % | |||
|
от 0 до 25 % |
от 0 до 5 % включ. |
±5 % | ||
|
св. 5 до 25 % |
±5 % | |||
|
от 0 до 40 % |
от 0 до 25 % включ. |
±5 % | ||
|
св. 25 до 40 % |
±5 % | |||
|
Парамагнитный |
от 0 до 5 % |
от 0 до 1 % включ. |
±5 % | |
|
св. 1 до 5 % |
±5 % | |||
|
от 0 до 25 % |
от 0 до 5 % включ. |
±5 % | ||
|
св. 5 до 25 % |
±5 % | |||
|
от 0 до 100 % |
от 0 до 25 % включ. |
±3 % | ||
|
св. 25 до 100% |
±3 % | |||
|
Диоксид серы SO2 |
ИК спектрометрия с перестраиваемым диодным лазером |
от 0 до 15 млн-1 |
от 0 до 15 млн-1 |
±10 % |
|
от 0 до 50 млн-1 |
от 0 до 15 млн-1 включ. |
±10 % | ||
|
св. 15 до 50 млн-1 |
±10 % | |||
|
от 0 до 500 млн-1 |
от 0 до 50 млн-1 включ. |
±8 % | ||
|
св. 50 до 500 млн-1 |
±8 % | |||
|
Исполнение C | ||||
|
Определяемый компонент |
Метод анализа |
Диапазон измерений объемной доли определяемого компонента1) |
Участок диапазона, в котором нормируется погрешность |
Пределы допускаемой погрешности, приведенной к верхнему пределу участка диапазона измерений |
|
от 0 до 1500 млн 1 |
от 0 до 500 млн-1 включ. |
±7 % | ||
|
св. 500 до 1500 -1 млн |
±7 % | |||
|
от 0 до 5000 млн 1 |
от 0 до 1500 млн-1 включ. |
±7 % | ||
|
св. 1500 до 5000 -1 млн |
±7 % | |||
|
от 0 до 1 % |
от 0 до 0,5 % включ. |
±7 % | ||
|
св. 0,5 до 1 % |
±7 % | |||
|
от 0 до 5 % |
от 0 до 1 % включ. |
±5 % | ||
|
св. 1 до 5 % |
±5 % | |||
|
от 0 до 15 % |
от 0 до 5 % включ. |
±5 % | ||
|
св. 5 до 15 % |
±5 % | |||
|
от 0 до 50 % |
от 0 до 15 % включ. |
±5 % | ||
|
св. 15 до 50 % |
±5 % | |||
|
от 0 до 100 % |
от 0 до 50 % включ. |
±5 % | ||
|
св. 50 до 100 % |
±5 % | |||
|
УФ спектрометрия |
от 0 до 10 млн-1 |
от 0 до 10 млн-1 |
±10 % | |
|
от 0 до 500 млн-1 |
от 0 до 10 млн-1 включ. |
±10 % | ||
|
св. 10 до 500 млн-1 |
±10 % | |||
|
от 0 до 3000 млн 1 |
от 0 до 500 млн-1 включ. |
±5 % | ||
|
св. 500 до 3000 -1 млн 1 |
±5 % | |||
|
Недисперсионная ИК фотометрия |
от 0 до 200 млн-1 |
от 0 до 200 млн-1 |
±8 % | |
|
от 0 до 1000 млн 1 |
от 0 до 200 млн-1 включ. |
±5 % | ||
|
св. 200 до 1000 „ -1 млн 1 |
±5 % | |||
|
от 0 до 5000 млн 1 |
от 0 до 1000 млн-1 включ. |
±5 % | ||
|
св. 1000 до 5000 -1 млн 1 |
±5 % | |||
|
Исполнение C | ||||
|
Определяемый компонент |
Метод анализа |
Диапазон измерений объемной доли определяемого компонента1) |
Участок диапазона, в котором нормируется погрешность |
Пределы допускаемой погрешности, приведенной к верхнему пределу участка диапазона измерений |
|
от 0 до 1 % |
от 0 до 0,5 % включ. |
±5 % | ||
|
св. 0,5 до 1 % |
±5 % | |||
|
от 0 до 5 % |
от 0 до 1 % включ. |
±5 % | ||
|
св. 1 до 5 % |
±5 % | |||
|
ИК фотометрия с Фурье преобразованием |
от 0 до 100 млн-1 |
от 0 до 100 млн-1 |
±8 % | |
|
от 0 до 3000 млн 1 |
от 0 до 100 млн-1 включ. |
±5 % | ||
|
св. 100 до 3000 -1 млн |
±5 % | |||
|
Вода Н2О |
ИК спектрометрия с перестраиваемым диодным лазером |
от 0 до 1000 млн-1 |
от 0 до 1000 млн-1 |
±10 % |
|
от 0 до 5 % |
от 0 до 0,1 % включ. |
±5 % | ||
|
св. 0,1 до 5 % |
±5 % | |||
|
от 0 до 20 % |
от 0 до 5 % включ. |
±5 % | ||
|
св. 5 до 20 % |
±5 % | |||
|
от 0 до 30 % |
от 0 до 20 % включ. |
±5 % | ||
|
от. 20 до 30 % |
±5 % | |||
|
ИК фотометрия с Фурье преобразованием |
от 0 до 1000 млн-1 |
от 0 до 1000 млн-1 |
±10 % | |
|
от 0 до 15 % |
от 0 до 0,1 % включ. |
±5 % | ||
|
св. 0,1 до 15 % |
±5 % | |||
|
от 0 до 30 % |
от 0 до 15 % включ. |
±5 % | ||
|
св. 15 до 30 % |
±5 % | |||
|
Хлороводород HCl |
ИК спектрометрия с перестраиваемым диодным лазером |
от 0 до 50 млн-1 |
от 0 до 50 млн-1 |
±12 % |
|
от 0 до 300 млн-1 |
от 0 до 50 млн-1 включ. |
±12 % | ||
|
св. 50 до 300 млн-1 |
±12 % | |||
|
от 0 до 1000 млн 1 |
от 0 до 300 млн-1 включ. |
±8 % | ||
|
св. 300 до 1000 -1 млн |
±8 % | |||
|
ИК фотометрия с Фурье преобразованием |
от 0 до 200 млн-1 |
от 0 до 200 млн-1 |
±15 % | |
|
от 0 до 1000 млн 1 |
от 0 до 200 млн-1 включ. |
±10 % | ||
|
св. 200 до 1000 „ -1 млн 1 |
±10 % | |||
|
Исполнение C | ||||
|
Определяемый компонент |
Метод анализа |
Диапазон измерений объемной доли определяемого компонента1) |
Участок диапазона, в котором нормируется погрешность |
Пределы допускаемой погрешности, приведенной к верхнему пределу участка диапазона измерений |
|
Фтороводород HF |
ИК спектрометрия с перестраиваемым диодным лазером |
от 0 до 50 млн-1 |
от 0 до 50 млн-1 |
±12 % |
|
от 0 до 300 млн-1 |
от 0 до 50 млн-1 включ. |
±12 % | ||
|
св. 50 до 300 млн-1 |
±12 % | |||
|
от 0 до 1000 млн 1 |
от 0 до 300 млн-1 включ. |
±8 % | ||
|
св. 300 до 1000 -1 млн |
±8 % | |||
|
ИК фотометрия с Фурье преобразованием |
от 0 до 200 млн-1 |
от 0 до 200 млн-1 |
±15 % | |
|
от 0 до 1000 млн 1 |
от 0 до 200 млн-1 включ. |
±10 % | ||
|
св. 200 до 1000 -1 млн |
±10 % | |||
|
Этилен С2Н4 |
ИК спектрометрия с перестраиваемым диодным лазером |
от 0 до 25 млн-1 |
от 0 до 25 млн-1 |
±10 % |
|
от 0 до 100 млн-1 |
от 0 до 25 млн-1 включ. |
±10 % | ||
|
св. 25 до 100 млн-1 |
±10 % | |||
|
от 0 до 5000 млн 1 |
от 0 до 100 млн-1 включ. |
±5 % | ||
|
св. 100 до 5000 -1 млн 1 |
±5 % | |||
|
от 0 до 10 % |
от 0 до 0,5 % включ. |
±5 % | ||
|
св. 0,5 до 10 % |
±5 % | |||
|
от 0 до 30 % |
от 0 до 10 % включ. |
±5 % | ||
|
св. 10 до 30 % |
±5 % | |||
|
от 0 до 100 % |
от 0 до 30 % включ. |
±5 % | ||
|
св. 30 до 100 % |
±5 % | |||
|
Недисперсионная ИК фотометрия |
от 0 до 1 % |
от 0 до 1 % |
±8 % | |
|
от 0 до 5 % |
от 0 до 1 % включ. |
±5 % | ||
|
св. 1 до 5 % |
±5 % | |||
|
от 0 до 10 % |
от 0 до 5 % включ. |
±5 % | ||
|
св. 5 до 10 % |
±5 % | |||
|
Исполнение C | ||||
|
Определяемый компонент |
Метод анализа |
Диапазон измерений объемной доли определяемого компонента1) |
Участок диапазона, в котором нормируется погрешность |
Пределы допускаемой погрешности, приведенной к верхнему пределу участка диапазона измерений |
|
Ацетилен С2Н2 |
ИК спектрометрия с перестраиваемым диодным лазером |
от 0 до 50 млн-1 |
от 0 до 50 млн-1 |
±10 % |
|
от 0 до 5000 млн 1 |
от 0 до 50 млн-1 включ. |
±7 % | ||
|
св. 50 до 5000 -1 млн 1 |
±7 % | |||
|
от 0 до 2 % |
от 0 до 0,5 % включ. |
±5 % | ||
|
св. 0,5 до 2 % |
±5 % | |||
|
от 0 до 10 % |
от 0 до 2 % включ. |
±5 % | ||
|
св. 2 до 10 % |
±5 % | |||
|
Недисперсионная ИК фотометрия |
от 0 до 1 % |
от 0 до 1 % |
±8 % | |
|
от 0 до 5 % |
от 0 до 1 % включ. |
±5 % | ||
|
св. 1 до 5 % |
±5 % | |||
|
Оксид азота (I) N2O |
ИК спектрометрия с перестраиваемым диодным лазером |
от 0 до 50 млн-1 |
от 0 до 50 млн-1 |
±10% |
|
от 0 до 200 млн-1 |
от 0 до 50 млн-1 включ. |
±8 % | ||
|
св. 50 до 200 млн-1 |
±8 % | |||
|
Недисперсионная ИК фотометрия |
от 0 до 50 млн-1 |
от 0 до 50 млн-1 |
±8 % | |
|
от 0 до 100 млн-1 |
от 0 до 50 млн-1 включ. |
±8 % | ||
|
св. 50 до 100 млн-1 |
±8 % | |||
|
от 0 до 500 млн 1 |
от 0 до 100 млн-1 включ. |
±7 % | ||
|
св. 100 до 500 -1 млн 1 |
±7 % | |||
|
от 0 до 1000 млн 1 |
от 0 до 500 млн-1 включ. |
±7 % | ||
|
св. 500 до 1000 -1 млн |
±7 % | |||
|
ИК фотометрия с Фурье преобразованием |
от 0 до 50 млн-1 |
от 0 до 50 млн-1 |
±10 % | |
|
от 0 до 200 млн-1 |
от 0 до 50 млн-1 включ. |
±5 % | ||
|
св. 50 до 200 млн-1 |
±5 % | |||
|
от 0 до 1000 млн 1 |
от 0 до 200 млн-1 включ. |
±5 % | ||
|
св. 200 до 1000 -1 млн |
±5 % | |||
|
от 0 до 10 % |
от 0 до 0,1 % включ. |
±5 % | ||
|
св. 0,1 до 10 % |
±5 % | |||
|
Исполнение C | ||||
|
Определяемый компонент |
Метод анализа |
Диапазон измерений объемной доли определяемого компонента1) |
Участок диапазона, в котором нормируется погрешность |
Пределы допускаемой погрешности, приведенной к верхнему пределу участка диапазона измерений |
|
Хлор CI2 |
УФ спектрометрия |
от 0 до 100 млн-1 |
от 0 до 100 млн-1 |
±12 % |
|
от 0 до 500 млн 1 |
от 0 до 100 млн-1 включ. |
±12 % | ||
|
св. 100 до 500 -1 млн 1 |
±12 % | |||
|
от 0 до 1000 млн 1 |
от 0 до 500 млн-1 включ. |
±7 % | ||
|
св. 500 до 1000 -1 млн 1 |
±7 % | |||
|
от 0 до 20 % |
от 0 до 0,1 % включ. |
±5 % | ||
|
св. 0,1 до 20 % |
±5 % | |||
|
от 0 до 100 % |
от 0 до 20 % включ. |
±5 % | ||
|
св. 20 до 100 % |
±5 % | |||
|
Сумма углеводородов CnHm (по С3Н8) |
Недисперсионная ИК фотометрия |
от 0 до 5000 млн-1 |
от 0 до 5000 млн-1 |
±7 % |
|
от 0 до 5 % |
от 0 до 0,5 % включ. |
±5 % | ||
|
св. 0,5 до 5 % |
±5 % | |||
|
от 0 до 20 % |
от 0 до 5 % включ. |
±4 % | ||
|
св. 5 до 20 % |
±4 % | |||
|
1) Диапазоны измерений и определяемые компоненты определяются при заказе; фактическое значение верхнего предела измерений приводится в паспорте и может быть отличным от указанных в таблице, при условии, что его значение входит в диапазон измерений, для которого в таблице нормированы пределы допускаемой погрешности. Вне зависимости от фактического верхнего предела диапазона измерений, указанного в паспорте, нормирующим значением погрешности является значение верхнего предела наименьшего участка диапазона, в который входит фактический верхний предел диапазона измерений. | ||||
Таблица 3 - Метрологические характеристики для газоанализаторов с измерительными модулями исполнения В
|
Исполнение B | |||||
|
Определяемый компонент |
Метод анализа |
Диапазон измерений объемной доли определяемого компонента1) |
Участок диапазона, в котором нормируется погрешность |
Пределы допускаемой приведенной погрешности2) |
Пределы допускаемой относительной погрешности |
|
Аммиак NH3 |
ИК спектрометрия с перестраиваемым диодным лазером |
от 0 до 5 млн-1 |
от 0 до 0,5 млн-1 включ. |
±10 % |
- |
|
св. 0,5 до 5 млн-1 |
- |
±10 % | |||
|
от 0 до 10 млн-1 |
от 0 до 5 млн-1 включ. |
±8 % |
- | ||
|
св. 5 до 10 млн-1 |
- |
±8 % | |||
|
от 0 до 50 млн-1 |
от 0 до 10 млн-1 включ. |
±5 % |
- | ||
|
св. 10 до 50 млн-1 |
- |
±5 % | |||
|
от 0 до 100 млн-1 |
от 0 до 50 млн-1 включ. |
±5 % |
- | ||
|
св. 50 до 100 млн-1 |
- |
±5 % | |||
|
от 0 до 200 млн 1 |
от 0 до 100 млн-1 включ. |
±5 % |
- | ||
|
св. 100 до 200 -1 млн 1 |
- |
±5 % | |||
|
от 0 до 500 млн 1 |
от 0 до 200 млн-1 включ. |
±5 % |
- | ||
|
св. 200 до 500 -1 млн 1 |
- |
±5 % | |||
|
от 0 до 1000 млн 1 |
от 0 до 500 млн-1 включ. |
±5 % |
- | ||
|
св. 500 до 1000 -1 млн |
- |
±5 % | |||
|
от 0 до 1 % |
от 0 до 0,1 % включ. |
±5 % |
- | ||
|
св. 0,1 до 1 % |
- |
±5 % | |||
|
от 0 до 10 % |
от 0 до 1 % включ. |
±3 % |
- | ||
|
св. 1 до 10 % |
- |
±3 % | |||
|
от 0 до 50 % |
от 0 до 10 % включ. |
±2 % |
- | ||
|
св. 10 до 50 % |
- |
±2 % | |||
|
от 0 до 100 % |
от 0 до 50 % включ. |
±2 % |
- | ||
|
св. 50 до 100 % |
- |
±2 % | |||
|
ИК спектрометрия с Фурье преобразованием |
от 0 до 500 млн-1 |
от 0 до 50 млн-1 включ. |
±5 % |
- | |
|
св. 50 до 500 млн-1 |
- |
±5 % | |||
|
Исполнение B | |||||
|
Определяемый компонент |
Метод анализа |
Диапазон измерений объемной доли определяемого компонента1) |
Участок диапазона, в котором нормируется погрешность |
Пределы допускаемой приведенной погрешности2) |
Пределы допускаемой относительной погрешности |
|
от 0 до 5000 млн 1 |
от 0 до 500 млн-1 включ. |
±5 % |
- | ||
|
св. 500 до 5000 -1 млн |
- |
±5 % | |||
|
от 0 до 100 % |
от 0 до 0,5 % включ. |
±3 % |
- | ||
|
св. 0,5 до 100 % |
- |
±3 % | |||
|
Водород Н2 |
Термокондуктометрический |
от 0 до 5 % |
от 0 до 1 % включ. |
±4 % |
- |
|
св. 1 до 5 % |
- |
±4 % | |||
|
от 0 до 10 % |
от 0 до 5 % включ. |
±3 % |
- | ||
|
св. 5 до 10 % |
- |
±3 % | |||
|
от 0 до 50 % |
от 0 до 10 % включ. |
±3 % |
- | ||
|
св. 10 до 50 % |
- |
±3 % | |||
|
от 0 до 100 % |
от 0 до 50 % включ. |
±3 % |
- | ||
|
св. 50 до 100 % |
- |
±3 % | |||
|
от 90 до 100 % |
от 90 до 100 % |
