Микроскоп измерительный - предназначен для измерений линейных размеров и рельефа поверхности.

Наименований

172

Компаний

62

Микроскопы в ГРСИ РФ 172

80322-20
Quattro S ESEM Микроскоп электронный сканирующий
Фирма Thermo Fisher Scientific Electron Microscopy, США
Микроскоп электронный сканирующий Quattro S ESEM (далее - микроскоп) предназначен для измерений линейных размеров элементов микро- и нанорельефа поверхности различных твердотельных объектов, в том числе биологических в режиме сверхнизкого вакуума ест...
80056-20
Helios G4 PFIB Uxe Микроскоп электронно-ионный сканирующий
Фирма Thermo Fisher Scientific Electron Microscopy, США
Микроскоп электронно-ионный сканирующий Helios G4 PFIB UXe (далее - микроскоп) предназначен для измерений линейных размеров элементов микро- и нанорельефа поверхности твердотельных образцов, исследования их элементного состава и кристаллографической...
79845-20
Walter UHL Микроскопы измерительные
Walter Uhl technische Mikroskopie GmbH & Co.KG, Германия
Микроскопы измерительные Walter UHL (далее микроскопы) предназначены для измерений линейных размеров деталей.
Микроскоп электронно-ионный растровый Scios (далее - микроскоп) предназначен для измерений линейных размеров элементов топологии микрорельефа поверхности твердотельных материалов и структур и проведения локальной структурной модификации поверхности т...
78538-20
STM7 Микроскопы измерительные оптические
Фирма "OLYMPUS Corporation", Япония
Микроскопы измерительные оптические STM7 предназначены для измерений линейных размеров элементов рельефа по осям Х, Y и Z поверхности твердотельных объектов.

Компании 62