Микроскопы Фирма "Thermo Fisher Scientific", США
Фирма "Thermo Fisher Scientific", США

Микроскопы Фирма "Thermo Fisher Scientific", США

86403-22
Themis Z G3 Микроскоп электронный просвечивающий
Фирма "Thermo Fisher Scientific", Нидерланды
Микроскоп электронный просвечивающий Themis Z G3 (далее - микроскоп) предназначен для измерений линейных размеров элементов микро- и наноструктур тонкопленочных образцов, микро- и наночастиц, определения их элементного состава методом энергодисперсио...
86402-22
Phenom Микроскопы электронные растровые настольные
Фирма "Thermo Fisher Scientific", Нидерланды
Микроскопы электронные растровые настольные Phenom (далее - микроскопы) предназначены для измерений линейных размеров микрорельефа поверхности твердотельных структур, количественного морфологического анализа и локального электронно-зондового элементн...
84441-22
Микроскопы электронные просвечивающие
Фирма Thermo Fisher Scientific, Нидерланды
Микроскопы электронные просвечивающие (далее - микроскопы) предназначены для измерений линейных размеров элементов микро- и наноструктур тонкопленочных образцов, микро- и наночастиц на пленке-подложке, определения параметров кристаллической решетки и...
Микроскопы электронные просвечивающие Talos F200 (далее - микроскопы) предназначены для измерений линейных размеров элементов микро- и наноструктур тонкопленочных образцов, микро- и наночастиц на пленке-подложке, определения параметров кристаллическо...
80322-20
Quattro S ESEM Микроскоп электронный сканирующий
Фирма Thermo Fisher Scientific Electron Microscopy, США
Микроскоп электронный сканирующий Quattro S ESEM (далее - микроскоп) предназначен для измерений линейных размеров элементов микро- и нанорельефа поверхности различных твердотельных объектов, в том числе биологических в режиме сверхнизкого вакуума ест...
80056-20
Helios G4 PFIB Uxe Микроскоп электронно-ионный сканирующий
Фирма Thermo Fisher Scientific Electron Microscopy, США
Микроскоп электронно-ионный сканирующий Helios G4 PFIB UXe (далее - микроскоп) предназначен для измерений линейных размеров элементов микро- и нанорельефа поверхности твердотельных образцов, исследования их элементного состава и кристаллографической...
Микроскопы электронные растровые настольные модификаций Phenom Pure, Phenom Pro, Phenom ProX, Phenom Pharos, Phenom XL (далее - микроскопы) предназначены для измерений линейных размеров микрорельефа поверхности твердотельных структур, количественного...
66097-16
Nicolet iN10 и Nicolet iN10MX ИК-фурье микроскопы
Фирма "Thermo Fisher Scientific", США
ИК-фурье микроскопы моделей Nicolet iN10 и Nicolet iN10MX (далее по тексту -приборы) предназначены для измерения содержания различных органических и неорганических веществ в твердых, жидких и газообразных образцах, продуктах питания, почвах, волокнах...