±3 %3) |
- | ||
|
от 95 до 100 % |
от 95 до 100 % |
±3 %3) |
- | ||
|
Диоксид углерода СО2 |
ИК спектрометрия с перестраиваемым диодным лазером |
от 0 до 100 млн-1 |
от 0 до 10 млн-1 включ. |
±6 % |
- |
|
св. 10 до 100 млн-1 |
- |
±6 % | |||
|
от 0 до 1000 млн 1 |
от 0 до 100 млн-1 включ. |
±5 % |
- | ||
|
св. 100 до 1000 -1 млн |
- |
±5 % | |||
|
от 0 до 5000 млн 1 |
от 0 до 1000 млн-1 включ. |
±5 % |
- | ||
|
св. 1000 до 5000 -1 млн |
- |
±5 % | |||
|
от 0 до 50 % |
от 0 до 0,5 % включ. |
±3 % |
- | ||
|
св. 0,5 до 50 % |
- |
±3 % | |||
|
от 0 до 100 % |
от 0 до 50 % включ. |
±2 % | |||
|
св. 50 до 100 % |
- |
±2 % | |||
|
Недисперсионная ИК фотометрия |
от 0 до 10 млн-1 |
от 0 до 10 млн-1 |
±5 % |
- | |
|
от 0 до 100 млн-1 |
от 0 до 50 млн-1 включ. |
±5 % |
- | ||
|
св. 50 до 100 млн-1 |
- |
±5 % | |||
|
Исполнение B | |||||
|
Определяемый компонент |
Метод анализа |
Диапазон измерений объемной доли определяемого компонента1) |
Участок диапазона, в котором нормируется погрешность |
Пределы допускаемой приведенной погрешности2) |
Пределы допускаемой относительной погрешности |
|
от 0 до 200 млн 1 |
от 0 до 100 млн-1 включ. |
±5 % |
- | ||
|
св. 100 до 200 -1 млн |
- |
±5 % | |||
|
от 0 до 500 млн 1 |
от 0 до 200 млн-1 включ. |
±5 % |
- | ||
|
св. 200 до 500 -1 млн |
- |
±5 % | |||
|
от 0 до 1000 млн 1 |
от 0 до 500 млн-1 включ. |
±5 % |
- | ||
|
св. 500 до 1000 -1 млн 1 |
- |
±5 % | |||
|
от 0 до 2000 млн 1 |
от 0 до 1000 млн-1 включ. |
±5 % |
- | ||
|
св. 1000 до 2000 -1 млн 1 |
- |
±5 % | |||
|
от 0 до 3000 млн 1 |
от 0 до 2000 млн-1 включ. |
±4 % |
- | ||
|
св. 2000 до 3000 -1 млн 1 |
- |
±4 % | |||
|
от 0 до 5000 млн 1 |
от 0 до 3000 млн-1 включ. |
±4 % |
- | ||
|
св. 3000 до 5000 -1 млн 1 |
- |
±4 % | |||
|
от 0 до 1 % |
от 0 до 0,5 % включ. |
±3 % |
- | ||
|
св. 0,5 до 1 % |
- |
±3 % | |||
|
от 0 до 2 % |
от 0 до 1 % включ. |
±3 % |
- | ||
|
св. 1 до 2 % |
- |
±3 % | |||
|
от 0 до 3 % |
от 0 до 2 % включ. |
±2 % |
- | ||
|
св. 2 до 3 % |
- |
±2 % | |||
|
от 0 до 4 % |
от 0 до 3 % включ. |
±2 % |
- | ||
|
св. 3 до 4 % |
- |
±2 % | |||
|
от 0 до 5 % |
от 0 до 4 % включ. |
±2 % |
- | ||
|
св. 4 до 5 % |
- |
±2 % | |||
|
от 0 до 10 % |
от 0 до 5 % включ. |
±2 % |
- | ||
|
св. 5 до 10 % |
- |
±2 % | |||
|
Исполнение B | |||||
|
Определяемый компонент |
Метод анализа |
Диапазон измерений объемной доли определяемого компонента1) |
Участок диапазона, в котором нормируется погрешность |
Пределы допускаемой приведенной погрешности2) |
Пределы допускаемой относительной погрешности |
|
от 0 до 20 % |
от 0 до 10 % включ. |
±2 % |
- | ||
|
св. 10 до 20 % |
- |
±2 % | |||
|
от 0 до 40 % |
от 0 до 20 % включ. |
±2 % |
- | ||
|
св. 20 до 40 % |
- |
±2 % | |||
|
от 0 до 50 % |
от 0 до 40 % включ. |
±2 % |
- | ||
|
св. 40 до 50 % |
- |
±2 % | |||
|
от 0 до 75 % |
от 0 до 50 % включ. |
±2 % |
- | ||
|
св. 50 до 75 % |
- |
±2 % | |||
|
от 0 до 100 % |
от 0 до 75 % включ. |
±2 % |
- | ||
|
св. 75 до 100 % |
- |
±2 % | |||
|
ИК спектрометрия с Фурье преобразованием |
от 0 до 5000 млн 1 |
от 0 до 200 млн-1 включ. |
±8 % |
- | |
|
св. 200 до 5000 -1 млн |
- |
±8 % | |||
|
от 0 до 20 % |
от 0 до 0,5 % включ. |
±5 % |
- | ||
|
св. 0,5 до 20 % |
- |
±5 % | |||
|
от 0 до 50 % |
от 0 до 20 % включ. |
±2 % |
- | ||
|
св. 20 до 50 % |
- |
±2 % | |||
|
от 0 до 100 % |
от 0 до 50 % включ. |
±2 % |
- | ||
|
св. 50 до 100 % |
- |
±2 % | |||
|
Оксид углерода СО |
ИК спектрометрия с перестраиваемым диодным лазером |
от 0 до 2 млн-1 |
от 0 до 2 млн-1 |
±8 % |
- |
|
от 0 до 50 млн-1 |
от 0 до 2 млн-1 включ. |
±8 % |
- | ||
|
св. 2 до 50 млн-1 |
- |
±8 % | |||
|
от 0 до 100 млн-1 |
от 0 до 50 млн-1 включ. |
±5 % |
- | ||
|
св. 50 до 100 млн-1 |
- |
±5 % | |||
|
от 0 до 500 млн 1 |
от 0 до 100 млн-1 включ. |
±5 % |
- | ||
|
св. 100 до 500 -1 млн |
- |
±5 % | |||
|
от 0 до 2000 млн-1 |
от 0 до 500 млн-1 включ. |
±5 % |
- | ||
|
Исполнение B | |||||
|
Определяемый компонент |
Метод анализа |
Диапазон измерений объемной доли определяемого компонента1) |
Участок диапазона, в котором нормируется погрешность |
Пределы допускаемой приведенной погрешности2) |
Пределы допускаемой относительной погрешности |
|
св. 500 до 2000 -1 млн |
- |
±5 % | |||
|
от 0 до 5000 млн 1 |
от 0 до 2000 млн-1 включ. |
±3 % |
- | ||
|
св. 2000 до 5000 -1 млн |
- |
±3 % | |||
|
от 0 до 5 % |
от 0 до 5000 млн-1 включ. |
±3 % |
- | ||
|
св. 0,5 до 5 % |
- |
±3 % | |||
|
от 0 до 20 % |
от 0 до 5 % включ. |
±2 % |
- | ||
|
св. 5 до 20 % |
- |
±2 % | |||
|
от 0 до 50 % |
от 0 до 20 % включ. |
±2 % |
- | ||
|
св. 20 до 50 % |
- |
±2 % | |||
|
от 0 до 100 % |
от 0 до 50 % включ. |
±2 % |
- | ||
|
св. 50 до 100 % |
- |
±2 % | |||
|
Недисперсионная ИК фотометрия |
от 0 до 50 млн-1 |
от 0 до 10 млн-1 включ. |
±8 % |
- | |
|
св. 10 до 50 млн-1 |
- |
±8 % | |||
|
от 0 до 100 млн-1 |
от 0 до 50 млн-1 включ. |
±5 % |
- | ||
|
св. 50 до 100 млн-1 |
- |
±5 % | |||
|
от 0 до 200 млн 1 |
от 0 до 100 млн-1 включ. |
±5 % |
- | ||
|
св. 100 до 200 -1 млн |
- |
±5 % | |||
|
от 0 до 500 млн 1 |
от 0 до 200 млн-1 включ. |
±5 % |
- | ||
|
св. 200 до 500 -1 млн 1 |
- |
±5 % | |||
|
от 0 до 1000 млн 1 |
от 0 до 500 млн-1 включ. |
±5 % |
- | ||
|
св. 500 до 1000 -1 млн |
- |
±5 % | |||
|
от 0 до 2000 млн 1 |
от 0 до 1000 млн-1 включ. |
±5 % |
- | ||
|
св. 1000 до 2000 „ -1 млн 1 |
- |
±5 % | |||
|
от 0 до 3000 млн-1 |
от 0 до 2000 млн-1 включ. |
±3 % |
- | ||
|
Исполнение B | |||||
|
Определяемый компонент |
Метод анализа |
Диапазон измерений объемной доли определяемого компонента1) |
Участок диапазона, в котором нормируется погрешность |
Пределы допускаемой приведенной погрешности2) |
Пределы допускаемой относительной погрешности |
|
св. 2000 до 3000 -1 млн |
- |
±3 % | |||
|
от 0 до 5000 млн 1 |
от 0 до 3000 млн-1 включ. |
±3 % |
- | ||
|
св. 3000 до 5000 -1 млн |
- |
±3 % | |||
|
от 0 до 1 % |
от 0 до 5000 млн-1 включ. |
±3 % |
- | ||
|
св. 0,5 до 1 % включ. |
- |
±3 % | |||
|
от 0 до 2 % |
от 0 до 1 % включ. |
±3 % |
- | ||
|
св. 1 до 2 % |
- |
±3 % | |||
|
от 0 до 3 % |
от 0 до 2 % включ. |
±3 % |
- | ||
|
св. 2 до 3 % |
- |
±3 % | |||
|
от 0 до 4 % |
от 0 до 3 % включ. |
±3 % |
- | ||
|
св. 3 до 4 % |
- |
±3 % | |||
|
от 0 до 5 % |
от 0 до 4 % включ. |
±3 % |
- | ||
|
св. 4 до 5 % |
- |
±3 % | |||
|
от 0 до 10 % |
от 0 до 5 % включ. |
±2 % |
- | ||
|
св. 5 до 10 % |
- |
±2 % | |||
|
от 0 до 20 % |
от 0 до 10 % включ. |
±2 % |
- | ||
|
св. 10 до 20 % |
- |
±2 % | |||
|
от 0 до 40 % |
от 0 до 20 % включ. |
±2 % |
- | ||
|
св. 20 до 40 % |
- |
±2 % | |||
|
от 0 до 50 % |
от 0 до 40 % включ. |
±2 % |
- | ||
|
св. 40 до 50 % |
- |
±2 % | |||
|
от 0 до 75 % |
от 0 до 50 % включ. |
±2 % |
- | ||
|
св. 50 до 75 % |
- |
±2 % | |||
|
от 0 до 100 % |
от 0 до 75 % включ. |
±2 % |
- | ||
|
св. 75 до 100 % |
- |
±2 % | |||
|
от 0 до 500 млн-1 |
от 0 до 50 млн-1 включ. |
±5 % |
- | ||
|
Исполнение B | |||||
|
Определяемый компонент |
Метод анализа |
Диапазон измерений объемной доли определяемого компонента1) |
Участок диапазона, в котором нормируется погрешность |
Пределы допускаемой приведенной погрешности2) |
Пределы допускаемой относительной погрешности |
|
ИК спектрометрия с Фурье преобразованием |
св. 50 до 500 млн-1 |
- |
±5 % | ||
|
от 0 до 1000 млн 1 |
от 0 до 500 млн-1 включ. |
±5 % |
- | ||
|
св. 500 до 1000 -1 млн 1 |
- |
±5 % | |||
|
от 0 до 5000 млн 1 |
от 0 до 1000 млн-1 включ. |
±5 % |
- | ||
|
св. 1000 до 5000 -1 млн 1 |
- |
±5 % | |||
|
от 0 до 5 % |
от 0 до 0,5 % включ. |
±3 % |
- | ||
|
св. 0,5 до 5 % |
- |
±3 % | |||
|
Сероводород H2S |
ИК спектрометрия с перестраиваемым диодным лазером |
от 0 до 100 млн-1 |
от 0 до 50 млн-1 включ. |
±5 % |
- |
|
св. 50 до 100 млн-1 |
- |
±5 % | |||
|
от 0 до 200 млн 1 |
от 0 до 100 млн-1 включ. |
±5 % |
- | ||
|
св. 100 до 200 -1 млн 1 |
- |
±5 % | |||
|
от 0 до 500 млн 1 |
от 0 до 200 млн-1 включ. |
±5 % |
- | ||
|
св. 200 до 500 -1 млн |
- |
±5 % | |||
|
от 0 до 1000 млн 1 |
от 0 до 500 млн-1 включ. |
±5 % |
- | ||
|
св. 500 до 1000 -1 млн 1 |
- |
±5 % | |||
|
от 0 до 2000 млн 1 |
от 0 до 1000 млн-1 включ. |
±5 % |
- | ||
|
св. 1000 до 2000 -1 млн 1 |
- |
±5 % | |||
|
от 0 до 1 % |
от 0 до 0,2 % включ. |
±3 % |
- | ||
|
св. 0,2 до 1 % |
- |
±3 % | |||
|
от 0 до 10 % |
от 0 до 1 % включ. |
±3 % |
- | ||
|
св. 1 до 10 % |
- |
±3 % | |||
|
от 0 до 50 % |
от 0 до 10 % включ. |
±3 % |
- | ||
|
св. 10 до 50 % |
- |
±3 % | |||
|
от 0 до 100 % |
от 0 до 50 % включ. |
±2 % |
- | ||
|
св. 50 до 100 % |
- |
±2 % | |||
|
Исполнение B | |||||
|
Определяемый компонент |
Метод анализа |
Диапазон измерений объемной доли определяемого компонента1) |
Участок диапазона, в котором нормируется погрешность |
Пределы допускаемой приведенной погрешности2) |
Пределы допускаемой относительной погрешности |
|
УФ спектрометрия |
от 0 до 1 млн-1 |
от 0 до 1 млн-1 |
±10 % |
- | |
|
от 0 до 30 млн-1 |
от 0 до 5 млн-1 включ. |
±8 % |
- | ||
|
св. 5 до 30 млн-1 |
- |
±8 % | |||
|
от 0 до 100 млн-1 |
от 0 до 30 млн-1 включ. |
±5 % |
- | ||
|
св. 30 до 100 млн-1 |
- |
±5 % | |||
|
от 0 до 1000 млн 1 |
от 0 до 100 млн-1 включ. |
±5 % |
- | ||
|
св. 100 до 1000 -1 млн |
- |
±5 % | |||
|
от 0 до 5000 млн 1 |
от 0 до 1000 млн-1 включ. |
±5 % |
- | ||
|
св. 1000 до 5000 -1 млн |
- |
±5 % | |||
|
от 0 до 30 % |
от 0 до 0,5 % включ. |
±3 % |
- | ||
|
св. 0,5 до 30 % |
- |
±3 % | |||
|
Электрохимический |
от 0 до 500 млн 1 |
от 0 до 100 млн-1 включ. |
±6 % |
- | |
|
св. 100 до 500 -1 млн |
- |
±6 % | |||
|
от 0 до 1000 млн 1 |
от 0 до 500 млн-1 включ. |
±5 % |
- | ||
|
св. 500 до 1000 -1 млн |
- |
±5 % | |||
|
от 0 до 2000 млн 1 |
от 0 до 1000 млн-1 включ. |
±5 % |
- | ||
|
св. 1000 до 2000 -1 млн |
- |
±5 % | |||
|
от 0 до 5000 млн 1 |
от 0 до 2000 млн-1 включ. |
±3 % |
- | ||
|
св. 2000 до 5000 -1 млн |
- |
±3 % | |||
|
от 0 до 1 % |
от 0 до 0,5 % включ. |
±3 % |
- | ||
|
св. 0,5 до 1 % |
- |
±3 % | |||
|
ИК спектрометрия с Фурье преобразованием |
от 0 до 100 % |
от 0 до 1000 млн-1 включ. |
±5 % |
- | |
|
св. 0,1 до 100 % |
- |
±5 % | |||
|
Исполнение B | |||||
|
Определяемый компонент |
Метод анализа |
Диапазон измерений объемной доли определяемого компонента1) |
Участок диапазона, в котором нормируется погрешность |
Пределы допускаемой приведенной погрешности2) |
Пределы допускаемой относительной погрешности |
|
Метан СН4 |
ИК спектрометрия с перестраиваемым диодным лазером |
от 0 до 20 млн-1 |
от 0 до 2 млн-1 включ. |
±8 % |
- |
|
св. 2 до 20 млн-1 |
- |
±8 % | |||
|
от 0 до 50 млн-1 |
от 0 до 20 млн-1 включ. |
±5 % |
- | ||
|
св. 20 до 50 млн-1 |
- |
±5 % | |||
|
от 0 до 100 млн-1 |
от 0 до 50 млн-1 включ. |
±5 % |
- | ||
|
св. 50 до 100 млн-1 |
- |
±5 % | |||
|
от 0 до 200 млн 1 |
от 0 до 100 млн-1 включ. |
±5 % |
- | ||
|
св. 100 до 200 -1 млн |
- |
±5 % | |||
|
от 0 до 500 млн 1 |
от 0 до 200 млн-1 включ. |
±5 % |
- | ||
|
св. 200 до 500 -1 млн |
- |
±5 % | |||
|
от 0 до 1000 млн 1 |
от 0 до 500 млн-1 включ. |
±5 % |
- | ||
|
св. 500 до 1000 -1 млн |
- |
±5 % | |||
|
от 0 до 5000 млн 1 |
от 0 до 1000 млн-1 включ. |
±5 % |
- | ||
|
св. 1000 до 5000 -1 млн 1 |
- |
±5 % | |||
|
от 0 до 2 % |
от 0 до 0,5 % включ. |
±3 % |
- | ||
|
св. 0,5 до 2 % |
- |
±3 % | |||
|
от 0 до 10 % |
от 0 до 2 % включ. |
±2 % |
- | ||
|
св. 2 до 10 % |
- |
±2 % | |||
|
от 0 до 20 % |
от 0 до 10 % включ. |
±2 % |
- | ||
|
св. 10 до 20 % |
- |
±2 % | |||
|
