Микроскопы ФГУП "ВНИИОФИ", г.Москва

Для измерений высоты профиля поверхности отражающего динамического объекта в микро- и нанодиапазоне.

Для измерения высоты профиля поверхности отражающих объектов в микро- и нанодиапазоне.

Для измерений глубины рельефа поверхности отражающих объектов. Область применения - в машиностроении, приборостроении и лабораториях научно-исследовательских институтов, занимающихся вопросами оценки и измерения параметров микрорельефа поверхности.