ФГУП "ВНИИОФИ", г.Москва
Микроскопы ФГУП "ВНИИОФИ", г.Москва
Для измерений высоты профиля поверхности отражающего динамического объекта в микро- и нанодиапазоне.
Для измерения высоты профиля поверхности отражающих объектов в микро- и нанодиапазоне.
![Default ALL-Pribors Device Photo](https://all-pribors.ru/pics/medium/default-device.png)
Для измерений глубины рельефа поверхности отражающих объектов. Область применения - в машиностроении, приборостроении и лабораториях научно-исследовательских институтов, занимающихся вопросами оценки и измерения параметров микрорельефа поверхности.