от 0 до 50 % |
от 0 до 20 % включ. |
±2 % |
- | ||
|
св. 20 до 50 % |
- |
±2 % | |||
|
от 0 до 100 % |
от 0 до 50 % включ. |
±2 % |
- | ||
|
св. 50 до 100 % |
- |
±2 % | |||
|
Недисперсионная ИК фотометрия |
от 0 до 500 млн-1 |
от 0 до 100 млн-1 включ. |
±6 % |
- | |
|
Исполнение B | |||||
|
Определяемый компонент |
Метод анализа |
Диапазон измерений объемной доли определяемого компонента1) |
Участок диапазона, в котором нормируется погрешность |
Пределы допускаемой приведенной погрешности2) |
Пределы допускаемой относительной погрешности |
|
св. 100 до 500 -1 млн |
- |
±6 % | |||
|
от 0 до 1000 млн 1 |
от 0 до 500 млн-1 включ. |
±5 % |
- | ||
|
св. 500 до 1000 -1 млн |
- |
±5 % | |||
|
от 0 до 2000 млн 1 |
от 0 до 1000 млн-1 включ. |
±5 % |
- | ||
|
св. 1000 до 2000 -1 млн |
- |
±5 % | |||
|
от 0 до 3000 млн 1 |
от 0 до 2000 млн-1 включ. |
±4 % |
- | ||
|
св. 2000 до 3000 -1 млн 1 |
- |
±4 % | |||
|
от 0 до 5000 млн 1 |
от 0 до 3000 млн-1 включ. |
±4 % |
- | ||
|
св. 3000 до 5000 -1 млн 1 |
- |
±4 % | |||
|
от 0 до 2 % |
от 0 до 5000 млн-1 включ. |
±3 % |
- | ||
|
св. 0,5 до 2 % |
- |
±3 % | |||
|
от 0 до 5 % |
от 0 до 2 % включ. |
±2 % |
- | ||
|
св. 2 до 5 % |
- |
±2 % | |||
|
от 0 до 10 % |
от 0 до 5 % включ. |
±2 % |
- | ||
|
св. 5 до 10 % |
- |
±2 % | |||
|
от 0 до 20 % |
от 0 до 10 % включ. |
±2 % |
- | ||
|
св. 10 до 20 % |
- |
±2 % | |||
|
от 0 до 40 % |
от 0 до 20 % включ. |
±2 % |
- | ||
|
св. 20 до 40 % |
- |
±2 % | |||
|
от 0 до 50 % |
от 0 до 40 % включ. |
±2 % |
- | ||
|
св. 40 до 50 % |
- |
±2 % | |||
|
от 0 до 75 % |
от 0 до 50 % включ. |
±2 % |
- | ||
|
св. 50 до 75 % |
- |
±2 % | |||
|
от 0 до 100 % |
от 0 до 75 % включ. |
±2 % |
- | ||
|
св. 75 до 100 % |
- |
±2 % | |||
|
Исполнение B | |||||
|
Определяемый компонент |
Метод анализа |
Диапазон измерений объемной доли определяемого компонента1) |
Участок диапазона, в котором нормируется погрешность |
Пределы допускаемой приведенной погрешности2) |
Пределы допускаемой относительной погрешности |
|
ИК фотометрия с Фурье преобразованием |
от 0 до 500 млн 1 |
от 0 до 100 млн-1 включ. |
±5 % |
- | |
|
св. 100 до 500 -1 млн |
- |
±5 % | |||
|
от 0 до 1500 млн 1 |
от 0 до 500 млн-1 включ. |
±5 % |
- | ||
|
св. 500 до 1500 -1 млн |
- |
±5 % | |||
|
от 0 до 5000 млн 1 |
от 0 до 1500 млн-1 включ. |
±5 % |
- | ||
|
св. 1500 до 5000 -1 млн 1 |
- |
±5 % | |||
|
от 0 до 5 % |
от 0 до 0,5 % включ. |
±3 % |
- | ||
|
св. 0,5 до 5 % |
- |
±3 % | |||
|
от 0 до 10 % |
от 0 до 5 % включ. |
±2 % |
- | ||
|
св. 5 до 10 % |
- |
±2 % | |||
|
от 0 до 20 % |
от 0 до 10 % включ. |
±2 % |
- | ||
|
св. 10 до 20 % |
- |
±2 % | |||
|
Оксид азота NO |
ИК спектрометрия с перестраиваемым диодным лазером |
от 0 до 100 млн-1 |
от 0 до 20 млн-1 включ. |
±5 % |
- |
|
св. 20 до 100 млн-1 |
- |
±5 % | |||
|
от 0 до 500 млн 1 |
от 0 до 100 млн-1 включ. |
±5 % |
- | ||
|
св. 100 до 500 -1 млн |
- |
±5 % | |||
|
от 0 до 1000 млн 1 |
от 0 до 500 млн-1 включ. |
±5 % |
- | ||
|
св. 500 до 1000 -1 млн |
- |
±5 % | |||
|
от 0 до 5000 млн 1 |
от 0 до 1000 млн-1 включ. |
±5 % |
- | ||
|
св. 1000 до 5000 -1 млн 1 |
- |
±5 % | |||
|
от 0 до 10000 млн-1 |
от 0 до 5000 млн-1 включ. |
±3 % |
- | ||
|
св. 5000 до 10000 „ -1 млн 1 |
- |
±3 % | |||
|
от 0 до 5 % |
от 0 до 1 % включ. |
±3 % |
- | ||
|
Исполнение B | |||||
|
Определяемый компонент |
Метод анализа |
Диапазон измерений объемной доли определяемого компонента1) |
Участок диапазона, в котором нормируется погрешность |
Пределы допускаемой приведенной погрешности2) |
Пределы допускаемой относительной погрешности |
|
св. 1 до 5 % |
- |
±3 % | |||
|
от 0 до 20 % |
от 0 до 5 % включ. |
±2 % |
- | ||
|
св. 5 до 20 % |
- |
±2 % | |||
|
от 0 до 100 % |
от 0 до 20 % включ. |
±2 % |
- | ||
|
св. 20 до 100 % |
- |
±2 % | |||
|
Недисперсионная ИК фотометрия |
от 0 до 200 млн 1 |
от 0 до 100 млн-1 включ. |
±5 % |
- | |
|
св. 100 до 200 -1 млн |
- |
±5 % | |||
|
от 0 до 500 млн 1 |
от 0 до 200 млн-1 включ. |
±5 % |
- | ||
|
св. 200 до 500 -1 млн |
- |
±5 % | |||
|
от 0 до 1000 млн 1 |
от 0 до 500 млн-1 включ. |
±5 % |
- | ||
|
св. 500 до 1000 -1 млн |
- |
±5 % | |||
|
от 0 до 2000 млн 1 |
от 0 до 1000 млн-1 включ. |
±5 % |
- | ||
|
св. 1000 до 2000 -1 млн 1 |
- |
±5 % | |||
|
от 0 до 3000 млн 1 |
от 0 до 2000 млн-1 включ. |
±3 % |
- | ||
|
св. 2000 до 3000 -1 млн 1 |
- |
±3 % | |||
|
от 0 до 5000 млн 1 |
от 0 до 3000 млн-1 включ. |
±3 % |
- | ||
|
св. 3000 до 5000 -1 млн 1 |
- |
±3 % | |||
|
от 0 до 1 % |
от 0 до 0,5 % включ. |
±3 % |
- | ||
|
св. 0,5 до 1 % |
- |
±3 % | |||
|
от 0 до 2 % |
от 0 до 1 % включ. |
±3 % |
- | ||
|
св. 1 до 2 % |
- |
±3 % | |||
|
от 0 до 3 % |
от 0 до 2 % включ. |
±2 % |
- | ||
|
св. 2 до 3 % |
- |
±2 % | |||
|
от 0 до 4 % |
от 0 до 3 % включ. |
±2 % |
- | ||
|
Исполнение B | |||||
|
Определяемый компонент |
Метод анализа |
Диапазон измерений объемной доли определяемого компонента1) |
Участок диапазона, в котором нормируется погрешность |
Пределы допускаемой приведенной погрешности2) |
Пределы допускаемой относительной погрешности |
|
св. 3 до 4 % |
- |
±2 % | |||
|
от 0 до 5 % |
от 0 до 4 % включ. |
±2 % |
- | ||
|
св. 4 до 5 % |
- |
±2 % | |||
|
ИК фотометрия с Фурье преобразованием |
от 0 до 100 млн-1 |
от 0 до 50 млн-1 включ. |
±5 % |
- | |
|
св. 50 до 100 млн-1 |
- |
±5 % | |||
|
от 0 до 500 млн 1 |
от 0 до 100 млн-1 включ. |
±5 % |
- | ||
|
св. 100 до 500 -1 млн |
- |
±5 % | |||
|
от 0 до 1000 млн 1 |
от 0 до 500 млн-1 включ. |
±5 % |
- | ||
|
св. 500 до 1000 -1 млн |
- |
±5 % | |||
|
от 0 до 5000 млн 1 |
от 0 до 1000 млн-1 включ. |
±5 % |
- | ||
|
св. 1000 до 5000 -1 млн |
- |
±5 % | |||
|
от 0 до 1 % |
от 0 до 0,5 % включ. |
±3 % |
- | ||
|
св. 0,5 до 1 % |
- |
±3 % | |||
|
УФ спектрометрия |
от 0 до 40 млн-1 |
от 0 до 20 млн-1 включ. |
±5 % |
- | |
|
св. 20 до 40 млн-1 |
- |
±5 % | |||
|
от 0 до 100 млн-1 |
от 0 до 40 млн-1 включ. |
±5 % |
- | ||
|
св. 40 до 100 млн-1 |
- |
±5 % | |||
|
от 0 до 150 млн 1 |
от 0 до 100 млн-1 включ. |
±5 % |
- | ||
|
св. 100 до 150 -1 млн 1 |
- |
±5 % | |||
|
от 0 до 800 млн 1 |
от 0 до 150 млн-1 включ. |
±5 % |
- | ||
|
св. 150 до 800 -1 млн |
- |
±5 % | |||
|
от 0 до 1500 млн 1 |
от 0 до 800 млн-1 включ. |
±5 % |
- | ||
|
св. 800 до 1500 „ -1 млн 1 |
- |
±5 % | |||
|
от 0 до 3000 млн-1 |
от 0 до 1500 млн-1 включ. |
±3 % |
- | ||
|
Исполнение B | |||||
|
Определяемый компонент |
Метод анализа |
Диапазон измерений объемной доли определяемого компонента1) |
Участок диапазона, в котором нормируется погрешность |
Пределы допускаемой приведенной погрешности2) |
Пределы допускаемой относительной погрешности |
|
св. 1500 до 3000 -1 млн |
- |
±3 % | |||
|
от 0 до 1 % |
от 0 до 0,3 % включ. |
±3 % |
- | ||
|
св. 0,3 до 1 % |
- |
±3 % | |||
|
от 0 до 100 % |
от 0 до 1 % включ. |
±3 % |
- | ||
|
св. 1 до 100 % |
- |
±3 % | |||
|
Диоксид азота NO2 |
ИК спектрометрия с перестраиваемым диодным лазером |
от 0 до 100 млн-1 |
от 0 до 20 млн-1 включ. |
±5 % |
- |
|
св. 20 до 100 млн-1 |
- |
±5 % | |||
|
от 0 до 500 млн 1 |
от 0 до 100 млн-1 включ. |
±5 % |
- | ||
|
св. 100 до 500 -1 млн |
- |
±5 % | |||
|
от 0 до 1500 млн 1 |
от 0 до 500 млн-1 включ. |
±5 % |
- | ||
|
св. 500 до 1500 -1 млн |
- |
±5 % | |||
|
от 0 до 5000 млн 1 |
от 0 до 1500 млн-1 включ. |
±3 % |
- | ||
|
св. 1500 до 5000 -1 млн 1 |
- |
±3 % | |||
|
УФ спектрометрия |
от 0 до 30 млн-1 |
от 0 до 20 млн-1 включ. |
±5 % |
- | |
|
св. 20 до 30 млн-1 |
- |
±5 % | |||
|
от 0 до 80 млн-1 |
от 0 до 30 млн-1 включ. |
±5 % |
- | ||
|
св. 30 до 80 млн-1 |
- |
±5 % | |||
|
от 0 до 200 млн-1 |
от 0 до 80 млн-1 включ. |
±5 % |
- | ||
|
св. 80 до 200 млн-1 |
- |
±5 % | |||
|
от 0 до 500 млн 1 |
от 0 до 200 млн-1 включ. |
±5 % |
- | ||
|
св. 200 до 500 -1 млн |
- |
±5 % | |||
|
от 0 до 1000 млн 1 |
от 0 до 500 млн-1 включ. |
±5 % |
- | ||
|
св. 500 до 1000 „ -1 млн 1 |
- |
±5 % | |||
|
от 0 до 5000 млн-1 |
от 0 до 1000 млн-1 включ. |
±5 % |
- | ||
|
Исполнение B | |||||
|
Определяемый компонент |
Метод анализа |
Диапазон измерений объемной доли определяемого компонента1) |
Участок диапазона, в котором нормируется погрешность |
Пределы допускаемой приведенной погрешности2) |
Пределы допускаемой относительной погрешности |
|
св. 1000 до 5000 -1 млн |
- |
±5 % | |||
|
от 0 до 1 % |
от 0 до 0,5 % включ. |
±3 % |
- | ||
|
св. 0,5 до 1 % |
- |
±3 % | |||
|
от 0 до 3 % |
от 0 до 1 % включ. |
±3 % |
- | ||
|
св. 1 до 3 % |
- |
±3 % | |||
|
Недисперсионная УФ спектрометрия |
от 0 до 200 млн-1 |
от 0 до 80 млн-1 включ. |
±5 % |
- | |
|
св. 80 до 200 млн-1 |
- |
±5 % | |||
|
от 0 до 500 млн 1 |
от 0 до 200 млн-1 включ. |
±5 % |
- | ||
|
св. 200 до 500 -1 млн |
- |
±5 % | |||
|
ИК фотометрия с Фурье преобразованием |
от 0 до 500 млн 1 |
от 0 до 200 млн-1 включ. |
±5 % |
- | |
|
св. 200 до 500 -1 млн |
- |
±5 % | |||
|
от 0 до 1500 млн 1 |
от 0 до 500 млн-1 включ. |
±5 % |
- | ||
|
св. 500 до 1500 -1 млн 1 |
- |
±5 % | |||
|
от 0 до 3000 млн 1 |
от 0 до 1500 млн-1 включ. |
±3 % |
- | ||
|
св. 1500 до 3000 -1 млн 1 |
- |
±3 % | |||
|
от 0 до 1 % |
от 0 до 0,3 % включ. |
±3 % |
- | ||
|
св. 0,3 до 1 % |
- |
±3 % | |||
|
Канал NOx |
ИК спектрометрия (с настройкой по NO), УФ спектрометрия (с настройкой по NO2) |
от 0 до 100 млн-1 |
от 0 до 15 млн-1 включ. |
±5 % |
- |
|
св. 15 до 100 млн-1 |
- |
±5 % | |||
|
от 0 до 500 млн 1 |
от 0 до 100 млн-1 включ. |
±5 % |
- | ||
|
св. 100 до 500 -1 млн |
- |
±5 % | |||
|
от 0 до 1000 млн 1 |
от 0 до 500 млн-1 включ. |
±5 % |
- | ||
|
св. 500 до 1000 -1 млн |
- |
±5 % | |||
|
Исполнение B | |||||
|
Определяемый компонент |
Метод анализа |
Диапазон измерений объемной доли определяемого компонента1) |
Участок диапазона, в котором нормируется погрешность |
Пределы допускаемой приведенной погрешности2) |
Пределы допускаемой относительной погрешности |
|
от 0 до 4000 млн 1 |
от 0 до 1000 млн-1 включ. |
±3 % |
- | ||
|
св. 1000 до 4000 -1 млн |
- |
±3 % | |||
|
Кислород O2 |
ИК спектрометрия с перестраиваемым диодным лазером |
от 0 до 1 % |
от 0 до 0,1 % включ. |
±5 % |
- |
|
св. 0,1 до 1 % |
- |
±5 % | |||
|
от 0 до 5 % |
от 0 до 1 % включ. |
±3 % |
- | ||
|
св. 1 до 5 % |
- |
±3 % | |||
|
от 0 до 10 % |
от 0 до 5 % включ. |
±2 % |
- | ||
|
св. 5 до 10 % |
- |
±2 % | |||
|
от 0 до 100 % |
от 0 до 10 % включ. |
±2 % |
- | ||
|
св. 10 до 100 % |
- |
±2 % | |||
|
Электрохимический |
от 0 до 10 млн-1 |
от 0 до 5 млн-1 включ. |
±8 % |
- | |
|
св. 5 до 10 млн-1 |
- |
±8 % | |||
|
от 0 до 100 млн-1 |
от 0 до 10 млн-1 включ. |
±8 % |
- | ||
|
св. 10 до 100 млн-1 |
- |
±8 % | |||
|
от 0 до 500 млн 1 |
от 0 до 100 млн-1 включ. |
±5 % |
- | ||
|
св. 100 до 500 -1 млн |
- |
±5 % | |||
|
от 0 до 10000 млн 1 |
от 0 до 500 млн-1 включ. |
±5 % |
- | ||
|
св. 500 до 10000 -1 млн |
- |
±5 % | |||
|
от 0 до 5 % |
от 0 до 1 % включ. |
±4 % |
- | ||
|
св. 1 до 5 % |
- |
±4 % | |||
|
от 0 до 25 % |
от 0 до 5 % включ. |
±2 % |
- | ||
|
св. 5 до 25 % |
- |
±2 % | |||
|
от 0 до 40 % |
от 0 до 25 % включ. |
±2 % |
- | ||
|
св. 25 до 40 % |
- |
±2 % | |||
|
Парамагнитный |
от 0 до 5 % |
от 0 до 1 % включ. |
±4 % |
- | |
|
св. 1 до 5 % |
- |
±4 % | |||
|
Исполнение B | |||||
|
Определяемый компонент |
Метод анализа |
Диапазон измерений объемной доли определяемого компонента1) |
Участок диапазона, в котором нормируется погрешность |
Пределы допускаемой приведенной погрешности2) |
Пределы допускаемой относительной погрешности |
