ФГБНУ "ТИСНУМ", г. Москва, г.Троицк
Оборудование в госреестре ФГБНУ "ТИСНУМ", г. Москва, г.Троицк
87897-23
НаноСкан-4D Нанотвердомеры
Федеральное государственное бюджетное научное учреждение "Технологический институт сверхтвердых и новых углеродных материалов" (ФГБНУ ТИСНУМ), г. Москва, г. Троицк
Нанотвердомеры НаноСкан-4D (далее - нанотвердомеры) предназначены для измерений твердости материалов по шкалам индентирования в соответствии с ГОСТ Р 8.748-2011, металлов и сплавов по шкалам Виккерса в соответствии с ГОСТ Р ИСО 6507-1-2007, ГОСТ 9450...
81786-21
NanoScan-HV Твердомеры Виккерса
Федеральное государственное бюджетное научное учреждение "Технологический институт сверхтвердых и новых углеродных материалов" (ФГБНУ ТИСНУМ), г. Москва, г. Троицк
Твердомеры Виккерса NanoScan-HV (далее - твердомеры) предназначены для измерений твердости металлов и сплавов по шкалам Виккерса в соответствии с ГОСТ Р ИСО 6507-1-2007.
65496-16
НаноСкан-4D Нанотвердомеры
ФГБНУ "Технологический институт сверхтвердых и новых углеродных материалов" (ТИСНУМ), г.Москва, г.Троицк
Нанотвердомеры НаноСкан-4Б (далее - нанотвердомеры) предназначены для измерений твердости материалов по шкалам индентирования в соответствии с ГОСТ Р 8.748-2011.
48284-11
НаноСкан-3Di Микроскоп сканирующий зондовый
ФГУ "Технологический институт сверхтвердых и новых углеродных материалов", г.Троицк
Для измерений геометрических параметров топографии поверхности с нанометровым пространственным разрешением. Результаты измерений могут быть использованы для определения геометрических параметров в нанометровом диапазоне. Применяется при проведении фу...
Для измерения твердости по шкалам Виккерса металлов и сплавов по ГОСТ Р ИСО 6507-1-2007 и стекол, пластмасс, керамики по ГОСТ 9450-76. Может быть применён при проведении фундаментальных и прикладных научных исследований, а также в лабораторных услови...
Для измерений геометрических параметров топографии поверхности с нанометровым пространственным разрешением, измерений силы воздействия зонда на поверхность исследуемого образца в отдельных точках, для измерения геометрических характеристик отпечатков...