Микроскопы
Микроскоп измерительный - предназначен для измерений линейных размеров и рельефа поверхности.
Наименований
218
Компаний
84
Микроскопы в ГРСИ РФ 218
98492-26
EmCrafts Сubе II
Микроскопы сканирующие электронные
EmCrafts Co., Ltd, КОРЕЯ, РЕСПУБЛИКА, #602, Misadongilnexus bldg., 30, Misagangbyeonjungang-ro 31beon-gil, Hanam-si, Gyeonggi-do 12939
Микроскопы сканирующие электронные EmCrafts С^е II (далее по тексту — микроскопы) предназначены для измерений линейных размеров, определения формы, ориентации и других параметров, нано- и микроструктур поверхностей различных объектов.
98353-26
ВИМ-III
Микроскопы видеоизмерительные
Производственная площадка: Zhenjiang Guanghua Weike Mechanical Tools Co., Ltd, КИТАЙ, No. 66 Dongfang Road, Jingkou District, Zhenjiang city, Jiangsu province; ООО «ФОДИС», РОССИЯ, 141075, Московская обл., г. Королев, пр-кт Космонавтов, д. 15, эт. 3, помещ. LXII
Микроскопы видеоизмерительные ВИМ-III (далее микроскопы) предназначены для мгновенных бесконтактных измерений линейных размеров деталей.
98352-26
Atometrics AM-Series
Микроскопы сканирующие интерференционные белого света
Boardstone Intelligent Co., Ltd, КИТАЙ, 14f, Building C Kaifa Plaza, 7006 Caitian Rd., Futian, Shenzhen, Guangdong
Микроскопы сканирующие интерференционные белого света Atometrics AM-Series (далее - микроскопы) предназначены для измерений линейных размеров, параметров шероховатости и анализа поверхностей объектов.
97683-26
ADF
Микроскопы видеоизмерительные консольные
ООО «Д-МИКРО», РОССИЯ, 141402, Московская область, г. Химки, ул. Ленинградская, д. 1, корп. д, офис 312
Микроскопы видеоизмерительные консольные ADF (далее - приборы) предназначены для измерений линейных и угловых размеров объектов в проходящем и отраженном свете.
96942-25
STM
Микроскопы измерительные
Jaten Technology Co., Ltd., КИТАЙ, No 28, Songlang Street, Shangqiao Industrial, Dongcheng District, Dongguan, Guangdong
Микроскопы измерительные STM (далее - приборы) предназначены для измерений линейных и угловых размеров профилей и элементов поверхностей деталей в проходящем и отраженном свете.