|
от 0 до 10 % |
от 0 до 5 % включ. |
±2 % |
- | ||
|
св. 5 до 10 % |
- |
±2 % | |||
|
от 0 до 25 % |
от 0 до 10 % включ. |
±2 % |
- | ||
|
св. 10 до 25 % |
- |
±2 % | |||
|
от 0 до 100 % |
от 0 до 25 % включ. |
±2 % |
- | ||
|
св. 25 до 100 % |
- |
±2 % | |||
|
Диоксид серы SO2 |
ИК спектрометрия с перестраиваемым диодным лазером |
от 0 до 50 млн-1 |
от 0 до 15 млн-1 включ. |
±5 % |
- |
|
св. 15 до 50 млн-1 |
- |
±5 % | |||
|
от 0 до 100 млн-1 |
от 0 до 50 млн-1 включ. |
±5 % |
- | ||
|
св. 50 до 100 млн-1 |
- |
±5 % | |||
|
от 0 до 500 млн 1 |
от 0 до 100 млн-1 включ. |
±5 % |
- | ||
|
св. 100 до 500 -1 млн |
- |
±5 % | |||
|
от 0 до 1500 млн 1 |
от 0 до 500 млн-1 включ. |
±5 % |
- | ||
|
св. 500 до 1500 -1 млн 1 |
- |
±5 % | |||
|
от 0 до 5000 млн 1 |
от 0 до 1500 млн-1 включ. |
±4 % |
- | ||
|
св. 1500 до 5000 -1 млн 1 |
- |
±4 % | |||
|
от 0 до 1 % |
от 0 до 0,5 % включ. |
±4 % |
- | ||
|
св. 0,5 до 1 % |
- |
±4 % | |||
|
от 0 до 5 % |
от 0 до 1 % включ. |
±3 % |
- | ||
|
св. 1 до 5 % |
- |
±3 % | |||
|
от 0 до 15 % |
от 0 до 5 % включ. |
±3 % |
- | ||
|
св. 5 до 15 % |
- |
±3 % | |||
|
от 0 до 50 % |
от 0 до 15 % включ. |
±2 % |
- | ||
|
св. 15 до 50 % |
- |
±2 % | |||
|
от 0 до 100 % |
от 0 до 50 % включ. |
±2 % |
- | ||
|
св. 50 до 100 % |
- |
±2 % | |||
|
Исполнение B | |||||
|
Определяемый компонент |
Метод анализа |
Диапазон измерений объемной доли определяемого компонента1) |
Участок диапазона, в котором нормируется погрешность |
Пределы допускаемой приведенной погрешности2) |
Пределы допускаемой относительной погрешности |
|
УФ спектрометрия |
от 0 до 500 млн-1 |
от 0 до 10 млн-1 включ. |
±8 % |
- | |
|
св. 10 до 500 млн-1 |
- |
±8 % | |||
|
от 0 до 3000 млн 1 |
от 0 до 500 млн-1 включ. |
±5 % |
- | ||
|
св. 500 до 3000 -1 млн 1 |
- |
±5 % | |||
|
от 0 до 100 % |
от 0 до 0,3 % включ. |
±4 % |
- | ||
|
св. 0,3 до 100 % |
- |
±4 % | |||
|
Недисперсионная ИК фотометрия |
от 0 до 200 млн-1 |
от 0 до 50 млн-1 включ. |
±5 % |
- | |
|
св. 50 до 200 млн-1 |
- |
±5 % | |||
|
от 0 до 500 млн 1 |
от 0 до 200 млн-1 включ. |
±5 % |
- | ||
|
св. 200 до 500 -1 млн |
- |
±5 % | |||
|
от 0 до 1000 млн 1 |
от 0 до 500 млн-1 включ. |
±5 % |
- | ||
|
св. 500 до 1000 -1 млн |
- |
±5 % | |||
|
от 0 до 5000 млн 1 |
от 0 до 1000 млн-1 включ. |
±5 % |
- | ||
|
св. 1000 до 5000 -1 млн 1 |
- |
±5 % | |||
|
от 0 до 1 % |
от 0 до 0,5 % включ. |
±3 % |
- | ||
|
св. 0,5 до 1 % включ. |
- |
±3 % | |||
|
от 0 до 5 % |
от 0 до 1 % включ. |
±3 % |
- | ||
|
св. 1 до 5 % |
- |
±3 % | |||
|
ИК фотометрия с Фурье преобразованием |
от 0 до 3000 млн 1 |
от 0 до 100 млн-1 включ. |
±5 % |
- | |
|
св. 100 до 3000 -1 млн 1 |
- |
±5 % | |||
|
Вода Н2О |
ИК спектрометрия с перестраиваемым диодным лазером |
от 0 до 5 % |
от 0 до 0,1 % включ. |
±6 % |
- |
|
св. 0,1 до 5 % |
- |
±6 % | |||
|
от 0 до 20 % |
от 0 до 5 % включ. |
±4 % |
- | ||
|
св. 5 до 20 % |
- |
±4 % | |||
|
Исполнение B | |||||
|
Определяемый компонент |
Метод анализа |
Диапазон измерений объемной доли определяемого компонента1) |
Участок диапазона, в котором нормируется погрешность |
Пределы допускаемой приведенной погрешности2) |
Пределы допускаемой относительной погрешности |
|
от 0 до 40 % |
от 0 до 20 % включ. |
±4 % |
- | ||
|
св. 20 до 40 % |
- |
±4 % | |||
|
ИК фотометрия с Фурье преобразованием |
от 0 до 100 млн-1 |
от 0 до 25 млн-1 включ. |
±8 % |
- | |
|
св. 25 до 100 млн-1 |
- |
±8 % | |||
|
от 0 до 1000 млн 1 |
от 0 до 100 млн-1 включ. |
±6 % |
- | ||
|
св. 100 до 1000 -1 млн 1 |
- |
±6 % | |||
|
от 0 до 15 % |
от 0 до 0,1 % включ. |
±5 % |
- | ||
|
св. 0,1 до 15 % |
- |
±5 % | |||
|
от 0 до 40 % |
от 0 до 15 % включ. |
±4 % |
- | ||
|
св. 15 до 40 % |
- |
±4 % | |||
|
Хлороводород HCl |
ИК спектрометрия с перестраиваемым диодным лазером |
от 0 до 50 млн-1 |
от 0 до 2 млн-1 включ. |
±8 % |
- |
|
св. 2 до 50 млн-1 |
- |
±8 % | |||
|
от 0 до 300 млн-1 |
от 0 до 50 млн-1 включ. |
±5 % |
- | ||
|
св. 50 до 300 млн-1 |
- |
±5 % | |||
|
от 0 до 1000 млн 1 |
от 0 до 300 млн-1 включ. |
±5 % |
- | ||
|
св. 300 до 1000 -1 млн |
- |
±5 % | |||
|
от 0 до 100 % |
от 0 до 0,1 % включ. |
±5 % |
- | ||
|
св. 0,1 до 100 % |
- |
±5 % | |||
|
ИК фотометрия с Фурье преобразованием |
от 0 до 200 млн 1 |
от 0 до 100 млн-1 включ. |
±8 % |
- | |
|
св. 100 до 200 -1 млн |
- |
±8 % | |||
|
от 0 до 1000 млн 1 |
от 0 до 200 млн-1 включ. |
±8 % |
- | ||
|
св. 200 до 1000 -1 млн |
- |
±8 % | |||
|
от 0 до 1 % |
от 0 до 0,1 % включ. |
±8 % |
- | ||
|
св. 0,1 до 1 % |
- |
±8 % | |||
|
Исполнение B | |||||
|
Определяемый компонент |
Метод анализа |
Диапазон измерений объемной доли определяемого компонента1) |
Участок диапазона, в котором нормируется погрешность |
Пределы допускаемой приведенной погрешности2) |
Пределы допускаемой относительной погрешности |
|
Фтороводород HF |
ИК спектрометрия с перестраиваемым диодным лазером |
от 0 до 150 млн-1 |
от 0 до 10 млн-1 включ. |
±8 % |
- |
|
св. 10 до 150 млн-1 |
- |
±8 % | |||
|
от 0 до 10000 млн-1 |
от 0 до 150 млн-1 включ. |
±6 % |
- | ||
|
св. 150 до 10000 -1 млн 1 |
- |
±6 % | |||
|
ИК фотометрия с Фурье преобразованием |
от 0 до 150 млн 1 |
от 0 до 100 млн-1 включ. |
±8 % |
- | |
|
св. 100 до 150 -1 млн |
- |
±8 % | |||
|
от 0 до 10000 млн-1 |
от 0 до 150 млн-1 включ. |
±6 % |
- | ||
|
св. 150 до 10000 -1 млн |
- |
±6 % | |||
|
Этан С2Н6 |
Недисперсионная ИК фотометрия |
от 0 до 5 % |
от 0 до 1 % включ. |
±5 % |
- |
|
св. 1 до 5 % |
- |
±5 % | |||
|
от 0 до 10 % |
от 0 до 5 % включ. |
±3 % |
- | ||
|
св. 5 до 10 % |
- |
±3 % | |||
|
от 0 до 20 % |
от 0 до 10 % включ. |
±3 % |
- | ||
|
св. 10 до 20 % |
- |
±3 % | |||
|
Этилен С2Н4 |
ИК спектрометрия с перестраиваемым диодным лазером |
от 0 до 100 млн-1 |
от 0 до 25 млн-1 включ. |
±8 % |
- |
|
св. 25 до 100 млн-1 |
- |
±8 % | |||
|
от 0 до 5000 млн 1 |
от 0 до 100 млн-1 включ. |
±6 % |
- | ||
|
св. 100 до 5000 -1 млн 1 |
- |
±6 % | |||
|
от 0 до 10 % |
от 0 до 0,5 % включ. |
±4 % |
- | ||
|
св. 0,5 до 10 % |
- |
±4 % | |||
|
от 0 до 30 % |
от 0 до 10 % включ. |
±3 % |
- | ||
|
св. 10 до 30 % |
- |
±3 % | |||
|
от 0 до 100 % |
от 0 до 30 % включ. |
±2 % |
- | ||
|
св. 30 до 100 % |
- |
±2 % | |||
|
Недисперсионная ИК фотометрия |
от 0 до 5 % |
от 0 до 1 % включ. |
±5 % |
- | |
|
Исполнение B | |||||
|
Определяемый компонент |
Метод анализа |
Диапазон измерений объемной доли определяемого компонента1) |
Участок диапазона, в котором нормируется погрешность |
Пределы допускаемой приведенной погрешности2) |
Пределы допускаемой относительной погрешности |
|
св. 1 до 5 % |
- |
±5 % | |||
|
от 0 до 10 % |
от 0 до 5 % включ. |
±3 % |
- | ||
|
св. 5 до 10 % |
- |
±3 % | |||
|
ИК фотометрия с Фурье преобразованием |
от 0 до 800 млн 1 |
от 0 до 200 млн-1 включ. |
±8 % |
- | |
|
св. 200 до 800 -1 млн |
- |
±8 % | |||
|
Ацетилен С2Н2 |
ИК спектрометрия с перестраиваемым диодным лазером |
от 0 до 50 млн-1 |
от 0 до 1 млн-1 включ. |
±12 % |
- |
|
св. 1 до 50 млн-1 |
- |
±12 % | |||
|
от 0 до 5000 млн 1 |
от 0 до 50 млн-1 включ. |
±8 % |
- | ||
|
св. 50 до 5000 -1 млн |
- |
±8 % | |||
|
от 0 до 2 % |
от 0 до 0,5 % включ. |
±4 % |
- | ||
|
св. 0,5 до 2 % |
- |
±4 % | |||
|
от 0 до 12 % |
от 0 до 2 % включ. |
±3 % |
- | ||
|
св. 2 до 12 % |
- |
±3 % | |||
|
Недисперсионная ИК фотометрия |
от 0 до 5 % |
от 0 до 1 % включ. |
±3 % |
- | |
|
св. 1 до 5 % |
- |
±3 % | |||
|
Оксид азота (I) N2O |
ИК спектрометрия с перестраиваемым диодным лазером |
от 0 до 50 млн-1 |
от 0 до 1 млн-1 включ. |
±10 % |
- |
|
св. 1 до 50 млн-1 |
- |
±10 % | |||
|
от 0 до 100 млн-1 |
от 0 до 50 млн-1 включ. |
±6 % |
- | ||
|
св. 50 до 100 млн-1 |
- |
±6 % | |||
|
от 0 до 2000 млн 1 |
от 0 до 100 млн-1 включ. |
±5 % |
- | ||
|
св. 100 до 2000 -1 млн 1 |
- |
±5 % | |||
|
от 0 до 1 % |
от 0 до 0,2 % включ. |
±3 % |
- | ||
|
св. 0,2 до 1 % |
- |
±3 % | |||
|
от 0 до 5 % |
от 0 до 1 % включ. |
±3 % |
- | ||
|
св. 1 до 5 % |
- |
±3 % | |||
|
от 0 до 25 % |
от 0 до 5 % включ. |
±3 % |
- | ||
|
Исполнение B | |||||
|
Определяемый компонент |
Метод анализа |
Диапазон измерений объемной доли определяемого компонента1) |
Участок диапазона, в котором нормируется погрешность |
Пределы допускаемой приведенной погрешности2) |
Пределы допускаемой относительной погрешности |
|
св. 5 до 25 % |
- |
±3 % | |||
|
от 0 до 100 % |
от 0 до 25 % включ. |
±3 % |
- | ||
|
св. 25 до 100 % |
- |
±3 % | |||
|
Недисперсионная ИК фотометрия |
от 0 до 100 млн-1 |
от 0 до 50 млн-1 включ. |
±6 % |
- | |
|
св. 50 до 100 млн-1 |
- |
±6 % | |||
|
от 0 до 500 млн 1 |
от 0 до 100 млн-1 включ. |
±6 % |
- | ||
|
св. 100 до 500 -1 млн |
- |
±6 % | |||
|
от 0 до 1000 млн 1 |
от 0 до 500 млн-1 включ. |
±5 % |
- | ||
|
св. 500 до 1000 -1 млн |
- |
±5 % | |||
|
ИК фотометрия с Фурье преобразованием |
от 0 до 200 млн-1 |
от 0 до 50 млн-1 включ. |
±5 % |
- | |
|
св. 50 до 200 млн-1 |
- |
±5 % | |||
|
от 0 до 1000 млн 1 |
от 0 до 200 млн-1 включ. |
±5 % |
- | ||
|
св. 200 до 1000 -1 млн |
- |
±5 % | |||
|
от 0 до 10 % |
от 0 до 0,1 % включ. |
±5 % |
- | ||
|
св. 0,1 до 10 % |
- |
±5 % | |||
|
Хлор CI2 |
УФ спектрометрия |
от 0 до 500 млн 1 |
от 0 до 100 млн-1 включ. |
±7 % |
- |
|
св. 100 до 500 -1 млн 1 |
- |
±7 % | |||
|
от 0 до 1000 млн 1 |
от 0 до 500 млн-1 включ. |
±5 % |
- | ||
|
св. 500 до 1000 -1 млн 1 |
- |
±5 % | |||
|
от 0 до 1 % |
от 0 до 0,1 % включ. |
±5 % |
- | ||
|
св. 0,1 до 1 % |
- |
±5 % | |||
|
от 0 до 5 % |
от 0 до 1 % включ. |
±3 % |
- | ||
|
св. 1 до 5 % |
- |
±3 % | |||
|
от 0 до 20 % |
от 0 до 5 % включ. |
±3 % |
- | ||
|
св. 5 до 20 % |
- |
±3 % | |||
|
Исполнение B | |||||
|
Определяемый компонент |
Метод анализа |
Диапазон измерений объемной доли определяемого компонента1) |
Участок диапазона, в котором нормируется погрешность |
Пределы допускаемой приведенной погрешности2) |
Пределы допускаемой относительной погрешности |
|
от 0 до 100 % |
от 0 до 20 % включ. |
±3 % |
- | ||
|
св. 20 до 100 % |
- |
±3 % | |||
|
Сумма углеводородов CnHm (по СзН8) |
Недисперсионная ИК фотометрия |
от 0 до 5 % |
от 0 до 0,5 % включ. |
±4 % |
- |
|
св. 0,5 до 5 % |
- |
±4 % | |||
|
от 0 до 20 % |
от 0 до 5 % включ. |
±3 % |
- | ||
|
св. 5 до 20 % |
- |
±3 % | |||
|
от 0 до 50 % |
от 0 до 20 % включ. |
±3 % |
- | ||
|
св. 20 до 50 % |
- |
±3 % | |||
|
Пропан СзН8 |
ИК спектрометрия с перестраиваемым диодным лазером |
от 0 до 50 млн-1 |
от 0 до 1 млн-1 включ. |
±12 % |
- |
|
св. 1 до 50 млн-1 |
- |
±12 % | |||
|
от 0 до 1000 млн 1 |
от 0 до 50 млн-1 включ. |
±8 % |
- | ||
|
св. 50 до 1000 -1 млн 1 |
- |
±8 % | |||
|
от 0 до 5000 млн 1 |
от 0 до 1000 млн-1 включ. |
±4 % |
- | ||
|
св. 1000 до 5000 -1 млн 1 |
- |
±4 % | |||
|
от 0 до 10 % |
от 0 до 0,5 % включ. |
±3 % |
- | ||
|
св. 0,5 до 10 % |
- |
±3 % | |||
|
от 0 до 30 % |
от 0 до 10 % включ. |
±2 % |
- | ||
|
св. 10 до 30 % |
- |
±2 % | |||
|
от 0 до 100 % |
от 0 до 30 % включ. |
±2 % |
- | ||
|
св. 30 до 100 % |
- |
±2 % | |||
|
Формальдегид НСНО |
ИК спектрометрия с перестраиваемым диодным лазером |
от 0 до 10 млн-1 |
от 0 до 10 млн-1 |
±8 % |
- |
|
от 0 до 50 млн-1 |
от 0 до 10 млн-1 включ. |
±5 % |
- | ||
|
св. 10 до 50 млн-1 |
- |
±5 % | |||
|
Аргон Ar |
Термокондуктометрический |
от 0 до 50 % |
от 0 до 10 % включ. |
±5 % |
- |
|
св. 10 до 50 % |
- |
±5 % | |||
|
от 0 до 100 % |
от 0 до 50 % включ. |
±3 % |
- | ||
|
Исполнение B | |||||
|
Определяемый компонент |
