Анализаторы состава и свойств твердых материалов (см. также 4041, 4132) Классификатор средств измерений по МИ
16859-12
ELTRA OH 900, ELTRA ON 900, ELTRA ONH 2000 Анализаторы газа в твердых материалах
Фирма "Eltra GmbH", Германия
Для измерения концентрации кислорода, азота, водорода в сплавах на основе железа, никеля, кобальта, меди, в цирконии, титане, керамике и других неорганических материалах в соответствии с методиками выполнения измерений в лабораторных условиях в метал...
13358-12
SPECTROLAB, SPECTROMAXx Спектрометры эмиссионные
Фирма "Spectro Analytical Instruments GmbH", Германия
Для измерения концентрации элементов (примесей) в черных и цветных металлах и сплавах при анализах в лабораторных условиях на предприятиях, производящих или потребляющих металлы, сплавы и изделия из них, в металлургической промышленности, машинострое...
13358-12
SPECTROLAB, SPECTROMAXx Спектрометры эмиссионные
Фирма "Spectro Analytical Instruments GmbH", Германия
Для измерения концентрации элементов (примесей) в черных и цветных металлах и сплавах при анализах в лабораторных условиях на предприятиях, производящих или потребляющих металлы, сплавы и изделия из них, в металлургической промышленности, машинострое...
48573-11
EMIA 320V2 и EMIA 920V2 Анализаторы углерода и серы
Фирма "HORIBA Jobin Yvon S.A.S.", Франция
Для измерений массовой доли углерода и серы в материалах различной природы, находящихся в твердом или порошкообразном состоянии.
Для измерений объема хемосорбированных газов (кислорода, оксида углерода) на дисперсных и пористых материалах в режимах программируемого окисления/восстановления, программируемой температурной десорбции, импульсной хемосорбции.
48408-11
PMI-MASTER мод. UVR, ASR Спектрометры оптико-эмиссионные портативные
Фирма "Oxford Instruments Analytical GmbH", Германия
Для измерения концентрации химических элементов в металлах и сплавах.
Для качественного и количественного рентгеновского микроанализа химических элементов в твердых, порошкообразных, смешанных и тонкопленочных образцах.
Для локального элементный микроанализ состава различных объектов: микроэлектронных плат, произведений искусства, ювелирных изделий, покрытий, пород, почв, порошков, металлов и сплавов, биологических объектов и т.д.
48162-11
M1 ORA и M1 MISTRAL Спектрометры микрорентгенофлуоресцентные
Фирма "Bruker Nano GmbH", Германия
Для локального элементного микроанализа состава различных объектов: микроэлектронных плат, произведений искусства, ювелирных изделий, покрытий, пород, почв, порошков, металлов и сплавов, биологических объектов и т.д.
Для измерения интенсивности и углов дифракции рентгеновского излучения, рассеянного на кристаллическом объекте при решении задач рентгенодифракционного и рентгеноструктурного анализа материалов.
Для количественного эмиссионного спектрального анализа металлов и сплавов путем формирования и измерения аналитического сигнала, пропорционального интенсивности спектральных линий различных элементов.
47827-11
FOUNDRY-MASTER мод. XPR, UVR, LAB, VIS Спектрометры оптические эмиссионные
Фирма "Oxford Instruments Analytical GmbH", Германия
Для измерения концентрации химических элементов в металлах и сплавах.
47750-11
EXSTAR DMS 6000 мод. DMS 6100 Спектрометры динамические механические
Фирма "SII NanoTechnology Inc.", Япония
Для измерений линейных размеров образца в условиях тепловых и механических нагрузок (термомеханический анализ) и измерений температуры размягчения, плавления, стеклования различных материалов и оценки модуля упругости (термопластический анализ).
Для измерения интенсивности и углов дифракции рентгеновского излучения, рассеянного на кристаллическом объекте при решении задач рентгенодифракционного и рентгеноструктурного анализа материалов.
Для измерений массовой доли карбонатов кальция и магния (кальцита и доломита) при исследовании керна горных пород в лабораторных условиях.