Метод анализа |
Диапазон измерений объемной доли определяемого компонента1) |
Участок диапазона, в котором нормируется погрешность |
Пределы допускаемой приведенной погрешности2) |
Пределы допускаемой относительной погрешности |
|
св. 50 до 100 % |
- |
±3 % | |||
|
Гелий Не |
Термокондуктометрический |
от 0 до 5 % |
от 0 до 2 % включ. |
±5 % |
- |
|
св. 2 до 5 % |
- |
±5 % | |||
|
от 0 до 10 % |
от 0 до 5 % включ. |
±5 % |
- | ||
|
св. 5 до 10 % |
- |
±5 % | |||
|
от 0 до 50 % |
от 0 до 10 % включ. |
±5 % |
- | ||
|
св. 10 до 50 % |
- |
±5 % | |||
|
от 0 до 100 % |
от 0 до 50 % включ. |
±2 % |
- | ||
|
св. 50 до 100 % |
- |
±2 % | |||
|
1) Диапазоны измерений и определяемые компоненты определяются при заказе; фактическое значение верхнего предела измерений приводится в паспорте и может быть отличным от указанных в таблице, при условии, что его значение входит в диапазон измерений, для которого в таблице нормированы пределы допускаемой погрешности. Вне зависимости от фактического верхнего предела диапазона измерений, указанного в паспорте, нормирующим значением погрешности является значение верхнего предела наименьшего участка диапазона, в который входит фактический верхний предел диапазона измерений. 2) Приведена к нормирующему значению - верхнему пределу участка диапазона измерений. 3) Нормирующее значение - разность между верхним и нижним пределами участка диапазона измерений. | |||||
Таблица 4 - Метрологические характеристики для газоанализаторов с измерительными модулями исполнения А
|
Исполнение А | |||||
|
Определяемый компонент |
Метод анализа |
Диапазон измерений объемной доли определяемого компонента1) |
Участок диапазона, в котором нормируется погрешность |
Пределы допускаемой приведенной погрешности2) |
Пределы допускаемой относительной погрешности |
|
Аммиак NH3 |
ИК спектрометрия с перестраиваемым диодным лазером |
от 0 до 5 млн-1 |
от 0 до 2 млн-1 включ. |
±6 % |
- |
|
св. 2 до 5 млн-1 |
- |
±6 % | |||
|
от 0 до 10 млн-1 |
от 0 до 5 млн-1 включ. |
±4 % |
- | ||
|
св. 5 до 10 млн-1 |
- |
±4 % | |||
|
Исполнение А | |||||
|
Определяемый компонент |
Метод анализа |
Диапазон измерений объемной доли определяемого компонента1) |
Участок диапазона, в котором нормируется погрешность |
Пределы допускаемой приведенной погрешности2) |
Пределы допускаемой относительной погрешности |
|
от 0 до 50 млн-1 |
от 0 до 10 млн-1 включ. |
±3 % |
- | ||
|
св. 10 до 50 млн-1 |
- |
±3 % | |||
|
от 0 до 100 млн-1 |
от 0 до 50 млн-1 включ. |
±3 % |
- | ||
|
св. 50 до 100 млн-1 |
- |
±3 % | |||
|
от 0 до 200 млн 1 |
от 0 до 100 млн-1 включ. |
±3 % |
- | ||
|
св. 100 до 200 -1 млн 1 |
- |
±3 % | |||
|
от 0 до 500 млн 1 |
от 0 до 200 млн-1 включ. |
±3 % |
- | ||
|
св. 200 до 500 -1 млн 1 |
- |
±3 % | |||
|
от 0 до 1000 млн 1 |
от 0 до 500 млн-1 включ. |
±3 % |
- | ||
|
св. 500 до 1000 -1 млн 1 |
- |
±3 % | |||
|
от 0 до 1 % |
от 0 до 0,1 % включ. |
±3 % |
- | ||
|
св. 0,1 до 1 % |
- |
±3 % | |||
|
от 0 до 10 % |
от 0 до 1 % включ. |
±2 % |
- | ||
|
св. 1 до 10 % |
- |
±2 % | |||
|
от 0 до 50 % |
от 0 до 10 % включ. |
±2 % |
- | ||
|
св. 10 до 50 % |
- |
±2 % | |||
|
от 0 до 100 % |
от 0 до 50 % включ. |
±2 % |
- | ||
|
св. 50 до 100 % |
- |
±2 % | |||
|
ИК спектрометрия с Фурье преобразованием |
от 0 до 500 млн-1 |
от 0 до 50 млн-1 включ. |
±3 % |
- | |
|
св. 50 до 500 млн-1 |
- |
±3 % | |||
|
от 0 до 5000 млн 1 |
от 0 до 500 млн-1 включ. |
±3 % |
- | ||
|
св. 500 до 5000 -1 млн |
- |
±3 % | |||
|
от 0 до 100 % |
от 0 до 0,5 % включ. |
±2 % |
- | ||
|
св. 0,5 до 100 % |
- |
±2 % | |||
|
Исполнение А | |||||
|
Определяемый компонент |
Метод анализа |
Диапазон измерений объемной доли определяемого компонента1) |
Участок диапазона, в котором нормируется погрешность |
Пределы допускаемой приведенной погрешности2) |
Пределы допускаемой относительной погрешности |
|
Водород Н2 |
Термокондуктометрический |
от 0 до 5 % |
от 0 до 1 % включ. |
±3 % |
- |
|
св. 1 до 5 % |
- |
±3 % | |||
|
от 0 до 10 % |
от 0 до 5 % включ. |
±2 % |
- | ||
|
св. 5 до 10 % |
- |
±2 % | |||
|
от 0 до 50 % |
от 0 до 10 % включ. |
±2 % |
- | ||
|
св. 10 до 50 % |
- |
±2 % | |||
|
от 0 до 100 % |
от 0 до 50 % включ. |
±2 % |
- | ||
|
св. 50 до 100 % |
- |
±2 % | |||
|
от 90 до 100 % |
от 90 до 100 % |
±2 %3) |
- | ||
|
от 95 до 100 % |
от 95 до 100 % |
±2 %3) |
- | ||
|
Диоксид углерода СО2 |
ИК спектрометрия с перестраиваемым диодным лазером |
от 0 до 100 млн-1 |
от 0 до 10 млн-1 включ. |
±4 % |
- |
|
св. 10 до 100 млн-1 |
- |
±4 % | |||
|
от 0 до 1000 млн 1 |
от 0 до 100 млн-1 включ. |
±4 % |
- | ||
|
св. 100 до 1000 -1 млн 1 |
- |
±4 % | |||
|
от 0 до 5000 млн 1 |
от 0 до 1000 млн-1 включ. |
±3 % |
- | ||
|
св. 1000 до 5000 -1 млн 1 |
- |
±3 % | |||
|
от 0 до 50 % |
от 0 до 0,5 % включ. |
±2 % |
- | ||
|
св. 0,5 до 50 % |
- |
±2 % | |||
|
от 0 до 100 % |
от 0 до 50 % включ. |
±2 % | |||
|
св. 50 до 100 % |
- |
±2 % | |||
|
Недисперсионная ИК фотометрия |
от 0 до 10 млн-1 |
от 0 до 10 млн-1 |
±3 % |
- | |
|
от 0 до 100 млн-1 |
от 0 до 50 млн-1 включ. |
±3 % |
- | ||
|
св. 50 до 100 млн-1 |
- |
±3 % | |||
|
от 0 до 200 млн 1 |
от 0 до 100 млн-1 включ. |
±3 % |
- | ||
|
св. 100 до 200 -1 млн |
- |
±3 % | |||
|
от 0 до 500 млн-1 |
от 0 до 200 млн-1 включ. |
±3 % |
- | ||
|
Исполнение А | |||||
|
Определяемый компонент |
Метод анализа |
Диапазон измерений объемной доли определяемого компонента1) |
Участок диапазона, в котором нормируется погрешность |
Пределы допускаемой приведенной погрешности2) |
Пределы допускаемой относительной погрешности |
|
св. 200 до 500 -1 млн |
- |
±3 % | |||
|
от 0 до 1000 млн 1 |
от 0 до 500 млн-1 включ. |
±3 % |
- | ||
|
св. 500 до 1000 -1 млн |
- |
±3 % | |||
|
от 0 до 2000 млн 1 |
от 0 до 1000 млн-1 включ. |
±3 % |
- | ||
|
св. 1000 до 2000 -1 млн |
- |
±3 % | |||
|
от 0 до 3000 млн 1 |
от 0 до 2000 млн-1 включ. |
±2 % |
- | ||
|
св. 2000 до 3000 -1 млн 1 |
- |
±2 % | |||
|
от 0 до 5000 млн 1 |
от 0 до 3000 млн-1 включ. |
±2 % |
- | ||
|
св. 3000 до 5000 -1 млн 1 |
- |
±2 % | |||
|
от 0 до 1 % |
от 0 до 0,5 % включ. |
±2 % |
- | ||
|
св. 0,5 до 1 % |
- |
±2 % | |||
|
от 0 до 2 % |
от 0 до 1 % включ. |
±2 % |
- | ||
|
св. 1 до 2 % |
- |
±2 % | |||
|
от 0 до 3 % |
от 0 до 2 % включ. |
±2 % |
- | ||
|
св. 2 до 3 % |
- |
±2 % | |||
|
от 0 до 4 % |
от 0 до 3 % включ. |
±2 % |
- | ||
|
св. 3 до 4 % |
- |
±2 % | |||
|
от 0 до 5 % |
от 0 до 4 % включ. |
±2 % |
- | ||
|
св. 4 до 5 % |
- |
±2 % | |||
|
от 0 до 10 % |
от 0 до 5 % включ. |
±2 % |
- | ||
|
св. 5 до 10 % |
- |
±2 % | |||
|
от 0 до 20 % |
от 0 до 10 % включ. |
±2 % |
- | ||
|
св. 10 до 20 % |
- |
±2 % | |||
|
от 0 до 40 % |
от 0 до 20 % включ. |
±2 % |
- | ||
|
св. 20 до 40 % |
- |
±2 % | |||
|
Исполнение А | |||||
|
Определяемый компонент |
Метод анализа |
Диапазон измерений объемной доли определяемого компонента1) |
Участок диапазона, в котором нормируется погрешность |
Пределы допускаемой приведенной погрешности2) |
Пределы допускаемой относительной погрешности |
|
от 0 до 50 % |
от 0 до 40 % включ. |
±2 % |
- | ||
|
св. 40 до 50 % |
- |
±2 % | |||
|
от 0 до 75 % |
от 0 до 50 % включ. |
±2 % |
- | ||
|
св. 50 до 75 % |
- |
±2 % | |||
|
от 0 до 100 % |
от 0 до 75 % включ. |
±2 % |
- | ||
|
св. 75 до 100 % |
- |
±2 % | |||
|
ИК спектрометрия с Фурье преобразованием |
от 0 до 5000 млн 1 |
от 0 до 200 млн-1 включ. |
±5 % |
- | |
|
св. 200 до 5000 -1 млн |
- |
±5 % | |||
|
от 0 до 20 % |
от 0 до 0,5 % включ. |
±3 % |
- | ||
|
св. 0,5 до 20 % |
- |
±3 % | |||
|
от 0 до 50 % |
от 0 до 20 % включ. |
±2 % |
- | ||
|
св. 20 до 50 % |
- |
±2 % | |||
|
от 0 до 100 % |
от 0 до 50 % включ. |
±2 % |
- | ||
|
св. 50 до 100 % |
- |
±2 % | |||
|
Оксид углерода СО |
ИК спектрометрия с перестраиваемым диодным лазером |
от 0 до 2 млн-1 |
от 0 до 2 млн-1 |
±6 % |
- |
|
от 0 до 50 млн-1 |
от 0 до 10 млн-1 включ. |
±5 % |
- | ||
|
св. 10 до 50 млн-1 |
- |
±5 % | |||
|
от 0 до 100 млн-1 |
от 0 до 50 млн-1 включ. |
±3 % |
- | ||
|
св. 50 до 100 млн-1 |
- |
±3 % | |||
|
от 0 до 500 млн 1 |
от 0 до 100 млн-1 включ. |
±3 % |
- | ||
|
св. 100 до 500 -1 млн |
- |
±3 % | |||
|
от 0 до 2000 млн 1 |
от 0 до 500 млн-1 включ. |
±3 % |
- | ||
|
св. 500 до 2000 -1 млн |
- |
±3 % | |||
|
от 0 до 5000 млн 1 |
от 0 до 2000 млн-1 включ. |
±3 % |
- | ||
|
св. 2000 до 5000 -1 млн |
- |
±3 % | |||
|
Исполнение А | |||||
|
Определяемый компонент |
Метод анализа |
Диапазон измерений объемной доли определяемого компонента1) |
Участок диапазона, в котором нормируется погрешность |
Пределы допускаемой приведенной погрешности2) |
Пределы допускаемой относительной погрешности |
|
от 0 до 5 % |
от 0 до 0,5 % включ. |
±2 % |
- | ||
|
св. 0,5 до 5 % |
- |
±2 % | |||
|
от 0 до 20 % |
от 0 до 5 % включ. |
±2 % |
- | ||
|
св. 5 до 20 % |
- |
±2 % | |||
|
от 0 до 50 % |
от 0 до 20 % включ. |
±2 % |
- | ||
|
св. 20 до 50 % |
- |
±2 % | |||
|
от 0 до 100 % |
от 0 до 50 % включ. |
±2 % |
- | ||
|
св. 50 до 100 % |
- |
±2 % | |||
|
Недисперсионная ИК фотометрия |
от 0 до 50 млн-1 |
от 0 до 10 млн-1 включ. |
±4 % |
- | |
|
св. 10 до 50 млн-1 |
- |
±4 % | |||
|
от 0 до 100 млн-1 |
от 0 до 50 млн-1 включ. |
±3 % |
- | ||
|
св. 50 до 100 млн-1 |
- |
±3 % | |||
|
от 0 до 200 млн 1 |
от 0 до 100 млн-1 включ. |
±3 % |
- | ||
|
св. 100 до 200 -1 млн |
- |
±3 % | |||
|
от 0 до 500 млн 1 |
от 0 до 200 млн-1 включ. |
±3 % |
- | ||
|
св. 200 до 500 -1 млн |
- |
±3 % | |||
|
от 0 до 1000 млн 1 |
от 0 до 500 млн-1 включ. |
±2 % |
- | ||
|
св. 500 до 1000 -1 млн |
- |
±2 % | |||
|
от 0 до 2000 млн 1 |
от 0 до 1000 млн-1 включ. |
±2 % |
- | ||
|
св. 1000 до 2000 -1 млн 1 |
- |
±2 % | |||
|
от 0 до 3000 млн 1 |
от 0 до 2000 млн-1 включ. |
±2 % |
- | ||
|
св. 2000 до 3000 „ -1 млн 1 |
- |
±2 % | |||
|
от 0 до 5000 млн 1 |
от 0 до 3000 млн-1 включ. |
±2 % |
- | ||
|
св. 3000 до 5000 -1 млн 1 |
- |
±2 % | |||
|
Исполнение А | |||||
|
Определяемый компонент |
Метод анализа |
Диапазон измерений объемной доли определяемого компонента1) |
Участок диапазона, в котором нормируется погрешность |
Пределы допускаемой приведенной погрешности2) |
Пределы допускаемой относительной погрешности |
|
от 0 до 1 % |
от 0 до 0,5 % включ. |
±2 % |
- | ||
|
св. 0,5 до 1 % включ. |
- |
±2 % | |||
|
от 0 до 2 % |
от 0 до 1 % включ. |
±2 % |
- | ||
|
св. 1 до 2 % |
- |
±2 % | |||
|
от 0 до 3 % |
от 0 до 2 % включ. |
±2 % |
- | ||
|
св. 2 до 3 % |
- |
±2 % | |||
|
от 0 до 4 % |
от 0 до 3 % включ. |
±2 % |
- | ||
|
св. 3 до 4 % |
- |
±2 % | |||
|
от 0 до 5 % |
от 0 до 4 % включ. |
±2 % |
- | ||
|
св. 4 до 5 % |
- |
±2 % | |||
|
от 0 до 10 % |
от 0 до 5 % включ. |
±2 % |
- | ||
|
св. 5 до 10 % |
- |
±2 % | |||
|
от 0 до 20 % |
от 0 до 10 % включ. |
±2 % |
- | ||
|
св. 10 до 20 % |
- |
±2 % | |||
|
от 0 до 40 % |
от 0 до 20 % включ. |
±2 % |
- | ||
|
св. 20 до 40 % |
- |
±2 % | |||
|
от 0 до 50 % |
от 0 до 40 % включ. |
±2 % |
- | ||
|
св. 40 до 50 % |
- |
±2 % | |||
|
от 0 до 75 % |
от 0 до 50 % включ. |
±2 % |
- | ||
|
св. 50 % до 75 % |
- |
±2 % | |||
|
от 0 до 100 % |
от 0 до 75 % включ. |
±2 % |
- | ||
|
св. 75 до 100 % |
- |
±2 % | |||
|
ИК спектрометрия с Фурье преобразованием |
от 0 до 500 млн-1 |
от 0 до 50 млн-1 включ. |
±3 % |
- | |
|
св. 50 до 500 млн-1 |
- |
±3 % | |||
|
от 0 до 1000 млн 1 |
от 0 до 500 млн-1 включ. |
±3 % |
- | ||
|
св. 500 до 1000 -1 млн |
- |
±3 % | |||
|
Исполнение А | |||||
|
Определяемый компонент |
Метод анализа |
Диапазон измерений объемной доли определяемого компонента1) |
Участок диапазона, в котором нормируется погрешность |
Пределы допускаемой приведенной погрешности2) |
Пределы допускаемой относительной погрешности |
|
от 0 до 5000 млн 1 |
от 0 до 1000 млн-1 включ. |
±3 % |
- | ||
|
св. 1000 до 5000 -1 млн |
- |
±3 % | |||
|
от 0 до 5 % |
от 0 до 0,5 % включ. |
±2 % |
- | ||
|
св. 0,5 до 5 % |
- |
±2 % | |||
|
Сероводород H2S |
ИК спектрометрия с перестраиваемым диодным лазером |
от 0 до 100 млн-1 |
от 0 до 50 млн-1 включ. |
±3 % |
- |
|
св. 50 до 100 млн-1 |
- |
±3 % | |||
|
от 0 до 200 млн 1 |
от 0 до 100 млн-1 включ. |
±3 % |
- | ||
|
св. 100 до 200 -1 млн 1 |
- |
±3 % | |||
|
от 0 до 500 млн 1 |
от 0 до 200 млн-1 включ. |
±3 % |
- | ||
|
св. 200 до 500 -1 млн 1 |
- |
±3 % | |||
|
от 0 до 1000 млн 1 |
от 0 до 500 млн-1 включ. |
±3 % |
- | ||
|
св. 500 до 1000 -1 млн 1 |
- |
±3 % | |||
|
от 0 до 2000 млн 1 |
от 0 до 1000 млн-1 включ. |
±3 % |
- | ||
|
св. 1000 до 2000 -1 млн |
- |
±3 % | |||
|
от 0 до 1 % |
от 0 до 0,2 % включ. |
±2 % |
- | ||
|
св. 0,2 до 1 % |
- |
±2 % | |||
|
от 0 до 10 % |
от 0 до 1 % включ. |
±2 % |
- | ||
|
св. 1 до 10 % |
- |
±2 % | |||
|
от 0 до 50 % |
от 0 до 10 % включ. |
±2 % |
- | ||
|
св. 10 до 50 % |
- |
±2 % | |||
|
от 0 до 100 % |
от 0 до 50 % включ. |
±2 % |
- | ||
|
св. 50 до 100 % |
- |
±2 % | |||
|
УФ спектрометрия |
от 0 до 1 млн-1 |
от 0 до 1 млн-1 включ. |
±6 % |
- | |
|
от 0 до 30 млн-1 |
от 0 до 5 млн-1 включ. |
±5 % |
- | ||
|
Исполнение А | |||||
|
Определяемый компонент |
Метод анализа |
Диапазон измерений объемной доли определяемого компонента1) |
Участок диапазона, в котором нормируется погрешность |
Пределы допускаемой приведенной погрешности2) |
Пределы допускаемой относительной погрешности |
|
св. 5 до 30 млн-1 |
- |
±5 % | |||
|
от 0 до 100 млн-1 |
от 0 до 30 млн-1 включ. |
±3 % |
- | ||
|
св. 30 до 100 млн-1 |
- |
±3 % | |||
|
от 0 до 1000 млн 1 |
от 0 до 100 млн-1 включ. |
±3 % |
- | ||
|
св. 100 до 1000 -1 млн |
- |
±3 % | |||
|
от 0 до 5000 млн 1 |
от 0 до 1000 млн-1 включ. |
±3 % |
- | ||
|
св. 1000 до 5000 -1 млн 1 |
- |
±3 % | |||
|
от 0 до 30 % |
от 0 до 0,5 % включ. |
±2 % |
- | ||
|
св. 0,5 до 30 % |
- |
±2 % | |||
|
Электрохимический |
от 0 до 500 млн 1 |
от 0 до 100 млн-1 включ. |
±4 % |
- | |
|
св. 100 до 500 -1 млн |
- |
±4 % | |||
|
от 0 до 1000 млн 1 |
от 0 до 500 млн-1 включ. |
±3 % |
- | ||
|
св. 500 до 1000 -1 млн 1 |
- |
±3 % | |||
|
от 0 до 2000 млн 1 |
от 0 до 1000 млн-1 включ. |
±3 % |
- | ||
|
св. 1000 до 2000 -1 млн 1 |
- |
±3 % | |||
|
от 0 до 5000 млн 1 |
от 0 до 2000 млн-1 включ. |
±2 % |
- | ||
|
св. 2000 до 5000 -1 млн 1 |
- |
±2 % | |||
|
от 0 до 1 % |
от 0 до 0,5 % включ. |
±2 % |
- | ||
|
св. 0,5 до 1 % |
- |
±2 % | |||
|
ИК спектрометрия с Фурье преобразованием |
от 0 до 100 % |
от 0 до 0,1 % включ. |
±4 % |
- | |
|
св. 0,1 до 100 % |
- |
±4 % | |||
|
Метан СН4 |
ИК спектрометрия с перестраиваемым диодным лазером |
от 0 до 20 млн-1 |
от 0 до 2 млн-1 включ. |
±5 % |
- |
|
св. 2 до 20 млн-1 |
- |
±5 % | |||
|
от 0 до 50 млн-1 |
от 0 до 20 млн-1 включ. |
±3 % |
- | ||
|
Исполнение А | |||||
|
Определяемый компонент |
Метод анализа |
Диапазон измерений объемной доли определяемого компонента1) |
Участок диапазона, в котором нормируется погрешность |
Пределы допускаемой приведенной погрешности2) |
Пределы допускаемой относительной погрешности |
|
св. 20 до 50 млн-1 |
- |
±3 % | |||
|
от 0 до 100 млн-1 |
от 0 до 50 млн-1 включ. |
±3 % |
- | ||
|
св. 50 до 100 млн-1 |
- |
±3 % | |||
|
от 0 до 200 млн 1 |
от 0 до 100 млн-1 включ. |
±3 % |
- | ||
|
св. 100 до 200 -1 млн |
- |
±3 % | |||
|
от 0 до 500 млн 1 |
от 0 до 200 млн-1 включ. |
±3 % |
- | ||
|
св. 200 до 500 -1 млн 1 |
- |
±3 % | |||
|
от 0 до 1000 млн 1 |
от 0 до 500 млн-1 включ. |
±3 % |
- | ||
|
св. 500 до 1000 -1 млн 1 |
- |
±3 % | |||
|
от 0 до 5000 млн 1 |
от 0 до 1000 млн-1 включ. |
±3 % |
- | ||
|
св. 1000 до 5000 -1 млн 1 |
- |
±3 % | |||
|
от 0 до 2 % |
от 0 до 0,5 % включ. |
±2 % |
- | ||
|
св. 0,5 до 2 % |
- |
±2 % | |||
|
от 0 до 10 % |
от 0 до 2 % включ. |
±2 % |
- | ||
|
св. 2 до 10 % |
- |
±2 % | |||
|
от 0 до 20 % |
от 0 до 10 % включ. |
±2 % |
- | ||
|
св. 10 до 20 % |
- |
±2 % | |||
|
от 0 до 50 % |
от 0 до 20 % включ. |
±2 % |
- | ||
|
св. 20 до 50 % |
- |
±2 % | |||
|
от 0 до 100 % |
от 0 до 50 % включ. |
±2 % |
- | ||
|
св. 50 до 100 % |
- |
±2 % | |||
|
Недисперсионная ИК фотометрия |
от 0 до 500 млн 1 |
от 0 до 100 млн-1 включ. |
±5 % |
- | |
|
св. 100 до 500 -1 млн |
- |
±5 % | |||
|
от 0 до 1000 млн-1 |
от 0 до 500 млн-1 включ. |
±4 % |
- | ||
|
Исполнение А | |||||
|
Определяемый компонент |
Метод анализа |
Диапазон измерений объемной доли определяемого компонента1) |
Участок диапазона, в котором нормируется погрешность |
Пределы допускаемой приведенной погрешности2) |
Пределы допускаемой относительной погрешности |
|
св. 500 до 1000 -1 млн |
- |
±4 % | |||
|
от 0 до 2000 млн 1 |
от 0 до 1000 млн-1 включ. |
±3 % |
- | ||
|
св. 1000 до 2000 -1 млн |
- |
±3 % | |||
|
от 0 до 3000 млн 1 |
от 0 до 2000 млн-1 включ. |
±2 % |
- | ||
|
св. 2000 до 3000 -1 млн |
- |
±2 % | |||
|
от 0 до 5000 млн 1 |
от 0 до 3000 млн-1 включ. |
±2 % |
- | ||
|
св. 3000 до 5000 -1 млн 1 |
- |
±2 % | |||
|
от 0 до 2 % |
от 0 до 5000 млн-1 включ. |
±2 % |
- | ||
|
св. 0,5 до 2 % |
- |
±2 % | |||
|
от 0 до 5 % |
от 0 до 2 % включ. |
±2 % |
- | ||
|
св. 2 до 5 % |
- |
±2 % | |||
|
от 0 до 10 % |
от 0 до 5 % включ. |
±2 % |
- | ||
|
св. 5 до 10 % |
- |
±2 % | |||
|
от 0 до 20 % |
от 0 до 10 % включ. |
±2 % |
- | ||
|
св. 10 до 20 % |
- |
±2 % | |||
|
от 0 до 40 % |
от 0 до 20 % включ. |
±2 % |
- | ||
|
св. 20 до 40 % |
- |
±2 % | |||
|
от 0 до 50 % |
от 0 до 40 % включ. |
±2 % |
- | ||
|
св. 40 до 50 % |
- |
±2 % | |||
|
от 0 до 75 % |
от 0 до 50 % включ. |
±2 % |
- | ||
|
св. 50 до 75 % |
- |
±2 % | |||
|
от 0 до 100 % |
от 0 до 75 % включ. |
±2 % |
- | ||
|
св. 75 до 100 % |
- |
±2 % | |||
|
ИК фотометрия с Фурье преобразованием |
от 0 до 500 млн 1 |
от 0 до 100 млн-1 включ. |
±4 % |
- | |
|
св. 100 до 500 -1 млн |
- |
±4 % | |||
|
Исполнение А | |||||
|
Определяемый компонент |
Метод анализа |
Диапазон измерений объемной доли определяемого компонента1) |
Участок диапазона, в котором нормируется погрешность |
Пределы допускаемой приведенной погрешности2) |
Пределы допускаемой относительной погрешности |
|
от 0 до 1500 млн 1 |
от 0 до 500 млн-1 включ. |
±3 % |
- | ||
|
св. 500 до 1500 -1 млн |
- |
±3 % | |||
|
от 0 до 5000 млн 1 |
от 0 до 1500 млн-1 включ. |
±2 % |
- | ||
|
св. 1500 до 5000 -1 млн |
- |
±2 % | |||
|
от 0 до 5 % |
от 0 до 0,5 % включ. |
±2 % |
- | ||
|
св. 0,5 до 5 % |
- |
±2 % | |||
|
от 0 до 10 % |
от 0 до 5 % включ. |
±2 % |
- | ||
|
св. 5 до 10 % |
- |
±2 % | |||
|
от 0 до 20 % |
от 0 до 10 % включ. |
±2 % |
- | ||
|
св. 10 до 20 % |
- |
±2 % | |||
|
Оксид азота NO |
ИК спектрометрия с перестраиваемым диодным лазером |
от 0 до 100 млн-1 |
от 0 до 20 млн-1 включ. |
±3 % |
- |
|
св. 20 до 100 млн-1 |
- |
±3 % | |||
|
от 0 до 500 млн 1 |
от 0 до 100 млн-1 включ. |
±3 % |
- | ||
|
св. 100 до 500 -1 млн |
- |
±3 % | |||
|
от 0 до 1000 млн 1 |
от 0 до 500 млн-1 включ. |
±3 % |
- | ||
|
св. 500 до 1000 -1 млн |
- |
±3 % | |||
|
от 0 до 5000 млн 1 |
от 0 до 1000 млн-1 включ. |
±2 % |
- | ||
|
св. 1000 до 5000 -1 млн |
- |
±2 % | |||
|
от 0 до 10000 млн-1 |
от 0 до 5000 млн-1 включ. |
±2 % |
- | ||
|
св.5000 до 10000 -1 млн 1 |
- |
±2 % | |||
|
от 0 до 5 % |
от 0 до 1 % включ. |
±2 % |
- | ||
|
св. 1 до 5 % |
- |
±2 % | |||
|
от 0 до 20 % |
от 0 до 5 % включ. |
±2 % |
- | ||
|
св. 5 до 20 % |
- |
±2 % | |||
|
Исполнение А | |||||
|
Определяемый компонент |
Метод анализа |
Диапазон измерений объемной доли определяемого компонента1) |
Участок диапазона, в котором нормируется погрешность |
Пределы допускаемой приведенной погрешности2) |
Пределы допускаемой относительной погрешности |
|
от 0 до 100 % |
от 0 до 20 % включ. |
±2 % |
- | ||
|
св. 20 до 100 % |
- |
±2 % | |||
|
Недисперсионная ИК фотометрия |
от 0 до 200 млн 1 |
от 0 до 100 млн-1 включ. |
±3 % |
- | |
|
св. 100 до 200 -1 млн 1 |
- |
±3 % | |||
|
от 0 до 500 млн 1 |
от 0 до 200 млн-1 включ. |
±3 % |
- | ||
|
св. 200 до 500 -1 млн |
- |
±3 % | |||
|
от 0 до 1000 млн 1 |
от 0 до 500 млн-1 включ. |
±3 % |
- | ||
|
св. 500 до 1000 -1 млн |
- |
±3 % | |||
|
от 0 до 2000 млн 1 |
от 0 до 1000 млн-1 включ. |
±3 % |
- | ||
|
св. 1000 до 2000 -1 млн |
- |
±3 % | |||
|
от 0 до 3000 млн 1 |
от 0 до 2000 млн-1 включ. |
±2 % |
- | ||
|
св. 2000 до 3000 -1 млн |
- |
±2 % | |||
|
от 0 до 5000 млн 1 |
от 0 до 3000 млн-1 включ. |
±2 % |
- | ||
|
св. 3000 до 5000 -1 млн 1 |
- |
±2 % | |||
|
от 0 до 1 % |
от 0 до 0,5 % включ. |
±2 % |
- | ||
|
св. 0,5 до 1 % |
- |
±2 % | |||
|
от 0 до 2 % |
от 0 до 1 % включ. |
±2 % |
- | ||
|
св. 1 до 2 % |
- |
±2 % | |||
|
от 0 до 3 % |
от 0 до 2 % включ. |
±2 % |
- | ||
|
св. 2 до 3 % |
- |
±2 % | |||
|
от 0 до 4 % |
от 0 до 3 % включ. |
±2 % |
- | ||
|
св. 3 до 4 % |
- |
±2 % | |||
|
от 0 до 5 % |
от 0 до 4 % включ. |
±2 % |
- | ||
|
св. 4 до 5 % |
- |
±2 % | |||
|
Исполнение А | |||||
|
Определяемый компонент |
Метод анализа |
Диапазон измерений объемной доли определяемого компонента1) |
Участок диапазона, в котором нормируется погрешность |
Пределы допускаемой приведенной погрешности2) |
Пределы допускаемой относительной погрешности |
|
ИК фотометрия с Фурье преобразованием |
от 0 до 100 млн-1 |
от 0 до 50 млн-1 включ. |
±3 % |
- | |
|
св. 50 до 100 млн-1 |
- |
±3 % | |||
|
от 0 до 500 млн 1 |
от 0 до 100 млн-1 включ. |
±3 % |
- | ||
|
св. 100 до 500 -1 млн 1 |
- |
±3 % | |||
|
от 0 до 1000 млн 1 |
от 0 до 500 млн-1 включ. |
±3 % |
- | ||
|
св. 500 до 1000 -1 млн |
- |
±3 % | |||
|
от 0 до 5000 млн 1 |
от 0 до 1000 млн-1 включ. |
±3 % |
- | ||
|
св. 1000 до 5000 -1 млн |
- |
±3 % | |||
|
от 0 до 1 % |
от 0 до 0,5 % включ. |
±2 % |
- | ||
|
св. 0,5 до 1 % |
- |
±2 % | |||
|
УФ спектрометрия |
от 0 до 40 млн-1 |
от 0 до 20 млн-1 включ. |
±3 % |
- | |
|
св. 20 до 40 млн-1 |
- |
±3 % | |||
|
от 0 до 100 млн-1 |
от 0 до 40 млн-1 включ. |
±3 % |
- | ||
|
св. 40 до 100 млн-1 |
- |
±3 % | |||
|
от 0 до 150 млн 1 |
от 0 до 100 млн-1 включ. |
±3 % |
- | ||
|
св. 100 до 150 -1 млн |
- |
±3 % | |||
|
от 0 до 800 млн 1 |
от 0 до 150 млн-1 включ. |
±3 % |
- | ||
|
св. 150 до 800 -1 млн |
- |
±3 % | |||
|
от 0 до 1500 млн 1 |
от 0 до 800 млн-1 включ. |
±3 % |
- | ||
|
св. 800 до 1500 -1 млн 1 |
- |
±3 % | |||
|
от 0 до 3000 млн 1 |
от 0 до 1500 млн-1 включ. |
±2 % |
- | ||
|
св. 1500 до 3000 „ -1 млн 1 |
- |
±2 % | |||
|
от 0 до 1 % |
от 0 до 0,3 % включ. |
±2 % |
- | ||
|
Исполнение А | |||||
|
Определяемый компонент |
Метод анализа |
Диапазон измерений объемной доли определяемого компонента1) |
Участок диапазона, в котором нормируется погрешность |
Пределы допускаемой приведенной погрешности2) |
Пределы допускаемой относительной погрешности |
|
св. 0,3 до 1 % |
- |
±2 % | |||
|
от 0 до 100 % |
от 0 до 1 % включ. |
±2 % |
- | ||
|
св. 1 до 100 % |
- |
±2 % | |||
|
Диоксид азота NO2 |
ИК спектрометрия с перестраиваемым диодным лазером |
от 0 до 100 млн-1 |
от 0 до 20 млн-1 включ. |
±3 % |
- |
|
св. 20 до 100 млн-1 |
- |
±3 % | |||
|
от 0 до 500 млн 1 |
от 0 до 100 млн-1 включ. |
±3 % |
- | ||
|
св. 100 до 500 -1 млн |
- |
±3 % | |||
|
от 0 до 1500 млн 1 |
от 0 до 500 млн-1 включ. |
±3 % |
- | ||
|
св. 500 до 1500 -1 млн |
- |
±3 % | |||
|
от 0 до 5000 млн 1 |
от 0 до 1500 млн-1 включ. |
±2 % |
- | ||
|
св. 1500 до 5000 -1 млн |
- |
±2 % | |||
|
УФ спектрометрия |
от 0 до 30 млн-1 |
от 0 до 20 млн-1 включ. |
±3 % |
- | |
|
св. 20 до 30 млн-1 |
- |
±3 % | |||
|
от 0 до 80 млн-1 |
от 0 до 30 млн-1 включ. |
±3 % |
- | ||
|
св. 30 до 80 млн-1 |
- |
±3 % | |||
|
от 0 до 200 млн-1 |
от 0 до 80 млн-1 включ. |
±3 % |
- | ||
|
св. 80 до 200 млн-1 |
- |
±3 % | |||
|
от 0 до 500 млн 1 |
от 0 до 200 млн-1 включ. |
±3 % |
- | ||
|
св. 200 до 500 -1 млн |
- |
±3 % | |||
|
от 0 до 1000 млн 1 |
от 0 до 500 млн-1 включ. |
±3 % |
- | ||
|
св. 500 до 1000 -1 млн |
- |
±3 % | |||
|
от 0 до 5000 млн 1 |
от 0 до 1000 млн-1 включ. |
±3 % |
- | ||
|
св. 1000 до 5000 „ -1 млн 1 |
- |
±3 % | |||
|
от 0 до 1 % |
от 0 до 0,5 % включ. |
±2 % |
- | ||
|
Исполнение А | |||||
|
Определяемый компонент |
Метод анализа |
Диапазон измерений объемной доли определяемого компонента1) |
Участок диапазона, в котором нормируется погрешность |
Пределы допускаемой приведенной погрешности2) |
Пределы допускаемой относительной погрешности |
|
св. 0,5 % до 1 % |
- |
±2 % | |||
|
от 0 до 3 % |
от 0 до 1 % включ. |
±2 % |
- | ||
|
св. 1 до 3 % |
- |
±2 % | |||
|
Недисперсионная УФ спектрометрия |
от 0 до 200 млн-1 |
от 0 до 80 млн-1 включ. |
±3 % |
- | |
|
св. 80 до 200 млн-1 |
- |
±3 % | |||
|
от 0 до 500 млн 1 |
от 0 до 200 млн-1 включ. |
±3 % |
- | ||
|
св. 200 до 500 -1 млн |
- |
±3 % | |||
|
ИК фотометрия с Фурье преобразованием |
от 0 до 500 млн 1 |
от 0 до 200 млн-1 включ. |
±4 % |
- | |
|
св. 200 до 500 -1 млн |
- |
±4 % | |||
|
от 0 до 1500 млн 1 |
от 0 до 500 млн-1 включ. |
±3 % |
- | ||
|
св. 500 до 1500 -1 млн |
- |
±3 % | |||
|
от 0 до 3000 млн 1 |
от 0 до 1500 млн-1 включ. |
±3 % |
- | ||
|
св. 1500 до 3000 -1 млн 1 |
- |
±3 % | |||
|
от 0 до 1 % |
от 0 до 0,3 % включ. |
±2 % |
- | ||
|
св. 0,3 до 1 % |
- |
±2 % | |||
|
Канал NOx |
ИК спектрометрия (с настройкой по NO), УФ спектрометрия (с настройкой по NO2) |
от 0 до 100 млн-1 |
от 0 до 15 млн-1 включ. |
±3 % |
- |
|
св. 15 до 100 млн-1 |
- |
±3 % | |||
|
от 0 до 500 млн 1 |
от 0 до 100 млн-1 включ. |
±3 % |
- | ||
|
св. 100 до 500 -1 млн 1 |
- |
±3 % | |||
|
от 0 до 1000 млн 1 |
от 0 до 500 млн-1 включ. |
±3 % |
- | ||
|
св. 500 до 1000 -1 млн |
- |
±3 % | |||
|
от 0 до 4000 млн 1 |
от 0 до 1000 млн-1 включ. |
±2 % |
- | ||
|
св. 1000 до 4000 -1 млн |
- |
±2 % | |||
|
Исполнение А | |||||
|
Определяемый компонент |
Метод анализа |
Диапазон измерений объемной доли определяемого компонента1) |
Участок диапазона, в котором нормируется погрешность |
Пределы допускаемой приведенной погрешности2) |
Пределы допускаемой относительной погрешности |
|
Кислород O2 |
ИК спектрометрия с перестраиваемым диодным лазером |
от 0 до 1 % |
от 0 до 0,1 % включ. |
±3 % |
- |
|
св. 0,1 до 1 % |
- |
±3 % | |||
|
от 0 до 5 % |
от 0 до 1 % включ. |
±2 % |
- | ||
|
св. 1 до 5 % |
- |
±2 % | |||
|
от 0 до 10 % |
от 0 до 5 % включ. |
±2 % |
- | ||
|
св. 5 до 10 % |
- |
±2 % | |||
|
от 0 до 100 % |
от 0 до 10 % включ. |
±2 % |
- | ||
|
св. 10 до 100 % |
- |
±2 % | |||
|
Электрохимический |
от 0 до 10 млн-1 |
от 0 до 5 млн-1 включ. |
±5 % |
- | |
|
св. 5 до 10 млн-1 |
- |
±5 % | |||
|
от 0 до 100 млн-1 |
от 0 до 10 млн-1 включ. |
±5 % |
- | ||
|
св. 10 до 100 млн-1 |
- |
±5 % | |||
|
от 0 до 500 млн 1 |
от 0 до 100 млн-1 включ. |
±3 % |
- | ||
|
св. 100 до 500 -1 млн |
- |
±3 % | |||
|
от 0 до 10000 млн 1 |
от 0 до 500 млн-1 включ. |
±3 % |
- | ||
|
св. 500 до 10000 -1 млн |
- |
±3 % | |||
|
от 0 до 5 % |
от 0 до 1 % включ. |
±2 % |
- | ||
|
св. 1 до 5 % |
- |
±2 % | |||
|
от 0 до 25 % |
от 0 до 5 % включ. |
±2 % |
- | ||
|
св. 5 до 25 % |
- |
±2 % | |||
|
от 0 до 40 % |
от 0 до 25 % включ. |
±2 % |
- | ||
|
св. 25 до 40 % |
- |
±2 % | |||
|
Парамагнитный |
от 0 до 5 % |
от 0 до 1 % включ. |
±2 % |
- | |
|
св. 1 до 5 % |
- |
±2 % | |||
|
от 0 до 10 % |
от 0 до 5 % включ. |
±2 % |
- | ||
|
св. 5 до 10 % |
- |
±2 % | |||
|
Исполнение А | |||||
|
Определяемый компонент |
Метод анализа |
Диапазон измерений объемной доли определяемого компонента1) |
Участок диапазона, в котором нормируется погрешность |
Пределы допускаемой приведенной погрешности2) |
Пределы допускаемой относительной погрешности |
|
от 0 до 25 % |
от 0 до 10 % включ. |
±2 % |
- | ||
|
св. 10 до 25 % |
- |
±2 % | |||
|
от 0 до 100 % |
от 0 до 25 % включ. |
±2 % |
- | ||
|
св. 25 до 100% |
- |
±2 % | |||
|
Диоксид серы SO2 |
ИК спектрометрия с перестраиваемым диодным лазером |
от 0 до 50 млн-1 |
от 0 до 15 млн-1 включ. |
±4 % |
- |
|
св. 15 до 50 млн-1 |
- |
±4 % | |||
|
от 0 до 100 млн-1 |
от 0 до 50 млн-1 включ. |
±4 % |
- | ||
|
св. 50 до 100 млн-1 |
- |
±4 % | |||
|
от 0 до 500 млн 1 |
от 0 до 100 млн-1 включ. |
±4 % |
- | ||
|
св. 100 до 500 -1 млн 1 |
- |
±4 % | |||
|
от 0 до 1500 млн 1 |
от 0 до 500 млн-1 включ. |
±4 % |
- | ||
|
св. 500 до 1500 -1 млн 1 |
- |
±4 % | |||
|
от 0 до 5000 млн 1 |
от 0 до 1500 млн-1 включ. |
±3 % |
- | ||
|
св. 1500 до 5000 -1 млн |
- |
±3 % | |||
|
от 0 до 1 % |
от 0 до 0,5 % включ. |
±3 % |
- | ||
|
св. 0,5 до 1 % |
- |
±3 % | |||
|
от 0 до 5 % |
от 0 до 1 % включ. |
±2 % |
- | ||
|
св. 1 до 5 % |
- |
±2 % | |||
|
от 0 до 15 % |
от 0 до 5 % включ. |
±2 % |
- | ||
|
св. 5 до 15 % |
- |
±2 % | |||
|
от 0 до 50 % |
от 0 до 15 % включ. |
±2 % |
- | ||
|
св. 15 до 50 % включ. |
- |
±2 % | |||
|
от 0 до 100 % |
от 0 до 50 % включ. |
±2 % |
- | ||
|
св. 50 до 100 % |
- |
±2 % | |||
|
УФ спектрометрия |
от 0 до 500 млн-1 |
от 0 до 10 млн-1 включ. |
±5 % |
- | |
|
Исполнение А | |||||
|
Определяемый компонент |
Метод анализа |
Диапазон измерений объемной доли определяемого компонента1) |
Участок диапазона, в котором нормируется погрешность |
Пределы допускаемой приведенной погрешности2) |
Пределы допускаемой относительной погрешности |
|
св. 10 до 500 млн-1 |
- |
±5 % | |||
|
от 0 до 3000 млн 1 |
от 0 до 500 млн-1 включ. |
±3 % |
- | ||
|
св. 500 до 3000 -1 млн 1 |
- |
±3 % | |||
|
от 0 до 100 % |
от 0 до 0,3 % включ. |
±3 % |
- | ||
|
св. 0,3 до 100 % |
- |
±3 % | |||
|
Недисперсионная ИК фотометрия |
от 0 до 200 млн-1 |
от 0 до 50 млн-1 включ. |
±3 % |
- | |
|
св. 50 до 200 млн-1 |
- |
±3 % | |||
|
от 0 до 500 млн 1 |
от 0 до 200 млн-1 включ. |
±3 % |
- | ||
|
св. 200 до 500 -1 млн |
- |
±3 % | |||
|
от 0 до 1000 млн 1 |
от 0 до 500 млн-1 включ. |
±3 % |
- | ||
|
св. 500 до 1000 -1 млн |
- |
±3 % | |||
|
от 0 до 5000 млн 1 |
от 0 до 1000 млн-1 включ. |
±3 % |
- | ||
|
св. 1000 до 5000 -1 млн 1 |
- |
±3 % | |||
|
от 0 до 1 % |
от 0 до 0,5 % включ. |
±2 % |
- | ||
|
св. 0,5 до 1 % включ. |
- |
±2 % | |||
|
от 0 до 5 % |
от 0 до 1 % включ. |
±2 % |
- | ||
|
св. 1 до 5 % |
- |
±2 % | |||
|
ИК фотометрия с Фурье преобразованием |
от 0 до 3000 млн 1 |
от 0 до 100 млн-1 включ. |
±3 % |
- | |
|
св. 100 до 3000 -1 млн |
- |
±3 % | |||
|
Вода Н2О |
ИК спектрометрия с перестраиваемым диодным лазером |
от 0 до 5 % |
от 0 до 0,1 % включ. |
±5 % |
- |
|
св. 0,1 до 5 % |
- |
±5 % | |||
|
от 0 до 20 % |
от 0 до 5 % включ. |
±3 % |
- | ||
|
св. 5 до 20 % включ. |
- |
±3 % | |||
|
Исполнение А | |||||
|
Определяемый компонент |
Метод анализа |
Диапазон измерений объемной доли определяемого компонента1) |
Участок диапазона, в котором нормируется погрешность |
Пределы допускаемой приведенной погрешности2) |
Пределы допускаемой относительной погрешности |
|
от 0 до 40 % |
от 0 до 20 % включ. |
±3 % |
- | ||
|
св. 20 до 40 % |
- |
±3 % | |||
|
ИК фотометрия с Фурье преобразованием |
от 0 до 100 млн-1 |
от 0 до 25 млн-1 включ. |
±5 % |
- | |
|
св. 25 до 100 млн-1 |
- |
±5 % | |||
|
от 0 до 1000 млн 1 |
от 0 до 100 млн-1 включ. |
±5 % |
- | ||
|
св. 100 до 1000 -1 млн 1 |
- |
±5 % | |||
|
от 0 до 15 % |
от 0 до 0,1 % включ. |
±4 % |
- | ||
|
св. 0,1 до 15 % |
- |
±4 % | |||
|
от 0 до 40 % |
от 0 до 15 % включ. |
±2 % |
- | ||
|
св. 15 до 40 % |
- |
±2 % | |||
|
Хлороводород HCl |
ИК спектрометрия с перестраиваемым диодным лазером |
от 0 до 50 млн-1 |
от 0 до 2 млн-1 включ. |
±5 % |
- |
|
св. 2 до 50 млн-1 |
- |
±5 % | |||
|
от 0 до 300 млн-1 |
от 0 до 50 млн-1 включ. |
±3 % |
- | ||
|
св. 50 до 300 млн-1 |
- |
±3 % | |||
|
от 0 до 1000 млн 1 |
от 0 до 300 млн-1 включ. |
±3 % |
- | ||
|
св. 300 до 1000 -1 млн |
- |
±3 % | |||
|
от 0 до 100 % |
от 0 до 0,1 % включ. |
±3 % |
- | ||
|
св. 0,1 до 100 % |
- |
±3 % | |||
|
ИК фотометрия с Фурье преобразованием |
от 0 до 200 млн 1 |
от 0 до 100 млн-1 включ. |
±6 % |
- | |
|
св. 100 до 200 -1 млн |
- |
±6 % | |||
|
от 0 до 1000 млн 1 |
от 0 до 200 млн-1 включ. |
±6 % |
- | ||
|
св. 200 до 1000 -1 млн |
- |
±6 % | |||
|
от 0 до 1 % |
от 0 до 0,1 % включ. |
±6 % |
- | ||
|
св. 0,1 до 1 % |
- |
±6 % | |||
|
Исполнение А | |||||
|
Определяемый компонент |
Метод анализа |
Диапазон измерений объемной доли определяемого компонента1) |
Участок диапазона, в котором нормируется погрешность |
Пределы допускаемой приведенной погрешности2) |
Пределы допускаемой относительной погрешности |
|
Фтороводород HF |
ИК спектрометрия с перестраиваемым диодным лазером |
от 0 до 150 млн-1 |
от 0 до 10 млн-1 включ. |
±6 % |
- |
|
св. 10 до 150 млн-1 |
- |
±6 % | |||
|
от 0 до 10000 млн-1 |
от 0 до 150 млн-1 включ. |
±4 % |
- | ||
|
св. 150 до 10000 -1 млн 1 |
- |
±4 % | |||
|
ИК фотометрия с Фурье преобразованием |
от 0 до 150 млн 1 |
от 0 до 100 млн-1 включ. |
±7 % |
- | |
|
св. 100 до 150 -1 млн |
- |
±7 % | |||
|
от 0 до 10000 млн-1 |
от 0 до 150 млн-1 включ. |
±5 % |
- | ||
|
св. 150 до 10000 -1 млн |
- |
±5 % | |||
|
Этан С2Н6 |
Недисперсионная ИК фотометрия |
от 0 до 5 % |
от 0 до 1 % включ. |
±3 % |
- |
|
св. 1 до 5 % |
- |
±3 % | |||
|
от 0 до 10 % |
от 0 до 5 % включ. |
±2 % |
- | ||
|
св. 5 до 10 % |
- |
±2 % | |||
|
от 0 до 20 % |
от 0 до 10 % включ. |
±2 % |
- | ||
|
св. 10 до 20 % |
- |
±2 % | |||
|
Этилен С2Н4 |
ИК спектрометрия с перестраиваемым диодным лазером |
от 0 до 100 млн-1 |
от 0 до 25 млн-1 включ. |
±6 % |
- |
|
св. 25 до 100 млн-1 |
- |
±6 % | |||
|
от 0 до 5000 млн 1 |
от 0 до 100 млн-1 включ. |
±3 % |
- | ||
|
св. 100 до 5000 -1 млн 1 |
- |
±3 % | |||
|
от 0 до 10 % |
от 0 до 0,5 % включ. |
±3 % |
- | ||
|
св. 0,5 до 10 % |
- |
±3 % | |||
|
от 0 до 30 % |
от 0 до 10 % включ. |
±2 % |
- | ||
|
св. 10 до 30 % |
- |
±2 % | |||
|
от 0 до 100 % |
от 0 до 30 % включ. |
±2 % |
- | ||
|
св. 30 до 100 % |
- |
±2 % | |||
|
Недисперсионная ИК фотометрия |
от 0 до 5 % |
от 0 до 1 % включ. |
±3 % |
- | |
|
Исполнение А | |||||
|
Определяемый компонент |
Метод анализа |
Диапазон измерений объемной доли определяемого компонента1) |
Участок диапазона, в котором нормируется погрешность |
Пределы допускаемой приведенной погрешности2) |
Пределы допускаемой относительной погрешности |
|
св. 1 до 5 % |
- |
±3 % | |||
|
от 0 до 10 % |
от 0 до 5 % включ. |
±2 % |
- | ||
|
св. 5 до 10 % |
- |
±2 % | |||
|
ИК фотометрия с Фурье преобразованием |
от 0 до 800 млн 1 |
от 0 до 200 млн-1 включ. |
±5 % |
- | |
|
св. 200 до 800 -1 млн |
- |
±5 % | |||
|
Ацетилен С2Н2 |
ИК спектрометрия с перестраиваемым диодным лазером |
от 0 до 50 млн-1 |
от 0 до 1 млн-1 включ. |
±10 % |
- |
|
св. 1 до 50 млн-1 |
- |
±10 % | |||
|
от 0 до 5000 млн 1 |
от 0 до 50 млн-1 включ. |
±5 % |
- | ||
|
св. 50 до 5000 -1 млн |
- |
±5 % | |||
|
от 0 до 2 % |
от 0 до 0,5 % включ. |
±2 % |
- | ||
|
св. 0,5 до 2 % |
- |
±2 % | |||
|
от 0 до 12 % |
от 0 до 2 % включ. |
±2 % |
- | ||
|
св. 2 до 12 % |
- |
±2 % | |||
|
Недисперсионная ИК фотометрия |
от 0 до 5 % |
от 0 до 1 % включ. |
±2 % |
- | |
|
св. 1 до 5 % |
- |
±2 % | |||
|
Оксид азота (I) N2O |
ИК спектрометрия с перестраиваемым диодным лазером |
от 0 до 50 млн-1 |
от 0 до 1 млн-1 включ. |
±8 % |
- |
|
св. 1 до 50 млн-1 |
- |
±8 % | |||
|
от 0 до 100 млн-1 |
от 0 до 50 млн-1 включ. |
±5 % |
- | ||
|
св. 50 до 100 млн-1 |
- |
±5 % | |||
|
от 0 до 2000 млн 1 |
от 0 до 100 млн-1 включ. |
±4 % |
- | ||
|
св. 100 до 2000 -1 млн 1 |
- |
±4 % | |||
|
от 0 до 1 % |
от 0 до 0,2 % включ. |
±2 % |
- | ||
|
св. 0,2 до 1 % |
- |
±2 % | |||
|
от 0 до 5 % |
от 0 до 1 % включ. |
±2 % |
- | ||
|
св. 1 до 5 % |
- |
±2 % | |||
|
от 0 до 25 % |
от 0 до 5 % включ. |
±2 % |
- | ||
|
Исполнение А | |||||
|
Определяемый компонент |
Метод анализа |
Диапазон измерений объемной доли определяемого компонента1) |
Участок диапазона, в котором нормируется погрешность |
Пределы допускаемой приведенной погрешности2) |
Пределы допускаемой относительной погрешности |
|
св. 5 до 25 % |
- |
±2 % | |||
|
от 0 до 100 % |
от 0 до 25 % включ. |
±2 % |
- | ||
|
св. 25 до 100 % |
- |
±2 % | |||
|
Недисперсионная ИК фотометрия |
от 0 до 100 млн-1 |
от 0 до 50 млн-1 включ. |
±4 % |
- | |
|
св. 50 до 100 млн-1 |
- |
±4 % | |||
|
от 0 до 500 млн 1 |
от 0 до 100 млн-1 включ. |
±4 % |
- | ||
|
св. 100 до 500 -1 млн |
- |
±4 % | |||
|
от 0 до 1000 млн 1 |
от 0 до 500 млн-1 включ. |
±3 % |
- | ||
|
св. 500 до 1000 -1 млн |
- |
±3 % | |||
|
ИК фотометрия с Фурье преобразованием |
от 0 до 200 млн-1 |
от 0 до 50 млн-1 включ. |
±4 % |
- | |
|
св. 50 до 200 млн-1 |
- |
±4 % | |||
|
от 0 до 1000 млн 1 |
от 0 до 200 млн-1 включ. |
±3 % |
- | ||
|
св. 200 до 1000 -1 млн |
- |
±3 % | |||
|
от 0 до 10 % |
от 0 до 0,1 % включ. |
±3 % |
- | ||
|
св. 0,1 до 10 % |
- |
±3 % | |||
|
Хлор CI2 |
УФ спектрометрия |
от 0 до 500 млн 1 |
от 0 до 100 млн-1 включ. |
±4 % |
- |
|
св. 100 до 500 -1 млн 1 |
- |
±4 % | |||
|
от 0 до 1000 млн 1 |
от 0 до 500 млн-1 включ. |
±3 % |
- | ||
|
св. 500 до 1000 -1 млн 1 |
- |
±3 % | |||
|
от 0 до 1 % |
от 0 до 0,1 % включ. |
±3 % |
- | ||
|
св. 0,1 до 1 % |
- |
±3 % | |||
|
от 0 до 5 % |
от 0 до 1 % включ. |
±2 % |
- | ||
|
св. 1 до 5 % |
- |
±2 % | |||
|
от 0 до 20 % |
от 0 до 5 % включ. |
±2 % |
- | ||
|
св. 5 до 20 % |
- |
±2 % | |||
|
Исполнение А | |||||
|
Определяемый компонент |
Метод анализа |
Диапазон измерений объемной доли определяемого компонента1) |
Участок диапазона, в котором нормируется погрешность |
Пределы допускаемой приведенной погрешности2) |
Пределы допускаемой относительной погрешности |
|
от 0 до 100 % |
от 0 до 20 % включ. |
±2 % |
- | ||
|
св. 20 до 100 % |
- |
±2 % | |||
|
Сумма углеводородов CnHm (по СзН8) |
Недисперсионная ИК фотометрия |
от 0 до 5 % |
от 0 до 0,5 % включ. |
±3 % |
- |
|
св. 0,5 до 5 % |
- |
±3 % | |||
|
от 0 до 20 % |
от 0 до 5 % включ. |
±2 % |
- | ||
|
св. 5 до 20 % |
- |
±2 % | |||
|
от 0 до 50 % |
от 0 до 20 % включ. |
±2 % |
- | ||
|
св. 20 до 50 % |
- |
±2 % | |||
|
Пропан СзН8 |
ИК спектрометрия с перестраиваемым диодным лазером |
от 0 до 50 млн-1 |
от 0 до 1 млн-1 включ. |
±10 % |
- |
|
св. 1 до 50 млн-1 |
- |
±10 % | |||
|
от 0 до 1000 млн 1 |
от 0 до 50 млн-1 включ. |
±5 % |
- | ||
|
св. 50 до 1000 -1 млн 1 |
- |
±5 % | |||
|
от 0 до 5000 млн 1 |
от 0 до 1000 млн-1 включ. |
±2 % |
- | ||
|
св. 1000 до 5000 -1 млн 1 |
- |
±2 % | |||
|
от 0 до 10 % |
от 0 до 0,5 % включ. |
±2 % |
- | ||
|
св. 0,5 до 10 % |
- |
±2 % | |||
|
от 0 до 30 % |
от 0 до 10 % включ. |
±2 % |
- | ||
|
св. 10 до 30 % |
- |
±2 % | |||
|
от 0 до 100 % |
от 0 до 30 % включ. |
±2 % |
- | ||
|
св. 30 до 100 % |
- |
±2 % | |||
|
Формальдегид НСНО |
ИК спектрометрия с перестраиваемым диодным лазером |
от 0 до 10 млн-1 |
от 0 до 10 млн-1 |
±6 % |
- |
|
от 0 до 50 млн-1 |
от 0 до 10 млн-1 включ. |
±3 % |
- | ||
|
св. 10 до 50 млн-1 |
- |
±3 % | |||
|
Аргон Ar |
Термокондуктометрический |
от 0 до 50 % |
от 0 до 10 % включ. |
±4 % |
- |
|
св. 10 до 50 % |
- |
±4 % | |||
|
от 0 до 100 % |
от 0 до 50 % включ. |
±2 % |
- | ||
|
св. 50 до 100 % |
- |
±2 % | |||
|
Исполнение А | |||||
|
Определяемый компонент |
Метод анализа |
Диапазон измерений объемной доли определяемого компонента1) |
Участок диапазона, в котором нормируется погрешность |
Пределы допускаемой приведенной погрешности2) |
Пределы допускаемой относительной погрешности |
|
Гелий Не |
Термокондуктометрический |
от 0 до 5 % |
от 0 до 2 % включ. |
±4 % |
- |
|
св. 2 до 5 % |
- |
±4 % | |||
|
от 0 до 10 % |
от 0 до 5 % включ. |
±4 % |
- | ||
|
св. 5 до 10 % |
- |
±4 % | |||
|
от 0 до 50 % |
от 0 до 10 % включ. |
±2 % |
- | ||
|
св. 10 до 50 % |
- |
±2 % | |||
|
от 0 до 100 % |
от 0 до 50 % включ. |
±2 % |
- | ||
|
св. 50 до 100 % |
- |
±2 % | |||
|
1) Диапазоны измерений и определяемые компоненты определяются при заказе; фактическое значение верхнего предела измерений приводится в паспорте и может быть отличным от указанных в таблице, при условии, что его значение входит в диапазон измерений, для которого в таблице нормированы пределы допускаемой погрешности. Вне зависимости от фактического верхнего предела диапазона измерений, указанного в паспорте, нормирующим значением погрешности является значение верхнего предела наименьшего участка диапазона, в который входит фактический верхний предел диапазона измерений. 2) Приведена к нормирующему значению - верхнему пределу участка диапазона измерений. 3) Нормирующее значение - разность между верхним и нижним пределами участка диапазона измерений. | |||||
Таблица 5 - Метрологические характеристики для газоанализаторов с измерительными модулями исполнения D
|
Исполнение D | ||||
|
Определяемый компо нент |
Метод анализа |
Диапазон измерений объемной доли определяемого компонента1) |
Участок диапазона, в котором нормируется погрешность |
Пределы допускаемой приведенной погрешности2) |
|
Сероводород H2S |
УФ спектрометрия |
от 0 до 500 млн-1 |
от 0 до 500 млн-1 |
±10 % |
|
от 0 до 1000 млн-1 |
от 0 до 500 млн-1 включ. |
±8 % | ||
|
св. 500 до 1000 млн-1 |
±8 % | |||
|
от 0 до 5000 млн-1 |
от 0 до 1000 млн-1 включ. |
±5 % | ||
|
св. 1000 до 5000 млн-1 |
±5% | |||
|
от 0 до 5 % |
от 0 до 0,5 % включ. |
±3,5 % | ||
|
св. 0,5 до 5 % |
±3,5 % | |||
|
Исполнение D | ||||
|
Определяемый компо нент |
Метод анализа |
Диапазон измерений объемной доли определяемого компонента1) |
Участок диапазона, в котором нормируется погрешность |
Пределы допускаемой приведенной погрешности2) |
|
Диоксид серы SO2 |
УФ спектрометрия |
от 0 до 500 млн-1 |
от 0 до 500 млн-1 |
±9 % |
|
от 0 до 1000 млн-1 |
от 0 до 500 млн-1 включ. |
±7 % | ||
|
св. 500 до 1000 млн-1 |
±7 % | |||
|
от 0 до 5000 млн-1 |
от 0 до 1000 млн-1 включ. |
±5 % | ||
|
св. 1000 до 5000 млн-1 |
±5 % | |||
|
от 0 до 2,5 % |
от 0 до 0,5 % включ. |
±4 % | ||
|
св. 0,5 до 2,5 % |
±4 % | |||
|
от 0 до 5 % |
от 0 до 2,5 % включ. |
±3,5 % | ||
|
св. 2,5 до 5 % |
±3,5 % | |||
|
Оксид-суль-фид углерода COS |
УФ спектрометрия |
от 0 до 2000 млн-1 |
от 0 до 2000 млн-1 |
±9 % |
|
от 0 до 1 % |
от 0 до 1 % |
±5 % | ||
|
Сероуглерод CS2 |
УФ спектрометрия |
от 0 до 2000 млн-1 |
от 0 до 2000 млн-1 |
±9 % |
|
от 0 до 1 % |
от 0 до 1 % |
±5 % | ||
|
1) Диапазоны измерений и измеряемые компоненты определяются при заказе; Фактическое значение верхнего предела измерений приводится в паспорте и может быть отличным от указанных в таблице, при условии, что его значение входит в диапазон измерений, для которого в таблице нормированы пределы допускаемой погрешности. Вне зависимости от фактического верхнего предела диапазона измерений, указанного в паспорте, нормирующим значением погрешности является значение верхнего предела наименьшего участка диапазона, в который входит фактический верхний предел диапазона измерений. 2) Приведена к нормирующему значению - верхнему пределу диапазона измерений. | ||||
Таблица 6 - Основные технические характеристики
|
Наименование характеристики |
Значение |
|
Параметры электрического питания: - напряжение переменного тока, В |
220±10 |
|
- частота переменного тока, Гц |
50±1 |
|
Выходной сигнал: | |
|
- цифровой (в зависимости от конфигурации) |
Modbus, RS232, RS485, HART, USB, |
|
Ethernet, CAN | |
|
- аналоговый токовый, мА |
от 4 до 20 |
|
Потребляемая мощность, Вт, не более - общепромышленное исполнение |
460 |
|
- взрывозащищенное исполнение (взрывонепроницаемая оболочка «d») |
460 |
|
- взрывозащищенное исполнение (оболочка под избыточным давлением «Р») |
3500 |
|
Габаритные размеры (ШиринахДлина*Высота), мм, не более: - общепромышленное исполнение |
178x485x510 |
|
- взрывозащищенное исполнение (взрывонепроницаемая оболочка «d») |
1000x700x600 |
|
- взрывозащищенное исполнение (оболочка под избыточным давлением «Р») |
2000x1200x800 |
|
Наименование характеристики |
Значение |
|
Масса, кг, не более: - общепромышленное исполнение |
50 |
|
- взрывозащищенное исполнение (взрывонепроницаемая оболочка «d») |
150 |
|
- взрывозащищенное исполнение (оболочка под избыточным давлением «Р») |
350 |
|
Условия эксплуатации: - температура окружающей среды, °С: | |
|
- общепромышленное исполнение |
от 0 до +55 |
|
- взрывозащищенное исполнение (взрывонепроницаемая оболочка «d») |
от 0 до +55 |
|
- взрывозащищенное исполнение (оболочка под избыточным давле- |
от 0 до +50 |
|
нием «р») - относительная влажность (без конденсации), %, не более |
95 |
|
- атмосферное давление, кПа |
от 84 до 106 |
|
Степень защиты для исполнений: - общепромышленное исполнение |
IP20 |
|
- взрывозащищенное исполнение (взрывонепроницаемая оболочка «d») |
IP65 |
|
- взрывозащищенное исполнение (оболочка под избыточным давлением «р») |
IP65 |
|
Маркировка взрывозащиты: - взрывозащищенное исполнение (оболочка под избыточным давлением |
1Ex pxb IIC T4 Gb X \ |
|
«р») |
1Ex pxb IIC Т3 Gb X |
|
- взрывозащищенное исполнение (взрывонепроницаемая оболочка «d») |
1Ex db IIC T4 Gb X |
Таблица 7 - Показатели надежности
|
Наименование характеристики |
Значение |
|
Средняя наработка на отказ, ч, не менее |
50000 |
|
Средний срок службы, лет, не менее |
20 |
Знак утверждения типа
наносится на идентификационную табличку методом цветной термопечати и на титульный лист руководства по эксплуатации типографским способом.
Комплектность
Комплектность поставки газоанализаторов приведена в таблице 8.
Таблица 8 - Комплект поставки газоанализаторов
|
Наименование |
Обозначение |
Количество шт./экз. |
|
Газоанализатор ЭкоСпектр II1) |
_ |
1 |
|
Руководство по эксплуатации |
РЭ.ЕС500.001 РЭ |
1 |
|
Паспорт |
ПС 26.51.53-011-15701168-2024 |
1 |
|
Комплект ЗИП2) |
_ |
- |
|
Ключ и крепежные элементы |
_ |
1 |
|
1) - исполнение газоанализатора определяется при заказе в соответствии со спецификацией; 2) - состав определяется (опционально) при заказе в соответствии со спецификацией. | ||
Сведения о методах измерений
приведены в разделе 5 «Эксплуатация» документа РЭ.ЕС500.001 РЭ «Газоанализатор ЭкоСпектр II. Руководство по эксплуатации».
Нормативные документы
Приказ Росстандарта от 31.12.2020 г. № 2315 «Об утверждении государственной поверочной схемы для средств измерений содержания компонентов в газовых и газоконденсатных средах»
ТУ 26.51.53-011-15701168-2024 «Газоанализаторы ЭкоСпектр II. Технические условия»